CN112685992A - 一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法和系统，涉及服务器板卡技术领域。所述方法通过编写加载自动查找跨平面走线的Skill程序，然后选择需要检查的信号所在层及信号所在层的参考层运行Skill程序，接下来高亮所有选中的信号走线，判断信号走线是否满足检查条件，若是则取消对应线段高亮，若否则框出不满足检查条件的目标线段，并根据检查结果输出检查报告文档。采用本申请方法替代现有的人工检查方式，可解决人工检查过程中存在的耗费时间长及出错率高的问题，实现自动快速准确查找跨平面走线，提高设计人员的工作效率及PCB板的制板准确率，缩短了PCB的设计时间。

Description

一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法和系统

技术领域

本发明实施例涉及服务器板卡技术领域，具体来说涉及一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法和系统。

背景技术

目前，在市场上有多款PCB设计软件，Cadence作为业界应用最广泛的软件，不仅拥有强大的功能和多款相关软件做支撑，还提供了开放式的二次开发接口和较为完善的开发语言库，用户可根据自身的需要进行开发。Skill语言是Cadence软件内置的一种基于C语言和LISP语言的高级编程语言，Cadence为Skill语言提供了丰富的交互式函数，研究Skill语言继而编写工具投入应用，可以大大提高工作效率。

现有的高速信号，如DIMM的数据线，其信号速率高，传输过程中对阻抗的连续性要求也极高。要保证阻抗连续性有两个要点，一是保持线宽与线宽间距的一致性，二是保证参考平面的完整性，高速线要连续走在相邻参考平面shape的上方，如果走到没有参考图shape的区域，会导致阻抗突变，引发信号质量问题。现有技术中，检查信号跨分割主要是依靠PCB设计工程师自己检视，不仅容易导致遗漏问题而且极其浪费时间。随着服务器处理能力的不断提高，其处理的数据越来越复杂，使得单板上需要的DIMM越来越多，进而每一个单板的DIMM信号越来越多，而现有的人工检查方式效率低，即便是设计完成，在后续改动中也很容易出现新的问题，检查时间长且出错率较高，延长了PCB的设计时间。

发明内容

本发明实施例提供了一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法和系统，替代人工方式实现准确快速查找跨平面走线，提高设计人员的工作效率及PCB板的制板准确率，缩短PCB的设计时间。

为实现上述目的，本发明公开了如下技术方案：

本发明一方面提供一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法，所述方法包括以下步骤：

编写加载自动查找跨平面走线的Skill程序；

选择需要检查的信号所在层及信号所在层的参考层，然后运行Skill程序；

高亮所有选中的信号走线，判断信号走线是否满足检查条件，若是则取消对应线段高亮，若否则框出不满足检查条件的目标线段；

根据检查结果输出检查报告文档。

基于上述方案，进一步的，所述选择需要检查的信号所在层及信号所在层的参考层，然后运行Skill程序，包括下述步骤：

获取PCB文件的层叠信息，根据筛选条件区分ETCH层和PLANE层，并在面板上输出层列表信息；

在弹出的窗口中选择待检查信号的所在ETCH层及参考PLANE层；

获取待检查信号走线的ETCH信息及参考PLANE层的shape信息，然后选择待检查的信号走线并运行Skill程序。

具体的，所述待检查信号走线的ETCH信息包括坐标及所在层面信息，参考PLANE层的shape信息包括shape的形状、坐标及所在层面信息。

进一步的，所述若信号走线不满足检查条件则框出不满足检查条件的目标线段，包括下述步骤：

根据信号走线的ETCH信息和shape信息确定PCB文件中的目标线段；

获取目标线段的起始坐标和终点坐标；

以目标线段起始坐标和终点坐标的中间点为中心，输出一个边长等于目标线段长度的正方形框。

具体的，所述检查报告文档的内容包括目标线段跨参考的信号网络名及跨参考的位置坐标。

本发明另一方面提供一种基于Skill快速查找跨平面走线的系统，所述系统包括：

编写加载单元，用于编写加载自动查找跨平面走线的Skill程序；

程序运行单元，用于选择需要检查的信号所在层及信号所在层的参考层，并运行Skill程序；

检查判断单元，用于判断选中的走线线段是否满足检查条件，并将不满足检查条件的目标线段进行框出；

结果输出单元，用于根据检查判断结果输出检查报告文档。

基于上述系统，进一步的，所述程序运行单元包括：

层区分模块，用于获取PCB文件的层叠信息，根据筛选条件区分ETCH层和PLANE层，并在面板上输出层列表信息；

层选择模块，用于选择待检查信号的所在ETCH层及参考PLANE层；

程序运行模块，用于获取待检查信号走线的ETCH信息及参考PLANE层的shape信息，并选择待检查的信号走线运行Skill程序。

进一步的，所述检查判断单元包括：

目标线段确定模块，用于根据信号走线的ETCH信息和shape信息确定PCB文件中的目标线段；

坐标获取模块，用于获取目标线段的起始坐标和终点坐标；

目标线段框出模块，用于以目标线段起始坐标和终点坐标的中间点为中心，输出一个边长等于目标线段长度的正方形框。

发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是发明所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：

本申请实施例提供的一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法，通过编写加载自动查找跨平面走线的Skill程序，然后选择需要检查的信号所在层及信号所在层的参考层运行Skill程序，接下来高亮所有选中的信号走线，判断信号走线是否满足检查条件，若是则取消对应线段高亮，若否则框出不满足检查条件的目标线段，并根据检查结果输出检查报告文档。采用本实施例方法替代现有的人工检查方式，解决了人工检查过程中存在的耗费时间长及出错率高的问题，实现了自动快速准确查找跨平面走线，提高了设计人员的工作效率及PCB板的制板准确率，缩短了PCB的设计时间。

本申请实施例提供的一种基于Skill快速查找跨平面走线的系统，能够实现上述的基于Skill快速查找跨平面走线的方法，并取得相同的效果。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

图1为本申请实施例提供的一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法流程示意图；

图2为图1中步骤S2的具体实现流程示意图；

图3为本申请实施例提供的一种基于Skill快速查找跨平面走线的系统结构示意图。

具体实施方式

为使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

图1示出了本发明实施例提供的一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法流程示意图。

参照图1，本实施例的方法，包括以下步骤：

S1、编写加载自动查找跨平面走线的Skill程序；

S2、选择需要检查的信号所在层及信号所在层的参考层，然后运行Skill程序；

具体的，如图2所示，本步骤中，所述选择需要检查的信号所在层及信号所在层的参考层，然后运行Skill程序，包括下述步骤：

S21、获取PCB文件的层叠信息，根据筛选条件区分ETCH层和PLANE层，并在面板上输出层列表信息；

S22、在弹出的窗口中选择待检查信号的所在ETCH层及参考PLANE层；

S23、获取待检查信号走线的ETCH信息及参考PLANE层的shape信息，然后选择待检查的信号走线并运行Skill程序。

进一步的，所述待检查信号走线的ETCH信息包括坐标及所在层面信息，参考PLANE层的shape信息包括shape的形状、坐标及所在层面信息。选择待检查的信号走线的方式可采用单选、框选或者右键GROUP的方式。

S3、高亮所有选中的信号走线，判断信号走线是否满足检查条件，若是则取消对应线段高亮，若否则框出不满足检查条件的目标线段；

本步骤中，若选中的信号走线线段中某点不在参考铜皮上，这个网络就会被点亮，不在参考铜皮上的线段会被框出。具体的，所述框出不满足检查条件的目标线段，包括下述步骤：

根据信号走线的ETCH信息和shape信息确定PCB文件中的目标线段；

获取目标线段的起始坐标和终点坐标；

以目标线段起始坐标和终点坐标的中间点为中心，输出一个边长等于目标线段长度的正方形框。

S4、根据检查结果输出检查报告文档；

具体的，本步骤中，所述检查报告文档的内容包括目标线段跨参考的信号网络名及跨参考的位置坐标。

图3示出了本发明实施例提供的一种基于Skill快速查找跨平面走线的系统结构示意图。

参照图3，本实施例的系统包括：

编写加载单元1，用于编写加载自动查找跨平面走线的Skill程序；

程序运行单元2，用于选择需要检查的信号所在层及信号所在层的参考层，并运行Skill程序；

检查判断单元3，用于判断选中的走线线段是否满足检查条件，并将不满足检查条件的目标线段进行框出；

结果输出单元4，用于根据检查判断结果输出检查报告文档。

具体的，上述系统中，所述程序运行单元包括：

层区分模块，用于获取PCB文件的层叠信息，根据筛选条件区分ETCH层和PLANE层，并在面板上输出层列表信息；

层选择模块，用于选择待检查信号的所在ETCH层及参考PLANE层；

程序运行模块，用于获取待检查信号走线的ETCH信息及参考PLANE层的shape信息，并选择待检查的信号走线运行Skill程序。

进一步的，所述检查判断单元检查判断选中的走线线段是否满足检查条件，若选中的信号走线线段中某点不在参考铜皮上，这个网络就会被点亮，不在参考铜皮上的线段会被框出。具体的，检查判断单元还包括：

目标线段确定模块，用于根据信号走线的ETCH信息和shape信息确定PCB文件中的目标线段；

坐标获取模块，用于获取目标线段的起始坐标和终点坐标；

目标线段框出模块，用于以目标线段起始坐标和终点坐标的中间点为中心，输出一个边长等于目标线段长度的正方形框。

本申请实施例提供的一种基于Skill快速查找跨平面走线的系统中未详述的内容，可参照上述实施例中提供的基于Skill快速查找跨平面走线的方法，在此不再赘述。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限定本发明，对于本技术领域的技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下所作的任何修改、改进和等同替换等，均包含在本发明的保护范围内。

Claims (8)

1.一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法，其特征在于，包括以下步骤：

编写加载自动查找跨平面走线的Skill程序；

选择需要检查的信号所在层及信号所在层的参考层，然后运行Skill程序；

高亮所有选中的信号走线，判断信号走线是否满足检查条件，若是则取消对应线段高亮，若否则框出不满足检查条件的目标线段；

根据检查结果输出检查报告文档。

2.根据权利要求1所述的一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法，其特征在于，所述选择需要检查的信号所在层及信号所在层的参考层，然后运行Skill程序，包括下述步骤：

获取PCB文件的层叠信息，根据筛选条件区分ETCH层和PLANE层，并在面板上输出层列表信息；

在弹出的窗口中选择待检查信号的所在ETCH层及参考PLANE层；

获取待检查信号走线的ETCH信息及参考PLANE层的shape信息，然后选择待检查的信号走线并运行Skill程序。

3.根据权利要求2所述的一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法，其特征在于，所述待检查信号走线的ETCH信息包括坐标及所在层面信息，参考PLANE层的shape信息包括shape的形状、坐标及所在层面信息。

4.根据权利要求3所述的一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法，其特征在于，所述若信号走线不满足检查条件则框出不满足检查条件的目标线段，包括下述步骤：

根据信号走线的ETCH信息和shape信息确定PCB文件中的目标线段；

获取目标线段的起始坐标和终点坐标；

以目标线段起始坐标和终点坐标的中间点为中心，输出一个边长等于目标线段长度的正方形框。

5.根据权利要求1所述的一种基于Skill快速查找跨平面走线的方法，其特征在于，所述检查报告文档的内容包括目标线段跨参考的信号网络名及跨参考的位置坐标。

6.一种基于Skill快速查找跨平面走线的系统，其特征在于，包括：

编写加载单元，用于编写加载自动查找跨平面走线的Skill程序；

程序运行单元，用于选择需要检查的信号所在层及信号所在层的参考层，并运行Skill程序；

检查判断单元，用于判断选中的走线线段是否满足检查条件，并将不满足检查条件的目标线段进行框出；

结果输出单元，用于根据检查判断结果输出检查报告文档。

7.根据权利要求6所述的一种基于Skill快速查找跨平面走线的系统，其特征在于，所述程序运行单元包括：

层区分模块，用于获取PCB文件的层叠信息，根据筛选条件区分ETCH层和PLANE层，并在面板上输出层列表信息；

层选择模块，用于选择待检查信号的所在ETCH层及参考PLANE层；

程序运行模块，用于获取待检查信号走线的ETCH信息及参考PLANE层的shape信息，并选择待检查的信号走线运行Skill程序。

8.根据权利要求7所述的一种基于Skill快速查找跨平面走线的系统，其特征在于，所述检查判断单元包括：

目标线段确定模块，用于根据信号走线的ETCH信息和shape信息确定PCB文件中的目标线段；

坐标获取模块，用于获取目标线段的起始坐标和终点坐标；

目标线段框出模块，用于以目标线段起始坐标和终点坐标的中间点为中心，输出一个边长等于目标线段长度的正方形框。

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