CN112198341A - 薄膜金属镀层电阻测试触头及测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种薄膜金属镀层电阻测试触头及测试系统，薄膜金属镀层电阻测试触头包括壳体、多个触片、连接线路和通信接口；连接线路设置于壳体内，壳体开设一开口，通信接口设置于开口内，通信接口与连接线路电连接，触片排列设置于壳体的一面，各触片与连接线路电连接，触片的形状为长条形。长条形的触片能够增大测试触点的接触面积，有效提高测试高阻值镀层的稳定性，并且由于触头通过通信接口与主机连接，不同型号的触头的触片之间的间距不同，这样，可根据测试网格尺寸需求更换的测试触头，获得对应型号的测试触头，系统可自动获取该型号的测试触头的电阻计算参数，从而测得当前测试方阻值，使得系统可匹配不同形状的网格安全膜。

Description

薄膜金属镀层电阻测试触头及测试系统

技术领域

本发明涉及金属镀层电阻测试技术领域，特别涉及一种薄膜金属镀层电阻测试触头及测试系统。

背景技术

在测试薄膜金属镀层方块的电阻(简称方阻)时，常规测试方法通常有两种：两针法和四针法。行业内比较常用的是采用四探针法测试。金属镀层方阻一般几欧姆到十几欧姆，采用四针法测试更准确。方阻测试头采用4根圆柱形1mm铜棒作为触电接触进行测试。一方面：由于标准方阻仪固定的测试触头，可以满足传统的低阻值十几欧姆以下镀层方阻测试，在测试高阻值几十欧姆方阻时，高方阻值膜镀层薄与与圆柱形小触头接触不稳定，导致测试方阻值变化较大，无法得到一个精确的值。另一方面：由于测试触头固定尺寸，当触头测试多变的网格安全膜时，一台设备无法匹配安全膜三角形、六边形、正方形等多变安全膜网格区域测试。。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种薄膜金属镀层电阻测试触头及测试系统。

一种薄膜金属镀层电阻测试触头，包括：壳体、多个触片、连接线路和通信接口；

所述连接线路设置于所述壳体内，所述壳体开设一开口，所述通信接口设置于所述开口内，所述通信接口与所述连接线路电连接，所述触片排列设置于所述壳体的一面，各所述触片与所述连接线路电连接，所述触片的形状为长条形。

在其中一个实施例中，各所述触片相互平行。

在其中一个实施例中，各所述触片为紫铜镀金片。

在其中一个实施例中，所述触片的数量为四个。

在其中一个实施例中，四个所述触片包括依次排列的第一触片、第二触片、第三触片和第四触片，所述第二触片和所述第三触片位于所述第一触片和所述第四触片之间，所述第一触片和所述第二触片之间的距离等于所述第三触片和所述第四触片之间的距离。

在其中一个实施例中，还包括触发按钮，所述触发按钮设置于所述壳体的一侧的表面，所述触发按钮与所述连接线路电连接。

在其中一个实施例中，所述通信接口为RJ45接口。

一种薄膜金属镀层电阻测试系统，包括主机，还包括上述任一实施例中所述的薄膜金属镀层电阻测试触头，所述主机与所述薄膜金属镀层电阻测试触头电连接。

在其中一个实施例中，所述主机包括电阻测试仪和控制模块，所述控制模块与所述电阻测试仪电连接，所述电阻测试仪与所述薄膜金属镀层电阻测试触头的所述通信接口电连接。

在其中一个实施例中，所述控制模块包括触摸控制屏。

上述薄膜金属镀层电阻测试触头及测试系统，长条形的触片能够增大测试触点的接触面积，有效提高测试高阻值镀层的稳定性，并且由于触头通过通信接口与主机连接，不同型号的触头的触片之间的间距不同，这样，可根据测试网格尺寸需求更换的测试触头，获得对应型号的测试触头，系统可自动获取该型号的测试触头的电阻计算参数，从而测得当前测试方阻值，使得系统可匹配不同形状的网格安全膜，使得测试更为灵活。

附图说明

图1为一个实施例中的薄膜金属镀层电阻测试触头的立体结构示意图；

图2为一个实施例中的薄膜金属镀层电阻测试触头的另一方向的结构示意图；

图3为一个实施例中的薄膜金属镀层电阻测试系统的连接框图示意图；

图4为一个实施例中的薄膜金属镀层电阻测试系统的立体结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”、“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

实施例一

本实施例中，如图1和图2所示，提供一种薄膜金属镀层电阻测试触头100，包括：壳体110、多个触片120、连接线路和通信接口130；所述连接线路设置于所述壳体110内，所述壳体110开设一开口，所述通信接口130设置于所述开口内，所述通信接口130与所述连接线路电连接，所述触片120排列设置于所述壳体110的一面，各所述触片120与所述连接线路电连接，所述触片120的形状为长条形。

具体地，通信接口130用于连接主机，与主机通信。一个实施例中，所述通信接口130为RJ45接口。这样，测试触头100可以通过网线与主机通信连接。本实施例中，触片120采用于有别于传统的圆柱形的结构，采用长条状结构，触片120的长度方向平行于壳体110的一面所在平面，具体地，将壳体110为长方体或者正方体结构，壳体110的底面设置多个所述触片120，触片120的长度方向平行于壳体110的底面。壳体110的后端面开设所述开口，触片120通过壳体110内的连接线路与通信接口130电连接，使得触片120能够与主机电连接，这样，主机即可通过触片120连接薄膜金属镀层，测量其方块电阻。

在一个实施例中，不同型号的测试触头100的触片120间距不同。本实施例中，不同型号的测试触头100，测试触头100上的触片120的间距不同，应该理解的是，方阻测试公式为Rs＝R×W/L，其中，Rs为方阻，单位Ω/口，R为触头上的触片120测试的电阻值，单位Ω，W为测试材料宽度，L为触片120之间的间距。不同的测试触头100的L的值不同，测试人员可在主机输入对应的测试触头100的型号，主机用于根据测试触头100的型号，获取对应的触片120的间距L，即可计算获得对应的方阻。

本实施例中，采用RJ45接口，使得测试触头100能够方便地与主机连接，使得测试触头100安装、使用和拆卸都更方便。而长条形的触片120能够增大测试触点的接触面积，有效提高测试高阻值镀层的稳定性，并且由于触头通过通信接口130与主机连接，不同型号的触头的触片120之间的间距不同，这样，可根据测试网格尺寸需求更换的测试触头100，获得对应型号的测试触头100，系统可自动获取该型号的测试触头100的电阻计算参数，从而测得当前测试方阻值，使得系统可匹配不同形状的网格安全膜，使得测试更为灵活。

在其中一个实施例中，各所述触片120相互平行。本实施例中，各触片120的长度方向相互平行，有利于对薄膜金属镀层的精确测量。

在其中一个实施例中，所述触片120的数量为四个。在其中一个实施例中，四个所述触片120包括依次排列的第一触片121、第二触片122、第三触片123和第四触片124，所述第二触片122和所述第三触片123位于所述第一触片121和所述第四触片124之间，所述第一触片121和所述第二触片122之间的距离等于所述第三触片123和所述第四触片124之间的距离。如图1所示，第一触片121为触片120A，第二触片122为触片120B，第三触片123为触片120C，第四触片124为触片120D，触片120B和触片120C的间距为阻测试公中的L。

在其中一个实施例中，各所述触片120为紫铜镀金片。本实施例中，触片120的材质为紫铜，并且表面镀金，使得触片120具有良好的导电性，能够有效提高测试精度。

在其中一个实施例中，测试触头100还包括触发按钮140，所述触发按钮140设置于所述壳体110的一侧的表面，所述触发按钮140与所述连接线路电连接。本实施例中，触发按钮140也可称为触发按键，触发按钮140设置于壳体110的一侧的侧面，触发按钮140用于向主机发送触发信号，主机用于在接收到触发信号时，对测量的电阻值进行取样，并且存储。

实施例二

本实施例中，如图3所示，提供一种薄膜金属镀层电阻测试系统10，包括主机200，还包括上述任一实施例中所述的薄膜金属镀层电阻测试触头，所述主机200与所述薄膜金属镀层电阻测试触头电连接。

本实施例中，主机200通过网线与测试触头的通信接口连接，该通信接口为RJ45接口。不同型号的测试触头，测试触头上的触片的间距不同，测试人员可在主机200上输入测试触头的型号，主机200获取到测试触头的型号后，获取测试触头上的触片B和触片C的间距，以及获得该型号触头的计算公式参数，在触片与金属膜接触后，测出金属膜与触片B和触片C接触点的电阻，从而可根据方阻测试公式为Rs＝R×W/L测得金属膜的镀层的方阻，其中，Rs为方阻，单位Ω/口，R为触头上的触片测试的电阻值，单位Ω，W为测试材料宽度，L为触片之间的间距。

本实施例中，由于测试触头可更换，这样，可以根据测试网格尺寸需求灵活更换的测试触头，实现一台主机200设备即可满足多种金属膜测试，减少定制专用设备数量，降低测试设备投入，降低测试成本。

此外，长条形的触片能够增大测试触点的接触面积，有效提高测试高阻值镀层的稳定性，并且由于触头通过通信接口与主机200连接，不同型号的触头的触片之间的间距不同，这样，可根据测试网格尺寸需求更换的测试触头，获得对应型号的测试触头，系统10可自动获取该型号的测试触头的电阻计算参数，从而测得当前测试方阻值，使得系统10可匹配不同形状的网格安全膜，使得测试更为灵活。

在其中一个实施例中，如图3和图4所示，所述主机200包括电阻测试仪300和控制模块，所述控制模块与所述电阻测试仪300电连接，所述电阻测试仪300与所述薄膜金属镀层电阻测试触头的所述通信接口电连接。

本实施例中，电阻测试仪300为高精度电桥电阻测试仪。电阻测试仪300用于通过测试触头的触片与金属膜的接触，测量获得金属膜的电阻R，控制模块用于获得测试触头的型号和获得材料宽度参数。此外，控制模块还用于控制电阻测试仪300的工作，从电阻测试仪300中读取测量得到的电阻值，并存入存储模块中。

在其中一个实施例中，如图3和图4所示，所所述控制模块包括触摸控制屏400。所述触摸控制屏400与所述电阻测试仪300电连接，，本实施例中，触摸控制屏400用于输入测试触头的型号和输入材料宽度参数，以使得触摸控制屏400获得测试人员输入的测试触头的型号和材料宽度参数，此外，该触摸控制屏400还用于显示测试参数和历史数据。

本实施例中，如图4所示，主机200具有用于与测试触头的通信接口连接的测试端口201，该测试端口为RJ45接口，这样，主机200的测试端口可通过网线与测试触头的通信接口连接。且主机200还具有一调试端口202，该调试端口为RJ45接口，用于与外部计算机连接，这样，测试人员可通过外部计算机于主机200的调试端口连接，进而对主机200的触摸控制屏400进行调试、编程。该主机200还具有一USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口203，该USB接口用于连接外部存储器，这样，通过触摸控制屏400的操作，可将测试的电阻值导出并存储在外部存储器中。

在一个实施例中，所述主机200还包括存储模块。在一个实施例中，存储模块为寄存器。本实施例中，存储模块用于预存各测试触头的型号以及和各测试触头对应的计算公式参数。

一个实施例中，测试触头还包括触发按钮，所述触发按钮设置于所述壳体的一侧的表面，所述触发按钮与所述连接线路电连接。触发按钮通过连接线路与主机200的触摸控制屏400电连接。该触发按钮用于在接收到按击指令时，向触摸控制屏400发送取样信号，触发触摸控制屏400对检测的阻值进行取样并存储。比如，电阻测试仪300和触摸控制屏400分别具有寄存器。

一个实施例中，测试过程如下：

测试触头的触片与与金属膜接触，电阻测试仪300用于通过测试触头的触片与金属膜的接触，测量得到电阻值R，将电阻值R发送至电阻测试仪300的寄存器，触摸控制屏400用于读取电阻测试仪300的寄存器数据，获得电阻值R，并将电阻值R存储至触摸控制屏400的寄存器LW1001，触摸控制屏400获取选取指令，根据选取指令获得触头型号，获取与触头信号匹配的触头间距值L，并将触头间距值L存储到触摸控制屏400的寄存器LW1002，触摸控制屏400获取用户手工输入的被测材料宽度数值W，赋值到触摸控制屏400的寄存器LW1003；触摸控制屏400获取预先编写程序运算公式Rs＝R×W/L，将Rs赋值到触摸控制屏400的寄存器LW1004，取样测试速率为100ms，测试频次为10次，周期为1S，计算Rs平均值后赋值Rs到触摸控制屏400的寄存器LW1005；触摸控制屏400显示Rs取值寄存器LW1005。触摸控制屏400在获得用户对测试数值确认输入的确认指令后，获取触头的触发按钮的按击指令，获得取样信号，并发送至触摸控制屏400的寄存器LW2001，寄存器LW2001触发取样程序，取样当前日期时间，及寄存器LW1005数值，将当前日期时间以及寄存器LW1005数值Rs存储。当触摸屏内存使用完后会自动删除最早期记录，循环记录。

实施例三

本实施例中，采用高精度直流/交流低电阻测试仪(简称：高精度低电阻测试仪)+触摸屏+测试触头；

高精度低电阻测试仪采用标准仪器、触摸屏、标准工控触摸屏和测试触头，加工组装而成。

触摸屏设定材料宽度参数后，选取需要的测试触头，在触摸屏输入测试夹具型号，测试时通过内部程序公式自动换算方阻值显示在触摸屏上。

1、方阻测试公式如下：

Rs＝R×W/L

注：Rs:方阻，单位Ω/口；R:四针测试电阻值，单位Ω；W：测试材料宽度,L:测试探针间距，

2、测试触头：

2.1通信接口：采用RJ45，使用网线与主机连接；

2.2记录触发按钮：触头放置在测试区域后，读取数值，如需要记录电子数据可按动触发按钮，可自动电子存档；

2.3触片A-B-C-D：触片为紫铜镀金片，BC间距为公式数值L；

2.4一台主机匹配不同BC间距触头满足不同形状材料测试，可在触摸屏主机直接选择触头型号；

3、测试主机：

3.1通信接口：RJ45接口与测试触头通信接口采用网线连接，组成一个测试系统。

3.2调试端口：RJ45接口，对触摸屏进行编程。

3.3USB接口：插入U盘，可通过触摸屏操作导出记录方阻数据。

3.4三合一插座：包含220V输入品字插座，保险管，开关。

3.5触摸屏：具备显示测试参数，历史数据显示，触头型号选择，材料宽度参数。

3.6高精度低电阻测试仪：标准仪器，测试电阻R。

3.7开关电源：内部直流电源，将220V转换为24V直流电给触摸屏。

本实施例中，选择组装硬件部分：高精度低电阻测试仪、触摸屏具备串口RS232/以太网口RJ45接口满足Modbus TCP/RTU通信协议。

硬件连接部分：测试触头连接到主机，主机连接电源220V；

测试过程：测试触头的触片与金属膜接触，高精度低电阻测试仪测试电阻R，并发送到设备寄存器，触摸屏采用串口通信读取高精度低电阻测试仪寄存器数据R放置在触摸屏本地寄存器LW1001，触摸屏选择夹具型号，系统自动匹配导入触头间距值L到本地寄存器LW1002，触摸屏手工输入被测材料宽度数值W，赋值到触摸屏内部寄存器LW1003；通过触摸屏内部编写程序运算Rs＝R×W/L,Rs赋值到触摸屏本地寄存器LW1004，取样测试速率为100ms，测试频次为10次，周期为1S，计算Rs平均值后赋值Rs到触摸屏寄存器LW1005；触摸屏显示窗Rs取值寄存器LW1005。确认测试数值后，按动触头触发按钮，给出取样信号到触摸屏寄存器LW2001，LW2001触发取样程序，取样当前日期时间，及寄存器LW1005数值，进行本地保存。当触摸屏内存使用完后会自动删除最早期记录，循环记录。

材料测试方式：用10X倍刻度放大镜测试测量尺寸W值，输入触摸屏赋值触摸屏内部寄存器LW1004；

触摸屏历史记录可一键除，和导出Excle数据表到U盘。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种薄膜金属镀层电阻测试触头，其特征在于，包括：壳体、多个触片、连接线路和通信接口；

所述连接线路设置于所述壳体内，所述壳体开设一开口，所述通信接口设置于所述开口内，所述通信接口与所述连接线路电连接，所述触片排列设置于所述壳体的一面，各所述触片与所述连接线路电连接，所述触片的形状为长条形。

2.根据权利要求1所述的薄膜金属镀层电阻测试触头，其特征在于，各所述触片相互平行。

3.根据权利要求1所述的薄膜金属镀层电阻测试触头，其特征在于，各所述触片为紫铜镀金片。

4.根据权利要求1所述的薄膜金属镀层电阻测试触头，其特征在于，所述触片的数量为四个。

5.根据权利要求4所述的薄膜金属镀层电阻测试触头，其特征在于，四个所述触片包括依次排列的第一触片、第二触片、第三触片和第四触片，所述第二触片和所述第三触片位于所述第一触片和所述第四触片之间，所述第一触片和所述第二触片之间的距离等于所述第三触片和所述第四触片之间的距离。

6.根据权利要求1所述的薄膜金属镀层电阻测试触头，其特征在于，还包括触发按钮，所述触发按钮设置于所述壳体的一侧的表面，所述触发按钮与所述连接线路电连接。

7.根据权利要求1-6任一项中所述的薄膜金属镀层电阻测试触头，其特征在于，所述通信接口为RJ45接口。

8.一种薄膜金属镀层电阻测试系统，包括主机，其特征在于，还包括权利要求1-7任一项中所述的薄膜金属镀层电阻测试触头，所述主机与所述薄膜金属镀层电阻测试触头电连接。

9.根据权利要求8所述的薄膜金属镀层电阻测试系统，其特征在于，所述主机包括电阻测试仪和控制模块，所述控制模块与所述电阻测试仪电连接，所述电阻测试仪与所述薄膜金属镀层电阻测试触头的所述通信接口电连接。

10.根据权利要求9所述的薄膜金属镀层电阻测试系统，其特征在于，所述控制模块包括触摸控制屏。

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