CN112085722B - 一种训练样本图像获取方法及装置 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 173
- 238000010008 shearing Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000013135 deep learning Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 238000013527 convolutional neural network Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
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Abstract
本发明涉及一种训练样本图像获取方法及装置,包括以下步骤:获取待处理大尺度训练样本图像;确定训练样本图像中所有缺陷的位置和大小;根据每个缺陷的位置和大小计算待剪切缺陷的需要剪切的小图像个数;根据所述待剪切缺陷的需要剪切的小图像个数,对待剪切缺陷进行剪切,将剪切完成的缺陷标记为已剪切的缺陷;复制训练样本图像中已标记为已剪切的缺陷的位置区域,得到具有缺陷的小尺寸训练样本图像。本发明的一种训练样本图像获取方法及装置,能够对小尺寸缺陷、大尺寸缺陷、密集型缺陷都有很好的适应性,能够很好的解决输入图像过大难以训练的问题,生成的缺陷可以使模型重点对有缺陷区域进行学习训练。
Description
技术领域
本申请涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种训练样本图像获取方法及装置。
背景技术
在机器视觉应用中,缺陷检测占据非常重要的位置,因为必要的缺陷检测能有效提高产品质量、降低成本,并提高客户的满意度。
现有技术中,主要通过深度学习方法,使用训练样本对卷积神经网络进行训练,利用训练生成模型实现图像缺陷检测。
但是,基于深度学习的方法需要大量的缺陷样本作为训练集,而在工业品缺陷检测领域,往往很难收到大量的缺陷图像作为训练样本;并且工业品缺陷检测领域,待检测图像的分辨率一般都为5000像素x 8000像素及以上尺寸,而待检测图像可能存在多个缺陷尺寸不统一的缺陷,大的缺陷尺寸可以达到几百像素x几百像素,但是小的缺陷尺寸可能只有2像素x2像素,导致模型训练难度较大,训练出的模型准确率较低。
所以,如何获取大量合适的训练样本,是目前需要解决的主要问题。
发明内容
本申请提供了一种训练样本图像获取方法及装置,可以用于深度学习方法的前处理过程,以获取大量的小尺寸缺陷图像作为训练样本。
本申请采用的技术方案如下:
本申请提供了一种训练样本图像获取方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取待处理大尺度训练样本图像;
确定训练样本图像中所有缺陷的位置和大小;
根据每个缺陷的位置和大小计算待剪切缺陷的需要剪切的小图像个数;
根据所述待剪切缺陷的需要剪切的小图像个数,对待剪切缺陷进行剪切,将剪切完成的缺陷标记为已剪切的缺陷;
复制训练样本图像中已标记为已剪切的缺陷的位置区域,得到具有缺陷的小尺寸训练样本图像。
进一步地,所述确定大尺度训练样本图像中所有缺陷的位置和大小,包括:
对所述大尺度训练样本图像中的缺陷进行blob分析,并对每个缺陷所处外接矩形进行网格化处理,获取大尺度训练样本图像中的缺陷在所述外接矩形中的位置和大小。
进一步地,并对每个缺陷所处外接矩形进行网格化处理,包括:
并根据每个缺陷的blob的质心位置、每个缺陷所处外接矩形的大小及需要剪切的小图像的大小对每个外接矩形进行网格化处理。
进一步地,所述根据每个缺陷的位置和大小计算待剪切缺陷的需要剪切的小图像个数,包括:
查找所有待剪切的缺陷;
根据所述缺陷外接矩形的大小、位置及需要剪切的小图像的大小计算每个待剪切缺陷中需要剪切的小图个数。
进一步地,将待剪切缺陷进行剪切之前,还包括:
过滤掉待剪切缺陷所处矩形网格中无缺陷的矩形网格。
进一步地,所述过滤掉待剪切缺陷所处矩形网格中无缺陷的矩形网格之后,还包括:
对有缺陷的矩形网格内的缺陷进行剪切,将剪切完成的缺陷标记为已剪切的缺陷。
进一步地,当两个待剪切缺陷位于同一个矩形网格,对其中一个待剪切缺陷进行剪切时,另一个待剪切缺陷也被剪切,并标记为已剪切的缺陷。
进一步地,一种训练样本图像获取装置,包括:
Blob分析模块,用于对所述大尺度训练样本图像中的缺陷进行blob分析,根据每个缺陷所处外接矩形进行网格化处理,获取大尺度训练样本图像中的缺陷在所述网格中的位置和大小;
剪切位置信息生成模块,用于根据每个缺陷的位置和大小计算待剪切缺陷的需要剪切的小图像个数,将所述待剪切缺陷进行剪切,将剪切完成的缺陷标记为已剪切,将剪切完成的缺陷标记为已剪切的缺陷;
小尺寸缺陷图像生成模块,用于复制标记为已剪切的缺陷的位置区域,得到具有缺陷的小尺寸图像。
进一步地,所述剪切位置信息生成模块包括:
计算单元,所述计算单元用于查找所有待剪切的缺陷,根据所述缺陷外接矩形的大小、位置及需要剪切的小图像的大小计算每个待剪切缺陷中需要剪切的小图个数;
过滤单元,所述过滤单元用于过滤待剪切缺陷所处矩形网格中无缺陷的矩形网格。
采用本申请的技术方案的有益效果如下:
本发明的一种训练样本图像获取方法及装置,能够对小尺寸缺陷、大尺寸缺陷、密集型缺陷都有很好的适应性,能够很好的解决输入图像过大难以训练的问题,生成的缺陷可以使模型重点对有缺陷区域进行学习训练。
附图说明
为了更清楚地说明本申请的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图1为对缺陷所处外接矩形进行网格化处理的结构示意图;
图2为对缺陷所处外接矩形进行网格化处理的结构示意图(需要过滤掉待剪切缺陷所处矩形网格中无缺陷的矩形网格时);
图3为当两个待剪切缺陷位于同一个矩形网格时的示意图;
图4为一种训练样本图像获取方法的流程图;
图5为小尺寸缺陷剪切效果图;
图6为大尺寸缺陷剪切效果图;
图7为密集缺陷剪切效果图。
具体实施方式
下面将详细地对实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下实施例中描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。仅是与权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的系统和方法的示例。
参见图1至图7。
本申请提供的一种训练样本图像获取方法,包括以下步骤:
获取待处理大尺度训练样本图像;
对大尺度训练样本图像中的缺陷进行blob分析,并根据每个缺陷的blob的质心位置、每个缺陷所处外接矩形的大小及需要剪切的小图像的大小对每个外接矩形进行网格化处理,获取大尺度训练样本图像中的缺陷在所述网格中的位置和大小(这里假设待处理大尺度训练样本图像均为白色背景,黑色缺陷);
查找所有待剪切的缺陷;
根据所述缺陷外接矩形的大小、位置及需要剪切的小图像的大小计算每个待剪切缺陷中需要剪切的小图个数(如图1所示);
根据所述待剪切缺陷的需要剪切的小图像个数,过滤掉待剪切缺陷所处矩形网格中无缺陷的矩形网格(如图2所示);
对有缺陷的矩形网格内的缺陷进行剪切,将剪切完成的缺陷标记为已剪切的缺陷;
复制训练样本图像中已标记为已剪切的缺陷的位置区域,得到具有缺陷的小尺寸训练样本图像。
其中,在本实施例中:
当两个待剪切缺陷位于同一个矩形网格,对其中一个待剪切缺陷进行剪切时,另一个待剪切缺陷也被剪切,并标记为已剪切的缺陷(如图3所示)。
一种训练样本图像获取装置,包括:
Blob分析模块,用于对所述大尺度训练样本图像中的缺陷进行blob分析,并对每个缺陷所处外接矩形进行网格化处理,获取大尺度训练样本图像中的缺陷在所述外接矩形中的位置和大小;
剪切位置信息生成模块,用于根据每个缺陷的位置和大小计算待剪切缺陷的需要剪切的小图像个数,将所述待剪切缺陷进行剪切,将剪切完成的缺陷标记为已剪切,将将剪切完成的缺陷标记为已剪切的缺陷;
小尺寸缺陷图像生成模块,用于复制标记为已剪切的缺陷的位置区域,得到具有缺陷的小尺寸图像。
所述剪切位置信息生成模块包括:
计算单元,所述计算单元用于查找所有待剪切的缺陷,根据所述缺陷外接矩形的大小、位置及需要剪切的小图像的大小计算每个待剪切缺陷中需要剪切的小图个数;
过滤单元,所述过滤单元用于过滤待剪切缺陷所处矩形网格中无缺陷的矩形网格。
本发明的方法的有益效果:
1、可适应任意尺寸的图像;
2、可适应任意尺寸小缺陷和大缺陷。
如图5~图6所示,从剪切效果可以看出,本发明的方法对小尺寸缺陷、大尺寸缺陷、密集型缺陷都有很好的适应性,能够很好的解决输入图像过大难以训练的问题,生成的缺陷可以使模型重点对有缺陷区域进行学习训练。
本申请提供的实施例之间的相似部分相互参见即可,以上提供的具体实施方式只是本申请总的构思下的几个示例,并不构成本申请保护范围的限定。对于本领域的技术人员而言,在不付出创造性劳动的前提下依据本申请方案所扩展出的任何其他实施方式都属于本申请的保护范围。
Claims (5)
1.一种训练样本图像获取方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取待处理大尺度训练样本图像;
确定训练样本图像中所有缺陷的位置和大小;
根据每个缺陷的位置和大小计算待剪切缺陷的需要剪切的小图像个数;
根据所述待剪切缺陷的需要剪切的小图像个数,对待剪切缺陷进行剪切,将剪切完成的缺陷标记为已剪切的缺陷;
复制训练样本图像中已标记为已剪切的缺陷的位置区域,得到具有缺陷的小尺寸训练样本图像;
所述确定大尺度训练样本图像中所有缺陷的位置和大小,包括:
对所述大尺度训练样本图像中的缺陷进行blob分析,并对每个缺陷所处外接矩形进行网格化处理,获取大尺度训练样本图像中的缺陷在所述外接矩形中的位置和大小;
所述根据每个缺陷的位置和大小计算待剪切缺陷的需要剪切的小图像个数,包括:
查找所有待剪切的缺陷;
根据所述缺陷外接矩形的大小、位置及需要剪切的小图像的大小计算每个待剪切缺陷中需要剪切的小图个数;
将待剪切缺陷进行剪切之前,还包括:
过滤掉待剪切缺陷所处矩形网格中无缺陷的矩形网格;
所述过滤掉待剪切缺陷所处矩形网格中无缺陷的矩形网格之后,还包括:
对有缺陷的矩形网格内的缺陷进行剪切,将剪切完成的缺陷标记为已剪切的缺陷。
2.根据权利要求1所述的训练样本图像获取方法,其特征在于,并对每个缺陷所处外接矩形进行网格化处理,包括:
并根据每个缺陷的blob的质心位置、每个缺陷所处外接矩形的大小及需要剪切的小图像的大小对每个外接矩形进行网格化处理。
3.根据权利要求1所述的训练样本图像获取方法,其特征在于,当两个待剪切缺陷位于同一个矩形网格,对其中一个待剪切缺陷进行剪切时,另一个待剪切缺陷也被剪切,并标记为已剪切的缺陷。
4.一种训练样本图像获取装置,用于执行权利要求1-3任一项所述的训练样本图像获取方法,其特征在于,包括:
Blob分析模块,用于对所述大尺度训练样本图像中的缺陷进行blob分析,并对每个缺陷所处外接矩形进行网格化处理,获取大尺度训练样本图像中的缺陷在所述外接矩形中的位置和大小;
剪切位置信息生成模块,用于根据每个缺陷的位置和大小计算待剪切缺陷的需要剪切的小图像个数,将所述待剪切缺陷进行剪切,将剪切完成的缺陷标记为已剪切,将将剪切完成的缺陷标记为已剪切的缺陷;
小尺寸缺陷图像生成模块,用于复制标记为已剪切的缺陷的位置区域,得到具有缺陷的小尺寸图像。
5.根据权利要求4所述的训练样本图像获取装置,其特征在于,所述剪切位置信息生成模块包括:
计算单元,所述计算单元用于查找所有待剪切的缺陷,根据所述缺陷外接矩形的大小、位置及需要剪切的小图像的大小计算每个待剪切缺陷中需要剪切的小图个数;
过滤单元,所述过滤单元用于过滤待剪切缺陷所处矩形网格中无缺陷的矩形网格。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN202010937658.0A CN112085722B (zh) | 2020-09-07 | 2020-09-07 | 一种训练样本图像获取方法及装置 |
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CN112085722A CN112085722A (zh) | 2020-12-15 |
CN112085722B true CN112085722B (zh) | 2024-04-09 |
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