CN113064008B - 一种中压熔断器质量检测方法、装置、设备和介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种中压熔断器质量检测方法、装置、设备和介质，通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，得到待检测中压熔断器的阻抗‑频率曲线和阻抗角‑频率曲线，再根据待检测中压熔断器和标准中压熔断器的阻抗‑频率曲线、阻抗角‑频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，最终根据阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数的大小判断待检测中压熔断器是否合格。本申请解决了现有技术采用额定电流温升实验法进行熔断器质量检测，该方法需要很多专业设备，测试过程复杂，耗时较长，且容易受到实验条件的影响，导致不同测试人员的测试结果分散性大，测试结果误差较大的技术问题。

Description

一种中压熔断器质量检测方法、装置、设备和介质

技术领域

本申请涉及质量检测技术领域，尤其涉及一种中压熔断器质量检测方法、装置、设备和介质。

背景技术

中压熔断器作为中压配电系统中的保护装置，在中压配电系统中发挥着重要的作用。因此，需要对检测中压熔断器进行质量检测。现有技术采用额定电流温升实验法，该方法需要很多专业设备，测试过程复杂，耗时较长，且容易受到实验条件(如实验室温度、湿度，通流的稳定性、熔断器两端底座的接触面积、接触压力等)的影响，导致不同测试人员的测试结果分散性大，测试结果误差较大。

发明内容

本申请提供了一种中压熔断器质量检测方法、装置、设备和介质，用于解决现有技术采用额定电流温升实验法进行熔断器质量检测，该方法需要很多专业设备，测试过程复杂，耗时较长，且容易受到实验条件的影响，导致不同测试人员的测试结果分散性大，测试结果误差较大的技术问题。

有鉴于此，本申请第一方面提供了一种中压熔断器质量检测方法，包括：

通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，得到所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线；

根据所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线与标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，所述标准中压熔断器为与所述待检测中压熔断器同一型号的合格的中压熔断器；

根据所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数的大小判断所述待检测中压熔断器是否合格。

可选的，所述方法还包括：

根据所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线获取第一个阻抗极大值、该第一个阻抗极大值对应的第一频率、阻抗由容性转感性的转折频率以及该转折频率对应的阻抗极小值；

根据所述待检测中压熔断器的第一个阻抗极大值、第一频率、转折频率和阻抗极小值确定所述待检测中压熔断器的内部情况。

可选的，所述根据所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数的大小判断所述待检测中压熔断器是否合格，包括：

若所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数均大于预设阈值，则判定所述待检测中压熔断器合格；

若所述阻抗相似度系数或所述阻抗角相似度系数小于或等于所述预设阈值，则判定所述待检测中压熔断器不合格。

可选的，所述阻抗分析仪扫描所述待检测中压熔断器的扫描频率范围为50Hz-120MHz。

本申请第二方面提供了一种中压熔断器质量检测装置，包括：

扫描单元，用于通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，得到所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线；

计算单元，用于根据所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线与标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，所述标准中压熔断器为与所述待检测中压熔断器同一型号的合格的中压熔断器；

判断单元，用于根据所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数的大小判断所述待检测中压熔断器是否合格。

可选的，还包括：获取单元，用于

根据所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线获取第一个阻抗极大值、该第一个阻抗极大值对应的第一频率、阻抗由容性转感性的转折频率以及该转折频率对应的阻抗极小值；

根据所述待检测中压熔断器的第一个阻抗极大值、第一频率、转折频率和阻抗极小值确定所述待检测中压熔断器的内部情况。

可选的，所述判断单元，具体用于：

若所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数均大于预设阈值，则判定所述待检测中压熔断器合格；

若所述阻抗相似度系数或所述阻抗角相似度系数小于或等于所述预设阈值，则判定所述待检测中压熔断器不合格。

可选的，所述阻抗分析仪扫描所述待检测中压熔断器的扫描频率范围为50Hz-120MHz。

本申请第三方面提供了一种中压熔断器质量检测设备，所述设备包括处理器以及存储器；

所述存储器用于存储程序代码，并将所述程序代码传输给所述处理器；

所述处理器用于根据所述程序代码中的指令执行第一方面任一种所述的中压熔断器质量检测方法。

本申请第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质用于存储程序代码，所述程序代码用于执行第一方面任一种所述的中压熔断器质量检测方法。

从以上技术方案可以看出，本申请具有以下优点：

本申请提供了一种中压熔断器质量检测方法，包括：通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，得到待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线；根据待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线与标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，标准中压熔断器为与待检测中压熔断器同一型号的合格的中压熔断器；根据阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数的大小判断待检测中压熔断器是否合格。

本申请中，通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器来获取阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线，然后根据待检测中压熔断器和标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，最终根据阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数的大小判断待检测中压熔断器是否合格，得到待检测中压熔断器的质量检测结果，检测过程采用的设备简单，检测时间短，检测结果不易受实验条件的影响较，准确度高，解决了现有技术采用额定电流温升实验法进行熔断器质量检测，该方法需要很多专业设备，测试过程复杂，耗时较长，且容易受到实验条件的影响，导致不同测试人员的测试结果分散性大，测试结果误差较大的技术问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本申请实施例提供的一种中压熔断器质量检测方法的一个流程示意图；

图2为本申请实施例提供的一种中压熔断器在高频下的等效电路图；

图3为本申请实施例提供的一种中压熔断器与阻抗扫描仪的接线图；

图4为本申请实施例提供的一种中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线的示意图；

图5为本申请实施例提供的一种中压熔断器质量检测方法的另一个流程示意图；

图6为本申请实施例提供的一种中压熔断器质量检测装置的一个结构示意图。

具体实施方式

本申请提供了一种中压熔断器质量检测方法、装置、设备和介质，用于解决现有技术采用额定电流温升实验法进行熔断器质量检测，该方法需要很多专业设备，测试过程复杂，耗时较长，且容易受到实验条件的影响，导致不同测试人员的测试结果分散性大，测试结果误差较大的技术问题。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

为了便于理解，请参阅图1，本申请提供的一种中压熔断器质量检测方法的一个实施例，包括：

步骤101、通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，得到待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线。

中压熔断器在高频下的等效电路如图2所示，本申请实施例采用阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，扫描频率范围为50Hz-120MHz，得到待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线，如图4所示，图4上部分图为阻抗-频率曲线，下部分为阻抗角-频率曲线。阻抗分析仪扫描连接待检测中压熔断器后如图3所示。为了保证检测结果的准确性，每次对同一型号的中压熔断器进行质量检测时，中压熔断器两端接线采用相同的专用纯铜导线，两端接线越短越好。

步骤102、根据待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线与标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数。

根据待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线与标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，来获取阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，标准中压熔断器为与待检测中压熔断器同一型号的合格的中压熔断器，标准中压熔断器在入库时通过阻抗分析仪扫描获取标准中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线，扫描频率范围也为50Hz-120MHz。

阻抗相似度系数S₁的计算过程为：

式中，Z_k为待检测中压熔断器扫描得到的离散阻抗值，Z_0k为标准中压熔断器入库时扫描得到的离散阻抗值，N为频率扫描的点数。

阻抗角相似度系数S₂的计算过程为：

式中，θ_k为待检测中压熔断器k扫描得到的离散阻抗角，θ_0k为与待检测中压熔断器k同一型号的合格的标准中压熔断器入库时扫描得到的离散阻抗角。

步骤103、根据阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数的大小判断待检测中压熔断器是否合格。

若阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数均大于预设阈值，则判定待检测中压熔断器合格；若阻抗相似度系数或阻抗角相似度系数小于或等于预设阈值，则判定待检测中压熔断器不合格。本申请实施例中的预设阈值优选为0.95，即当S₁>0.95和S₂>0.95，则判定待检测中压熔断器的状态正常，质量合格，可以继续使用，反之，则判定待检测中压熔断器的质量出现了问题，不合格。

本申请实施例中，通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器来获取阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线，然后根据待检测中压熔断器和标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，最终根据阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数的大小判断待检测中压熔断器是否合格，得到待检测中压熔断器的质量检测结果，检测过程采用的设备简单，检测时间短，检测结果不易受实验条件的影响较，准确度高，解决了现有技术采用额定电流温升实验法进行熔断器质量检测，该方法需要很多专业设备，测试过程复杂，耗时较长，且容易受到实验条件的影响，导致不同测试人员的测试结果分散性大，测试结果误差较大的技术问题。

以上为本申请提供的一种中压熔断器质量检测方法的一个实施例，以下为本申请提供的一种中压熔断器质量检测方法的另一个实施例。

请参考图5，本申请实施例提供的一种中压熔断器质量检测方法，包括：

步骤201、通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，得到待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线。

步骤202、根据待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线确定待检测中压熔断器的内部情况。

在配电系统中，许多熔断器已使用了一段时间。在这期间，虽然会发生了一些过流过程，但却没有发生熔断现象。此外，发生熔断器过流熔断时，可能只是其中的一相熔断器发生了熔断，其它相未发生熔断，熔断器内部不一定经历了严重过流过程。而在熔断器发生熔断事故时，电力维修工人通常采用三相熔断器全部更换的策略，造成了很大浪费。而这些未发生熔断器现象的熔断器能否还能继续使用，一直是电力系统关心的问题。而现有方法无法解决这一难题。现有方法通常采用LCR数字电桥进行熔断器电阻测试，可得到熔体电阻大小，但包含的有用信息较少，无法判断熔断器内部结构的变化；而采用X射线扫描设备扫描中压熔断器，可以成像，以获取熔断器内部结构细节，但该设备昂贵，且具有放射性，存在一定的危险性。

为了解决上述问题，本申请实施例在获取到待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线后，可以进一步确定其内部情况。根据待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线获取第一个阻抗极大值Z₁、该第一个阻抗极大值对应的第一频率f₁、阻抗由容性转感性的转折频率f₂以及该转折频率对应的阻抗极小值Z₂；根据待检测中压熔断器的第一个阻抗极大值Z₁、第一频率f₁、转折频率f₂和阻抗极小值Z₂确定待检测中压熔断器的内部情况，可以参考图4。

当待检测中压熔断器的第一个阻抗极大值Z₁与入库时的标准中压熔断器的第一个阻抗极大值相比，若待检测中压熔断器的第一个阻抗极大值Z₁明显增加时，则判定待检测中压熔断器的多根熔体中的熔丝发生了断裂或异常；第一频率f₁是中压熔断器自身L、C谐振频率，其反应了中压熔断器自身L、C的微妙变化，C一般变化不大，因此主要是中压熔断器自身等效电感L的变化。转折频率f₂是中压熔断器的等效电容和外接导线电感的谐振频率，其主要反映了中压熔断器自身电容C的变化。若待检测中压熔断器的Z₁、f₁、f₂、和Z₂其中一个参数变化比例的绝对值大于10％，则判定此熔断器的内部状态异常，以待检测中压熔断器的第一个阻抗极大值Z₁为例，该参数变化比例k_Z为：

式中，Z_O1为标准中压熔断器的第一个阻抗极大值。其他参数变化比例计算方法与k_Z类似，在此不再进行赘述。

步骤203、根据待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线与标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，标准中压熔断器为与待检测中压熔断器同一型号的合格的中压熔断器。

步骤204、根据阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数的大小判断待检测中压熔断器是否合格。

本申请实施例中，通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器来获取阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线，然后根据待检测中压熔断器和标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，最终根据阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数的大小判断待检测中压熔断器是否合格，得到待检测中压熔断器的质量检测结果，检测过程采用的设备简单，检测时间短，检测结果不易受实验条件的影响较，准确度高，解决了现有技术采用额定电流温升实验法进行熔断器质量检测，该方法需要很多专业设备，测试过程复杂，耗时较长，且容易受到实验条件的影响，导致不同测试人员的测试结果分散性大，测试结果误差较大的技术问题。

进一步，本申请实施例根据待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线确定待检测中压熔断器的内部情况，可以帮助电力维修工人进行中压熔断器维修，避免暴力更换造成的浪费，并且可以避免采用X射线扫描设备存在的该设备昂贵，且具有放射性的问题，成本低，安全性较高。

以上为本申请提供的一种中压熔断器质量检测方法的另一个实施例，以下为本申请提供的一种中压熔断器质量检测装置的一个实施例。

请参考图6，本申请实施例提供的一种中压熔断器质量检测装置，包括：

扫描单元，用于通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，得到待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线；

计算单元，用于根据待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线与标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，标准中压熔断器为与待检测中压熔断器同一型号的合格的中压熔断器；

判断单元，用于根据阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数的大小判断待检测中压熔断器是否合格。

作为进一步地改进，还包括：获取单元，用于

根据待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线获取第一个阻抗极大值、该第一个阻抗极大值对应的第一频率、阻抗由容性转感性的转折频率以及该转折频率对应的阻抗极小值；

根据待检测中压熔断器的第一个阻抗极大值、第一频率、转折频率和阻抗极小值确定待检测中压熔断器的内部情况。

作为进一步地改进，判断单元，具体用于：

若阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数均大于预设阈值，则判定待检测中压熔断器合格；

若阻抗相似度系数或阻抗角相似度系数小于或等于预设阈值，则判定待检测中压熔断器不合格。

作为进一步地改进，阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器的扫描频率范围为50Hz-120MHz。

本申请实施例中，通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器来获取阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线，然后根据待检测中压熔断器和标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，最终根据阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数的大小判断待检测中压熔断器是否合格，得到待检测中压熔断器的质量检测结果，检测过程采用的设备简单，检测时间短，检测结果不易受实验条件的影响较，准确度高，解决了现有技术采用额定电流温升实验法进行熔断器质量检测，该方法需要很多专业设备，测试过程复杂，耗时较长，且容易受到实验条件的影响，导致不同测试人员的测试结果分散性大，测试结果误差较大的技术问题。

进一步，本申请实施例根据待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线确定待检测中压熔断器的内部情况，可以帮助电力维修工人进行中压熔断器维修，避免暴力更换造成的浪费，并且可以避免采用X射线扫描设备存在的该设备昂贵，且具有放射性的问题，成本低，安全性较高。

本申请实施例还提供了一种中压熔断器质量检测设备，设备包括处理器以及存储器；

存储器用于存储程序代码，并将程序代码传输给处理器；

处理器用于根据程序代码中的指令执行前述方法实施例中的中压熔断器质量检测方法。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质用于存储程序代码，程序代码用于执行前述方法实施例中的中压熔断器质量检测方法。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以通过一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(英文全称：Read-OnlyMemory，英文缩写：ROM)、随机存取存储器(英文全称：Random Access Memory，英文缩写：RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (8)

1.一种中压熔断器质量检测方法，其特征在于，包括：

通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，得到所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线；

根据所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线获取第一个阻抗极大值、该第一个阻抗极大值对应的第一频率、阻抗由容性转感性的转折频率以及该转折频率对应的阻抗极小值；

根据所述待检测中压熔断器的第一个阻抗极大值、第一频率、转折频率和阻抗极小值确定所述待检测中压熔断器的内部情况；具体的，若所述待检测中压熔断器的第一个阻抗极大值、第一频率、转折频率和阻抗极小值其中一个参数的变化比例绝对值大于10％，则判定所述待检测中压熔断器的内部状态异常；

根据所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线与标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，所述标准中压熔断器为与所述待检测中压熔断器同一型号的合格的中压熔断器；

具体的，所述阻抗相似度系数S₁的计算过程为：

式中，Z_k为待检测中压熔断器k扫描得到的离散阻抗值，Z_0k为标准中压熔断器入库时扫描得到的离散阻抗值，N为频率扫描的点数；

所述阻抗角相似度系数S₂的计算过程为：

式中，θ_k为待检测中压熔断器k扫描得到的离散阻抗角，θ_0k为与待检测中压熔断器k同一型号的合格的标准中压熔断器入库时扫描得到的离散阻抗角；

根据所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数的大小判断所述待检测中压熔断器是否合格。

2.根据权利要求1所述的中压熔断器质量检测方法，其特征在于，所述根据所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数的大小判断所述待检测中压熔断器是否合格，包括：

若所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数均大于预设阈值，则判定所述待检测中压熔断器合格；

若所述阻抗相似度系数或所述阻抗角相似度系数小于或等于所述预设阈值，则判定所述待检测中压熔断器不合格。

3.根据权利要求1所述的中压熔断器质量检测方法，其特征在于，所述阻抗分析仪扫描所述待检测中压熔断器的扫描频率范围为50Hz-120MHz。

4.一种中压熔断器质量检测装置，其特征在于，包括：

扫描单元，用于通过阻抗分析仪扫描待检测中压熔断器，得到所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线和阻抗角-频率曲线；

获取单元，用于根据所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线获取第一个阻抗极大值、该第一个阻抗极大值对应的第一频率、阻抗由容性转感性的转折频率以及该转折频率对应的阻抗极小值；

根据所述待检测中压熔断器的第一个阻抗极大值、第一频率、转折频率和阻抗极小值确定所述待检测中压熔断器的内部情况；具体的，若所述待检测中压熔断器的第一个阻抗极大值、第一频率、转折频率和阻抗极小值其中一个参数的变化比例绝对值大于10％，则判定所述待检测中压熔断器的内部状态异常；

计算单元，用于根据所述待检测中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线与标准中压熔断器的阻抗-频率曲线、阻抗角-频率曲线计算阻抗相似度系数和阻抗角相似度系数，所述标准中压熔断器为与所述待检测中压熔断器同一型号的合格的中压熔断器；

具体的，所述阻抗相似度系数S₁的计算过程为：

式中，Z_k为待检测中压熔断器k扫描得到的离散阻抗值，Z_0k为标准中压熔断器入库时扫描得到的离散阻抗值，N为频率扫描的点数；

所述阻抗角相似度系数S₂的计算过程为：

式中，θ_k为待检测中压熔断器k扫描得到的离散阻抗角，θ_0k为与待检测中压熔断器k同一型号的合格的标准中压熔断器入库时扫描得到的离散阻抗角；

判断单元，用于根据所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数的大小判断所述待检测中压熔断器是否合格。

5.根据权利要求4所述的中压熔断器质量检测装置，其特征在于，所述判断单元，具体用于：

若所述阻抗相似度系数和所述阻抗角相似度系数均大于预设阈值，则判定所述待检测中压熔断器合格；

若所述阻抗相似度系数或所述阻抗角相似度系数小于或等于所述预设阈值，则判定所述待检测中压熔断器不合格。

6.根据权利要求4所述的中压熔断器质量检测装置，其特征在于，所述阻抗分析仪扫描所述待检测中压熔断器的扫描频率范围为50Hz-120MHz。

7.一种中压熔断器质量检测设备，其特征在于，所述设备包括处理器以及存储器；

所述存储器用于存储程序代码，并将所述程序代码传输给所述处理器；

所述处理器用于根据所述程序代码中的指令执行权利要求1-3任一项所述的中压熔断器质量检测方法。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质用于存储程序代码，所述程序代码用于执行权利要求1-3任一项所述的中压熔断器质量检测方法。