[go: up one dir, main page]

CN110596463B - 用于测量介质介电常数的同轴测量装置、测试系统及方法 - Google Patents

用于测量介质介电常数的同轴测量装置、测试系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110596463B
CN110596463B CN201910893950.4A CN201910893950A CN110596463B CN 110596463 B CN110596463 B CN 110596463B CN 201910893950 A CN201910893950 A CN 201910893950A CN 110596463 B CN110596463 B CN 110596463B
Authority
CN
China
Prior art keywords
coaxial
medium
measurement device
dielectric constant
measured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201910893950.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110596463A (zh
Inventor
王彬
刘俊
蒙林
李海龙
殷勇
袁学松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
University of Electronic Science and Technology of China
Original Assignee
University of Electronic Science and Technology of China
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by University of Electronic Science and Technology of China filed Critical University of Electronic Science and Technology of China
Priority to CN201910893950.4A priority Critical patent/CN110596463B/zh
Publication of CN110596463A publication Critical patent/CN110596463A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110596463B publication Critical patent/CN110596463B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2617—Measuring dielectric properties, e.g. constants
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2617—Measuring dielectric properties, e.g. constants
    • G01R27/2635—Sample holders, electrodes or excitation arrangements, e.g. sensors or measuring cells
    • G01R27/2647—Sample holders, electrodes or excitation arrangements, e.g. sensors or measuring cells of coaxial or concentric type, e.g. with the sample in a coaxial line

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

本发明公开了一种用于测量介质介电常数的同轴测量装置、测试系统及方法，该测量装置包括同轴段，所述同轴段由两根同轴的圆柱导体构成，且靠近同轴段端部位置的内外导体之间分别设置一同轴玻璃挡板，在两个同轴玻璃挡板之间的内外导体之间放置待测介质；所述同轴段两端口分别通过接头与一过度段空气同轴线同轴连接。本发明通过设置两个同轴玻璃挡板使得同轴段不仅可以放置固体介质也可以放置液体介质，即本发明不仅能够测量固体介质的介电常数，而且还可以测量液体介质的介电常数，解决了现有介质常数测量装置无法测量液体介电常数的技术问题。

Description

用于测量介质介电常数的同轴测量装置、测试系统及方法
技术领域
本发明涉及介电常数测试技术领域，具体涉及用于测量介质介电常数的同轴测量装置、测试系统及方法。
背景技术
随着科技的不断的发展和对微波研究投入的不断加大，对于介电常数的测量，已形成多种行之有效的测量方法，在传统的测量方法中，主要可以划分为谐振腔法和网络参数法。谐振腔法又可划分为高Q谐振腔法、谐振腔微扰法等，网络参数法也可划分为传输反射法、多厚度法、自由空间法等多种方法。现如今又涌现了一些基于数据处理的介电常数测量的方法，如神经网络法——该方法通过建立神经网络并利用大量的数据来进行训练，进而对介质的介电常数进行测量。
然而现有的测量装置及方法仅能测量固体介质介电常数，而无法实现对液体介质的介电常数进行测量。
发明内容
为了克服现有技术的缺陷，本发明提供了一种用于测量介质介电常数的同轴测量装置。该装置不仅能够对液体介质的介电常数进行测量，也可以对固体介质的介电常数进行测量。
本发明通过下述技术方案实现：
用于测量介质介电常数的同轴测量装置，该测量装置包括同轴段，所述同轴段由两根同轴的圆柱导体构成，且靠近同轴段端部位置的内外导体之间分别设置一同轴玻璃挡板，在两个同轴玻璃挡板之间的内外导体之间放置待测介质；所述同轴段两端口分别通过接头与一过度段空气同轴线同轴连接。
优选的，所述待测介质为固体介质或液体介质。
另一方面，本发明还提出了一种用于测量介质介电常数的同轴测试系统，包括矢量网络分析仪、计算机和上述同轴测量装置；所述矢量网络分析仪与所述同轴测量装置连接，得到该同轴测量装置两端口的散射参数并将其发送给计算机；所述计算机对所述同轴测量装置进行数值求解得到该同轴测量装置两端的散射系数S21，并将计算得到的散射系数S21与矢量网络分析仪测量得到的散射参数进行对比，即得到待测介质的介电常数。
优选的，该系统还包括校准件，用于在将所述矢量网络分析仪与所述同轴测量装置连接之前对所述矢量网络分析仪进行校准。
优选的，所述计算机对所述同轴测量装置进行数值求解得到该同轴测量装置两端的散射系数S21具体包括：所述同轴测量装置从输入端至输出端依次包括4个不同介质分界面，包括：空气与第一同轴玻璃介质的分界面SⅠ，第一同轴玻璃介质与待测介质的分界面SⅡ，待测介质与第二同轴玻璃介质的分界面SⅢ和第二同轴玻璃介质与空气的分界面SⅣ；然后求解出各分界面处的散射矩阵；最后根据散射矩阵与端口的关系，即可得到该同轴测量装置的散射系数S21。
优选的，所述散射系数S21表示为：
Figure BDA0002209650820000021
式中，b42表示同轴测量装置输出端口的出射波，a11表示同轴测量装置输入端口的入射波，d1为第一同轴玻璃挡板的厚度，d2为待测介质的厚度，d3为第二同轴玻璃挡板的厚度，ε1为同轴玻璃的介电常数，ε2为待测介质的介电常数。
最后，本发明还提出了一种用于测量介质介电常数的同轴测试方法，该方法包括以下步骤：
步骤S1，对矢量网络分析仪进行校准；
步骤S2，将待测介质放置于上述同轴测量装置中，并通过转接头将该同轴测量装置连接到矢量网络分析仪上，通过矢量网络分析仪测量得到该同轴测量装置两端口的散射参数并将其发送给计算机；
步骤S3，所述计算机对同轴测量装置进行数值计算得到该同轴测量装置两端口的散射系数S21，将计算得到的散射系数S21与矢量网络分析仪测量得到的同轴测量装置两端口的散射参数进行对比，利用相位进行求解，即可计算出待测介质的介电常数。
优选的，所述步骤S3中计算得到的同轴测量装置两端口的散射系数S21为：
Figure BDA0002209650820000022
式中，b42表示同轴测量装置输出端口的出射波，a11表示同轴测量装置输入端口的入射波，d1为第一同轴玻璃挡板的厚度，d2为待测介质的厚度，d3为第二同轴玻璃挡板的厚度，ε1为同轴玻璃的介电常数，ε2为待测介质的介电常数。
本发明具有如下的优点和有益效果：
1、相较于现有测量介电常数的技术，本发明通过设置两个同轴玻璃挡板使得同轴段不仅可以放置固体介质也可以放置液体介质，即本发明不仅能够测量固体介质的介电常数，而且还可以测量液体介质的介电常数，解决了现有介质常数测量装置无法测量液体介电常数的技术问题。
2、本发明将数值计算方法与实际测量相结合，能够提高测试结果的可靠性。
3、本发明在同轴段两端根本连接过渡段空气同轴线，便于将同轴测量装置转换连接到矢量网络分析仪。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明实施例的限定。在附图中：
图1为本发明的装置结构示意图。
图2为本发明的不同介质分界面处的等效示意图。
具体实施方式
在下文中，可在本发明的各种实施例中使用的术语“包括”或“可包括”指示所发明的功能、操作或元件的存在，并且不限制一个或更多个功能、操作或元件的增加。此外，如在本发明的各种实施例中所使用，术语“包括”、“具有”及其同源词仅意在表示特定特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合，并且不应被理解为首先排除一个或更多个其它特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的存在或增加一个或更多个特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的可能性。
在本发明的各种实施例中，表述“或”或“A或/和B中的至少一个”包括同时列出的文字的任何组合或所有组合。例如，表述“A或B”或“A或/和B中的至少一个”可包括A、可包括B或可包括A和B二者。
在本发明的各种实施例中使用的表述(诸如“第一”、“第二”等)可修饰在各种实施例中的各种组成元件，不过可不限制相应组成元件。例如，以上表述并不限制所述元件的顺序和/或重要性。以上表述仅用于将一个元件与其它元件区别开的目的。例如，第一用户装置和第二用户装置指示不同用户装置，尽管二者都是用户装置。例如，在不脱离本发明的各种实施例的范围的情况下，第一元件可被称为第二元件，同样地，第二元件也可被称为第一元件。
应注意到：如果描述将一个组成元件“连接”到另一组成元件，则可将第一组成元件直接连接到第二组成元件，并且可在第一组成元件和第二组成元件之间“连接”第三组成元件。相反地，当将一个组成元件“直接连接”到另一组成元件时，可理解为在第一组成元件和第二组成元件之间不存在第三组成元件。
在本发明的各种实施例中使用的术语仅用于描述特定实施例的目的并且并非意在限制本发明的各种实施例。如在此所使用，单数形式意在也包括复数形式，除非上下文清楚地另有指示。除非另有限定，否则在这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本发明的各种实施例所属领域普通技术人员通常理解的含义相同的含义。所述术语(诸如在一般使用的词典中限定的术语)将被解释为具有与在相关技术领域中的语境含义相同的含义并且将不被解释为具有理想化的含义或过于正式的含义，除非在本发明的各种实施例中被清楚地限定。
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本发明作进一步的详细说明，本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明，并不作为对本发明的限定。
实施例1
本实施例提出了用于测量介质介电常数的同轴测量装置，该测量装置包括同轴段，所述同轴段由两根同轴的圆柱导体构成，且靠近同轴段端部位置的内外导体之间分别设置一同轴玻璃挡板，在两个同轴玻璃挡板之间的内外导体之间放置待测介质；所述同轴段两端口分别通过接头与一过度段空气同轴线同轴连接。即如图1所示，该测量装置本体采用五段式同轴设计，从输入端至输出端(即从左至右)依次为：用于过度的过度段同轴线A、第一同轴玻璃挡板F、用于放置待测介质的同轴段部分C、第二同轴玻璃挡板G(F、C、G均是设置在同轴段内)和用于过度的过度段同轴线E；且所述过度段同轴线A与同轴段通过标准同轴接头B同轴连接，所述过渡段同轴线E通过标准同轴接头D同轴连接。
本实施例中，考虑到待测介质尺寸较大，且无法进行切割时，而矢量网络分析仪的连接与校准接头尺寸较小，难以匹配，因此同轴测量装置需采用过渡设计(即通过在同轴段两端设置过渡的过渡段空气同轴线)来确保能够将同轴待测介质装入并转换连接到矢量网络分析仪上。
本实施例中，通过在同轴段放置同轴玻璃挡板，该同轴测量装置不仅可以在C处(放置待测介质的同轴段)放置固体介质而且可以放置液体介质，并实现对待测介质介电常数的测量。
实施例2
基于上述实施例1提出的同轴测量装置，本实施例还提出了一种用于测量介质介电常数的同轴测试系统，包括矢量网络分析仪、计算机和上述同轴测量装置；所述矢量网络分析仪与所述同轴测量装置连接，得到该同轴测量装置两端口的散射参数并将其发送给计算机；所述计算机对所述同轴测量装置进行数值求解得到该同轴测量装置两端的散射系数S21，并将计算得到的散射系数S21与矢量网络分析仪测量得到的散射参数进行对比，即得到待测介质的介电常数。
本实施例中，该系统还包括校准件，用于在将所述矢量网络分析仪与所述同轴测量装置连接之前对所述矢量网络分析仪进行校准。
优选的，所述计算机对所述同轴测量装置进行数值求解得到该同轴测量装置两端的散射系数S21具体包括：
在该同轴测量装置中，[Sm]表示两种不同介质分界面处的等效网络散射参数，其值为：
Figure BDA0002209650820000051
则所述同轴测量装置从输入端至输出端依次包括4个不同介质分界面，如图2所示，从输入端口至输出端口依次包括：空气与第一同轴玻璃介质的分界面SⅠ，第一同轴玻璃介质与待测介质的分界面SⅡ，待测介质与第二同轴玻璃介质的分界面SⅢ和第二同轴玻璃介质与空气的分界面SⅣ；
其中，d1为第一同轴玻璃挡板的厚度，d2为同轴待测介质的厚度，d3为第二同轴玻璃挡板的厚度，ε1(已知)为同轴玻璃的介电常数，ε2(未知)为待测介质的介电常数。依次求解出各分界面处的散射矩阵，其值分别为：
Figure BDA0002209650820000052
Figure BDA0002209650820000053
Figure BDA0002209650820000054
Figure BDA0002209650820000055
设a11和b21，并根据散射矩阵与端口的关系，逐步进行计算得到a11、b11、a42和b42，则可以得到该同轴测量装置的散射系数S21(该S21是对该装置两端测量的散射矩阵进行端面移动到空气同轴线和同轴玻璃挡板分界面的值)，其值为：
Figure BDA0002209650820000061
最后通过和矢量网络分析仪测量的散射矩阵进行对比，进而可以得到待测介质的介电常数。
实施例3
基于上述实施例1和实施例2，本实施例还提出了一种用于测量介质介电常数的同轴测试方法，包括：
步骤S1，对矢量网络分析仪进行校准；
步骤S2，将待测介质放置于上述同轴测量装置中，并通过转接头将该同轴测量装置连接到矢量网络分析仪上，通过矢量网络分析仪测量得到该同轴测量装置两端口的散射参数并将其发送给计算机；
步骤S3，所述计算机对同轴测量装置进行数值计算得到该同轴测量装置两端口的散射系数S21，将计算得到的散射系数S21与矢量网络分析仪测量得到的同轴测量装置两端口的散射参数进行对比，利用相位进行求解，即可计算出待测介质的介电常数。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.用于测量介质介电常数的同轴测试系统，其特征在于，包括矢量网络分析仪、计算机和同轴测量装置；所述同轴测量装置包括同轴段，所述同轴段由两根同轴的圆柱导体构成，且靠近同轴段端部位置的内外导体之间分别设置一同轴玻璃挡板，在两个同轴玻璃挡板之间的内外导体之间放置待测介质；所述同轴段的一端口通过接头与第一过度段空气同轴线同轴连接，所述同轴段的另一端口通过接头与第二过度段空气同轴线同轴连接；所述矢量网络分析仪与所述同轴测量装置连接，得到该同轴测量装置两端口的散射参数并将其发送给计算机；所述计算机对所述同轴测量装置进行数值求解得到该同轴测量装置两端的散射系数
Figure DEST_PATH_IMAGE002
，并将计算得到的散射系数
Figure 330609DEST_PATH_IMAGE002
与矢量网络分析仪测量得到的散射参数进行对比，即得到待测介质的介电常数；所述计算机对所述同轴测量装置进行数值求解得到该同轴测量装置两端的散射系数
Figure 513328DEST_PATH_IMAGE002
具体包括：所述同轴测量装置从输入端至输出端依次包括4个不同介质分界面，包括：空气与第一同轴玻璃介质的分界面
Figure DEST_PATH_IMAGE004
，第一同轴玻璃介质与待测介质的分界面
Figure DEST_PATH_IMAGE006
，待测介质与第二同轴玻璃介质的分界面
Figure DEST_PATH_IMAGE008
和第二同轴玻璃介质与空气的分界面
Figure DEST_PATH_IMAGE010
；然后求解出各分界面处的散射矩阵；最后根据散射矩阵与端口的关系，即可得到该同轴测量装置的散射系数
Figure 152120DEST_PATH_IMAGE002
。
2.根据权利要求1所述的用于测量介质介电常数的同轴测试系统，其特征在于，所述待测介质为固体介质或液体介质。
3.根据权利要求1所述的用于测量介质介电常数的同轴测试系统，其特征在于，所述散射系数
Figure 812908DEST_PATH_IMAGE002
表示为：
Figure DEST_PATH_IMAGE012
式中，
Figure DEST_PATH_IMAGE014
表示同轴测量装置输出端口的出射波，
Figure DEST_PATH_IMAGE016
表示同轴测量装置输入端口的入射波，
Figure DEST_PATH_IMAGE018
为第一同轴玻璃挡板的厚度，
Figure DEST_PATH_IMAGE020
为待测介质的厚度，
Figure DEST_PATH_IMAGE022
为第二同轴玻璃挡板的厚度，
Figure DEST_PATH_IMAGE024
为同轴玻璃的介电常数，
Figure DEST_PATH_IMAGE026
为待测介质的介电常数。
4.用于测量介质介电常数的同轴测试方法，其特征在于，该方法基于权利要求1-3任一项所述的用于测量介质介电常数的同轴测量系统实现，包括以下步骤：
步骤S1，对矢量网络分析仪进行校准；
步骤S2，将待测介质放置于同轴测量装置中，并通过转接头将该同轴测量装置连接到矢量网络分析仪上，通过矢量网络分析仪测量得到该同轴测量装置两端口的散射参数并将其发送给计算机；
步骤S3，所述计算机对同轴测量装置进行数值计算得到该同轴测量装置两端口的散射系数
Figure 643592DEST_PATH_IMAGE002
，将计算得到的散射系数
Figure 872579DEST_PATH_IMAGE002
与矢量网络分析仪测量得到的同轴测量装置两端口的散射参数进行对比，利用相位进行求解，即可计算出待测介质的介电常数。
5.根据权利要求4所述的用于测量介质介电常数的同轴测试方法，其特征在于，所述步骤S3中计算得到的同轴测量装置两端口的散射系数
Figure 405192DEST_PATH_IMAGE002
为：
Figure DEST_PATH_IMAGE012A
式中，
Figure DEST_PATH_IMAGE028
表示同轴测量装置输出端口的出射波，
Figure DEST_PATH_IMAGE030
表示同轴测量装置输入端口的入射波，
Figure DEST_PATH_IMAGE032
为第一同轴玻璃挡板的厚度，
Figure DEST_PATH_IMAGE034
为待测介质的厚度，
Figure DEST_PATH_IMAGE036
为第二同轴玻璃挡板的厚度，
Figure DEST_PATH_IMAGE038
为同轴玻璃的介电常数，
Figure DEST_PATH_IMAGE040
为待测介质的介电常数。
CN201910893950.4A 2019-09-20 2019-09-20 用于测量介质介电常数的同轴测量装置、测试系统及方法 Expired - Fee Related CN110596463B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910893950.4A CN110596463B (zh) 2019-09-20 2019-09-20 用于测量介质介电常数的同轴测量装置、测试系统及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910893950.4A CN110596463B (zh) 2019-09-20 2019-09-20 用于测量介质介电常数的同轴测量装置、测试系统及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110596463A CN110596463A (zh) 2019-12-20
CN110596463B true CN110596463B (zh) 2020-06-09

Family

ID=68861801

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910893950.4A Expired - Fee Related CN110596463B (zh) 2019-09-20 2019-09-20 用于测量介质介电常数的同轴测量装置、测试系统及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110596463B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114062790B (zh) * 2021-09-30 2024-01-09 东南大学 压缩状态下材料的宽频带电磁参数测量装置及测量方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2619223B1 (fr) * 1987-08-03 1990-02-23 Aerospatiale Procede et dispositif pour l'estimation des caracteristiques electromagnetiques d'un materiau dielectrique ou magnetique.
DE10030602C2 (de) * 2000-06-21 2003-06-18 Haissam Mouhasseb Verfahren zur zerstörungsfreien, material-, dichte- und salzunabhängigen sowie temperaturkompensierten Bestimmung der Flüssigwasserkomponente und deren tiefenabhängige ungleichmäßige Verteilung in einem Mehrkomponentengemisch und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
GB2490685B (en) * 2011-05-10 2017-05-24 Salunda Ltd Fluid conduit
CN102435857A (zh) * 2011-09-09 2012-05-02 南京大学 表征液体材料宽带复合介电常数的反应池
CN103149449B (zh) * 2013-01-29 2016-01-20 浙江大学 基于模匹配的单端口同轴线式复介电常数测量装置及方法
CN103353553B (zh) * 2013-06-28 2016-05-25 四川大学 介电系数微波测量装置及其构成的介电系数微波测量系统
CN103884919B (zh) * 2014-03-13 2017-02-15 四川大学 具有同轴线结构的高温状态介质介电系数测量探头及系统
CN105929246B (zh) * 2016-04-27 2018-06-15 大连理工大学 一种表征待测样品介电特性的闭合同轴传输线测试系统及方法
CN107132420B (zh) * 2017-04-06 2019-07-12 中国电子技术标准化研究院 低损耗介质粉末或液体的微波复介电常数测试系统及方法
CN107014833A (zh) * 2017-04-25 2017-08-04 电子科技大学 基于谐振法的液体和粉末材料成份在线检测系统及方法
CN107091847B (zh) * 2017-06-01 2023-11-07 厦门大学 一种介质材料电磁参数测量装置及测量方法
CN107543970B (zh) * 2017-07-27 2020-01-14 电子科技大学 一种基于数据库校准方法的介电常数测量方法
CN108594023B (zh) * 2018-05-29 2021-05-14 电子科技大学 基于渐变型同轴谐振腔的材料复介电常数测试系统及方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN110596463A (zh) 2019-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109444717B (zh) 新型在片s参数误差校准方法和装置
CN103399286B (zh) 一种多特性阻抗网络的测量校准方法
CN106483384B (zh) 电介质介电常数微波测量装置
CN107543970B (zh) 一种基于数据库校准方法的介电常数测量方法
JP4009341B2 (ja) 電子的被測定物の測定方法
CN104515907B (zh) 一种散射参数测试系统及其实现方法
CN206147014U (zh) 电介质介电常数微波测量装置
CN105974345B (zh) 自由空间终端短路法复介电常数测试系统高温校准方法
CN103353553B (zh) 介电系数微波测量装置及其构成的介电系数微波测量系统
WO2023019935A1 (zh) 在片s参数测量系统串扰误差修正方法及电子设备
CN110596463B (zh) 用于测量介质介电常数的同轴测量装置、测试系统及方法
CN111983539A (zh) 在片s参数测量系统校准方法
CN104062618A (zh) 一种双信号源的容性设备在线监测装置校验方法
WO2012105127A1 (ja) 測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置
JP2008304450A (ja) ベクトルネットワークアナライザ／雑音指数測定
CN109444547A (zh) 基于二端口网络的rfid芯片阻抗测量方法及装置
BRPI0621703A2 (pt) método para determinar a resposta elétrica linear de um transformador, gerador ou motor elétrico
JP7153309B2 (ja) ベクトルネットワークアナライザを用いた反射係数の測定方法
CN110702997A (zh) 一种基于时域技术的高温材料介电性能测试方法及系统
CN101663587B (zh) 用于表征电气部件的线性特性的频率相关性的迭代方法
CN108445291A (zh) 一种基于逆散射反演技术的线缆生产质量控制方法
CN105610467B (zh) 一种被复线信道建模方法
CN110308386B (zh) 基于多项式拟合与状态监测的模拟电路故障诊断方法
CN114487970A (zh) 适用于射频测试机的多端口自动校准方法和系统
JP6389354B2 (ja) トータル・ネットワークの特性測定方法及び装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20200609