CN111199689A - 保护膜、具有其的电子装置和用于附着保护膜的方法 - Google Patents

Abstract

提供了一种电子装置、一种保护膜以及一种用于附着保护膜的方法。所述电子装置包括：柔性显示模块；窗，位于柔性显示模块上；以及保护基体膜，位于窗上，并且在第一温度下具有第一模量且在第二温度下具有低于第一模量的第二模量，第二温度比第一温度高80℃，其中，第一模量与第二模量之间的差可以不大于大约985MPa。

Description

保护膜、具有其的电子装置和用于附着保护膜的方法

本申请要求对于2018年11月20日提交的第10-2018-0143760号韩国专利申请的优先权和利益，该韩国专利申请的全部内容通过引用包含于此。

技术领域

本公开的实施例提供了一种保护膜、一种具有该保护膜的电子装置和一种用于附着保护膜的方法，具体地，提供了一种在低温环境和高温环境下具有改善的弯曲可靠性的保护膜、一种具有该保护膜的电子装置以及一种用于附着该保护膜的方法。

背景技术

电子装置通过在显示屏幕上显示各种图像来向用户提供信息。通常，电子装置在指定的屏幕内显示信息。最近，已经开发了均包括可折叠柔性显示面板的柔性电子装置。与刚性电子装置不同，柔性电子装置可以被折叠、卷曲或弯曲。因为不管屏幕尺寸如何，都可以携带具有各种可变形状的柔性电子装置，所以可以提高用户的便利性。

当用于确保电子装置的柔性的结构应用于柔性电子装置时，柔性电子装置的抗冲击性会劣化。另外，当用于增强抗冲击性的结构应用于柔性电子装置时，柔性电子装置的柔性会劣化。

发明内容

本公开的实施例提供了一种在低温环境和高温环境下具有改善的弯曲可靠性的保护膜以及一种用于附着保护膜的方法。本公开的实施例也提供了一种电子装置，该电子装置包括在低温环境和高温环境下具有改善的弯曲可靠性的保护膜。

本公开的实施例提供了一种电子装置，该电子装置包括：柔性显示模块；窗，位于柔性显示模块上；以及保护基体膜，位于窗上，并且在第一温度下具有第一模量且在第二温度下具有低于第一模量的第二模量，第二温度比第一温度高大约80摄氏度(℃)，其中，第一模量与第二模量之间的差可以是大约985MPa或更小。

在实施例中，第一温度可以是大约负20℃，并且第二温度可以是大约60℃。

在实施例中，第一模量可以是大约1000MPa或更小。

在实施例中，第二模量可以是15MPa或更大。

在实施例中，电子装置还可以包括位于保护基体膜上的功能层。

在实施例中，功能层的厚度可以不大于保护基体膜的厚度的大约十分之一。

在实施例中，保护基体膜的厚度可以为大约30μm或更大至大约300μm或更小。

在实施例中，电子装置还可以包括位于窗与保护基体膜之间的粘合层。

在实施例中，柔性显示模块可以是可折叠的显示模块。

在实施例中，柔性显示模块可以包括：显示面板；感测单元，位于显示面板上；以及防反射层，位于感测单元上。

在本公开的实施例中，一种保护膜包括：保护基体膜，在第一温度下具有大约1000MPa或更小的第一模量并且在比第一温度高大约80℃的第二温度下具有15MPa或更大的第二模量；功能层，位于保护基体膜上；粘合层，位于保护基体膜下；以及剥离层，位于粘合层下。

在实施例中，第一温度可以为大约负20℃，第二温度可以为大约60℃，并且第一模量可以高于第二模量。

在实施例中，保护基体膜的厚度可以为大约30μm或更大至大约300μm或更小，并且功能层的厚度可以不大于保护基体膜的厚度的大约十分之一。

在本公开的实施例中，一种用于附着保护膜的方法包括：准备测试保护膜；在第一温度下测量测试保护膜的第一模量；在高于第一温度的第二温度下测量测试保护膜的第二模量；检查测试保护膜的第一模量和第二模量；以及将具有与测试保护膜的物理性质相同的(例如，基本上相同的)物理性质的保护膜附着到目标物体上。

在实施例中，检查第一模量和第二模量的步骤可以包括：检查第一模量是否为大约1000MPa或更小；以及检查第二模量是否为大约15MPa或更大。

在实施例中，目标物体可以是剥离层。

在实施例中，目标物体可以是电子装置的窗。

在实施例中，可以通过动态机械分析法来测量第一模量和第二模量。

在实施例中，测试保护膜和保护膜中的每个可以包括保护基体膜。

在实施例中，测试保护膜和保护膜中的每个可以包括：保护基体膜；以及功能层，形成在保护基体膜上。

附图说明

附图被包括以提供对本公开的主题的进一步理解，并且附图并入本说明书中且构成本说明书的一部分。附图示出了本公开的示例性实施例，并且与描述一起用于解释本公开的原理。在附图中：

图1是根据本公开的实施例的电子装置的透视图；

图2A至图2F均示例性地示出了其中图1中所示的电子装置被折叠的状态；

图3A是根据本公开的实施例的处于第一状态的电子装置的剖视图；

图3B是根据本公开的实施例的处于第二状态的电子装置的剖视图；

图4是根据本公开的实施例的显示模块的剖视图；

图5A是根据本公开的实施例的窗的剖视图；

图5B是根据本公开的实施例的窗的剖视图；

图6是根据本公开的实施例的保护膜的剖视图；

图7是根据本公开的实施例的依据保护膜的温度的模量曲线图；

图8A是在低温可弯曲性测试工艺中出现的裂纹缺陷的照片；

图8B是在高温可弯曲性测试工艺中出现的褶皱缺陷的照片；

图9A是根据本公开的实施例的保护膜的剖视图；

图9B是示出根据本公开的实施例的其中保护膜附着到电子装置的状态的剖视图；

图10A至图10E是示出根据本公开的实施例的用于附着保护膜的方法的剖视图；

图11A至图11F是示出根据本公开的实施例的用于附着保护膜的方法的剖视图；

图12A和图12B是示出根据本公开的实施例的用于附着保护膜的方法的剖视图；

图13是示出根据本公开的实施例的用于附着保护膜的方法的剖视图；以及

图14是示出根据本公开的实施例的用于附着保护膜的方法的剖视图。

具体实施方式

在本公开中，将理解的是，当元件(或区域、层、部分等)被称为“在”另一元件“上”、“连接到”或“结合到”另一元件时，该元件可以直接在所述另一元件上、直接连接到或直接结合到所述另一元件，或者其他元件可以置于其间。

同样的附图标记指示同样的元件。此外，在附图中，为了图示的清楚，可以夸大层和区域的尺寸。

术语“和/或”包括可以由相关所列项限定的一个或更多个组合中的任意一种。

将理解的是，尽管术语第一和第二在此用来描述各种元件，但这些元件不应该被这些术语限制。上面的术语仅用来将一个组件与另一组件区分开。例如，在不脱离本公开的精神和范围的情况下，第一元件可以被称为第二元件，并且第二元件也可以被称为第一元件。除非上下文另外清楚地指示，否则单数形式的术语可以包括复数形式。

另外，诸如“在······下”、“在······下方”、“在······上”、“在······上方”等的空间相对术语可以在此用于描述在附图中示出的元件之间的关系。上面的术语是相对概念并且是相对于在附图中所指示的方向描述的。将理解的是，除了包括附图中所描绘的方位之外，空间相对术语意图包括装置在使用中或在操作中的不同的方位。例如，如果在附图中的装置被翻转，则描述为“在”其他元件或特征“下方”或“之下”或“下”的元件于是将被定位“在”其他元件或特征“上方”。因此，示例术语“在······下方”和“在······下”可以包括上方和下方两者的方位。可以另外定位装置(例如，旋转90度或处于其他方位)，并且应该相应地解释在此所使用的空间相对描述语。

除非另外限定，否则在此使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与由本公开所属领域中的普通技术人员通常理解的含义相同的含义。还将理解的是，术语(诸如在通用词典中定义的术语)应该被解释为具有与它们在相关领域的背景下的含义一致的含义，而不将以理想化或过于形式化的意思来解释，除非在此明确地如此限定。

应理解的是，在本公开中，术语“包含”、“包括”、“具有”等指明性质、数值、动作、操作、元件或它们的组合，但不排除其他性质、数值、动作、操作、元件或它们的组合。

本公开的实施例在此涉及保护膜，并且例如，涉及具有减少的缺陷的保护膜和包括该保护膜的电子装置以及用于附着该保护膜的方法。在下文中，将参照附图更加详细地描述本公开的示例性实施例。

图1是根据本公开的实施例的电子装置的透视图。

参照图1，电子装置ED可以通过显示表面DD-IS显示图像IMG。作为图像IMG的非限制示例，显示了时钟窗图像、搜索窗图像和图标图像。显示表面DD-IS平行于(例如，基本上平行于)由第一方向DR1和第二方向DR2限定的表面。显示表面DD-IS的法线的方向(例如，电子装置ED的厚度方向)由第三方向DR3指示。可以通过第三方向DR3使在下文中描述的每个构件的前表面(或上表面)和后表面(或下表面)区分开。

显示表面DD-IS可以包括：显示区域DD-DA，在显示区域DD-DA2中显示图像IMG；以及非显示区域DD-NDA，与显示区域DD-DA相邻。非显示区域DD-NDA是在其中不显示图像的区域。例如，非显示区域DD-NDA可以被构造为不显示图像。显示区域DD-DA可以具有矩形形状。非显示区域DD-NDA可以围绕显示区域DD-DA。然而，本公开的实施例不限于此，可以相对地设计显示区域DD-DA的形状和非显示区域DD-NDA的形状。另外，在本公开的实施例中，可以省略非显示区域DD-NDA。

在图1中，示出了便携式电子装置作为电子装置ED的示例。然而，本公开的实施例不限于此，电子装置ED可以用于诸如以电视和监视器为例的大型电子装置以及诸如移动电话、平板电脑、车辆导航单元、游戏机和智能手表的中小型电子装置。

图2A至图2F均示例性地示出了其中图1中所示出的电子装置被折叠的状态。

参照图2A，电子装置ED可以包括根据操作类型(或操作模式)限定的多个区域。电子装置ED可以包括第一区域NFA1、第二区域NFA2和位于第一区域NFA1与第二区域NFA2之间的第三区域FA。第三区域FA是基于折叠轴FX折叠的区域并且是基本上形成一定曲率的区域。在下文中，第一区域NFA1、第二区域NFA2和第三区域FA可以分别被称为第一非折叠区域NFA1、第二非折叠区域NFA2和折叠区域FA。

根据本公开的实施例的电子装置ED可以内折叠，使得第一非折叠区域NFA1的显示表面DD-IS与第二非折叠区域NFA2的显示表面DD-IS彼此面对。

参照图2B，电子装置ED也可以外折叠，使得显示表面DD-IS暴露于外部。例如，电子装置ED可以外折叠，使得第一非折叠区域NFA1的显示表面DD-IS与第二非折叠区域NFA2的显示表面DD-IS彼此背离。折叠轴FX可以在第二方向DR2上延伸，并且折叠轴FX可以是电子装置ED的短轴方向。

参照图2C，根据本公开的实施例的电子装置ED可以相对于折叠轴FXa内折叠或外折叠。折叠轴FXa可以在第一方向DR1上延伸，并且折叠轴FXa可以是电子装置ED的长轴方向。

参照图2D，根据本公开的实施例的电子装置ED可以从一个端部内折叠。参照图2E，根据本公开的实施例的电子装置ED可以从一个端部外折叠。参照图2F，根据本公开的实施例的电子装置ED可以对角折叠。图2A至图2F示例性地示出了折叠方法，而本公开的实施例不限于此。

图3A是根据本公开的实施例的处于第一状态的电子装置的剖视图。图3B是根据本公开的实施例的处于第二状态的电子装置的剖视图。

参照图3A和图3B，电子装置ED可以包括显示模块DM、窗WD和保护膜PF。电子装置ED可以是柔性电子装置，因此，显示模块DM、窗WD和保护膜PF可以均具有柔性性质。

在本公开的实施例中，电子装置ED的形状可以从平坦的第一状态重复地改变为折叠的第二状态和/或从第二状态重复地改变为第一状态。折叠区域FA可以限定在设定区域或特定区域处，并且可以根据折叠半径BR来确定折叠区域FA的面积。在本公开的实施例中，折叠区域FA的位置可以对应于用户操作电子装置ED的形式而改变。例如，当用户卷曲整个(例如，基本上整个)电子装置ED时，折叠区域FA可以是整个(例如，基本上整个)电子装置ED。

第一粘合层AL1位于保护膜PF与窗WD之间，并且第二粘合层AL2可以位于窗WD与显示模块DM之间。第一粘合层AL1和第二粘合层AL2中的每个可以是光学透明粘合层、光学透明树脂和/或压敏粘合层。然而，这仅是作为示例示出，在本公开的另一实施例中，也可以省略第一粘合层AL1和第二粘合层AL2中的至少一部分。

图4是根据本公开的实施例的显示模块的剖视图。

参照图4，显示模块DM可以包括显示面板DP、感测单元SU和防反射层RPL。感测单元SU可以位于显示面板DP上，并且防反射层RPL可以位于感测单元SU上。然而，显示模块DM的层叠顺序不局限于上面的示例。例如，感测单元SU可以位于显示面板DP下，也可以被包括为显示面板DP内部的构造。

在本公开的实施例中，可以省略感测单元SU或防反射层RPL的至少一部分，例如，显示模块DM也可以仅包括显示面板DP。在本公开的实施例中，防反射层RPL也可以位于感测单元SU与显示面板DP之间。

显示面板DP可以包括基体层BF、电路层ML、发光元件层EML和薄膜封装层ECL。在本说明书中，将有机发光显示面板示例性地描述为显示面板DP的示例，而本公开的实施例不具体地局限于此。

基体层BF可以具有包括硅基底、塑料基底、玻璃基底、绝缘膜和/或多个绝缘层的层叠结构。

电路层ML可以位于基体层BF上。电路层ML可以包括多个绝缘层、多个导电层和一个半导体层。发光元件层EML可以位于电路层ML上。

发光元件层EML包括诸如以有机发光二极管为例的显示元件。然而，本公开的实施例不具体地局限于此，而发光元件层EML可以根据显示面板DP的类型或种类包括无机发光二极管和/或有机-无机混合发光二极管。

薄膜封装层ECL将发光元件层EML封装。薄膜封装层ECL包括多个无机层和置于其间的至少一个有机层。无机层保护发光元件层EML免受湿气和/或氧的影响，并且有机层保护发光元件层EML免受诸如以灰尘颗粒为例的外来物质的影响。

感测单元SU可以包括检测触摸的电路。感测单元SU的触摸感测方法可以包括电阻膜法、光学法、静电电容法和/或超声法等，但本公开的实施例不限于此。在这些方法之中，静电电容型感测单元SU可以在触摸生成物体(例如，手指和/或触针)接触电子装置ED(见图1)的屏幕时，通过利用静电电容来检测是否发生触摸。静电电容法可以被划分为互静电电容法和磁静电电容法。

感测单元SU可以直接位于显示面板DP上。术语“直接在(位于)······上”意味着排除了通过使用单独的粘合构件附着，并且意味着通过连续工艺形成。例如，感测单元SU和显示面板DP可以直接物理接触，而没有任何中间层在其间。然而，本公开的实施例不限于此，显示面板DP和感测单元SU可以通过粘合构件彼此结合。

防反射层RPL可以位于感测单元SU上。防反射层RPL可以减少从外部入射的外部光的反射。防反射层RPL可以包括例如偏振器。

图5A是根据本公开的实施例的窗的剖视图。

参照图5A，窗WD可以包括窗膜FM、功能层FL和图案层DCL。

窗膜FM可以包括从聚酰亚胺(PI)、聚酰胺酰亚胺(PAI)、聚醚醚酮(PEEK)、聚醚酰亚胺(PEI)和玻璃选择的至少任何一种。然而，这些仅是示例，而构成窗膜FM的材料不限于此。

功能层FL可以位于窗膜FM上。例如，功能层FL可以包括从指纹防止层、防反射层和硬涂层选择的至少任何一种。

窗WD可以被划分为透射区域TA和边框区域BZA。边框区域BZA可以至少局部地围绕透射区域TA。因此，透射区域TA的形状可以基本上由边框区域BZA限定。边框区域BZA可以对应于在图1中所示出的非显示区域DD-NDA。因此，透射区域TA可以具有矩形(例如，基本上矩形)形状。然而，这是示例性示出的，边框区域BZA可以仅与透射区域TA的一侧相邻，而且也可以被省略。

边框区域BZA可以具有设定颜色或预定颜色。图案层DCL可以位于窗膜FM下并且可以限定边框区域BZA。例如，图案层DCL可以具有设定颜色或预定颜色，例如黑色、蓝色、红色、绿色、粉色、金色、银色和/或青铜色。在本公开的实施例中，也可以省略图案层DCL。

图5B是根据本公开的实施例的窗的剖视图。在描述图5B时，相同的附图符号指示相对于图5A描述的相同构造，因此，这里将不重复它们的重复描述。

参照图5B，窗WD1可以包括至少两个窗膜FM1和FM2、使窗膜FM1和FM2附着的粘合层WAL、功能层FL和图案层DCL1。

第一窗膜FM1和第二窗膜FM2中的每个可以包括从聚酰亚胺(PI)、聚酰胺酰亚胺(PAI)、聚醚醚酮(PEEK)和聚醚酰亚胺(PEI)选择的至少任何一种。然而，这些仅是示例，而构成第一窗膜FM1和第二窗膜FM2中的每个的材料不限于此。在本公开的实施例中，第一窗膜FM1和第二窗膜FM2可以包括彼此相同的材料和/或也可以包括彼此不同的材料。例如，第一窗膜FM1和第二窗膜FM2也可以包括具有彼此不同的模量(例如，杨氏模量)的材料。

粘合层WAL可以位于第一窗膜FM1与第二窗膜FM2之间。粘合层WAL可以包括光学透明粘合层、光学透明树脂和/或压敏粘合层。

图案层DCL1可以位于第一窗膜FM1下并且可以限定边框区域BZA。然而，本公开的实施例不限于此。图案层DCL1也可以位于第一窗膜FM1的上表面上或者第二窗膜FM2的下表面上。另外，在实施例中，可以设置多个图案层DCL1，并且在这种情况下，多个图案层DCL1也可以设置在第一窗膜FM1的上表面上和第一窗膜FM1的下表面上。在本公开的实施例中，也可以省略图案层DCL1。

图6是根据本公开的实施例的保护膜的剖视图。图7是根据本公开的实施例的依据保护膜的温度的模量曲线图。在一些实施例中，该模量可以是杨氏模量。图8A是在低温可弯曲性测试工艺期间出现的裂纹缺陷的照片。图8B是在高温可弯曲性测试工艺期间出现的褶皱缺陷的照片。

参照图6和图7，保护膜PF可以包括保护基体膜PBF和功能层PFL。

保护基体膜PBF可以在第一温度TM1下具有第一模量MD1并且可以在第二温度TM2下具有第二模量MD2。第二温度TM2可以是比第一温度TM1高的温度，并且第一模量MD1可以比第二模量MD2高。

第一温度TM1与第二温度TM2之间的差可以是大约80摄氏度(℃)，并且第一模量MD1与第二模量MD2之间的差可以不大于大约985MPa。例如，第一温度TM1可以是大约负20℃(-20℃)，并且第二温度TM2可以是大约60℃。第一模量MD1可以不大于大约1000MPa，并且第二模量MD2可以是至少大约15MPa。例如，第一模量MD1可以是大约10MPa或更大至大约1000MPa或更小，并且第二模量MD2可以是大约15MPa或更大至大约5GPa或更小。

保护基体膜PBF的第一模量MD1和第二模量MD2可以满足所有上述条件。在上面的条件中，第一模量MD1比第二模量MD2高，第一模量MD1与第二模量MD2之间的差可以不大于大约985Mpa，第一模量MD1为10MPa或更大至1000MPa或更小，并且第二模量MD2为15MPa或更大至5GPa或更小。

当保护基体膜PBF的第一模量MD1大于大约1000MPa时，保护基体膜PBF会处于太硬且易于损坏的状态。例如，保护基体膜PBF的柔性会在低温环境下劣化，并且当保护基体膜PBF弯曲时，会在保护基体膜PBF中形成裂纹。

另外，当保护基体膜PBF的第二模量MD2小于大约15MPa时，保护基体膜PBF会处于太柔软的状态。在这种情况下，由于保护基体膜PBF和功能层PFL之间在模量方面的差异而会在保护基体膜PBF中形成轻微的褶皱。

保护基体膜PBF可以是选自于在大约负20℃(-20℃)下具有不大于大约1000MPa的模量并且在大约60℃下具有至少大约15MPa的模量的膜。例如，保护基体膜PBF可以包括对于每个温度满足以上模量范围的聚合物膜和/或强化玻璃膜。例如，聚合物膜可以包括从基于聚乙烯、聚丙烯、聚苯乙烯、聚乙烯醇、聚偏二氯乙烯、聚甲基戊烯、聚甲基丙烯酸甲酯、聚氨酯、纤维素、尼龙、聚碳酸酯、聚酯、聚丙烯腈、聚缩醛和氟的膜和/或尼龙膜选择的任何一种。例如，聚合物膜可以包括聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)膜、热塑性聚氨酯(TPU)膜和/或聚碳酸酯(PC)膜。除以上列出的聚合物膜之外，聚合物膜可以包括在大约负20℃(-20℃)下具有不大于大约1000MPa的模量并且在大约60℃下具有至少大约15MPa的模量的共聚物。例如，聚合物膜可以包括由硅氧烷聚合物组成的共聚物。

在下文中，表1示出了针对每个测试目标的抗冲击性测试、低温可弯曲性测试和高温可弯曲性测试的结果。

表1

在抗冲击性测试中，当金属球从设定高度或预定高度落下时，记录了出现凹痕缺陷的高度。在低温可弯曲性测试中，评估了在低温环境下通过反复折叠是否出现裂纹。另外地，在高温可弯曲性测试中，评估了在高温环境下通过反复折叠是否出现褶皱。凹痕缺陷可能出现在显示面板DP(见图4)中，并且这可以作为亮点或暗点而被观看到。未附着保护基体膜(例如，保护膜PF)的电子装置ED(见图1)既通过了低温可弯曲性测试又通过了高温可弯曲性测试。然而，在抗冲击性测试的阶段，当在大约1cm的高度处执行测试时，出现了亮点和/或暗点。

在附着有保护基体膜A至保护基体膜G的电子装置中的每个中，在抗冲击性测试阶段，由于从大约6cm的最小高度至大约9cm的最大高度施加的冲击而出现了亮点和/或暗点。例如，当附着了保护基体膜时，出现亮点和/或暗点的测试高度最小增加5cm并且增加多达8cm。因此，在进一步将保护基体膜应用到电子装置的情况下，可以发现的是，进一步改善了抗冲击性能。

保护基体膜A在低温下具有大约1880MPa的第一模量MD1并且在高温下具有大约48MPa的第二模量MD2。例如，保护基体膜A的第一模量MD1会不满足不大于1000MPa的范围，而第二模量MD2满足至少大约15MPa的模量。在这种情况下，保护基体膜A通过了高温可弯曲性测试，但在低温可弯曲性测试中，当执行了15000次折叠时，出现了裂纹，因而不能通过低温可弯曲性测试。保护基体膜B在低温下也具有超过1000MPa的大约1560MPa的模量。相应地，当保护基体膜B被折叠了52000次时，出现了裂纹，因而不能通过低温可弯曲性测试。图8A是在低温可弯曲性测试工艺中出现的裂纹缺陷的图像的照片。

保护基体膜C和保护基体膜D都具有不大于1000MPa的低温模量，但是都具有不大于15MPa的高温模量。相应地，保护基体膜C和保护基体膜D通过了低温可弯曲性测试，但不能通过高温可弯曲性测试。当保护基体膜C被折叠了大约5000次时，在保护基体膜C中出现了褶皱，当保护基体膜D被折叠了大约12000次时，在保护基体膜D中出现了褶皱。图8B是示出了在高温可弯曲性测试工艺期间出现的褶皱缺陷的图像的照片。

然而，保护基体膜E、保护基体膜F和保护基体膜G的低温模量满足不大于大约1000MPa的范围，并且它们的高温模量满足至少大约15MPa的范围。相应地，保护基体膜E、保护基体膜F和保护基体膜G既通过了低温可弯曲性测试又通过了高温可弯曲性测试。因此，应用了具有满足不大于大约1000MPa的范围的低温模量和满足至少大约15MPa的范围的高温模量的保护基体膜PBF的电子装置ED(见图1)可以具有改善的可靠性。例如，即使当在低温环境或高温环境下发生电子装置ED的重复形变时，也可以减少在保护膜PF中出现裂纹或在保护膜PF中出现褶皱的问题。另外，因为保护膜PF附着到窗WD(见图4)上，所以可以改善电子装置ED的抗冲击性能。

功能层PFL可以位于保护基体膜PBF上。功能层PFL可以包括从防指纹层、防反射层和硬涂层选择的至少任何一种。

保护基体膜PBF可具有第一厚度TK1，并且功能层PFL可以具有第二厚度TK2。第二厚度TK2可以不大于第一厚度TK1的大约十分之一。例如，第一厚度TK1可以为大约30μm至300μm(包括端点值)。第二厚度TK2可以为5μm或更小，并且可以在满足上述条件的范围内选择。例如，第一厚度TK1可以是大约100μm，第二厚度TK2可以是大约3μm。

图9A是根据本公开的实施例的保护膜的剖视图。图9B是示出根据本公开的实施例的其中保护膜被附着到电子装置的状态的剖视图。

参照图9A和图9B，也可以单独地设置单个保护膜PPF。单个保护膜PPF可以包括保护基体膜PBF、功能层PFL、第一粘合层AL1-1、第一剥离层RF1和第二剥离层RF2。

保护基体膜PBF可以是选自于在大约负20℃(-20℃)下具有不大于大约1000MPa的模量并且在大约60℃下具有至少大约15MPa的模量的膜。功能层PFL可以位于保护基体膜PBF上。功能层PFL可以包括从防指纹层、防反射层、防眩层和硬涂层选择的至少任何一种。第一粘合层AL1-1可以位于保护基体膜PBF下。第一粘合层AL1-1可以是附着到窗WD的层。

第一剥离层RF1可以位于第一粘合层AL1-1下，第二剥离层RF2可以位于功能层PFL上。在本公开的另一实施例中，也可以省略第二剥离层RF2。第一剥离层RF1和第二剥离层RF2可以包括一个突出的部分从而容易从第一粘合层AL1-1和功能层PFL分离。

用户可以直接将单个保护膜PPF附着到电子装置ED。例如，用户可以将单个保护膜PPF附着到具有窗WD作为其最外表面的电子装置ED。用户可以将第一剥离层RF1从第一粘合层AL1-1分离，可以使第一粘合层AL1-1与窗WD紧密接触，并且可以将保护基体膜PBF附着到窗WD。也可以从功能层PFL分离第二剥离层RF2。

图10A至图10E是示出根据本公开的实施例的用于附着保护膜的方法的剖视图。

参照图10A，准备测试保护膜TPF。测试保护膜TPF可以包括保护基体膜TPBF和功能层TPFL。

参照图10B，在第一温度TM1下测量测试保护膜TPF的第一模量。第一温度TM1可以是大约负20℃(-20℃)。参照图10C，在第二温度TM2下测量测试保护膜TPF的第二模量。第二温度TM2可以是大约60℃。可以通过动态机械分析法测量第一模量和第二模量。例如，将诸如折叠或弯曲的周期应力施加到测试保护膜TPF，并且可以通过动态机械分析法测量根据温度的模量。

参照图10D，检查(例如，测量或测试)第一模量和第二模量。例如，可以检查(例如，测量或测试)第一模量是否大于大约1000MPa以及第二模量是否为至少大约15MPa。当第一模量和第二模量满足模量条件时，准备具有与测试保护膜TPF的物理性质相同的(例如，基本上相同的)物理性质的保护膜PF。例如，保护膜PF可以具有与测试保护膜TPF的模量相同的(例如，基本上相同的)模量。

参照图10E，将保护膜PF附着到目标物体。目标物体可以是窗WD。可以通过第一粘合层AL1将保护膜PF结合到窗WD。

图11A至图11F是示出根据本公开的实施例的用于附着保护膜的方法的剖视图。

参照图11A，准备测试保护膜TPF-1。测试保护膜TPF-1可以仅包括保护基体膜TPBF。

参照图11B，在第一温度TM1下测量测试保护膜TPF-1的第一模量。第一温度TM1可以为大约负20℃(-20℃)。参照图11C，在第二温度TM2下测量测试保护膜TPF-1的第二模量。第二温度TM2可以为大约60℃。

参照图11D，检查(例如，测量或测试)第一模量和第二模量。例如，可以检查(例如，测量或测试)第一模量是否不大于大约1000MPa以及第二模量是否为至少大约15MPa。当第一模量和第二模量满足模量条件时，准备具有与测试保护膜TPF-1的物理性质相同的物理性质的保护基体膜PBF-1。例如，保护基体膜PBF-1可以具有与测试保护膜TPF-1的模量相同的(例如，基本上相同的)模量。

参照图11E，在保护基体膜PBF-1上形成功能层PFL-1以形成保护膜PF-1。

参照图11F，将保护膜PF-1附着到目标物体。目标物体可以是窗WD。可以通过第一粘合层AL1将保护膜PF-1结合到窗WD。

图12A和图12B是示出根据本公开的实施例的用于附着保护膜的方法的剖视图。

参照图12A和图12B，准备具有与测试保护膜TPF-1(见图11A)的物理性质相同的(例如，基本上相同的)物理性质的保护基体膜PBF-1。将保护基体膜PBF-1附着到目标物体。目标物体可以是窗WD。可以通过第一粘合层AL1将保护基体膜PBF-1结合到窗WD。可以通过第二粘合层AL2将窗WD结合到显示模块DM。

在将保护基体膜PBF-1附着到窗WD之后，可以在保护基体膜PBF-1上形成功能层PFL-1。结果，可以在窗WD上形成保护膜PF-1。

图13是示出根据本公开的实施例的用于附着保护膜的方法的剖视图。

参照图13，在将窗WD结合到显示模块DM(见图3A)之前，可以通过粘合层AL1将保护膜PF附着到窗WD。

图14是示出根据本公开的实施例的用于附着保护膜的方法的剖视图。

参照图14，保护膜PF所附着到的目标物体可以是经由粘合层AL1-1附着的第一剥离层RF1。将第一剥离层RF1和第二剥离层RF2附着到保护膜PF，使得可以形成单个保护膜PPF。

根据本公开的实施例，应用于柔性电子装置ED(见图1)的保护膜PF可以包括在低温下具有满足设定范围或特定范围的第一模量和在高温下具有满足设定范围或特定范围的第二模量的膜。因此，即使当用户在低温环境或高温环境下使用电子装置ED时，可以防止或减少出现裂纹和出现褶皱的现象，并且可以改善产品可靠性。

根据本公开的实施例，电子装置包括保护膜。因此，可以改善电子装置的抗冲击性。另外，保护膜可以在低温和高温中的每个温度下满足设定的模量条件或特定的模量条件。在低温环境下在保护膜中出现裂纹的可能性和在高温环境下在保护膜中出现褶皱的可能性可以减小或者被降低。因此，可以改善电子装置的可靠性。

如在此所使用的，术语“基本上”、“大约”以及相似的术语被用作近似术语而不用作程度术语，并且旨在解释将被本领域的普通技术人员所认识到的在测量值或计算值中的固有偏差。此外，在描述本公开的实施例时“可以”的使用表示“本公开的一个或更多个实施例”。如在此所使用的，可以认为术语“使用”及其变型分别与术语“利用”及其变型同义。此外，术语“示例性”旨在表示示例或例示。

此外，在此所叙述的任意数值范围旨在包括包含在所叙述的范围内的同一数值精度的所有子范围。例如，“1.0至10.0”的范围旨在包括在所叙述的最小值1.0与所叙述的最大值10.0之间(并且包括所表述的最小值1.0和所叙述的最大值10.0)的所有子范围，即，具有等于或大于1.0的最小值与等于或小于10.0的最大值之间的所有子范围，诸如，以2.4至7.6为例。在此所叙述的任何最大数值限值(即，上限)旨在包括包含在其中的所有较小数值限值，并且在本说明书中所叙述的任何最小数值限值(即，下限)旨在包括包含在其中的所有较大数值限值。因此，申请人保留修改本说明书的权利以及修改权利要求书的权利，以明确地叙述包含于在此所明确地叙述的范围内的任何子范围。

到目前为止，已经描述了本公开的示例实施例。然而，对本领域的技术人员来说将明显的是，可以对本公开的主题进行各种修改和改变。因此，本公开旨在覆盖本公开的主题的在权利要求及其等同物的精神和范围内的修改和变化。因此，本公开的范围不是由本公开的详细描述限定，而是由权利要求及其等同物限定。

Claims (20)

1.一种电子装置，所述电子装置包括：

柔性显示模块；

窗，位于所述柔性显示模块上；以及

保护基体膜，位于所述窗上，并且在第一温度下具有第一模量且在第二温度下具有低于所述第一模量的第二模量，所述第二温度比所述第一温度高80℃，

其中，所述第一模量与所述第二模量之间的差为985MPa或更小。

2.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述第一温度为负20℃，并且所述第二温度为60℃。

3.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述第一模量为1000MPa或更小。

4.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述第二模量为15MPa或更大。

5.根据权利要求1所述的电子装置，所述电子装置还包括位于所述保护基体膜上的功能层。

6.根据权利要求5所述的电子装置，其中，所述功能层的厚度不大于所述保护基体膜的厚度的十分之一。

7.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述保护基体膜的厚度为30μm或更大至300μm或更小。

8.根据权利要求1所述的电子装置，所述电子装置还包括位于所述窗和所述保护基体膜之间的粘合层。

9.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述柔性显示模块是可折叠的显示模块。

10.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述柔性显示模块包括：

显示面板：

感测单元，位于所述显示面板上；以及

防反射层，位于所述感测单元上。

11.一种保护膜，所述保护膜包括：

保护基体膜，在第一温度下具有1000MPa或更小的第一模量并且在第二温度下具有15MPa或更大的第二模量，所述第二温度比所述第一温度高80℃；

功能层，位于所述保护基体膜上；

粘合层，位于所述保护基体膜下；以及

剥离层，位于所述粘合层下。

12.根据权利要求11所述的保护膜，其中：

所述第一温度为负20℃，所述第二温度为60℃，并且

所述第一模量高于所述第二模量。

13.根据权利要求11所述的保护膜，其中：

所述保护基体膜的厚度为30μm或更大至300μm或更小，并且

所述功能层的厚度不大于所述保护基体膜的所述厚度的十分之一。

14.一种用于附着保护膜的方法，所述方法包括以下步骤：

准备测试保护膜；

在第一温度下测量所述测试保护膜的第一模量；

在高于所述第一温度的第二温度下测量所述测试保护膜的第二模量；

检查所述测试保护膜的所述第一模量和所述第二模量；以及

将具有与所述测试保护膜的物理性质相同的物理性质的保护膜附着到目标物体。

15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述检查所述测试保护膜的所述第一模量和所述第二模量的步骤包括：

检查所述第一模量是否为1000MPa或更小；以及

检查所述第二模量是否为15MPa或更大。

16.根据权利要求14所述的方法，其中，所述目标物体是剥离层。

17.根据权利要求14所述的方法，其中，所述目标物体是电子装置的窗。

18.根据权利要求14所述的方法，其中，所述第一模量和所述第二模量是通过动态机械分析法测量的。

19.根据权利要求14所述的方法，其中，所述测试保护膜和所述保护膜中的每个包括保护基体膜。

20.根据权利要求14所述的方法，其中，所述测试保护膜和所述保护膜中的每个包括：

保护基体膜；以及

功能层，形成在所述保护基体膜上。

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