CN110687436A - 一种自动电路板功能测试装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种自动电路板功能测试装置及方法，该自动电路板功能测试装置包括测试架、供电电源及电脑端，其特征在于，所述测试架内设置有自动测试板，所述自动测试板包括单片机、串口电路、测试按键控制电路、供电输入电路、供电控制电路，所述单片机分别与所述串口电路、所述测试按键控制电路、所述供电输入电路及所述供电控制电路连接，所述供电输入电路与所述供电电源连接，所述串口电路与所述电脑端连接；所述测试按键控制电路用于控制所述测试架上测试按键的开启与关闭。本发明能够有效减少人员投入，提高测试速度及降低测试不良率，降低整体测试成本。
Description
技术领域
本发明涉及电路板测试领域，具体的说，是涉及一种自动电路板功能测试装置及方法。
背景技术
目前，在电路板生产出来后，需要对电路板进行功能测试，部分测试需要将待测电路板放到一个测试夹具上，然后通过USB/串口等接口连接电脑，在电脑端安装测试软件，通过看电脑端的测试软件指示测试哪种功能，然后测试人员在测试夹具上通过按对应的开关/按键，电路板接收到这些动作后反馈给电脑端，电脑端判断电路板传回的数据是否正确来判断电路板的功能是否正常。
整个过程需要人工一直观察电脑端工具，同时需要手动按测试夹具上的按键，测试效率低下，出错率高。
发明内容
为了克服现有的技术的不足,本发明提供一种自动电路板功能测试装置及方法。
本发明技术方案如下所述：
一种自动电路板功能测试装置，包括测试架、供电电源及电脑端，其特征在于，
所述测试架内设置有自动测试板，所述自动测试板包括单片机、串口电路、测试按键控制电路、供电输入电路、供电控制电路，所述单片机分别与所述串口电路、所述测试按键控制电路、所述供电输入电路及所述供电控制电路连接，所述供电输入电路与所述供电电源连接，所述串口电路与所述电脑端连接；
所述测试按键控制电路用于控制所述测试架上测试按键的开启与关闭。
根据上述的本发明，其特征在于，所述测试按键控制电路包括第一测试按键控制电路、第二测试按键控制电路及第三测试按键控制电路，所述单片机分别与所述第一测试按键控制电路、所述第二测试按键控制电路及所述第三测试按键控制电路连接。
进一步的，其特征在于，所述第一测试按键控制电路为打火信号测试按键控制电路，所述第二测试按键控制电路为高温测试按键控制电路，所述第三测试按键控制电路为低温测试按键控制电路；
所述打火信号测试按键控制电路用于控制所述测试架上打火信号测试按键的开启与关闭，所述高温测试按键控制电路用于控制所述测试架上高温测试按键的开启与关闭，所述低温测试按键控制电路用于控制所述测试架上低温测试按键控制电路的开启与关闭。
根据上述的本发明，其特征在于，所述自动测试板更包括开机按键控制电路，所述开机按键控制电路与所述单片机连接；
所述开机按键控制电路用于控制所述测试架上开机按键的开启与关闭。
根据上述的本发明，其特征在于，所述自动测试板更包括马达控制电路，所述马达控制电路与所述单片机连接；
所述马达控制电路用于控制所述测试架上振动马达的开启与关闭。
根据上述的本发明，其特征在于，所述自动测试板更包括复位按键控制电路，所述复位按键控制电路与所述单片机连接；
所述复位按键控制电路用于控制所述测试架上复位按键的开启与关闭。
根据上述的本发明，其特征在于，所述单片机的型号为STM32F030C8。
根据上述的本发明，其特征在于，所述串口电路为UART转USB串口电路。
一种自动电路板功能测试方法，应用于自动电路板功能测试装置，所述自动电路板功能测试装置包括测试架、供电电源及电脑端，所述测试架分别与所述供电电源和所述电脑端连接，其特征在于，包括以下步骤：
S1、所述电脑端载入测试工具，并通过所述测试工具发送测试指令至所述测试架；
S2、所述测试架内的自动测试板检测到所述测试指令，控制所述测试架上相应的测试按键对所述测试架上的待测电路板进行测试；
S3、所述测试架将测试结果反馈给所述电脑端；
S4、所述电脑端载入的所述测试工具根据反馈的所述测试结果判断所述待测电路板的功能是否正常。
本发明的有益效果在于：
测试人员只需要将待测试的电路板放入测试夹中，按一下开始开关即可完成测试，后续的测试动作均由自动测试板来控制，自动测试板检测电脑下发的命令，控制相应的测试按键，从而达到自动测试的目的，有效的减少人为操作，避免误操作。同时，测试人员只需要在测试完成后手动更换待测电路板即可，这样同一个测试人员可以同时操作多台测试夹具，能极大的减少人员的投入及测试的不良率。
附图说明
图1为本发明一实施例结构框架图；
图2为本发明一实施例自动测试板的结构框架图；
图3为本发明一实施例单片机与串口电路的连接示意图；
图4为本发明一实施例打火信号测试按键控制电路图；
图5为本发明一实施例高温测试按键控制电路；
图6为本发明一实施例低温测试按键控制电路；
图7为本发明一实施例供电输入电路图；
图8为本发明一实施例供电控制电路图；
图9为本发明一实施例开机按键控制电路图；
图10为本发明一实施例马达控制电路图；
图11为本发明一实施例复位按键控制电路图；
图12为本发明一实施例流程图。
具体实施方式
下面结合附图以及实施方式对本发明进行进一步的描述：
如图1-图2所示，一种自动电路板功能测试装置，包括测试架、供电电源及电脑端。测试架内设置有自动测试板，自动测试板包括单片机、串口电路、测试按键控制电路、供电输入电路、供电控制电路，单片机分别与串口电路、测试按键控制电路、供电输入电路及供电控制电路连接，供电输入电路与供电电源连接，串口电路与电脑端连接；测试按键控制电路用于控制测试架上测试按键的开启与关闭。
如图3所示，单片机通过串口电路与电脑端连接，实现信息的互传。单片机的型号为STM32F030C8，单片机中烧录对应的软件，能够识别电脑端串口发送的命令，然后通过测试按键控制电路控制对应的测试按键，达到自动测试的目的。
优选的，串口电路为UART转USB串口电路。
优选的，测试按键控制电路包括第一测试按键控制电路、第二测试按键控制电路及第三测试按键控制电路，单片机分别与第一测试按键控制电路、第二测试按键控制电路及第三测试按键控制电路连接。
如图4所示，第一测试按键控制电路为打火信号测试按键控制电路，在打火信号测试按键控制电路中，电阻R6的一端与单片机的引脚20连接，电阻R6的另一端分别与电阻R7的一端和三极管Q2的基极连接，三极管Q2的发射极和电阻R7的另一端接地，三极管Q2的集电极分别与电阻R4的一端和ACC_DET端连接，电阻R4的另一端与电源MCU_VCC3连接。打火信号测试按键控制电路用于控制测试架上打火信号测试按键的开启与关闭。
如图5所示，第二测试按键控制电路为高温测试按键控制电路，在高温测试按键控制电路中，电阻R8的一端与单片机的引脚16连接，电阻R8的另一端与MOS管Q4的引脚1连接，MOS管Q4的引脚2接地，MOS管Q4的引脚3与TEMP_DET端连接。MOS管Q4的型号为2SK3018。高温测试按键控制电路用于控制测试架上高温测试按键的开启与关闭。
如图6所示，第三测试按键控制电路为低温测试按键控制电路，在低温测试按键控制电路中，电阻R15的一端与单片机的引脚17连接，电阻R15的另一端分别与电阻R17的一端和三极管Q6的基极连接，电阻R17的另一端和三极管Q6的发射极接地，三极管Q6的集电极与电阻R13的一端连接，电阻R13的另一端分别与电阻R10的一端和MOS管Q3的第一引脚连接，电阻R10的另一端和MOS管Q3的第二引脚分别与电源MCU_VCC3连接，MOS管Q3的第三引脚和电容C13的一端分别与TEMP_DET端连接，电容C13的另一端接地，MOS管Q3的型号为MI3407。低温测试按键控制电路用于控制测试架上低温测试按键控制电路的开启与关闭。
如图7-8所示，单片机通过供电输入电路与供电电源连接，并通过供电控制电路使单片机的工作电压保持在12V。
如图9所示，自动测试板更包括开机按键控制电路，开机按键控制电路与单片机连接，在开机按键控制电路中，电阻R9的一端和电阻R11的一端分别与单片机的引脚21连接，电阻R9的另一端与电源MCU_VCC3连接，电阻R11的另一端与芯片J4的引脚1连接，芯片J4的引脚2接地，芯片J4的型号为SIP2_2M0。开机按键控制电路用于控制测试架上开机按键的开启与关闭。
如图10所示，自动测试板更包括马达控制电路，马达控制电路与单片机连接。在马达马达控制电路中，电阻R16的一端与单片机的引脚18连接，电阻R16的另一端分别与电阻18的一端和三极管Q7的基极连接，电阻18的另一端和三极管Q7的发射极接地，三极管Q7的集电极与电阻R14的一端连接，电阻R14的另一端分别与电阻R12的一端和MOS管Q5的第一引脚连接，电阻R12的另一端和MOS管Q5的第二引脚分别与电源MCU_VCC3连接，MOS管Q5的第三引脚分别与电容C14的一端和芯片J3的引脚2连接，电容C14的另一端和芯片J3的引脚1接地，芯片J3的型号为SIP2_2M0。马达控制电路用于控制测试架上振动马达的开启与关闭，振动马达用于检测的待测电路板上陀螺仪的功能。
如图11所示，自动测试板更包括复位按键控制电路，复位按键控制电路与单片机连接。在复位按键控制电路中，电阻R23的一端与单片机的引脚22连接，电阻R23的另一端分别与电阻R24的一端和三极管Q9的基极连接，电阻R24的另一端和三极管Q9的发射极接地，三极管Q9的集电极与电阻R22的一端连接，电阻R22的另一端分别与电阻R21的一端和MOS管Q8的第一引脚连接，电阻R21的另一端和MOS管Q8的第二引脚分别与B+端连接，MOS管Q8的第三引脚、电容C14的一端及芯片J6的引脚2分别与DYF_DET端连接，电容C14的另一端和芯片J6的引脚1接地，芯片J3的型号为SIP2_2M0。复位按键控制电路用于控制测试架上复位按键的开启与关闭，实现自动复位测试架的功能。
如图12所示，一种自动电路板功能测试方法，应用于自动电路板功能测试装置，自动电路板功能测试装置包括测试架、供电电源及电脑端，测试架分别与供电电源和电脑端连接，包括以下步骤：
S1、电脑端载入测试工具，并通过测试工具发送测试指令至测试架；
S2、测试架内的自动测试板检测到测试指令，控制测试架上相应的测试按键对测试架上的待测电路板进行测试；
S3、测试架将测试结果反馈给电脑端；
S4、电脑端载入的测试工具根据反馈的测试结果判断待测电路板的功能是否正常。
本发明的有益效果在于：测试人员只需要将待测试的电路板放入测试夹中，按一下开始开关即可完成测试，后续的测试动作均由自动测试板来控制，自动测试板检测电脑下发的命令，控制相应的测试按键，从而达到自动测试的目的，有效的减少人为操作，避免误操作。同时，测试人员只需要在测试完成后手动更换待测电路板即可，这样同一个测试人员可以同时操作多台测试夹具，能极大的减少人员的投入及测试的不良率。
应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。
上面结合附图对本发明专利进行了示例性的描述，显然本发明专利的实现并不受上述方式的限制，只要采用了本发明专利的方法构思和技术方案进行的各种改进，或未经改进将本发明专利的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均在本发明的保护范围内。
Claims (9)
1.一种自动电路板功能测试装置，包括测试架、供电电源及电脑端，其特征在于，
所述测试架内设置有自动测试板，所述自动测试板包括单片机、串口电路、测试按键控制电路、供电输入电路、供电控制电路，所述单片机分别与所述串口电路、所述测试按键控制电路、所述供电输入电路及所述供电控制电路连接，所述供电输入电路与所述供电电源连接，所述串口电路与所述电脑端连接；
所述测试按键控制电路用于控制所述测试架上测试按键的开启与关闭。
2.根据权利要求1所述的自动电路板功能测试装置，其特征在于，所述测试按键控制电路包括第一测试按键控制电路、第二测试按键控制电路及第三测试按键控制电路，所述单片机分别与所述第一测试按键控制电路、所述第二测试按键控制电路及所述第三测试按键控制电路连接。
3.根据权利要求2所述的自动电路板功能测试装置，其特征在于，所述第一测试按键控制电路为打火信号测试按键控制电路，所述第二测试按键控制电路为高温测试按键控制电路，所述第三测试按键控制电路为低温测试按键控制电路；
所述打火信号测试按键控制电路用于控制所述测试架上打火信号测试按键的开启与关闭，所述高温测试按键控制电路用于控制所述测试架上高温测试按键的开启与关闭，所述低温测试按键控制电路用于控制所述测试架上低温测试按键控制电路的开启与关闭。
4.根据权利要求1所述的自动电路板功能测试装置，其特征在于，所述自动测试板更包括开机按键控制电路，所述开机按键控制电路与所述单片机连接；
所述开机按键控制电路用于控制所述测试架上开机按键的开启与关闭。
5.根据权利要求1所述的自动电路板功能测试装置，其特征在于，所述自动测试板更包括马达控制电路，所述马达控制电路与所述单片机连接；
所述马达控制电路用于控制所述测试架上振动马达的开启与关闭。
6.根据权利要求1所述的自动电路板功能测试装置，其特征在于，所述自动测试板更包括复位按键控制电路，所述复位按键控制电路与所述单片机连接；
所述复位按键控制电路用于控制所述测试架上复位按键的开启与关闭。
7.根据权利要求1所述的自动电路板功能测试装置，其特征在于，所述单片机的型号为STM32F030C8。
8.根据权利要求1所述的自动电路板功能测试装置，其特征在于，所述串口电路为UART转USB串口电路。
9.一种自动电路板功能测试方法，应用于自动电路板功能测试装置，所述自动电路板功能测试装置包括测试架、供电电源及电脑端，所述测试架分别与所述供电电源和所述电脑端连接，其特征在于，包括以下步骤：
S1、所述电脑端载入测试工具，并通过所述测试工具发送测试指令至所述测试架；
S2、所述测试架内的自动测试板检测到所述测试指令，控制所述测试架上相应的测试按键对所述测试架上的待测电路板进行测试；
S3、所述测试架将测试结果反馈给所述电脑端；
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