[go: up one dir, main page]

CN112505548A - 一种监控cmos电池寿命的方法及相关装置 - Google Patents

一种监控cmos电池寿命的方法及相关装置 Download PDF

Info

Publication number
CN112505548A
CN112505548A CN202011305646.2A CN202011305646A CN112505548A CN 112505548 A CN112505548 A CN 112505548A CN 202011305646 A CN202011305646 A CN 202011305646A CN 112505548 A CN112505548 A CN 112505548A
Authority
CN
China
Prior art keywords
cmos
battery
cmos battery
life
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202011305646.2A
Other languages
English (en)
Inventor
耿亮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IEIT Systems Co Ltd
Original Assignee
Inspur Electronic Information Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inspur Electronic Information Industry Co Ltd filed Critical Inspur Electronic Information Industry Co Ltd
Priority to CN202011305646.2A priority Critical patent/CN112505548A/zh
Publication of CN112505548A publication Critical patent/CN112505548A/zh
Priority to PCT/CN2021/121218 priority patent/WO2022105439A1/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/367—Software therefor, e.g. for battery testing using modelling or look-up tables
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/382—Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC
    • G01R31/3842—Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC combining voltage and current measurements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/392—Determining battery ageing or deterioration, e.g. state of health
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30—Monitoring
    • G06F11/3058—Monitoring arrangements for monitoring environmental properties or parameters of the computing system or of the computing system component, e.g. monitoring of power, currents, temperature, humidity, position, vibrations
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30—Monitoring
    • G06F11/32—Monitoring with visual or acoustical indication of the functioning of the machine
    • G06F11/324—Display of status information
    • G06F11/327—Alarm or error message display
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30—Monitoring
    • G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
    • G06F11/3466—Performance evaluation by tracing or monitoring
    • G06F11/3476—Data logging
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10—Energy storage using batteries

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Secondary Cells (AREA)

Abstract

本申请公开了一种监控CMOS电池寿命的方法，包括采集CMOS电池的放电电流；获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间；根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命；根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命。该方法能够对CMOS电池的寿命进行有效监控，可以得到COMS电池的实时寿命。本申请还公开了一种监控CMOS电池寿命的装置、设备及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。

Description

一种监控CMOS电池寿命的方法及相关装置
技术领域
本申请涉及服务器技术领域，特别涉及一种监控CMOS电池寿命的方法；还涉及一种监控CMOS电池寿命的装置、设备以及计算机可读存储介质。
背景技术
CMOS电池即内存电池是CMOS芯片的后备供电电池，CMOS芯片主要用来保存当前系统的硬件配置和操作人员对某些参数的设定，以确保电脑无论是处于开机状态还是遇到系统掉电，BIOS(Basic Input Output System，基本输入输出系统)信息都不会丢失。如果COMS电池没有电了，就无法正常为CMOS芯片供电，从而影响BIOS信息的保存，会丢失BIOS设备的内容，影响计算机启动的顺利进行。可见，为保障BIOS信息的正常保存，对CMOS电池的寿命进行监控，以便及时更换CMOS电池尤为重要。然而目前缺乏对CMOS电池的寿命进行监控的有效方式，因此，提供一种监控COMS电池的寿命的方案已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本申请的目的是提供一种监控CMOS电池寿命的方法，能够对CMOS电池的寿命进行有效监控，可以得到COMS电池的实时寿命。本申请的另一个目的是提供一种监控CMOS电池寿命的装置、设备以及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。
为解决上述技术问题，本申请提供了一种监控CMOS电池寿命的方法，包括：
采集CMOS电池的放电电流；
获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间；
根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命；
根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命。
可选的，所述采集CMOS电池的放电电流包括：
通过采样电阻将所述CMOS电池的放电电流转换为相应的采样电压；
通过差分放大电路对所述采样电压进行电压放大；
对经过电压放大后的采样电压进行ADC采样得到与所述放电电流对应的数字信号。
可选的，所述获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间包括：
读取BIOS时间寄存器的初始数值，并读取BIOS时间寄存器的当前数值；
计算所述BIOS时间寄存器的当前数值与所述BIOS时间寄存器的初始数值的差值，得到所述流失时间。
可选的，所述根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命包括：
将所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流相除得到所述CMOS电池的初始寿命。
可选的，所述根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命包括：
将所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间相减得到所述CMOS电池的当前寿命。
可选的，还包括：
判断所述CMOS电池的当前寿命是否低于报警阈值；
若所述CMOS电视的当前寿命低于所述报警阈值，则进行报警。
为解决上述技术问题，本申请还提供了一种监控CMOS电池寿命的装置，包括：
采集模块，用于采集CMOS电池的放电电流；
获取模块，用于获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间；
第一计算模块，用于根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命；
第二计算模块，用于根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命。
可选的，还包括：
判断模块，用于判断所述CMOS电池的当前寿命是否低于报警阈值；
报警模块，用于若所述CMOS电视的当前寿命低于所述报警阈值，则进行报警。
为解决上述技术问题，本申请还提供了一种监控CMOS电池寿命的设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上任一项所述的监控CMOS电池寿命的方法的步骤。
为解决上述技术问题，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一项所述的监控CMOS电池寿命的方法的步骤。
本申请所提供的监控COMS电池寿命的方法，包括：采集CMOS电池的放电电流；获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间；根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命；根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命。
可见，本申请所提供的监控COMS电池寿命的方法，在采集CMOS电池的放电电流以及获取CMOS电池的电池容量的流失时间的基础上，依据采集的CMOS电池的放电电流以及CMOS电池的额定电池容量得到CMOS电池的初始寿命，进而依据CMOS电池的初始寿命以及流失时间得到CMOS电池的当前寿命。由此，在CMOS电池的实际使用过程中，通过采集CMOS电池的放电电流以及获取CMOS电池截至当前的流失时间，即可经过上述计算得到CMOS电池当前的寿命，实现对CMOS电池的寿命的实时有效监控，得到COMS电池的实时寿命。
本申请所提供的监控CMOS电池寿命的装置、设备以及计算机可读存储介质均具有上述技术效果。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例所提供的一种监控CMOS电池寿命的方法的流程示意图；
图2为本申请实施例所提供的一种电流采样电路的示意图；
图3为本申请实施例所提供的一种监控CMOS电池寿命的装置的示意图；
图4为本申请实施例所提供的一种监控CMOS电池寿命的设备的示意图。
具体实施方式
本申请的核心是提供一种监控CMOS电池寿命的方法，能够对CMOS电池的寿命进行有效监控，可以得到COMS电池的实时寿命。本申请的另一个核心是提供一种监控CMOS电池寿命的装置、设备以及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
请参考图1，图1为本申请实施例所提供的一种监控CMOS电池寿命的方法的流程示意图，参考图1所示，该方法主要包括以下步骤：
S101：采集CMOS电池的放电电流；
具体的，本步骤旨在采集COMS电池的放电电流，以进一步依据CMOS电池的放电电流得到CMOS电池的初始寿命。所谓初始寿命是指CMOS电池从初始使用开始算起，CMOS电池可以使用的时间。
其中，上述采集CMOS的电池的放大电流的方式可以如下：
通过采样电阻将所述CMOS电池的放电电流转换为相应的采样电压；
通过差分放大电路对所述采样电压进行电压放大；
对经过电压放大后的采样电压进行ADC采样得到与所述放电电流对应的数字信号。
具体而言，参考图2所示，搭建如图2所示的采集电路，采样电阻(图2中所示R)并联在CMOS电池的两端，负责将CMOS电池的放电电流转换为相应的采样电压。进一步所得的采样电压由差分放大电路进行电压放大后输入到运算芯片的ADC采样接口得到相应的数字信号，完成放大电流的采样。
例如，采样电阻的阻值为50mΩ，CMOS电池的放电电流为1A，差分放大电路的放大倍数为9.64，则采样电阻两端的电压为50mV，经过差分放大电路放大处理输出后的电压约为0.482V。0.482V的电压经过滤波后输入到ADC采样接口采样得到相应的数字信号。
S102：获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间；
具体的，本步骤旨在获取CMOS电池的电池容量的流失时间，所谓流失时间是指COMS电池已使用的时间。
其中，上述获取CMOS电池的电池容量的流失时间的方式可以如下：
读取BIOS时间寄存器的初始数值，并读取BIOS时间寄存器的当前数值；
计算BIOS时间寄存器的当前数值与BIOS时间寄存器的初始数值的差值，得到流失时间。
具体而言，将首次采集的BIOS时间寄存器中的数值即BIOS时间寄存器的初始数值存放到指定的寄存器中，BIOS时间寄存器的初始数值表征CMOS电池初始使用时的时间。后续在计算CMOS电池的电池容量的流失时间时，首先读取BIOS时间寄存器的当前数值，并从指定的寄存器中读取BIOS时间寄存器的初始数值，进而计算BIOS时间寄存器的当前数值与BIOS时间寄存器的初始数值的差值，得到流失时间。
S103：根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命；
具体的，CMOS电池的额定电池容量可通过I2C总线将CMOS电池的额定电池容量写入运算芯片，在采集得到CMOS电池的放电电流的基础上，进一步根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命。
其中，上述根据CMOS电池的额定电池容量与放电电流得到CMOS电池的初始寿命的方式可以为：将CMOS电池的额定电池容量与放电电流相除得到CMOS电池的初始寿命。即CMOS电池的初始寿命＝额定电池容量/放电电流。
S104：根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命。
具体的，在得到CMOS电池的初始寿命以及流失时间的基础上，进一步，根据CMOS电池的初始寿命与流失时间得到CMOS电池的当前寿命。所谓CMOS电池的当前寿命是指CMOS电池从当前时间算起，CMOS电池可以使用的时间。
其中，上述根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命的方式可以为：将所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间相减得到所述CMOS电池的当前寿命。即CMOS电池的当前寿命＝CMOS电池的初始寿命-流失时间。
计算得到CMOS电池的当前寿命后，进一步可将CMOS电池的当前寿命的数值存放到指定的寄存器中，以便BMC(Baseboard Manager Controller，基板管理控制器)读取。
进一步，在上述实施例的基础上，还包括：判断所述CMOS电池的当前寿命是否低于报警阈值；若所述CMOS电视的当前寿命低于所述报警阈值，则进行报警。
具体的，在计算得到CMOS电池的当前寿命后，进一步可比较所述CMOS电池的当前寿命与报警阈值的大小，判断所述CMOS电池的当前寿命是否低于报警阈值；并若所述CMOS电视的当前寿命低于所述报警阈值，则进行报警，以便在CMOS电池寿命较低时提醒用户及时更换CMOS电池，避免因为CMOS电池电量不足而影响主板BIOS数据的保存，避免丢失BIOS设置等情况的发生。其中，对于上述报警阈值的数值本申请不做唯一限定，可以根据实际需要进行差异性设置。
综上所述，本申请所提供的监控COMS电池寿命的方法，在采集CMOS电池的放电电流以及获取CMOS电池的电池容量的流失时间的基础上，依据采集的CMOS电池的放电电流以及CMOS电池的额定电池容量得到CMOS电池的初始寿命，进而依据CMOS电池的初始寿命以及流失时间得到CMOS电池的当前寿命。由此，在CMOS电池的实际使用过程中，通过采集CMOS电池的放电电流以及获取CMOS电池截至当前的流失时间，即可经过上述计算得到CMOS电池当前的寿命，实现对CMOS电池的寿命的实时有效监控，得到COMS电池的实时寿命。
本申请还提供了一种监控CMOS电池寿命的装置，下文描述的该装置可以与上文描述的方法相互对应参照。请参考图3，图3为本申请实施例所提供的一种监控CMOS电池寿命的装置的示意图，结合图3所示，该装置包括：
采集模块10，用于采集CMOS电池的放电电流；
获取模块20，用于获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间；
第一计算模块30，用于根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命；
第二计算模块40，用于根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命。
在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，所述采集模块10具体用于通过采样电阻将所述CMOS电池的放电电流转换为相应的采样电压；通过差分放大电路对所述采样电压进行电压放大；对经过电压放大后的采样电压进行ADC采样得到与所述放电电流对应的数字信号。
在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，所述获取模块包括：
读取单元，用于读取BIOS时间寄存器的初始数值，并读取BIOS时间寄存器的当前数值；
计算单元，用于计算所述BIOS时间寄存器的当前数值与所述BIOS时间寄存器的初始数值的差值，得到所述流失时间。
在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，所述第一计算模块具体用于将所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流相除得到所述CMOS电池的初始寿命。
在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，所述第二计算模块具体用于将所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间相减得到所述CMOS电池的当前寿命。
在上述实施例的基础上，作为一种具体的实施方式，还包括：
判断模块，用于判断所述CMOS电池的当前寿命是否低于报警阈值；
报警模块，用于若所述CMOS电视的当前寿命低于所述报警阈值，则进行报警。
本申请还提供了一种监控CMOS电池寿命的设备，参考图4所示，该设备包括存储器1和处理器2。
存储器1，用于存储计算机程序；
处理器2，用于执行计算机程序实现如下的步骤：
采集CMOS电池的放电电流；获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间；根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命；根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命。
对于本申请所提供的设备的介绍请参照上述方法实施例，本申请在此不做赘述。
本申请还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时可实现如下的步骤：
采集CMOS电池的放电电流；获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间；根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命；根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命。
该计算机可读存储介质可以包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
对于本申请所提供的计算机可读存储介质的介绍请参照上述方法实施例，本申请在此不做赘述。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置、设备以及计算机可读存储介质而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
以上对本申请所提供的监控CMOS电池寿命的方法、装置、设备以及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种监控CMOS电池寿命的方法，其特征在于，包括：
采集CMOS电池的放电电流；
获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间；
根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命；
根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命。
2.根据权利要求1所述的监控CMOS电池寿命的方法，其特征在于，所述采集CMOS电池的放电电流包括：
通过采样电阻将所述CMOS电池的放电电流转换为相应的采样电压；
通过差分放大电路对所述采样电压进行电压放大；
对经过电压放大后的采样电压进行ADC采样得到与所述放电电流对应的数字信号。
3.根据权利要求2所述的监控CMOS电池寿命的方法，其特征在于，所述获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间包括：
读取BIOS时间寄存器的初始数值，并读取BIOS时间寄存器的当前数值；
计算所述BIOS时间寄存器的当前数值与所述BIOS时间寄存器的初始数值的差值，得到所述流失时间。
4.根据权利要求3所述的监控CMOS电池寿命的方法，其特征在于，所述根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命包括：
将所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流相除得到所述CMOS电池的初始寿命。
5.根据权利要求4所述的监控CMOS电池寿命的方法，其特征在于，所述根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命包括：
将所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间相减得到所述CMOS电池的当前寿命。
6.根据权利要求5所述的监控CMOS电池寿命的方法，其特征在于，还包括：
判断所述CMOS电池的当前寿命是否低于报警阈值；
若所述CMOS电视的当前寿命低于所述报警阈值，则进行报警。
7.一种监控CMOS电池寿命的装置，其特征在于，包括：
采集模块，用于采集CMOS电池的放电电流；
获取模块，用于获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间；
第一计算模块，用于根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命；
第二计算模块，用于根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命。
8.根据权利要求7所述的监控CMOS电池寿命的装置，其特征在于，还包括：
判断模块，用于判断所述CMOS电池的当前寿命是否低于报警阈值；
报警模块，用于若所述CMOS电视的当前寿命低于所述报警阈值，则进行报警。
9.一种监控CMOS电池寿命的设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述的监控CMOS电池寿命的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述的监控CMOS电池寿命的方法的步骤。
CN202011305646.2A 2020-11-19 2020-11-19 一种监控cmos电池寿命的方法及相关装置 Pending CN112505548A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011305646.2A CN112505548A (zh) 2020-11-19 2020-11-19 一种监控cmos电池寿命的方法及相关装置
PCT/CN2021/121218 WO2022105439A1 (zh) 2020-11-19 2021-09-28 一种监控cmos电池寿命的方法及相关装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011305646.2A CN112505548A (zh) 2020-11-19 2020-11-19 一种监控cmos电池寿命的方法及相关装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112505548A true CN112505548A (zh) 2021-03-16

Family

ID=74959957

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011305646.2A Pending CN112505548A (zh) 2020-11-19 2020-11-19 一种监控cmos电池寿命的方法及相关装置

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN112505548A (zh)
WO (1) WO2022105439A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022105439A1 (zh) * 2020-11-19 2022-05-27 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种监控cmos电池寿命的方法及相关装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000340268A (ja) * 1999-05-31 2000-12-08 Sony Corp 電子装置及び電池の管理方法
CN1349106A (zh) * 2001-11-14 2002-05-15 深圳安圣电气有限公司 不间断电源电池后备时间的计算方法
CN101900793A (zh) * 2010-07-30 2010-12-01 盈正豫顺电子股份有限公司 电池放电残余时间估测方法
TW201137373A (en) * 2010-04-22 2011-11-01 Ablerex Electronics Co Ltd Estimation method for residual discharging time of batteries
CN103995234A (zh) * 2014-06-02 2014-08-20 耿直 升压式蓄电池组剩余放电时间及行车距离监测方法
CN108693476A (zh) * 2018-04-02 2018-10-23 浙江南都电源动力股份有限公司 预测电池在任一倍率上剩余可放电时间方法、装置和系统

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112505548A (zh) * 2020-11-19 2021-03-16 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种监控cmos电池寿命的方法及相关装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000340268A (ja) * 1999-05-31 2000-12-08 Sony Corp 電子装置及び電池の管理方法
CN1349106A (zh) * 2001-11-14 2002-05-15 深圳安圣电气有限公司 不间断电源电池后备时间的计算方法
TW201137373A (en) * 2010-04-22 2011-11-01 Ablerex Electronics Co Ltd Estimation method for residual discharging time of batteries
CN101900793A (zh) * 2010-07-30 2010-12-01 盈正豫顺电子股份有限公司 电池放电残余时间估测方法
CN103995234A (zh) * 2014-06-02 2014-08-20 耿直 升压式蓄电池组剩余放电时间及行车距离监测方法
CN108693476A (zh) * 2018-04-02 2018-10-23 浙江南都电源动力股份有限公司 预测电池在任一倍率上剩余可放电时间方法、装置和系统

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022105439A1 (zh) * 2020-11-19 2022-05-27 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种监控cmos电池寿命的方法及相关装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2022105439A1 (zh) 2022-05-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101746141B1 (ko) 절연저항측정 장치 및 방법
JP5983784B2 (ja) 蓄電装置及び劣化判定方法
CN111474482B (zh) 电量检测模型建立方法、电量检测方法、装置及电子设备
CN109188296B (zh) 一种bbu电量校验方法、装置、终端及fcc计算方法
CN110345100A (zh) 服务器风扇转速的监测方法、装置、设备及可读存储介质
CN111679206A (zh) 电量检测方法和设备，及存储介质
CN112505548A (zh) 一种监控cmos电池寿命的方法及相关装置
CN113725813A (zh) 一种漏电保护方法、装置、设备及一种漏电保护电能表
CN113777398B (zh) 电能表的电量记录方法、电能表和可读存储介质
CN111025223B (zh) 电能表的时钟修正方法、装置、设备及存储介质
CN115514031B (zh) 充电控制方法、装置、计算机设备及存储介质
CN114563753A (zh) 电能表掉电检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质
CN107621607A (zh) 电池性能测试方法、测试终端、可读存储介质及测试系统
WO2024234632A1 (zh) 智能监测设备和智能供电控制方法
CN105158611B (zh) 一种信息处理方法及电子设备
CN117805695A (zh) 电源连接器连接状态检测方法、装置、电子设备及介质
CN215180829U (zh) 电能表掉电检测电路和设备
JP6091822B2 (ja) 診断装置及び診断方法
CN109061434B (zh) 板级电路退化测试方法
CN109388217B (zh) 确定硬盘未上电时长的方法、装置及系统
CN108107371A (zh) 一种存储系统bbu状态监测系统及方法
CN217112527U (zh) 一种检测变频器电解电容失效的系统
CN111999655B (zh) 一种bbu电量检测方法、系统及相关组件
CN106842036A (zh) 用于确定蓄电池组可运行时间的数据处理方法和装置
CN116387652B (zh) 化成/分容电源设备的在线维护系统及方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20210316