CN112068375B - 母基板和显示面板 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种母基板和包括该母基板的显示面板，其中，该母基板包括：输入衬垫，位于母基板的边缘：子基板，其显示区内分布有开关阵列和与开关阵列相连的信号线，信号线的一端引出第一测试走线，信号线的另一端与输入衬垫连接并引出第二测试走线，第一测试走线和第二测试走线位于不同的导电层且相互绝缘，第一测试走线和第二测试走线在非显示区内的部分正投影相互重叠。根据第一测试走线和第二测试走线的设计，使得形成母基板时两测试走线处于断开状态，信号线仅一端与输入衬垫连接，而形成显示面板时，两测试走线因受到挤压而连接，信号线两端均与输入衬垫连接，实现一个输入衬垫输入两路信号，减小输入衬垫的数目。

Description

母基板和显示面板

技术领域

本申请涉及显示领域，特别是涉及一种母基板和显示面板。

背景技术

显示面板的制备过程包括多个工艺步骤，如制备母基板、胶框涂布、液晶滴落(ODF)、对位组装、UV光配向、切割、偏光片偏贴、绑定等。在母基板制备完成后，会向母基板中的信号线输入测试信号以进行测试，以判断当前流片是否正常，若正常，则进入下一步工艺，若异常，则不进入一下步工艺，从而避免出现异常后仍执行后续制备工艺而浪费时间和成本。而在UV光配向时，也需要向母基板中的信号线输入电信号，以使液晶分子呈一定的偏转角度。在实际的制备工艺中，为简化走线设计，在光配向步骤中向信号线输送信号的走线共用母基板测试步骤中所使用的测试走线。在对母基板进行测试时，若同一信号线同时接入多个测试信号，难以检测出信号线断线的情况，因此，在测试时同一信号线一般仅接入一路测试信号，即通过单测试衬垫进行测试即可。在在光配向过程中，为保证信号线上的信号均匀度较好，一般需在同一信号线两端分别接入电信号，即需要接入两路电信号。此时，为了兼顾母基板测试和光配向过程，需保证信号线两端接入电信号的通路相互独立，因此，一般会设计两个独立的衬垫，当对母基板进行测试时，仅使用其中一个衬垫向同一信号线输入单路测试信号，以确保能检测出信号线断线的异常，而当进行光配向时，则同时使用两个衬垫向同一信号线输入两路电信号，以保证信号线上的信号具有较佳的均匀度。然而，上述结构中，同一信号线对应设计两组衬垫，基板上的衬垫数目较多，所占面积较大，导致基板结构更加复杂。

发明内容

基于此，有必要针对通过目前的电输入衬垫较多、衬垫所占面积较大的技术问题，提出一种母基板和显示面板。

一种母基板，包括：

输入衬垫，位于所述母基板的边缘：

子基板，所述子基板分为显示区和非显示区，所述显示区内分布有开关阵列和与所述开关阵列相连的信号线，所述信号线的一端引出第一测试走线，所述信号线的另一端与所述输入衬垫连接并引出第二测试走线，所述第一测试走线和所述第二测试走线位于不同的导电层且相互绝缘，所述第一测试走线和所述第二测试走线在所述非显示区内具有相互重叠的正投影区域。

在其中一个实施例中，所述信号线包括数据线和扫描线，所述输入衬垫包括数据信号输入衬垫和扫描信号输入衬垫，所述数据线与所述数据信号输入衬垫连接，所述扫描线的一端引出所述第一测试走线，所述扫描线的另一端与所述扫描信号输入衬垫连接并引出所述第二测试走线。

在其中一个实施例中，所述母基板包括多个所述子基板。

在其中一个实施例中，各所述非显示区分布有两个扫描测试衬垫，所述扫描线的一端与其中一个所述扫描测试衬垫连接并引出所述第一测试走线，所述扫描线的另一端与其中另一个所述扫描测试衬垫以及所述所述扫描信号输入衬垫连接并引出所述第二测试走线。

在其中一个实施例中，所述非显示区还分布有数据测试衬垫，所述数据线与所述数据信号输入衬垫和所述数据测试衬垫连接。

在其中一个实施例中，各所述扫描测试衬垫具有多个测试端，同一扫描测试衬垫中不同的所述测试端连接不同的所述扫描线。

在其中一个实施例中，所述扫描信号输入衬垫具有多个输入端，所述扫描测试衬垫的各测试端连接至所述扫描信号输入衬垫的不同输入端。

在其中一个实施例中，所述开关阵列包括第一金属层和第二金属层，所述第一测试走线和所述第二测试走线的其中一个与所述第一金属层位于同一层，另一个与所述第二金属层位于同一层。

在其中一个实施例中，所述子基板包括GOA电路。

上述母基板，其边缘处设置有输入衬垫以接入电信号，在子基板中，信号线的一端引出第一测试走线，而另一端直接与输入衬垫连接并引出第二测试走线，两测试走线位于不同的导电层且中间设有绝缘层，并且两测试走线在非显示区具有相互重叠的正投影区域，即第一测试走线和第二测试走线具有跨线区域。在显示面板的制备流程中，当完成上述母基板的制备后，第一测试走线和第二测试走线是相互绝缘的，当输入衬垫接入电信号后，信号线仅一端输入测试信号，而另一端处于断路状态，不会接入测试信号，使得母基板在测试时，同一信号线仅接入一路测试信号，从而能够检测出信号线断线的情况。当母基板测试结果正常后，可继续往后流片，进行后续的胶框涂布、液晶滴落和对位组装并在对位组装后进行光配向。在本申请中，由于第一测试走线和第二测试走线具有正投影重叠区域，在胶框涂布的过程中，只需使胶框经过该正投影重叠区域，胶框材质中一般含有较大颗粒，其表面并不平整，当大彩膜基板支撑于胶框上并进行挤压组合时，母基板中的第一测试走线和第二测试走线的正投影重叠区域受到胶框表面凸起颗粒的挤压而短路，使得信号线两端与输入衬垫的通路均导通，因此，在光配向过程中，仅需使用一个输入衬垫便可向信号线两端输入电信号，保证了信号线上信号的均匀性。因此，上述母基板，通过设置第一测试走线和第二测试走线，既能保证在对母基板进行测试时仅输入一路测试信号，又能保证在后续对显示面板进行液晶光配向时通过一个衬垫输入两路测试信号，从而减少了衬垫的数目。

一种显示面板，包括；

母基板，所述母基板为上述任一项所述的母基板；

彩膜基板，与所述母基板相对设置；

胶框，设于所述子基板的非显示区上并位于所述母基板和所述大彩膜基板之间以支撑所述彩膜基板，所述胶框经过所述第一测试走线和所述第二测试走线的正投影重叠区域以使所述第一测试走线和所述第二测试走线在正投影重叠区域连接。

上述显示面板所使用的母基板为上述母基板，该母基板的同一信号线两端共用一输入衬垫，在母基板进行测试时，该输入衬垫接入电信号后，仅会向信号线一端输入测试信号，而当将该母基板组装成显示面板后，则会向信号线两端输入电信号。因此，上述显示面板中的输入衬垫数目较少。

附图说明

图1为本申请一实施例中母基板结构示意图；

图2a为本申请一实施例中第一测试走线和第二测试走线断开的示意图；

图2b为本申请一实施例中第一测试走线和第二测试走线受挤压而连接的示意图；

图3为本申请一具体实施例中母基板的结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的可选实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。

在一实施例中，如图1所示，母基板100内排布有子基板120，在母基板100的边缘设置有输入衬垫110，输入衬垫110用于接入电信号，子基板120与输入衬垫110连接以通过输入衬垫110获取电信号。具体的，子基板120划分为显示区AA和非显示区NA，显示区AA内分布有开关阵列和与开关阵列相连的信号线XL，信号线XL的一端引出第一测试走线121，另一端与输入衬垫110连接并引出第二测试走线122；结合图2a所示，第二测试走线122和第一测试走线121在对应子基板120中的非显示区域NA内的部分正投影相互重叠。

在本申请的子基板120中，信号线XL的一端引出第一测试走线121，另一端与输入衬垫110直接连接并引出第二测试走线122，一旦输入衬垫110接入电信号，信号线XL与输入衬垫110直接连接的一端便可获取电信号；而由于第一测试走线121和第二测试走线122位于不同的导电层且相互绝缘，因此，在母基板100制备完成后，第二测试走线121和第二测试走线122处于断开的状态，即信号线XL引出第一测试走线121的一端不会从输入衬垫100处获取电信号。在母基板100制备完成后，输入衬垫100接入电信号，电信号仅从信号线XL的一端输入，当信号线XL有断线情况，该信号线断开处的后部分将获取不到电信号，导致相应的开关阵列不能导通，从而检测出断线异常。在母基板100通过测试后，便会进行后续的胶框涂布、填充液晶以及对位组合等工序形成显示面板，其中，在胶框涂布工序中，胶框涂布于子基板120的非显示区域NA内以用于填充液晶。由于胶框材质中包含有大尺寸颗粒，其表面比较粗糙，在设置胶框并在母基板100和大彩膜基板挤压组合过程中，胶框会挤压其下方的母基板的相关膜层，因此，在设计走线时，一般需避免在胶框正下方形成跨线，以避免跨线在胶框的挤压作用下相互接触而短路。在本申请中，设置第一测试走线121和第二测试走线122，且第一测试走线121和第二测试走线122在非显示区NA具有正投影重叠区域K，当对母基板100进行测试时，正投影重叠区域K内的第一测试走线121和第二测试走线122是相互绝缘的，如图2a所示；而当对母基板100进行胶框涂布并与彩膜基板进行对位组合后，其中，胶框300经过该正投影重叠区域K，如图2b所示，在正投影重叠区域K内的第一测试走线121和第二测试走线122在胶框表面凸起颗粒310的挤压下相互接触而短路，使得信号线XL引出第一测试走线121的一端也与输入衬垫110连接，从而在面板进行光配向时，可以通过一个测试衬垫同时向信号线两端输入电信号。通过上述分析可知，本申请的母基板，通过设置第一测试走线和第二测试走线，一方面在对母基板进行测试时，一个输入衬垫仅向信号线的一端输入电信号，而当将该母基板与彩膜基板组合后进行光配向时，一个输入衬垫可同时向信号线的两端输入电信号，从而减少输入衬垫的数目，减少衬垫所占面积。

在一实施例中，如图3所示，需要说明的是，图3所示的走线仅示出了结构之间的连接关系，而不限定为实际的位置，显示区域AA的信号线包括数据线DL和扫描线SL，显示区域AA的开关阵列为薄膜晶体管阵列，数据线DL和扫描线SL纵横交错并分别与薄膜晶体管连接，对应的，输入衬垫110包括扫描信号输入衬垫A和数据信号输入衬垫B。具体的，数据线DL的一端与数据信号输入衬垫B连接，而扫描线SL与扫描信号输入衬垫A的连接关系为：扫描线SL的一端引出第一测试走线121，另一端与扫描信号输入衬垫A连接并引出第二测试走线122。在本实施例中，选择扫描线进行上述走线设计，既能检测出扫描线断线的情况，又能在后续的光配向过程中使扫描线上的信号更加均匀。可以理解的，也可以选择数据线进行上述走线或者同时选择数据线和扫描线进行上述走线设计。

在一实施例中，如图1所示，上述母基板100包括多个子基板120。在显示面板的制备工艺中，通常是在一片大玻璃板上同时制备多个子基板，通过一系列工艺并与彩膜基板进行组合形成显示面板后，再通过切割工艺切割成多个分立的显示面板，如此可以同时制备出多个显示面板，提高效率和玻璃基板的利用率。当母基板包括多个子基板时，在进行切割之前的相关工序如测试和光配向过程中，需向各子基板中的信号线输入电信号，而为了便于与探针连接，一般将输入衬垫设于母基板的边缘并通过走线连接输入衬垫和各子基板的信号线。尤其是将母基板与彩膜基板组合后，只能通过位于母基板边缘处的输入衬垫输送电信号。

在一实施例中，当母基板100包括多个子基板120时，可在各子基板120的非显示区域NA内设置扫描测试衬垫G1和扫描测试衬垫G2，扫描线SL的一端既与扫描测试衬垫G2连接，也与第一测试走线121连接，具体可为扫描线SL的另一端通过扫描测试衬垫G2引出第一测试走线121；扫描线SL的另一端既与扫描测试衬垫G1连接，也与扫描信号输入衬垫A连接，具体可为扫描线SL的一端通过扫描测试衬垫G1与扫描信号输入衬垫A连接并通过扫描测试衬垫G1引出第二测试走线122。在一实施例中，子基板120的非显示区域NA内还可设置数据测试衬垫S，数据线DL既与数据信号输入衬垫B连接，还与数据测试衬垫S连接，具体可为数据线DL通过数据测试衬垫S与数据信号输入衬垫B连接。在上述实施例中，在各子基板内设置测试衬垫，测试衬垫与输入衬垫共用部分走线与信号线连接，在对母基板进行测试时，既可通过输入衬垫输入电信号，也可通过测试衬垫输入电信号。而且，当母基板制备成显示面板后会进行切割，形成多个子面板，此时，输入衬垫将会被切除，对子面板进行测试时不能再通过输入衬垫输入测试信号，若子基板内设置有测试衬垫，可用于在对后续的子面板进行测试时输入测试信号。

在一实施例中，各扫描测试衬垫均具有多个独立的测试端，不同的测试端连接不同的扫描线。如图3所示，扫描测试衬垫G1中具有m个测试端，分别为G11至G1m，扫描测试衬垫G2中也具有m个测试端，分别为G21至G2m，扫描线SL的一端与G1x连接，另一端与G2x连接，不同的测试端连接不同的扫描线。在显示区域内包括有较多的扫描线，在本实施例中，将扫描线分为m组，对各组扫描线单独测试，可是测试结果更加准确。同理，数据测试衬垫S也可具有多个独立的测试端，不同的测试端连接不同的数据线，如数据测试衬垫S具有n各测试端，分别为S1至Sn，不同的测试端连接不同的数据线，由此可将数据线也分为n组并独立进行测试，提高测试精度。在一实施例中，当通过输入衬垫接入测试信号时，输入衬垫也包括多个输入端，测试衬垫中的各测试端分别与输入衬垫中不同的输入端连接，以通过输入衬垫分别对各组信号线进行测试。例如，扫描输入衬垫A包括A1至Am输入端，扫描测试衬垫G1中的G11至G1m测试端与扫描输入衬垫A中的A1至Am输入端一一对应连接，扫描测试衬垫G2中的G21至G2m分别引出m条相互独立的第一测试走线，且扫描测试衬垫G1中的G11至G1m测试端分别引出m条相互独立的第二测试走线，第一测试走线与第二测试走线一一对应设置。

在一实施例中，显示区AA内的开关阵列为薄膜晶体管阵列，其具有第一金属层和第二金属层，通常在第一金属层形成栅极，在第二金属层形成源极和漏极，在本实施例中，非显示区NA中的第一测试走线121和第二测试走线122中的其中一个与第一金属层位于同一层，另一个与第二金属层位于同一层，例如当第一测试走线和第一金属层位于同一层，第二测试走线和第二金属层位于同一层时，可通过一步光刻工艺同时形成第一金属层和第一测试走线，并通过一步光刻工艺同时形成第二金属层和第二测试走线，由此简化工艺步骤。

在一实施例中，上述母基板中的各子基板包括GOA(Gate driver On Array,母基板行驱动)电路，GOA电路将栅极驱动电路直接制作于基板上，从而省略栅极驱动集成电路以及该电路与基板的绑定工艺，简化工艺且降低成本。当子基板包括GOA电路时，信号线与输入衬垫的连接共用该基板上的栅极驱动电路的走线。

本申请还涉及一种显示面板，包括母基板100和与母基板相对设置的彩膜基板(图中未示出)，以及设置于各子基板120的非显示区域NA上并位于母基板100和彩膜基板中间以支撑彩膜基板的胶框300，其中，母基板100为上述母基板，其结构在上文中已详细介绍，在此不再赘述，胶框300经过第一测试走线121和第二测试走线122的正投影重叠区域K。在本申请中，显示面板所使用的母基板内具有第一测试走线和第二测试走线，藉由第一测试走线和第二测试走线的设计，使得形成母基板时第一测试走线和第二测试走线断开状态，而当在母基板上形成胶框并与彩膜基板挤压对合时，第一测试走线和第二测试走线在挤压的作用下相互接触而连接，由此满足母基板和显示面板对电信号输入的要求。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种母基板，其特征在于，包括：

输入衬垫，位于母基板的边缘：

子基板，所述子基板分为显示区和非显示区，所述显示区内分布有开关阵列和与所述开关阵列相连的信号线，所述信号线的一端引出第一测试走线，所述信号线的另一端与所述输入衬垫连接并引出第二测试走线，所述第一测试走线和所述第二测试走线位于不同的导电层且相互绝缘，所述第一测试走线和所述第二测试走线在所述非显示区内具有相互重叠的正投影区域；

其中，当在所述母基板上形成胶框并与彩膜基板挤压对合时，所述正投影区域内的所述第一测试走线和所述第二测试走线在挤压的作用下相互接触而连接。

2.如权利要求1所述的母基板，其特征在于，所述信号线包括数据线和扫描线，所述输入衬垫包括数据信号输入衬垫和扫描信号输入衬垫，所述数据线与所述数据信号输入衬垫连接，所述扫描线的一端引出所述第一测试走线，所述扫描线的另一端与所述扫描信号输入衬垫连接并引出所述第二测试走线。

3.如权利要求2所述的母基板，所述母基板包括多个所述子基板。

4.如权利要求3所述的母基板，其特征在于，所述非显示区分布有数据测试衬垫，所述数据线与所述数据信号输入衬垫和所述数据测试衬垫连接。

5.如权利要求3所述的母基板，其特征在于，各所述非显示区分布有两个扫描测试衬垫，所述扫描线的一端与其中一个所述扫描测试衬垫连接并引出所述第一测试走线，所述扫描线的另一端与其中另一个所述扫描测试衬垫以及所述扫描信号输入衬垫连接并引出所述第二测试走线。

6.如权利要求5所述的母基板，其特征在于，各所述扫描测试衬垫具有多个测试端，同一扫描测试衬垫中不同的所述测试端连接不同的所述扫描线。

7.如权利要求6所述的母基板，其特征在于，所述扫描信号输入衬垫具有多个输入端，所述扫描测试衬垫的各测试端连接至所述扫描信号输入衬垫的不同输入端。

8.如权利要求1所述的母基板，其特征在于，所述开关阵列包括第一金属层和第二金属层，所述第一测试走线和所述第二测试走线的其中一个与所述第一金属层位于同一层，另一个与所述第二金属层位于同一层。

9.如权利要求1所述的母基板，其特征在于，所述子基板包括母基板行驱动电路。

10.一种显示面板，其特征在于，包括；

母基板，所述母基板为权利要求1至9任一项所述的母基板；

彩膜基板，与所述母基板相对设置；

胶框，设于所述子基板的非显示区上并位于所述母基板和所述彩膜基板之间，所述胶框经过所述第一测试走线和所述第二测试走线的正投影重叠区域以使所述第一测试走线和所述第二测试走线在正投影重叠区域连接。

Images