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CN111537867A - 触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置及检测方法 - Google Patents

触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置及检测方法 Download PDF

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CN111537867A
CN111537867A CN202010496629.5A CN202010496629A CN111537867A CN 111537867 A CN111537867 A CN 111537867A CN 202010496629 A CN202010496629 A CN 202010496629A CN 111537867 A CN111537867 A CN 111537867A
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mcu
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刘月豹
林旭权
张阳
廖晓芮
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Anhui Fangxing Photoelectric New Material Technology Co ltd
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Abstract

本发明公开了一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置及检测方法，包括引脚1、MCU_SCL、MCU_SDA、MCU_GND、引脚Ⅴ、MCU_INT、MCU_RST、MCU_VDD，所述引脚1和引脚Ⅴ短接，使其成为改进后的测试版MCU_VDD与TP_VD连接线路中的一部分，待检测的电容触摸屏线路板防拆解绕线接入测试版后电源的电流方向如下：MCU_VDD→测试版的8脚→防拆解绕线B端→防拆解绕线内部线路→防拆解绕线A端→测试版引脚Ⅰ→TP_VDD；进行防拆解绕线内部开路测试和短路测试，本发明通过将待检测的电容触摸屏线路板防拆解绕线接入优化后的测试版线路中，使其成为常规检测线路中电源线的一部分，无需通过万用表即可完成检测，提高了良品率和检测效率，适合广泛推广。

Description

触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置及检测方法
技术领域
本发明涉及电容式触摸屏线路板防拆解绕线测试方法技术领域，具体为一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置及检测方法。
背景技术
传统检测FPC(柔性线路板)上防拆解的绕线线路是否存在短路、开路故障时，是将FPC接入传统测试版的线路中，通过人工使用万用表的二极管档去测量防拆解绕线的导通性，在FPC量产的时候需要增加一道检测防拆解绕线是否有开路、短路的工序，此时需要用万用表的表笔去扎FPC上的引脚，此种检测手段会造成FPC外观不良，从而导致良品率低、同时增加了检测工序从而影响检测效率。
本发明的目的在于设计一种不增加测试人员和测试装置，在不影响原有测试效果的情况下完成对FPC防拆解绕线短路、开路高效率检测的一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置及检测方法。
发明内容
本发明的目的在于提供一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置及检测方法，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置，包括引脚Ⅰ、MCU_SCL、MCU_SDA、MCU_GND、引脚Ⅴ、MCU_INT、MCU_RST、MCU_VDD，其特征在于：所述引脚Ⅰ、MCU_SCL、MCU_SDA、MCU_GND、引脚Ⅴ、MCU_INT、MCU_RST、MCU_VDD从上至下依次排列，所述引脚Ⅰ和引脚Ⅴ短接。
一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置及检测方法，包括以下步骤：
步骤一：对外接测试版端的接线进行优化：将测试版端的引脚Ⅰ与引脚Ⅴ短接，MCU_VDD引脚接到测试版端的8脚；
步骤二：将待检测的电容触摸屏线路板防拆解绕线接入优化后的测试版线路中，使其成为改进后的测试版MCU_VDD与TP_VD连接线路中的一部分，待检测的电容触摸屏线路板防拆解绕线接入测试版后电源的电流方向如下：MCU_VDD→测试版的8脚→防拆解绕线B端→防拆解绕线内部线路→防拆解绕线A端→测试版引脚Ⅰ→TP_VDD；
步骤三：进行防拆解绕线内部开路测试：
当防拆解绕线内部线路开路，MCU_VDD无法与TP_VDD连接，触摸屏上电异常，无法完成常规的IIC通讯，判断为NG，反之则正常，防拆解绕线内部开测试完成；
步骤四：进行防拆解绕线内部与TP_GND短路测试：
当防拆解绕线内部与TP_GND短路，即MCU_VDD与TP_GND(TP_GND＝MCU_GND)，触摸屏上电异常，测试版MUC提示电流过大，无法完成常规的IIC通讯，判断为NG，防拆解绕线内部短路检测完成。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
1、本发明通过将待检测的电容触摸屏线路板防拆解绕线接入优化后的测试版线路中即可完成检测，无需通过万用表的表笔去接触FPC上的引脚，因此规避了因为万用表扎刺导致的FPC外观不良状况，提高了良品率；
2、本发明无需万用表即可完成检测，减少了一道检测工序，检测人员也相应减少，在不影响原有的测试精度的情况下提高了检测效率。
本发明通过将待检测的电容触摸屏线路板防拆解绕线接入优化后的测试版线路中，使其成为常规检测线路中电源线的一部分，无需通过万用表即可完成检测，提高了良品率和检测效率，适合广泛推广。
附图说明
图1为本发明优化后的测试版接线结构示意图；
图2为本发明的防拆解绕线蛇形走线示意图；
图3为传统测试版接线结构示意图；
图4为本发明优化后的测试版结构示意图。
图中：1引脚Ⅰ、2MCU_SCL、3MCU_SDA、4MCU_GND、5引脚Ⅴ、6MCU_INT、7MCU_RST、8MCU_VDD。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-4，本发明提供一种技术方案：
一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置，包括引脚Ⅰ1、MCU_SCL 2、MCU_SDA3、MCU_GND 4、引脚Ⅴ5、MCU_INT 6、MCU_RST 7、MCU_VDD 8，其特征在于：所述引脚Ⅰ1、MCU_SCL 2、MCU_SDA 3、MCU_GND 4、引脚Ⅴ5、MCU_INT 6、MCU_RST 7、MCU_VDD 8从上至下依次排列，所述引脚Ⅰ1和引脚Ⅴ5短接。
一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置及检测方法，包括以下步骤：
步骤一：对外接测试版端的接线进行优化：将测试版端的引脚Ⅰ1与引脚Ⅴ5短接，MCU_VDD 8引脚接到测试版端的8脚；
步骤二：将待检测的电容触摸屏线路板防拆解绕线接入优化后的测试版线路中，使其成为改进后的测试版MCU_VDD 8与TP_VD连接线路中的一部分，待检测的电容触摸屏线路板防拆解绕线接入测试版后电源的电流方向如下：MCU_VDD→测试版的8脚→防拆解绕线B端→防拆解绕线内部线路→防拆解绕线A端→测试版引脚Ⅰ1→TP_VDD；
步骤三：进行防拆解绕线内部开路测试：
当防拆解绕线内部线路开路，MCU_VDD 8无法与TP_VDD连接，触摸屏上电异常，无法完成常规的IIC通讯，判断为NG，反之则正常，防拆解绕线内部开测试完成；
步骤四：进行防拆解绕线内部与TP_GND短路测试：
当防拆解绕线内部与TP_GND短路，即MCU_VDD 8与TP_GND(TP_GND＝MCU_GND)，触摸屏上电异常，测试版MUC提示电流过大，无法完成常规的IIC通讯，判断为NG，防拆解绕线内部短路检测完成。
如说明书附图1所示，为防拆解线的绕线原理，防拆解线A端与地线(GND)相邻蛇形走线，到内部绕一圈回到防拆解线B端。
如说明书附图2所示，为传统的检测接线方式，需要检测的项如下：1、防拆解线A端与防拆解线B端的连接性能是否完好，即是否存在开路；2、防拆解线与相邻的地线(GND)是否短路。
防拆解线的开路检测：使用万用表的二极管档进行检测；万用表打到测试二极管的档位(蜂鸣档)，红表笔接防拆解线A端，黑表笔接防拆解绕线B端，万用表发出蜂鸣声，说明防拆解线A端与防拆解线B端线路无开路现象，功能OK，反之功能NG。
防拆解线与地线的短路检测：万用表打到测试二极管的档位(蜂鸣档)，红表笔接防拆解线A端，黑表笔接地线，万用表发出蜂鸣声，说明防拆解线与地线(GND)存在短路，功能OK，反之功能NG。
如说明书附图3所示，在测试板端接线进行优化：测试版端的引脚Ⅰ与引脚Ⅴ短接，MCU_VDD 8接到测试版端的8脚。
通过改进测试版转接线的方法，不影响其他线路通讯的前提下，把防拆解的绕线转变成常规线路的一部分，进行常规的检测，此种方法减少了检测工序，同时提高了工作效率，规避了万用表扎伤FPC(柔性线路板)的风险。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (2)

1.一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测装置，包括引脚Ⅰ(1)、MCU_SCL(2)、MCU_SDA(3)、MCU_GND(4)、引脚Ⅴ(5)、MCU_INT(6)、MCU_RST(7)、MCU_VDD(8)，其特征在于：所述引脚Ⅰ(1)、MCU_SCL(2)、MCU_SDA(3)、MCU_GND(4)、引脚Ⅴ(5)、MCU_INT(6)、MCU_RST(7)、MCU_VDD(8)从上至下依次排列，所述引脚Ⅰ(1)和引脚Ⅴ(5)短接。
2.一种触摸屏防拆解绕线短路、开路的检测方法，其特征在于：包括以下步骤：
步骤一：对外接测试版端的接线进行优化：将测试版端的引脚Ⅰ与引脚Ⅴ短接，MCU_VDD引脚接到测试版端的8脚；
步骤二：将待检测的电容触摸屏线路板防拆解绕线接入优化后的测试版线路中，使其成为改进后的测试版MCU_VDD与TP_VD连接线路中的一部分，待检测的电容触摸屏线路板防拆解绕线接入测试版后电源的电流方向如下：MCU_VDD→测试版的8脚→防拆解绕线B端→防拆解绕线内部线路→防拆解绕线A端→测试版引脚Ⅰ→TP_VDD；
步骤三：进行防拆解绕线内部开路测试：
当防拆解绕线内部线路开路，MCU_VDD无法与TP_VDD连接，触摸屏上电异常，无法完成常规的IIC通讯，判断为NG，反之则正常，防拆解绕线内部开测试完成；
步骤四：进行防拆解绕线内部与TP_GND短路测试：
当防拆解绕线内部与TP_GND短路，即MCU_VDD与TP_GND(TP_GND＝MCU_GND)，触摸屏上电异常，测试版MUC提示电流过大，无法完成常规的IIC通讯，判断为NG，防拆解绕线内部短路检测完成。
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