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CN110007200B - 一种测试电路、设备及系统 - Google Patents

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CN110007200B
CN110007200B CN201910219087.4A CN201910219087A CN110007200B CN 110007200 B CN110007200 B CN 110007200B CN 201910219087 A CN201910219087 A CN 201910219087A CN 110007200 B CN110007200 B CN 110007200B
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Abstract

本申请公开一种测试电路、设备及系统,涉及电子技术领域,实现了多个回路的并行测试。测试电路包括多个测试能量源(如M个电压源)、控制器和高压开关电路(包括N个用于连接耐压测试回路的第一测试节点的高压输出端、第一开关组件和与M个电压源一一对应的M个高压输入端,N≥M)。每个电压源的第一输出端连接一个高压输入端,第二输出端用于连接耐压测试回路的第二测试节点。控制器与每个电压源连接,用于控制X个电压源同时输出电压,2≤X≤M;控制器还与第一开关组件连接,用于控制第一开关组件,使分别连接X个电压源的X个高压输入端与X个高压输出端分别同时连通;X个高压输出端分别用于连接一个耐压测试回路的第一测试节点。

Description

一种测试电路、设备及系统
本申请要求于2019年1月11日提交中国专利局、申请号为201910035219.8、申请名称为《多仪表循环级联的并行异步安规云测试》的中国专利申请的优先权,其全部内容通过引用结合在本申请中。
技术领域
本申请涉及电子技术领域,尤其涉及一种测试电路、设备及系统。
背景技术
安规测试是指对待出厂的产品进行耐压测试和接地阻抗测试等。其中,耐压测试中,安规测试仪可以分别在各个耐压测试回路的两个节点加高电压,以检测对应回路是否漏电。在接地阻抗测试中,安规测试仪可以分别在各个待测节点和保护导体(protectingearthing,PE)之间加大电流,以测试对应节点接地是否良好。其中,PE即为地线或者接地。
示例性的,如图1所示,为一种被测电路100的示意图。按照相关标准要求,使用安规测试仪可对图1所示的被测电路100的以下三个回路进行耐压测试:(1)“输入(In Put)-PE”回路;(2)“输出(Out Put)-PE”回路;(3)“In Put-Out Put”回路。
但是,安规测试仪只能串行对多个耐压测试回路依次进行耐压测试。在串行测试的过程中,需要测试人员手动换线以实现对不同回路或者节点的测试。而上述耐压测试的输出为高电压,频繁手动换线的安全隐患较大。
发明内容
本发明实施例提供一种测试电路、设备及系统,可以实现多个回路的并行测试,可以提升安规测试的安全系数。
第一方面,本申请实施例提供一种测试电路。该测试电路可以包括:多个测试能量源、高压开关电路和控制器。该多个测试能量源包括M个电压源,M为正整数。高压开关电路包括M个高压输入端、N个高压输出端和第一开关组件,N为正整数,N≥M。N个高压输出端用于连接耐压测试回路的第一测试节点。M个电压源与M个高压输入端一一对应,M个电压源中的每个电压源的第一输出端连接一个高压输入端。每个电压源的第二输出端用于连接耐压测试回路的第二测试节点。
其中,控制器与M个电压源中的每个电压源连接。控制器用于控制M电压源中的X个电压源同时输出电压,X为正整数,X≥2,X≤M。控制器还与第一开关组件连接,控制器用于控制第一开关组件,使得M个高压输入端中、分别连接X个电压源的X个高压输入端与X个高压输出端分别同时连通。其中,X个高压输出端分别用于连接一个耐压测试回路的第一测试节点。
例如,假设X个高压输出端中的一个高压输出端连接“In Put-PE”回路(即耐压测试回路)的第一测试节点(如In Put节点),“In Put-PE”回路的第二测试节点(如PE)连接第一电压源的第二输出端;另一个高压输出端连接“Out Put-PE”回路(即耐压测试回路)的第一测试节点(如Out Put节点),“Out Put-PE”回路的PE连接第二电压源的第二输出端。
此时,控制器可控制第一开关组件,使第一开关组件连通一个高压输入端与上述一个高压输出端,并同时连通另一个高压输入端与上述另一个高压输出端。并且,控制器,还可以用于控制连接上述一个高压输入端的电压源输出电压,为“In Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源,并同时控制连接上述另一个高压输入端的电压源输出电压,为“Out Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源。
综上所述,采用本申请实施例提供的测试电路,可以并行对被测电路的多个耐压测试回路(如“In Put-PE”回路和“Out Put-PE”回路)进行耐压测试。
结合第一方面,在一种可能的设计方式中,测试电路并行对多个耐压测试回路进行耐压测试时,为每个耐压测试回路提供恒压源的电压源不同。例如,一个电压源为“InPut-PE”回路提供恒压源,另一个电压源为“Out Put-PE”回路提供恒压源。每个电压源可以按照对应耐压测试回路的测试参数输出电压,为耐压测试回路提供恒压源。即不同电压源为对应耐压测试回路提供的电压不同。
具体的,上述控制器,具体用于:根据与X个电压源一一对应的测试参数来控制X个电压源同时输出电压。其中,与X个电压源中的第一电压源对应的测试参数是第一耐压测试回路的测试参数,第一耐压测试回路的第一测试节点连接X个高压输出端中的第一高压输出端,第一高压输出端与X个高压输入端中的第一高压输入端连通,第一高压输入端连接第一电压源的第一输出端。
示例性的,控制器可根据第一测试参数控制第一电压源向第一耐压测试回路输出与第一测试参数对应的第一电压,第一测试参数是第一耐压测试回路的测试参数;根据第二测试参数控制第二电压源向第二耐压测试回路输出与第二测试参数对应的第二电压,第二测试参数是第二耐压测试回路的测试参数。
例如,如果“In Put-PE”回路的测试参数(即第一测试参数)为3000V,第一电压源则可以根据控制器的控制为“In Put-PE”回路提供3000V的恒压源,即第一电压源可以输出3000V的电压(即第一电压)。如果“Out Put-PE”回路的测试参数(第二测试参数)为2000V,第二电压源则可以根据控制器的控制为“Out Put-PE”回路提供2000V的恒压源,即第二电压源可以输出2000V的电压(即第二电压)。也就是说,本申请实施例提供的测试电路,可以并行为多个耐压测试回路提供异参数的耐压测试。
结合第一方面,在另一种可能的设计方式中,上述测试电路还可以包括通道切换开关组、第一级联端口组和第二级联端口组。其中,第一级联端口组包括M个电压端口,第二级联端口组包括M个电压端口。
上述通道切换开关组中包括M个电压切换开关;M个电压切换开关中的每个电压切换开关包括:本机信号输入端、级联信号输入端、本机信号测试端、级联信号输出端和第二开关组件;第二开关组件与控制器连接,第二开关组件用于根据控制器的控制,连通或者断开电压切换开关的本机信号输入端与本机信号测试端或级联信号输出端,连通或断开电压切换开关的级联信号输入端与本机信号测试端或级联信号输出端。上述M个电压源与M个电压切换开关一一对应;M个电压切换开关与高压开关电路的M个高压输入端一一对应。
本申请中,上述对于每组相互对应的电压源、电压切换开关以及高压开关电路的高压输入端,每个电压源的第一输出端连接电压切换开关的本机信号输入端,每个电压切换开关的本机信号测试端连接高压开关电路中对应的高压输入端;当电压切换开关的第二开关组件根据控制器的控制,连通电压切换开关的本机信号输入端和本机信号测试端时,电压源的第一输出端连接高压开关电路中对应的高压输入端。
其中,M个电压切换开关中的每个电压切换开关的级联信号输入端分别连接第一级联端口组中的一个电压端口;第一级联端口组中的电压端口用于连接上一级测试电路中的第二级联端口组中的电压端口。每个电压切换开关的级联信号输出端分别连接第二级联端口组中的一个电压端口;第二级联端口组中的电压端口用于连接下一级测试电路中的第一级联端口组中的电压端口。
可以理解,上述多个电压切换开关可以将多个测试电路级联起来。这样,测试电路不仅可以为与该测试电路的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源,该测试电路的上一级测试电路或者下一级测试电路也可以为与该测试电路的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源,并且,该测试电路也可以为与上述上一级测试电路或者下一级测试电路高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。即可以实现多级测试电路的资源共享。
结合第一方面,在另一种可能的设计方式中,本机(即上述测试电路)的电压源(即电压转换电路)可以为与本机的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。具体的,上述控制器,还用于控制M个电压切换开关中的第一电压切换开关的第二开关组件,使第一电压切换开关的第二开关组件连通第一电压切换开关的本机信号输入端与本机信号测试端,以使测试电路中的电压源向连接高压开关电路的耐压测试回路输出电压,提供耐压测试的恒压源。
上一级测试电路中的电压源(即电压转换电路)为与本机的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。具体的,上述控制器,还用于控制第一电压切换开关的第二开关组件,以使第一电压切换开关的第二开关组件连通第一电压切换开关的级联信号输入端与本机信号测试端,以使上一级测试电路中的一个电压源向连接高压开关电路的耐压测试回路输出电压,提供耐压测试的恒压源。
本机的电压源(即电压转换电路)为与下一级测试电路的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。具体的,上述控制器,还用于控制第一电压切换开关的第二开关组件,以使第一电压切换开关的第二开关组件连通第一电压切换开关的本机信号输入端与级联信号输出端,以使测试电路中的电压源向下一级测试电路中的一个级连信号输入端对应的耐压测试回路输出电压,提供耐压测试的恒压源。
上一级测试电路中的电压源(即电压转换电路)通过本机的通道切换开关组为与下一级测试电路的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。具体的,上述控制器,还用于控制第一电压切换开关的第二开关组件,以使第一电压切换开关的第二开关组件连通第一电压切换开关的级联信号输入端与级联信号输出端,以使连接上一级测试电路通过第一电压切换开关向下一级测试电路中的一个级连信号输入端对应的耐压测试回路输出电压,提供耐压测试的恒压源。
综上所述,本申请实施例提供的测试电路可以并行为连接本机的耐压测试回路,以及与本机级联的其他测试电路的耐压测试回路,提供异参数的耐压测试。
结合第一方面,在另一种可能的设计方式中,上述多个测试能量源还包括P个电流源,P为正整数。上述测试电路还包括接地开关电路。接地开关电路包括P个接地输入端、Q个接地输出端和第三开关组件,Q为正整数,Q≥P。Q个接地输出端用于连接接地阻抗测试回路的测试节点。其中,上述P个电流源与P个接地输入端一一对应,P个电流源中的每个电流源的第一输出端连接一个接地输入端;每个电流源的第二输出端用于连接接地阻抗测试回路的保护导体PE。
其中,控制器与P个电流源中的每个电流源连接;控制器,用于控制P个电流源中的Y个电流源同时输出电流,Y为正整数,Y≥2,Y≤P。控制器还与第三开关组件连接,控制器用于控制第三开关组件,使得P个高压输入端中、分别连接Y个电流源的Y个接地输入端与Y个接地输出端分别同时连通;其中,Y个接地输出端分别用于连接一个接地阻抗测试回路的测试节点。
综上所述,采用本申请实施例提供的测试电路,可以并行对被测电路的多个接地阻抗测试回路(如第一接地阻抗测试回路和第二接地阻抗测试回路)进行接地阻抗测试。
结合第一方面,在另一种可能的设计方式中,上述测试电路并行对多个接地阻抗测试回路进行接地阻抗测试时,为每个接地阻抗测试回路提供恒流源的电流源不同。每个电流源可以按照对应接地阻抗测试回路的测试参数,为接地阻抗测试回路提供恒流源。即不同电流源为对应接地阻抗测试回路提供的电流不同。具体的,控制器用于控制P个电流源中的Y个电流源同时输出电流时,具体用于:根据与Y个电流源一一对应的测试参数来控制Y个电流源同时输出电流。其中,与Y个电流源中的第一电流源对应的测试参数是第一接地阻抗测试回路的测试参数,第一接地阻抗测试回路的测试节点连接Y个接地输出端中的第一接地输出端,第一接地输出端与Y个接地输入端中的第一接地输入端连通,第一接地输入端连接第一电流源的第一输出端。
示例性的,上述控制器,具体用于:根据第四测试参数控制第一电流源向接地阻抗测试回路1输出与第四测试参数对应的第一电流,第四测试参数是接地阻抗测试回路1的测试参数;根据第五测试参数控制第二电流源向接地阻抗测试回路2输出与第五测试参数对应的第二电流,第五测试参数是接地阻抗测试回路2的测试参数。
例如,如果接地阻抗测试回路1的测试参数为25A(即第四测试参数),第一电流源则可以为接地阻抗测试回路1提供25A的恒流源。如果接地阻抗测试回路2的测试参数为20A(即第五测试参数),连接第二接地输入端的电流源则可以为接地阻抗测试回路2提供20A的恒流源。也就是说,本申请实施例提供的测试电路,可以并行为多个接地阻抗测试回路提供异参数的接地阻抗测试。
结合第一方面,在另一种可能的设计方式中,上述通道切换开关组还可以包括P个电流切换开关。该第一级联端口组还可以包括P个电流端口。该第二级联端口组还可以包括P个电流端口。
上述P个电流切换开关中的每个电流切换开关包括:本机信号输入端、级联信号输入端、本机信号测试端、级联信号输出端和第四开关组件;第四开关组件与控制器连接,第四开关组件用于根据控制器的控制,连通或者断开电流切换开关的本机信号输入端与本机信号测试端或级联信号输出端,连通或断开电流切换开关的级联信号输入端与本机信号测试端或级联信号输出端。P个电流源与P个电流切换开关一一对应;P个电流切换开关与接地开关电路的P个接地输入端一一对应。
本申请实施例中,对于每组相互对应的电流源、电压切换开关以及接地开关电路,每个电流源的第一输出端连接电流切换开关的本机信号输入端,每个电流切换开关的本机信号测试端连接接地开关电路中对应的接地输入端;当电流切换开关的第四开关组件连通电流切换开关的本机信号输入端和本机信号测试端时,电流源的第一输出端连接接地开关电路中对应的接地输入端。
上述P个电流切换开关中的每个电流切换开关的级联信号输入端分别连接第一级联端口组中的一个电流端口;第一级联端口组中的电流端口用于连接上一级测试电路中的第二级联端口组中的电流端口。每个电流切换开关的级联信号输出端分别连接第二级联端口组中的一个电流端口;第二级联端口组中的电流端口用于连接下一级测试电路中的第一级联端口组中的电流端口。
可以理解,本申请实施例提供的多个电流切换开关可以将多个测试电路级联起来。这样,测试电路不仅可以为与该测试电路的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源,该测试电路的上一级测试电路或下一级测试电路也可以为与该测试电路的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源,并且,该测试电路也可以为与上述上一级测试电路或下一级测试电路的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。即可以实现多级测试电路的资源共享。
结合第一方面,在另一种可能的设计方式中,本机的电流源(即电流转换电路)为与本机的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。具体的,上述控制器,还用于控制P个电流切换开关中的第一电流切换开关的第四开关组件,使第一电流切换开关的第四开关组件连通第一电流切换开关的本机信号输入端与本机信号测试端,以使测试电路中的电流源向连接接地开关电路的接地阻抗测试回路输出电流,提供接地阻抗测试的恒流源。
上一级测试电路中的电流源(即电流转换电路)为与本机的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。具体的,上述控制器,还用于控制第一电流切换开关的第四开关组件,使第一电流切换开关的第四开关组件连通第一电流切换开关的级联信号输入端与本机信号测试端,以使上一级测试电路中的一个电流源向连接接地开关电路的接地阻抗测试回路输出电流,提供接地阻抗测试的恒流源。
本机的电流源(即电流转换电路)为与下一级测试电路的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。具体的,上述控制器,还用于控制第一电流切换开关的第四开关组件,使第一电流切换开关的第四开关组件连通第一电流切换开关的本机信号输入端与级联信号输出端,以使测试电路中的电流源向下一级测试电路中的一个级连信号输入端对应的接地阻抗测试回路输出电流,提供接地阻抗测试的恒流源。
上一级测试电路中的电流源(即电流转换电路)通过本机的通道切换开关组为与下一级测试电路的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。具体的,上述控制器,还用于控制第一电流切换开关的第四开关组件,使第一电流切换开关的第四开关组件连通第一电流切换开关的级联信号输入端与级联信号输出端,以使连接上一级测试电路通过第一电流切换开关向下一级测试电路中的一个级连信号输入端对应的接地阻抗测试回路输出电流,提供接地阻抗测试的电流源。
结合第一方面,在另一种可能的设计方式中,M电压源中的一个电压源的第二输出端与另一个电压源的第二输出端连接。上述控制器,还用于控制一个电压源与另一个电压源反向串联同时输出电压。控制器,还用于控制第一开关组件,使得M个高压输入端中、分别连接一个电压源和另一个电压源的2个高压输入端与2个高压输出端分别同时连通;其中,2个高压输出端分别用于连接一个耐压测试回路的第一测试节点和第二测试节点。
例如,“In Put-Out Put”回路的测试参数为5000V。基于串联分压原理,上述反向串联的两个电压源可以为“In Put-Out Put”回路提供5000V的恒压源。其中,反向串联的两个电压源中的一个电压源提供2000V的恒压源,另一个电压源提供3000V的恒压源。
结合第一方面,在另一种可能的设计方式中,上述控制器用于控制一个电压源与另一个电压源反向串联同时输出电压时,具体用于:根据与一个电压源和另一个电压源对应的测试参数来控制一个电压源与另一个电压源反向串联。其中,与一个电压源和另一个电压源对应的测试参数为:2个高压输出端连接的耐压测试回路的测试参数。
结合第一方面,在另一种可能的设计方式中,上述测试电路还可以包括电源模块。该电源模块可以包括:整流模块、直流电源电路和多个逆变功率放大器(简称逆变功放)。
其中,整流模块的输入端连接交流电源。例如,该交流电源可以为220V交流电流(alternating current,AC)电源。整流模块用于将交流电源输入的第一交流电(如220VAC)转换为直流电。例如,该直流电可以为300V直流电流(direct current,DC)。整流模块的输出端连接直流电源电路的输入端。直流电源电路的输出端连接多个逆变功率放大器的输入端。直流电源电路用于对直流电(如300V DC)进行稳压和滤波,使得向多个逆变功率放大器的输入端输出的直流电(如300V DC)更加平滑稳定。其中,多个逆变功率放大器的输入端用于对直流电源电路输入的直流电(如300V DC)进行功率放大,并将该直流电转换成第二交流电(如140V AC)。
其中,每个逆变功率放大器的第一输出端连接M个电压源中的一个电压源。每个逆变功率放大器的第二输出端连接N个电流源中的一个电流源。
需要注意的是,不同的逆变功率放大器连接的电压源不同,且不同的逆变功率放大器连接的电流源不同。上述M个电压源是M个电压转换电路,电压转换电压用于转换第二交流电输出恒压源。N个电流源是N个电流转换电路,电流转换电路用于转换第二交流电输出恒流源。
第二方面,本申请实施例提供一种测试设备。该测试设备可以包括设备外壳以及第一方面及其任意一种可能的设计方式所述的测试电路。上述测试电路被部分或者全部设置在设备外壳内。
结合第二方面,在一种可能的设计方式中,上述测试设备还可以包括显示屏和多个调控开关等。其中,显示屏用于显示测试参数和上述测试电路的测试结果。调控开关可用于调整测试电路的测试参数。例如,该测试参数可以为电压转换电路的输出电压值(如5000V),电流转换电路的输出电流值(如25A)。
第三方面,本申请实施例提供一种测试系统。该测试系统可以包括:监控平台、自动化测试设备(automatic test equipment,ATE)、调度设备和K个如第二方面的测试设备,K≥1。其中,每个测试设备用于连接一个或多个被测产品,每个被测产品包括一个或多个测试节点,一个或多个测试节点包括耐压测试回路和/或接地阻抗测试的测试节点。
具体的,上述监控平台,用于获取被测产品的端口信息和条码信息,并向ATE发送条码信息,向调度设备发送端口信息;端口信息包括被测产品所连接的测试设备的端口的标识。ATE,用于根据条码信息查询被测产品的测试信息,并向调度设备指示测试信息;测试信息包括一个或多个测试项和每个测试项的测试参数,一个或多个测试项包括耐压测试和/或接地阻抗测试,ATE中保存有多个条码信息和每个条码信息对应的测试信息。调度设备,用于根据端口信息、一个或多个测试项中的第一测试项,以及K个测试设备中与第一测试项对应的测试能量源的状态信息,确定至少一个第一测试通道;第一测试项是耐压测试或接地阻抗测试;调度设备中保存多个测试能量源的状态信息,状态信息为正在使用状态、未被使用状态或故障状态;至少一个第一测试通道连通端口信息对应的端口与处于未使用状态的第一能量源,第一能量源是为被测产品提供用于执行第一测试项的恒压源或恒流源。调度设备,还用于向ATE发送第一调度信息,第一调度信息用于指示至少一个第一测试通道。ATE,还用于向测试设备发送第一调度信息和第一测试项的测试参数。测试设备中的控制器,用于根据ATE发送的第一调度信息连通至少一个第一测试通道,并控制第一能量源按照第一测试项的测试参数为被测产品提供恒压源或恒流源,执行第一测试项。
需要注意的是,级联的测试设备(即安规测试仪)越多,上述ATE和调度设备控制K个测试设备的控制逻辑越复杂,多个测试设备实现资源共享时电路连接就会越复杂。这样,会影响测试结果的准确性。为了保证测试结果的准确性,上述测试系统中一般可以级联10个或10个以下的测试设备。即1≤K≤10。
结合第三方面,在另一种可能的设计方式中,上述调度设备,还用于确定至少一个测试通道之后,将第一能量源的状态信息由未使用状态修改为正在使用状态。
结合第三方面,在另一种可能的设计方式中,上述测试设备,还用于向ATE发送第一测试项的测试结果。上述ATE,还用于响应于测试结果指示第一测试项测试成功,向监控平台反馈第一测试项的测试结果。上述监控平台,还用于显示第一测试项测试结果。上述ATE,还用于响应于测试结果指示第一测试项测试失败,指示测试设备通过至少一个第一测试通道,按照第一测试项的测试参数重新执行第一测试项。
结合第三方面,在另一种可能的设计方式中,上述ATE,还用于响应于测试结果指示第一测试项测试成功,指示调度设备将第一能量源的状态信息由正在使用状态修改为未使用状态,并指示测试设备释放至少一个第一测试通道。
结合第三方面,在另一种可能的设计方式中,上述ATE,还用于第一测试项的测试失败次数超过预设阈值时,指示调度设备将第一能量源的状态信息由正在使用状态修改为未使用状态,并指示测试设备释放至少一个第一测试通道。
结合第三方面,在另一种可能的设计方式中,上述ATE,还用于响应于测试结果指示第一测试项测试成功,或者响应于第一测试项的测试失败次数超过预设阈值,根据端口信息、一个或多个测试项中的第二测试项,以及K个测试设备中与第二测试项对应的测试能量源的状态信息,确定至少一个第二测试通道;第二测试项与第一测试项不同;状态信息为正在使用状态、未被使用状态或故障状态;至少一个第二测试通道连通端口信息对应的端口与处于未使用状态的至少一个第二能量源,第二能量源是为被测产品提供用于执行第二测试项的恒压源或恒流源。上述调度设备,还用于向ATE发送第二调度信息,第二调度信息用于指示至少一个第二测试通道。上述ATE,用于向测试设备发送第二调度信息和第二测试项的测试参数。上述测试设备,用于根据第二调度信息连通至少一个第二测试通道,并控制第二能量源按照第二测试项的测试参数为被测产品提供恒压源或恒流源,执行第二测试项。
结合第三方面,在另一种可能的设计方式中,上述ATE包括测试工程TPS。其中,TPS,用于根据条码信息查询被测产品的测试信息。
结合第三方面,在另一种可能的设计方式中,上述调度设备针对每个测试能量源保存一个测试队列,测试队列用于保存待测试的测试项。上述调度设备,还用于调度测试能量源按照先进先出的原则执行对应测试队列中的测试项。
结合第三方面,在另一种可能的设计方式中,所述调度设备可以结合各个测试能量源的负载,为新增的测试项分配测试能量源。具体的,每个测试能量源的测试队列中保存的测试项的个数不同。如果一个测试能量源的测试队列中保存了较多的测试项,则表示该测试能量源的负载较大。为了实现各个测试能量源的负载均衡,调度设备还用于将新增的测试项添加至测试项最少的测试队列,由对应的测试能量源执行该新增的测试项。
可以理解地,上述提供的第二方面及其任一种可能的设计方式所述的测试设备,第三方面及其任一种可能的设计方式所述的测试系统中的测试设备,均包括上述第一方面及其任一种可能的设计方式所述的测试电路,因此,其所能达到的有益效果可参考第一方面及其任一种可能的设计方式中的有益效果,此处不再赘述。
附图说明
图1为本申请实施例提供的一种被测电路的示意图;
图2为现有技术提供的一种测试电路的示意图;
图3为本申请实施例提供的另一种测试电路的示意图;
图4为本申请实施例提供的另一种测试电路的示意图;
图5为本申请实施例提供的一种测试电路的示意图;
图6为本申请实施例提供的另一种测试电路的示意图;
图7为本申请实施例提供的另一种测试电路的示意图;
图8为本申请实施例提供的一种多个测试电路的级联示意图;
图9为本申请实施例提供的一种测试电路的示意图;
图10为本申请实施例提供的另一种测试电路的示意图;
图11A为本申请实施例提供的另一种测试电路的示意图;
图11B为本申请实施例提供的另一种测试电路的示意图;
图12为本申请实施例提供的一种测试系统的结构示意图;
图13为本申请实施例提供的一种测试方法流程图;
图14为本申请实施例提供的一种测试方法流程图。
具体实施方式
以下术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。例如,第一输出端和第二输出端是指两个不同的输出端口。术语“和/或”,仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。另外,本文中字符“/”,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
请参考图2,其示出一种用于进行安规测试的测试电路110的示意图。该测试电路110可以包括:电源模块200、测试能量源300、接地端口400和高压开关电路500。
如图2所示,电源模块200可以包括:整流模块210、直流电源电路220、逆变功率放大器(即逆变功放)231和逆变功放232。
其中,整流模块210的输入端连接交流电源。例如,该交流电源可以为220V交流电流(alternating current,AC)电源。整流模块210用于将交流电源输入的第一交流电(如220V AC)转换为直流电。例如,该直流电可以为300V直流电流(direct current,DC)。
整流模块210的输出端连接直流电源电路220的输入端。直流电源电路220的输出端连接逆变功率放大器(简称:逆变功放)231的输入端231a和逆变功放232的输入端232a。直流电源电路220用于对直流电(如300V DC)进行稳压和滤波,为逆变功放231和逆变功放232提供一个稳定的能量源。其中,逆变功放231和逆变功放232用于对直流电源电路220输入的直流电(如300V DC)进行功率放大,并将该直流电转换成第二交流电(如140V AC)。
如图2所示,测试能量源300可以包括电压转换电路311(也可以称为电压源)。上述逆变功放231的输出端231b连接电压转换电路311的第一输入端311a。电压转换电路311用于转换上述第二交流电(如140V AC)输出恒压源。例如,该恒压源可以为5000V AC。该恒压源用于对耐压测试回路进行耐压测试。
如图2所示,电压转换电路311的第二输出端311b连接接地端口400(即Return/CURR-)。电压转换电路311的第一输出端311c连接高压开关电路500的高压输入端(如501a和502a)。高压开关电路500的高压输出端(如501b、501c、502b和502c)用于连接耐压测试回路的测试节点。接地端口400用于连接耐压测试回路的PE。
需要注意的是,如图2所示,连接第二输出端311b和第一输出端311c的变压器(即电感线圈)是电压转换电路311中的电路元件。图2所示的电压转换电路311是电压源的一种示例,电压源包括但不限于图2所示的电压转换电路311。
本申请实施例中,高压输出端501b连接高压测试端口HV1。高压输出端501c连接高压测试端口HV2。高压输出端502b连接高压测试端口HV3。高压输出端502c连接高压测试端口HV4。高压测试端口(如HV1、HV2、HV3和HV4)用于连接耐压测试回路的测试节点。高压开关电路500的高压输出端(如501b、501c、502b和502c)通过高压测试端口连接耐压测试回路的测试节点。
以采用图2所示的测试电路110对图1所示的被测电路100的“输入(In Put)-PE”回路、“输出(Out Put)-PE”回路和“In Put-Out Put”回路进行耐压测试为例。
采用图2所示的测试电路110只能串行对多个耐压测试回路依次进行耐压测试,不能对多个耐压测试回路并行进行耐压测试。例如,在对“In Put-Out Put”回路进行耐压测试的过程中,不能同时对“In Put-PE”回路或者“Out Put-PE”回路进行耐压测试。只能在对“In Put-Out Put”回路进行耐压测试之后,依次对“In Put-PE”回路和“Out Put-PE”回路进行耐压测试。
实施例一
为了实现对多个回路的并行测试,本申请实施例提供一种测试电路。该测试电路可以包括多个测试能量源(如M个电压源和/或P个电流源)。其中,M和P均为正整数,本申请中,其他用于表示数量的字母(如N和Q等)如无特殊说明也为正整数,后续不再赘述。
其中,测试能量源是指用于给被测产品提供测试用的能量(如高压、高电流)的电路,测试能量源可以是电压源(如图7中的电压转换电压311、电压转换电路312),或者电流源(如图7中的电流转换电路313、电流转换电路314)。本申请可以既包括多个电流源,又包括多个电压源,两种测试能量源的数量可以相同,也可以不同。即上述M可以等于P,M也可以不等于P。
测试能量源本质上是电压转换电路或者电流转换电路,这些电路用于根据输入的信号来转成特定电压或者电流。测试能量源的具体参数(如交流或者直流、电压值、电流值、相位、某个端口输出正极还是负极等)可以通过控制器(如控制器240)来进行控制。示例性的,控制器可以为数字信号处理器(digital signal processing,DSP)、中央处理器(Central Processing Unit,CPU)等。
测试能量源的输入信号的获取方式并不限定,一种示例如图3所示,先通过整流电路210将交流电源输入的第一交流电(如220V AC)转成直流电(如300V DC);然后再通过直流电源电路220将对整流电路210输出的直流电进行处理(如稳压、滤波等处理),得到处理后的直流电(即平滑稳定的直流电);再通过逆变功放(如图3所示的逆变功放231和逆变功放232)对该平滑稳定的直流电进行功率放大,输出高频的第二交流电作(如140V AC)为测试能量源的输入信号。其中,逆变功放数量可以是一个或多个,每个可以连接至少一个电流源和/或至少一个电压源,当然,需要连接的测试能量源越多,逆变功变的功率也需要越大,例如,500VA或者更高。
其中,上述M个电压源可以并行为多个耐压测试回路提供恒压源,以实现对多个耐压测试回路的并行耐压测试。下面通过实施例二对上述测试电路对多个耐压测试回路并行进行耐压测试的原理进行介绍。
实施例二
为了实现对多个耐压测试回路的并行耐压测试,本申请实施例提供一种测试电路。该测试电路可以包括:测试能量源(包括M个电压源)、高压开关电路和控制器。
例如,M=2。当然,M也可以大于2,如M=3,或者M=4等。上述高压开关电路可以包括M个高压输入端、N个高压输出端和第一开关组件,N≥M。例如,M=2时,N=4,或者N=3等。上述N个高压输出端用于连接耐压测试回路的第一测试节点(如“In Put-PE”回路的In Put节点,“Out Put-PE”回路的Out Put节点,“In Put-Out Put”回路的In Put节点)。
上述控制器与第一开关组件连接。第一开关组件用于根据控制器的控制,连通或断开M个高压输入端与N个高压输出端。控制器与M个电压源中的每个电压源连接。
上述M个电压源与M个高压输入端一一对应。该M个电压源中的每个电压源的第一输出端连接一个高压输入端。每个电压源的第二输出端连接用于连接耐压测试回路的第二测试节点(如“In Put-PE”回路的PE,“Out Put-PE”回路的PE,“In Put-Out Put”回路的OutPut节点)。本申请实施例中,上述测试电路可包括接地端口。上述每个电压源的第二输出端可连接该接地端口。该接地端口可用于连接耐压测试回路的PE。
为了便于理解,本申请实施例中以M=2,N=4为例,对上述测试电路及其原理进行说明。
如图3所示,本申请实施例提供一种测试电路120。该测试电路120可以包括:电源模块200、测试能量源300、高压开关电路500和控制器240。
上述电源模块200可以包括:整流模块210、直流电源电路220、逆变功放231和逆变功放232。需要注意的是,测试电路120的电源模块200的详细描述可以参考上述实施例对图2所示的测试电路110中电源模块200的介绍,本申请实施例这里不予赘述。
上述测试能量源300包括2个电压源(即电压转换电路),如电压转换电路311和电压转换电路312。高压开关电路500包括2个高压输入端(501a和502a)、4个高压输出端(如501b、501c、502b和502c)和第一开关组件510。
如图3所示,电压转换电路311的第二输入端311d连接控制器240。电压转换电路311的第一输入端311a连接逆变功放231的输出端231b。电压转换电路311可接收逆变功放231输出的第二交流电(如140V AC)。电压转换电路311的第一输出端311c连接高压输入端501a。电压转换电路312的第二输入端312d连接控制器240。电压转换电路312的第一输入端312a连接逆变功放232的输出端232b。电压转换电路312可接收逆变功放232输出的第二交流电(如140V AC)。电压转换电路312的第一输出端312c连接高压输入端502a。电压转换电路311和电压转换电路312用于转换上述第二交流电(如140V AC)输出恒压源。其中,电压转换电路311和电压转换电路312输出的电压的大小可以相同,也可以不同。
本申请实施例中,控制器240可控制M电压源中的X个电压源同时输出电压,2≤X≤M。本申请实施例中,以X=2为例,对控制器240控制M个电压源中的X个电压源同时输出电压的原理进行说明。
图3所示的电压转换电路311的第一输出端311c连接高压输入端501a,电压转换电路312的第一输出端312c连接高压输入端502a。
其中,电压转换电路311的第二输出端311b用于连接一个耐压测试回路的第二测试节点。电压转换电路312的第二输出端312b用于连接另一个耐压测试回路的第二测试节点。图3所示的高压输出端501b、501c、502b和502c用于连接不同耐压测试回路的第一测试节点。
例如,结合图3,如图4所示,测试人员可将被测电路100中“In Put-PE”回路的InPut节点(即第一测试节点)连接高压输出端501b,将被测电路100中“In Put-PE”回路的PE(即第二测试节点)连接接地端口400。其中,该接地端口400连接电压转换电路311(即第一电压源)的第二输出端311b。如图4所示,测试人员可将被测电路100中“Out Put-PE”回路的Out Put节点(即第一测试节点)连接高压输出端502b,可将被测电路100中“Out Put-PE”回路的PE(即第二测试节点)连接接地端口400。其中,该接地端口400连接电压转换电路312(即第二电压源)的第二输出端312b。
请参考图4,上述控制器240,用于当高压输出端501b(即第一高压输出端)连接“InPut-PE”回路的In Put节点,“In Put-PE”回路的PE连接电压转换电路311的第二输出端311b,并且,高压输出端502b(即第二高压输出端)连接“Out Put-PE”回路的Out Put节点,“Out Put-PE”回路的PE连接电压转换电路312的第二输出端312b时,控制第一开关组件510连通高压输入端501a与高压输出端501b,形成图4所示的闭合回路“In Put-HV1-501b-501a-311c-311b-400-PE”,并同时连通高压输入端502a(即第二高压输入端)与高压输出端502b,形成图4所示的闭合回路“Out Put-HV3-502b-502a-312c-312b-400-PE”。
并且,控制器240还可以控制电压转换电路311输出电压,为图4所示的“In Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源,并同时控制电压转换电路312输出电压,为图4所示的“OutPut-PE”回路提供耐压测试的恒压源。
如此,在电压转换电路311为“In Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源的同时,电压转换电路312也可以为“Out Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源。即本申请实施例提供的测试电路120,可以并行对多个耐压测试回路(如“In Put-PE”回路和“Out Put-PE”回路)进行耐压测试。
需要注意的是,本申请实施例中,高压开关电路的每个高压输入端均可连通任一高压输出端。例如,图3所示的高压输入端501a可连通高压输出端501b、高压输出端501c、高压输出端502b或者高压输出端502c中的任一端口。
实施例三
结合上述实施例二,测试电路120并行对多个耐压测试回路进行耐压测试时,可以针对不同耐压测试回路进行差异参数设置。即测试电路120可以为不同的耐压测试回路提供不同的恒压源。例如,电压转换电路311为“In Put-PE”回路提供的恒压源与电压转换电路312为“Out Put-PE”回路提供的恒压源不同。
具体的,每个电压源(即电压转换电路)可以按照对应耐压测试回路的测试参数输出与该测试参数对应的电压。
例如,假设“In Put-PE”回路的测试参数可以为第一测试参数,如3000V。“OutPut-PE”回路的测试参数可以为第二测试参数,如2000V。那么,控制器240则可以根据第一测试参数(如3000V)控制电压转换电路311向“In Put-PE”回路输出3000V的电压(即第一电压);根据第二测试参数(如2000V)控制电压转换电路312向“Out Put-PE”回路输出2000V的电压(即第二电压)。
综上所述,本申请实施例提供的测试电路120可以并行为多个耐压测试回路提供异参数的耐压测试。其中,按照耐压测试回路的测试参数针对性的为耐压测试回路提供恒压源,可以保护被测回路中的元器件不被击穿。
实施例四
以采用图2所示的测试电路110对图1所示的被测电路100的“In Put-Out Put”回路进行耐压测试为例。如果测试人员将图2所示高压输出端501b接被测电路的In Put,将被测电路的Out Put接接地端口400,高压开关电路500的开关组件连通高压输入端501a与高压输出端501b。此时,电压转换电路311便可以为“In Put-Out Put”回路提供耐压测试的恒压源(如5000V AC),对“In Put-Out Put”回路进行耐压测试。但是,由于In Put节点和OutPut节点之间所加的电压会不均等的分配到C1和C2上。C1或者C2可能会因为分配的电压较大,超过规格要求而被击穿。
为了保护被测电路100在进行耐压测试时不被击穿,结合上述实施例二,测试电路120中的电压转换电路311和电压转换电路312可以反向串联为“In Put-Out Put”回路提供耐压测试的恒压源。其中,如图3或图4所示,电压转换电路311的第二输出端311b连接电压转换电路312的第二输出端312b,电压转换电路311和电压转换电路312反向串联。
具体的,如图4所示,上述控制器240,还用于当高压输出端501b(即第一高压输出端)连接“In Put-Out Put”回路的In Put节点,高压输出端502b(即第二高压输出端)连接“In Put-Out Put”的Out Put节点时,控制第一开关组件510连通高压输入端501a与高压输出端501b,并同时连通高压输入端502a与高压输出端502b,可形成闭合回路“In Put-HV1-501b-501a-311c-311b-312b-312c-502a-502b-HV3-Out Put”。
上述控制器240,还可以用于控制反向串联的电压转换电路311和电压转换电路312输出电压,为“In Put-Out Put”回路提供耐压测试的恒压源。
结合上述实施例三,“In Put-PE”回路的测试参数为3000V,即C1能够承担的最大电压为3000V,“Out Put-PE”回路的测试参数为2000V,即C2能够承担的最大电压为2000V。并且基于串联分压原理,反向串联的电压转换电路311和电压转换电路312便可以为“InPut-Out Put”回路提供5000V的恒压源。
具体的,控制器240可以根据“In Put-Out Put”回路的测试参数(即第三测试参数)控制反向串联的电压转换电路311和电压转换电路312向“In Put-Out Put”回路输出的第三电压(如5000V的电压)。
其中,虽然反向串联的电压转换电路311和电压转换电路312为“In Put-Out Put”回路提供5000V的恒压源;但是,5000V的电压在电容C1上的电压为3000V,是由电压转换电路311按照“In Put-PE”回路的测试参数提供的,不会击穿电容C1;并且,5000V的电压在电容C2上的电压为2000V,是由电压转换电路312按照“Out Put-PE”回路的测试参数提供的,不会击穿电容C2。
综上所述,本申请实施例提供的测试电路利用异参数设置的特性进行反向电压合成时,可在确保耐压测试的电压满足被测电路的规格要求的前提下,保护被测电路不被击穿。
实施例五
常规的安规测试仪进行接地阻抗测试时,也只能串行对多个待测节点依次进行接地阻抗测试。例如,图2所示测试电路110的测试能量源300还可以包括电流转换电路313(也可以称为电流源)。图2所示的测试电路110还包括接地开关电路600。上述逆变功放232的输出端232b连接电流转换电路313的第一输入端313a。电流转换电路313用于转换上述第二交流电(如140V AC)输出恒流源。例如,该恒流源可以为25A AC。该恒流源用于对待测节点进行接地阻抗测试。电流转换电路313的第二输出端313b连接接地端口400(即Return/CURR-)。电流转换电路313的第一输出端313c连接接地开关电路600的接地输入端(如601a和602a)。接地开关电路600的接地输出端,如601b(即CURR1+)、601c(即CURR2+)、602b(即CURR3+)和502c(即CURR4+)用于连接接地阻抗测试的测试节点。接地端口400用于接地。
需要注意的是,如图2所示,连接第二输出端313b和第一输出端313c的变压器(即电感线圈)是电流转换电路313中的电路元件。图2所示的电流转换电路313是电流源的一种示例,电流源包括但不限于图2所示的电流转换电路313。
本申请实施例中,接地输出端601b连接接地测试端口CURR1+。接地输出端601c连接接地测试端口CURR2+。接地输出端602b连接接地测试端口CURR3+。接地输出端602c连接接地测试端口CURR4+。接地测试端口(如CURR1+、CURR2+、CURR3+和CURR4+)用于连接接地阻抗测试回路的测试节点。接地开关电路600的接地输出端(如601b、601c、602b和602c)通过接地测试端口连接接地阻抗测试回路的测试节点。
以采用图2所示的测试电路进行接地阻抗测试为例。如果测试人员将测试节点(如测试节点1)接接地输出端601b,接地端口400接被测电路的PE,那么接地开关电路600可连通接地输入端601a与接地输出端601b。此时,电路转换电路313便可以为测试节点1提供接地阻抗测试的恒流源(如25A AC),对测试节点1进行接地阻抗测试。
其中,采用图2所示的测试电路对测试节点1进行接地阻抗测试的同时,不能对其他测试节点进行接地阻抗测试。即不能并行对多个测试节点进行接地阻抗测试。
为了能够并行对多个测试节点进行接地阻抗测试,如实施例一所述,本申请实施例提供的测试电路中的多个测试能量源包括P个电流源。该P个电流源可以并行为多个接地阻抗测试回路提供恒流源,以实现对多个接地阻抗测试回路的并行接地阻抗测试。例如,P=2。当然,P也可以大于2,如P=3,或者P=4等。
在该实施例中,上述测试电路还可以包括接地开关电路。该接地开关电路可以包括P个接地输入端、Q个接地输出端和第三开关组件,Q≥P。例如,P=2时,Q=4,或者P=3等。上述Q个接地输出端用于连接接地阻抗测试回路的测试节点。
上述控制器与第三开关组件连接。第三开关组件用于根据控制器的控制,连通或断开P个接地输入端与Q个接地输出端。控制器与P个电流源中的每个电流源连接。
上述P个电流源与P个接地输入端一一对应。该P个电流源中的每个电流源的第一输出端连接一个接地输入端。每个电流源的第二输出端用于连接接地阻抗测试回路的PE。本申请实施例中,上述每个电流源的第二输出端可连接接地端口。接地端口可用于连接接地阻抗测试回路的PE。
为了便于理解,本申请实施例中以P=2,Q=4为例,对上述测试电路及其原理进行说明。
如图5所示,测试电路120还包括接地开关电路600,测试能量源300还可以包括2个电流源(即电流转换电路),如电流转换电路313和电流转换电路314。接地开关电路600包括2个接地输入端(601a和602a)、4个接地输出端(如601b、601c、602b和602c)和第三开关组件610。
如图5所示,电流转换电路313的第二输入端313d连接控制器240。电流转换电路313的第一输入端313a连接逆变功放231的输出端231b。电流转换电路313可接收逆变功放231输出的第二交流电(如140V AC)。电流转换电路313的第一输出端313c连接接地输入端601a。电压转换电路312的第二输入端312d连接控制器240。电流转换电路314的第一输入端314a连接逆变功放232的输出端232b。电流转换电路314可接收逆变功放232输出的第二交流电(如140V AC)。电流转换电路314和电流转换电路313用于转换上述第二交流电(如140VAC)输出恒流源。其中,电流转换电路314和电流转换电路313输出的电流的大小可以相同,也可以不同。
本申请实施例中,控制器240可控制P电压源中的Y个电流源同时输出电流,2≤Y≤P。本申请实施例中,以Y=2为例,对控制器240控制P个电流源中的Y个电流源同时输出电流的原理进行说明。
图5所示的电流转换电路313的第一输出端313c连接接地输入端601a,电流转换电路314的第一输出端314c连接接地输入端602a。
其中,电流转换电路313的第二输出端313b用于连接一个接地阻抗测试回路的PE。电流转换电路314的第二输出端314b用于连接另一个接地阻抗测试回路的PE。图5所示的接地输出端601b、601c、602b和602c用于连接不同接地阻抗测试回路的测试节点。
例如,结合图5,如图6所示,测试人员可将接地阻抗测试回路1的测试节点1连接接地输出端601b(即CURR1+),将接地阻抗测试回路1的PE(即PE1)连接接地端口400。其中,接地端口400连接电流转换电路313的第二输出端313b。如图6所示,测试人员可将接地阻抗测试回路2的测试节点2连接接地输出端602b(即CURR3+),将接地阻抗测试回路2的PE(即PE2)连接接地端口400。其中,接地端口400连接电流转换电路314的第二输出端314b。
请参考图6,上述控制器240,用于当接地输出端601b连接测试节点1,电流转换电路313的第二输出端313b连接PE1,并且接地输出端602b连接测试节点2,电流转换电路314的第二输出端314b连接PE2时,控制第三开关组件610,使第三开关组件610连通接地输入端601a(即第一接地输入端)与接地输出端601b(即第二接地输出端),形成图6所示的闭合回路“测试节点1-‘CURR1+’-601b-601a-313c-313b-400-PE1”,并形成图6所示的闭合回路“测试节点2-‘CURR3+’-602b-602a-314c-313b-400-PE2”。
并且,控制器240还可以控制电流转换电路313输出电流,为图6所示的接地阻抗测试回路1提供接地阻抗测试的恒流源,并同时控制电流转换电路314输出电流,为图6所示的接地阻抗测试回路2提供耐压测试的恒压源。
如此,在电流转换电路313为接地阻抗测试回路1提供接地阻抗测试的恒流源的同时,电流转换电路314也可以为接地阻抗测试回路2提供接地阻抗回路测试的恒流源。即本申请实施例提供的测试电路120,可以并行对多个接地阻抗测试回路进行接地阻抗测试。
需要注意的是,本申请实施例中,接地开关电路的每个接地输入端均可连通任一接地输出端。例如,图5所示的接地输入端601a可连通接地输出端601b、接地输出端601c、接地输出端602b或者接地输出端602c中的任一端口。
实施例六
结合上述实施例五,测试电路120并行对多个接地阻抗测试回路进行接地阻抗测试时,可以针对不同的接地阻抗测试回路进行差异参数设置。即测试电路120可以为不同的接地阻抗测试回路提供不同的恒流源。例如,电流转换电路313为接地阻抗测试回路1提供的恒流源与电流转换电路314为接地阻抗测试回路2提供的恒流源不同。
具体的,每个电流源(即电流转换电路)可以按照对应接地阻抗测试回路的测试参数输出与该测试参数对应的电流。
例如,假设第一接地阻抗测试回路(如接地阻抗测试回路1)的测试参数可以为第四测试参数,如25A。第二接地阻抗测试回路(如接地阻抗测试回路2)的测试参数可以为第五测试参数,如20A。那么,控制器240则可以根据第四测试参数(如25A)控制电流转换电路313向接地阻抗测试回路1输出25A的电流(即第一电流);根据第五测试参数(如20A)控制电流转换电路314向接地阻抗测试回路2输出20A的电流(即第二电流)。
综上所述,本申请实施例提供的测试电路120可以并行为多个接地阻抗测试回路提供异参数的接地阻抗测试。其中,按照接地阻抗测试回路的测试参数针对性的为接地阻抗测试回路提供恒流源,可以保护被测回路中的元器件不被击穿。
需要注意的是,图2所示的测试电路110中,一个逆变功放只能为一个电压源(即电压转换电路)或者一个电流源(即电流转换电路)输出第二交流电(如140V AC)。而图5所示的测试电路120中,每个逆变功放均可以同时为一个电压源(即电压转换电路)和一个电流源(即电流转换电路)输出第二交流电(如140V AC)。例如,图5所示的逆变功放231可以同时为电压转换电路311和电流转换电路313输出第二交流电(如140V AC)。相比于图2所示的测试电路110,本申请实施例提供的测试电路(如图5所示的测试电路120)中包括更多的电压源和电流源。因此,本申请实施例提供的测试电路可以通过多个电压源并行对多个耐压测试回路进行异参数的耐压测试,通过多个电流源并行对多个接地阻抗测试回路进行异参数的接地阻抗测试。
实施例七
本申请实施例提供的测试电路可以与上一级测试电路和下一级测试电路级联,以实现多级测试电路的资源共享。具体的,本申请实施例提供的测试电路还可以包括:通道切换开关组、第一级联端口组和第二级联端口组。
其中,通道切换开关组包括多个通道切换开关。例如,通道切换开关组包括M个电压切换开关和P个电流切换开关。
每个通道切换开关(如电压切换开关或者电流切换开关)有两个输入端(本机信号输入端,级连信号输入端)、两个输出端(本机信号测试端,级连信号输出端)以及一个开关组件。
例如,每个电压切换开关包括本机信号输入端、级连信号输入端、本机信号测试端、级连信号输出端和第二开关组件。第二开关组件与控制器连接。第二开关组件用于根据控制器的控制,连通或者断开对应电压切换开关的本机信号输入端与本机信号测试端或级联信号输出端,连通或断开电压切换开关的级联信号输入端与本机信号测试端或级联信号输出端。又例如,每个电流切换开关包括本机信号输入端、级连信号输入端、本机信号测试端、级连信号输出端和第四开关组件。第四开关组件与控制器连接。第四开关组件用于根据控制器的控制,连通或者断开对应电流切换开关的本机信号输入端与本机信号测试端或级联信号输出端,连通或断开电流切换开关的级联信号输入端与本机信号测试端或级联信号输出端。
该多个通道切换开关与多个测试能量源可以一一对应。例如,上述M个电压切换开关与M个电压源一一对应,P个电流切换开关与P个电流源一一对应。
并且,M个电压切换开关与高压开关电路的M个高压输入端一一对应。P个电流切换开关与接地开关电路的P个接地输入端一一对应。其中,第一级联端口组包括M个电压端口,第二级联端口组包括M个电压端口。
具体的,对于每组相互对应的电压源、电压切换开关以及高压开关电路的高压输入端,每个电压源的第一输出端连接对应电压切换开关的本机信号输入端,每个电压切换开关的本机信号测试端连接高压开关电路中对应的高压输入端。其中,当一个电压切换开关的第二开关组件根据控制器的控制,连通该电压切换开关的本机信号输入端和本机信号测试端时,测试电路中、与该电压切换开关对应的电压源的第一输出端和高压开关电路中对应的高压输入端便可以连通。
其中,每个电压切换开关的级联信号输入端分别连接第一级联端口组中的一个电压端口。第一级联端口组中的电压端口用于连接上一级测试电路中的第二级联端口组中的电压端口。每个电压切换开关的级联信号输出端分别连接第二级联端口组中的一个电压端口。第二级联端口组中的电压端口用于连接下一级测试电路中的第一级联端口组中的电压端口。
对于每组相互对应的电流源、电流切换开关以及接地开关电路的接地输入端,每个电流源的第一输出端连接对应电流切换开关的本机信号输入端,每个电流切换开关的本机信号测试端连接接地开关电路中对应的高压输入端。其中,当一个电流切换开关的第二开关组件根据控制器的控制,连通该电流切换开关的本机信号输入端和本机信号测试端时,测试电路中、与该电流切换开关对应的电流源的第一输出端和接地开关电路中对应的高压输入端便可以连通。
其中,每个电流切换开关的级联信号输入端分别连接第一级联端口组中的一个电流端口。第一级联端口组中的电流端口用于连接上一级测试电路中的第二级联端口组中的电流端口。每个电流切换开关的级联信号输出端分别连接第二级联端口组中的一个电流端口。第二级联端口组中的电流端口用于连接下一级测试电路中的第一级联端口组中的电流端口。
需要注意的是,本申请实施例中,级联信号输入端和级联信号输出端是可选的。如果没有级联使用的要求,也可以不需要级联信号输入端和级联信号输出端。本申请中的“上一级”或者“下一级”只是一个相对的关系,只代表级联时的相对层次。
可以理解,本申请中的通道切换开关组中的多个通道切换开关、高压开关电路以及接地开关电路可以在控制器的控制下决定如何切换,从而使用特定的测试能量源对特定的被测产品进行测试。
为了便于理解,本申请实施例中以M=2,N=4,P=2,Q=4为例。如图7所示,图5所示的测试电路120还可以包括通道切换开关组700、第一级联端口组800和第二级联端口组900。
第一级联端口组800包括电压端口V1、电压端口V2、电流端口A1和电流端口A2。第二级联端口组900包括电压端口V1、电压端口V2、电流端口A1和电流端口A2。通道切换开关组700包括:电压切换开关701、电压切换开关702、电流切换开关703和电流切换开关704。
其中,电压切换开关701包括:本机信号输入端701a、级联信号输入端701c、本机信号测试端701b、级联信号输出端701d和第二开关组件701e。电压切换开关702包括:本机信号输入端702a、级联信号输入端702c、本机信号测试端702b、级联信号输出端702d和第二开关组件702e。
电压转换电路311和电压转换电路312可以通过通道切换开关组700(如电压切换开关701和电压切换开关702)与高压开关电路500相连。
具体的,如图7所示,电压转换电路311的第一输出端311c连接电压切换开关701的本机信号输入端701a。电压切换开关701的本机信号测试端701b连接高压开关电路500的高压输入端501a。电压切换开关701的级联信号输入端701c连接第一级联端口组800中的电压端口V2。电压切换开关701的级联信号输出端701d连接第二级联端口组900中的电压端口V1。
如图7所示,电压转换电路312的第一输出端312c连接电压切换开关702的本机信号输入端702a,电压切换开关702的本机信号测试端702b连接高压开关电路500的高压输入端502a。电压切换开关702的级联信号输入端702c连接第一级联端口组800中的电压端口V1。电压切换开关702的级联信号输出端702d连接第二级联端口组900中的电压端口V2。
其中,第一级联端口组800中的电压端口用于连接上一级测试电路中的第二级联端口组中的电压端口。第二级联端口组900中的电压端口用于连接下一级测试电路中的第一级联端口组中的电压端口。
例如,假设图8所示的测试电路1010是测试电路120的上一级测试电路,测试电路1020是测试电路120的下一级测试电路。图8示出了本申请实施例中多个测试电路级联的连接方式示意图。
如图8所示,测试电路120的第一级联端口组800中的电压端口V1连接测试电路1010中的第二级联端口组900中的电压端口V1。测试电路120的第一级联端口组800中的电压端口V2连接测试电路1010中的第二级联端口组900中的电压端口V2。
如图8所示,测试电路120的第二级联端口组900中的电压端口V1连接测试电路1020中的第一级联端口组800中的电压端口V1。测试电路120的第二级联端口组900中的电压端口V2连接测试电路1020中的第一级联端口组800中的电压端口V2。
当然,测试电路120的第一级联端口组800中的电压端口V2也可以连接测试电路1010中的第二级联端口组900中的电压端口V1(附图未示出)。测试电路120的第二级联端口组900中的电压端口V2也可以连接测试电路1020中的第一级联端口组800中的电压端口V1(附图未示出)。
可以理解,本申请实施例提供的多个电压切换开关可以将多个测试电路(如测试电路1010、测试电路120和测试电路1020)级联起来。这样,测试电路120不仅可以为与测试电路120的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源,测试电路1020和测试电路1010也可以为与测试电路120的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源,并且,测试电路120也可以为与测试电路1010或者测试电路1020的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。即可以实现多级测试电路的资源共享。
其中,电流切换开关703包括:本机信号输入端703a、级联信号输入端703c、本机信号测试端703b、级联信号输出端703d和第四开关组件703e。电流切换开关704包括:本机信号输入端704a、级联信号输入端704c、本机信号测试端704b、级联信号输出端704d和第四开关组件704e。
电流转换电路313和电流转换电路314可以通过通道切换开关组700(如电流切换开关703和电流切换开关704)与接地开关电路600相连。
具体的,如图7所示,电流转换电路313的第一输出端313c连接电流切换开关703的本机信号输入端703a。电流切换开关703的本机信号测试端703b连接接地开关电路600的接地输入端601a。电流切换开关703的级联信号输入端703c连接第一级联端口组800中的电流端口A2。电流切换开关703的级联信号输出端703d连接第二级联端口组900中的电流端口A1。
如图7所示,电流转换电路314的第一输出端314c连接电流切换开关704的本机信号输入端704a,电流切换开关704的本机信号测试端704b连接接地开关电路600的接地输入端602a。电流切换开关704的级联信号输入端704c连接第一级联端口组800中的电流端口A1。电流切换开关704的级联信号输出端704d连接第二级联端口组900中的电流端口A2。
其中,第一级联端口组800中的电流端口用于连接上一级测试电路中的第二级联端口组中的电流端口。第二级联端口组900中的电流端口用于连接下一级测试电路中的第一级联端口组中的电流端口。
如图8所示,测试电路120的第一级联端口组800中的电流端口A1连接测试电路1010中的第二级联端口组900中的电流端口A1。测试电路120的第一级联端口组800中的电流端口A2连接测试电路1010中的第二级联端口组900中的电流端口A2。
如图8所示,测试电路120的第二级联端口组900中的电流端口A1连接测试电路1020中的第一级联端口组800中的电流端口A1。测试电路120的第二级联端口组900中的电流端口A2连接测试电路1020中的第一级联端口组800中的电流端口A2。
当然,测试电路120的第一级联端口组800中的电流端口A2也可以连接测试电路1010中的第二级联端口组900中的电流端口A1(附图未示出)。测试电路120的第二级联端口组900中的电流端口A2也可以连接测试电路1020中的第一级联端口组800中的电流端口A1(附图未示出)。
可以理解,本申请实施例提供的多个电流切换开关可以将多个测试电路(如测试电路1010、测试电路120和测试电路1020)级联起来。这样,测试电路120不仅可以为与测试电路120的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源,测试电路1020和测试电路1010也可以为与测试电路120的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源,并且,测试电路120也可以为与测试电路1010或者测试电路1020的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。即可以实现多级测试电路的资源共享。
基于实施例七,以下实施例对测试电路120的多通道硬分离/差异参数设置/通道切换进行介绍。下面分别通过更多的实施例来对各种测试场景进行介绍。
实施例八
结合实施例七,测试电路120可以通过通道切换开关组700和高压开关电路500的切换,实现测试电路120并行对与测试电路120的高压输出端连接的耐压测试回路进行异参数的耐压测试。
本实施例以图9为例,对测试电路120为与测试电路120的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源的原理进行说明:
其中,测试人员可将图1所示的被测电路100中“In Put-PE”回路的In Put节点连接图9所示的高压输出端501b,将被测电路100中“Out Put-PE”回路的Out Put节点连接高压输出端502b,将被测电路100的PE连接接地端口400。
请参考图9,控制器240,可以用于当“In Put-PE”回路的In Put节点连接高压输出端501b,“In Put-PE”回路的PE连接接地端口400,“Out Put-PE”回路的Out Put节点连接高压输出端502b“Out Put-PE”回路的PE连接接地端口400时,控制第一开关组件510和第二开关组件701e,使第一开关组件510连通高压输入端501a与高压输出端501b,使第二开关组件701e连通本机信号输入端701a和本机信号测试端701b,形成闭合回路“In Put-HV1-501b-501a-701b-701a-311c-311b-400-PE”,并同时控制第一开关组件510和第二开关组件702e,使第一开关组件510连通高压输入端502a与高压输出端502b,使第二开关组件702e连通本机信号输入端702a和本机信号测试端702b,形成闭合回路“Out Put-HV3-502b-502a-702b-702a-312c-312b-400-PE”。
并且,控制器240还可以控制电压转换电路311输出电压,为“In Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源,并同时控制电压转换电路312输出电压,为“Out Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源。
如此,在电压转换电路311为“In Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源的同时,电压转换电路312也可以为“Out Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源。即本申请实施例提供的测试电路120,可以并行对多个耐压测试回路(如“In Put-PE”回路和“Out Put-PE”回路)进行耐压测试。
进一步的,图9所示的测试电路120并行对多个耐压测试回路进行耐压测试时,可以针对不同耐压测试回路进行差异参数设置。即测试电路120可以为不同的耐压测试回路提供不同的恒压源。例如,电压转换电路311为“In Put-PE”回路提供的恒压源与电压转换电路312为“Out Put-PE”回路提供的恒压源不同。
具体的,每个电压源(即电压转换电路)可以按照对应耐压测试回路的测试参数输出与该测试参数对应的电压。
例如,假设“In Put-PE”回路的测试参数可以为3000V。“Out Put-PE”回路的测试参数可以为2000V。那么,控制器240则可以控制电压转换电路311向“In Put-PE”回路输出3000V的电压;控制电压转换电路312向“Out Put-PE”回路输出2000V的电压。
综上所述,本申请实施例提供的测试电路120可以并行为多个耐压测试回路提供异参数的耐压测试。其中,按照耐压测试回路的测试参数针对性的为耐压测试回路提供恒压源,可以保护被测回路中的元器件不被击穿。
实施例九
结合实施例七,测试电路120可以通过通道切换开关组700和高压开关电路500的切换,实现测试电路120中的多个电压源反向串联对与测试电路120的高压输出端连接的耐压测试回路进行并行异参数的耐压测试。
请参考图9,上述控制器240,还可以用于当高压输出端501b连接“In Put-OutPut”回路的In Put节点,高压输出端502b连接“In Put-Out Put”的Out Put节点时,控制第一开关组件510、第二开关组件701e和第二开关组件702e,使第一开关组件510连通高压输入端501a与高压输出端501b,并连通高压输入端502a与高压输出端502b,使第二开关组件701e连通本机信号输入端701a和本机信号测试端701b,使第二开关组件702e连通本机信号输入端702a和本机信号测试端702b,以形成闭合回路:“In Put-HV1-501b-501a-701b-701a-311c-311b-312b-312c-702a-702b-502a-502b-HV3-Out Put”。
上述控制器240,还可以用于控制反向串联的电压转换电路311和电压转换电路312输出电压,为“In Put-Out Put”回路提供耐压测试的恒压源。
结合上述实施例八,“In Put-PE”回路的测试参数为3000V,即图1所示的C1能够承担的最大电压为3000V,“Out Put-PE”回路的测试参数为2000V,即图1所示的C2能够承担的最大电压为2000V。并且基于串联分压原理,反向串联的电压转换电路311和电压转换电路312便可以为“In Put-Out Put”回路提供5000V的恒压源。具体的,5000V的电压在电容C1上的电压为3000V,是由电压转换电路311按照“In Put-PE”回路的测试参数提供的,不会击穿电容C1;并且,5000V的电压在电容C2上的电压为2000V,是由电压转换电路312按照“OutPut-PE”回路的测试参数提供的,不会击穿电容C2。
综上所述,本申请实施例提供的测试电路利用异参数设置的特性进行反向电压合成时,可在确保耐压测试的电压满足被测电路的规格要求的前提下,保护被测电路不被击穿。
实施例十
结合实施例七,测试电路120可以通过通道切换开关组700和高压开关电路500的切换,实现多级测试电路进行耐压测试时的资源共享。
其中,本实施例中多级测试电路进行耐压测试时的资源共享可以包括以下四种情况:
情况(1):本机的电压源(即电压转换电路)为与本机的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。
请参考图10,当高压输出端501b连接“In Put-PE”回路的In Put节点,“In Put-PE”回路的PE连接接地端口400时,第二开关组件701e可以根据控制器240的控制,连通电压切换开关701的本机信号输入端701a和本机信号测试端701b,第一开关组件510可以根据控制器240的控制连通高压输入端501a和高压输出端501b。此时,电压转换电路311可以为“InPut-PE”回路提供耐压测试的恒压源。即测试电路120可以为与该测试电路120的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。
情况(2):本机的电压源(即电压转换电路)为与下一级测试电路的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。
请参考图10,第二开关组件702e可以根据控制器240的控制,连通本机信号输入端702a与级联信号输出端702d。这样,电压转换电路312便可以通过第二级联端口组900的电压端口V2为下一级测试电路的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。
情况(3):上一级测试电路中的电压源(即电压转换电路)为与本机的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。
请参考图10,当高压输出端502b连接“In Put-PE”回路的In Put节点,“In Put-PE”回路的PE连接接地端口400时,第二开关组件702可以根据控制器240的控制,连通级联信号输入端702c与本机信号测试端702b。这样,上一级测试电路中的电压源(即电压转换电路)便可以通过第一级联端口组800的电压端口V1为该“In Put-PE”回路提供恒压源。即上一级测试电路可以为与该测试电路120的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。
情况(4):上一级测试电路中的电压源(即电压转换电路)通过本机的通道切换开关组为与下一级测试电路的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。
请参考图10,第二开关组件701e可以根据控制器240的控制,连通级联信号输入端701c与级联信号输出端701d。这样,上一级测试电路中的电压源(即电压转换电路)便可以通过本机的通道切换开关组700为下一级测试电路的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。具体的,上一级测试电路中的电压源可以通过第一级联端口组800的电压端口V2、级联信号输入端701c、级联信号输出端701d和第二级联端口组900的电压端口V1,为下一级测试电路的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。
需要注意的是,当多个测试电路环形级联时,一个测试电路的下一级测试电路也可以称为该测试电路的上一级测试电路。例如,如图8所示,假设测试电路1020的第二级联端口组900中的V1连接测试电路1010的第一级联端口组800中的电压端口V1。并且,如图10所示,图8中的测试电路120的电压切换开关701的级联信号输入端701c连接级联信号输出端701d。此时,下一级测试电路中的电压源(即电压转换电路)也可以为上一级测试电路的高压输出端连接的耐压测试回路提供恒压源。需要注意的是,级联的多个测试电路可以并行对多个耐压测试回路进行异参数的耐压测试。
综上所述,本申请实施例提供的测试电路可以并行为连接本机的耐压测试回路,以及与本机级联的其他测试电路的耐压测试回路,提供耐压测试的电压源。即级联的多个测试电路之间可以进行资源共享。这样,可以提升各个测试电路的利用率。
实施例十一
结合实施例七,测试电路120可以通过通道切换开关组700和接地开关电路600的切换,实现测试电路120并行对与测试电路120的接地输出端连接的接地阻抗测试回路进行异参数的接地阻抗测试。
本实施例以图11A为例,对测试电路120为与测试电路120的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源的原理进行说明:
其中,测试人员可将接地阻抗测试回路1的测试节点1连接图11A所示的接地输出端601b,将接地阻抗测试回路1的PE1连接图11A所示的接地端口400;并且,测试人员可将接地阻抗测试回路2的测试节点2连接接地输出端602b,将接地阻抗测试回路2的PE2连接接地端口400。
请参考图11A,控制器240可以用于当接地阻抗测试回路1的测试节点1连接接地输出端601b,接地阻抗测试回路1的PE1连接接地端口400,接地阻抗测试回路2的测试节点2连接接地输出端602b,接地阻抗测试回路2的PE2连接接地端口400时,控制第三开关组件610和第四开关组件703e,使第三开关组件610连通接地输入端601a与接地输出端601b,使第四开关组件703e连通本机信号输入端703a和本机信号测试端703b,形成闭合回路“测试节点1-‘CURR1+’-601b-601a-703b-703a-313c-313b-400-PE1”,并同时控制第三开关组件610和第四开关组件704e,使第三开关组件610连通接地输入端602a与接地输出端602b,使第四开关组件704e连通本机信号输入端704a和本机信号测试端704b,形成闭合回路“测试节点2-‘CURR3+’-602b-602a-704b-704a-314c-314b-400-PE2”。
并且,控制器240还可以控制电流转换电路313输出电流,为接地阻抗测试回路1提供接地阻抗测试的恒流源,并同时控制电流转换电路314输出电流,为接地阻抗测试回路2提供接地阻抗测试的恒流源。即本申请实施例提供的测试电路120,可以并行对多个接地阻抗测试回路进行接地阻抗测试。
进一步的,图11A所示的测试电路120并行对多个接地阻抗测试回路进行接地阻抗测试时,可以针对不同接地阻抗测试回路进行差异参数设置。即测试电路120可以为不同的接地阻抗测试回路提供不同的恒流源。例如,电流转换电路313为接地阻抗测试回路1提供的恒流源与电流转换电路314为接地阻抗测试回路2提供的恒流源不同。
具体的,每个电流源(即电流转换电路)可以按照对应接地阻抗测试回路的测试参数输出与该测试参数对应的电流。例如,假设接地阻抗测试回路的测试参数为25A。接地阻抗测试回路2的测试参数为20A。那么,控制器240则可以控制电流转换电路313向接地阻抗测试回路1输出25A的电流;控制电流转换电路314向接地阻抗测试回路2输出20A的电流。
综上所述,本申请实施例提供的测试电路120可以并行为多个接地阻抗测试回路提供异参数的接地阻抗测试。其中,按照接地阻抗测试回路的测试参数针对性的为接地阻抗测试回路提供恒流源,可以保护被测回路中的元器件不被击穿。
实施例十二
结合实施例七,测试电路120可以通过通道切换开关组700和接地开关电路600的切换,实现多级测试电路进行接地阻抗测试时的资源共享。
其中,本实施例中多级测试电路进行接地阻抗测试时的资源共享可以包括以下四种情况:
情况(I):本机的电流源(即电流转换电路)为与本机的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。
请参考图11B,当接地输出端602b连接接地阻抗测试回路1的测试节点1,接地阻抗测试回路1的PE1连接接地端口400时,第四开关组件704e可根据控制器240的控制,连通本机信号输入端704a与本机信号测试端704b,第三开关组件610可根据控制器240的控制,接地输入端602a与接地输出端602b。此时,电流转换电路314可以为接地阻抗测试回路1提供接地阻抗测试的恒流源。即测试电路120可以为与该测试电路120的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。
情况(II):本机的电流源(即电流转换电路)为与下一级测试电路的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。
请参考图11B,第四开关组件703e可以根据控制器240的控制,连通本机信号输入端703a与级联信号输出端703d。这样,电流转换电路313便可以通过第二级联端口组900的电流端口A1为下一级测试电路的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。
情况(III):上一级测试电路中的电流源(即电流转换电路)为与本机的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。
请参考图11B,当接地输出端601b连接接地阻抗测试回路2的测试节点1,接地阻抗测试回路2的PE 2连接接地端口400时,第四开关组件703e可根据控制器240的控制,连通级联信号输入端703c与本机信号测试端703b,第三开关组件610可根据控制器240的控制,连通接地输入端602a与接地输出端602b。这样,上一级测试电路中的电流源(即电流转换电路)便可以第一级联端口组800的电流端口A2为接地阻抗测试回路2提供接地阻抗测试的恒流源。即上一级测试电路可以为与该测试电路120的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。
情况(4):上一级测试电路中的电流源(即电流转换电路)通过本机的通道切换开关组为与下一级测试电路的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。
请参考图11B,第四开关组件704e可以根据控制器240的控制,连通级联信号输入端704c连接级联信号输出端704d。这样,上一级测试电路中的电流源(即电流转换电路)可以通过本机的通道切换开关组700为下一级测试电路的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。具体的,上一级测试电路中的电流源可以通过第一级联端口组800的电流端口A1、级联信号输入端704c、级联信号输出端704d和第二级联端口组900的电流端口A2,为下一级测试电路的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。
需要注意的是,当多个测试电路环形级联时,一个测试电路的下一级测试电路也可以称为该测试电路的上一级测试电路。
例如,如图8所示,假设测试电路1020的第二级联端口组900中的A1连接测试电路1010的第一级联端口组800中的电流端口A1。并且,如图11B所示,图8中的测试电路120的电流切换开关704的级联信号输入端704c连接级联信号输出端704d。此时,下一级测试电路中的电流源(即电流转换电路)也可以为上一级测试电路的接地输出端连接的接地阻抗测试回路提供恒流源。需要注意的是,级联的多个测试电路可以并行对多个接地阻抗测试回路进行异参数的接地阻抗测试。
综上所述,本申请实施例提供的测试电路可以并行为连接本机的接地阻抗测试回路,以及与本机级联的其他测试电路的接地阻抗测试回路,提供接地阻抗测试的电流源。即级联的多个测试之间可以进行资源共享。这样,可以提升各个测试电路的利用率。
实施例十三
该实施例提供一种测试设备(如安规测试仪)。该测试设备可以包括设备外壳以及如图3-图7、图9、图10、图11A和图11B中任一附图所示的测试电路。该测试电路被部分或者全部设置在设备外壳内。该测试设备还可以包括显示屏和多个调控按键等。其中,显示屏用于显示测试参数和上述测试电路的测试结果。调控按键可用于调整测试电路的测试参数。例如,该测试参数可以为电压转换电路的输出电压值(如5000V),电流转换电路的输出电流值(如25A)。
示例性的,上述测试电路中的高压输出端、接地输出端、第一级联端口组和第二级联端口组可以排布在测试设备的后面板上。例如,请参考图8,其示出了三个测试设备的后面板的实例示意图。如图8所示,以测试设备1 20(即测试电路120)为例。高压输出端口HV1、HV2、HV3和HV4可以竖向排布在测试设备120的后面板的左侧。接地输出端CURR1+、CURR2+、CURR3+和CURR4+可以竖向排布在测试设备120的后面板的右侧。第一级联端口组800可以横向排布在测试设备120的后面板的上侧。第二级联端口组900可以横向排布在测试设备120的后面板的下侧。
需要说明的是,上述多个端口在测试设备上的排布包括但不限于图8所示的排布方式,本申请实施例对多个端口在测试设备上的排布方式不作限制。
实施例十四
本实施例提供一种测试系统。该测试系统可以包括:监控平台、自动化测试设备(automatic test equipment,ATE)、调度设备和K个上述的测试设备(即安规测试仪),K为正整数。例如,K=3,或者K=5,或者K=6等。
需要注意的是,级联的测试设备(即安规测试仪)越多,上述ATE和调度设备控制K个测试设备的控制逻辑越复杂,多个测试设备实现资源共享时电路连接就会越复杂。这样,会影响测试结果的准确性。为了保证测试结果的准确性,上述测试系统中一般可以级联10个或10个以下的测试设备。即1≤K≤10。
示例性的,为了便于理解,本申请实施例中以K=3为例。如图12所示,测试系统1200可以包括:监控平台1201、ATE 1202和调度设备1203,以及测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213。其中,测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213级联。测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213级联的具体方法可以参考上述实例对图8的描述,本申请实施例这里不予赘述。
其中,如图12所示,ATE 1202和调度设备1203可以集成在企业内部服务器中。ATE1202和调度设备1203可以通过企业局域网(Local Area Network,LAN)连接企业内部的交换机1204。其中,监控平台1201、ATE 1202、调度设备1203,以及测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213遵循同一网络协议。
本申请实施例中,每个测试设备都可以连接一个或多个被测产品。例如,如图12所示,测试设备1211连接被测产品1-4,测试设备1212连接被测产品5-8,测试设备1213连接被测产品9-12。
每个被测产品包括一个或多个测试节点。该一个或多个测试节点可以包括耐压测试回路和/或接地阻抗测试回路的测试节点。例如,被测产品5可以包括两个耐压测试回路(如上述“In Put-PE”回路和“Out Put-PE”回路)和一个接地阻抗测试回路(如上述接地阻抗测试回路1)。
其中,每个测试设备包括M个高压测试端口(如HV1、HV2、HV3和HV4)和P个接地测试端口(如CURR1+、CURR2+、CURR3+和CURR4+)。每个高压测试端口可连接一个耐压测试回路的测试节点。每个接地测试端口可连接一个接地阻抗测试回路的测试节点。
结合上述实例,假设被测产品5包括两个耐压测试回路(如上述“In Put-PE”回路和“Out Put-PE”回路)和一个接地阻抗测试回路(如上述接地阻抗测试回路1)。其中,“InPut-PE”回路的In Put节点(即测试节点)连接图10所示的高压测试端口HV1,“Out Put-PE”回路中的Out Put节点(即测试节点)连接图10所示的高压测试端口HV3。接地阻抗测试回路1的测试节点1可连接图10或图11B所示的接地测试端口CURR1+。
如图12所示,本申请实施例中,可将监控平台1201、ATE 1202、调度设备1203和交换机1204等统称为管理层,将测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213等统称为仪表云,将被测产品1-12统称为产品端。本申请实施例提供的测试系统可以包括管理层、仪表云和产品端。
本申请实施例这里以监控平台1201、ATE 1202和调度设备1203,以及测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213的交互,对上述被测产品5进行安规测试为例,对本申请实施例提供的测试系统中各个设备的功能和原理进行说明。其中,本申请实施例中,将测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213统称为级联设备组。
本申请实例提供一种测试方法,如图13所示,该测试方法可以包括S1301-S1309:
S1301、监控平台1201获取被测产品5的端口信息和条码信息。
其中,上述条码信息用于确定被测产品5的一个或多个测试项和每个测试项的测试参数。测试项和测试参数的详细描述可以参考S1303中的详细描述,此处不予赘述。
该端口信息可以包括被测产品5所连接的测试设备1212的端口的标识。结合上述实例,假设图10所示的测试电路120为测试设备1212的测试电路。由于被测产品5的“InPut-PE”回路的In Put节点(即测试节点)连接图10所示的高压测试端口HV1,“Out Put-PE”回路中的Out Put节点(即测试节点)连接图10所示的高压测试端口HV3,接地阻抗测试回路1的测试节点1连接图10或图11B所示的接地测试端口CURR1+;因此,上述端口信息可以包括测试设备1212的高压测试端口HV1的标识、高压测试端口HV3的标识和接地测试端口CURR1+的标识。
其中,监控平台1201可以提供测试人员输出上述端口信息和条码信息的接口。例如,测试人员将被测产品5的In Put节点连接图10所示的高压测试端口HV1,将Out Put节点连接图10所示的高压测试端口HV3,并将接地阻抗测试回路1的测试节点1连接图10或图11B所示的接地测试端口CURR1+后,便可以在监控平台1201输入高压测试端口HV1的标识、高压测试端口HV3的标识和接地测试端口CURR1+的标识。并且,测试人员还可以在监控平台1201输出被测产品5的条码信息。如此,监控平台1201则可以获取到被测产品5的端口信息和条码信息。
或者,监控平台1201连接有条码扫描设备。测试人员可以使用该条码扫描设备扫描被测产品5的条码信息。条码扫描设备可以向监控平台1201发送扫码到的条码信息。
在第一种实现方式中,测试人员可以为测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213中每个测试设备的每个测试端口(包括高压测试端口和接地测试端口)分配一个端口标识。监控平台1201可以保存测试人员分配的端口标识。每个测试端口的端口标识可以唯一标识该端口。
需要注意的是,同一测试设备的不同端口的标识不同。例如,测试设备1211的HV1的标识与测试设备1211的HV2的标识不同,测试设备1211的HV1的标识与测试设备1211的CURR1+的标识不同。并且,不同设备的同一端口的标识不同。例如,测试设备1211的HV1的标识与测试设备1212的HV1的标识不同。
在第二种实现方式中,测试人员可以为测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213中每个测试设备分配一个设备标识。每个测试设备的设备标识不同。例如,测试设备1211与测试设备1212的设备标识不同。测试人员还可以为测试设备的每个端口分配一个端口标识。其中,不同测试设备的同一端口的端口标识可以相同。例如,测试设备1211的HV1的标识与测试设备1212的HV1的标识相同。监控平台1201可以保存测试人员分配的设备标识和端口标识。在第二种实现方式中,每个端口对应的测试设备的设备标识与该端口的端口标识结合起来可以唯一标识该端口。
S1302、监控平台1201向ATE 1202发送条码信息。
S1303、ATE 1202根据条码信息查询被测产品的测试信息。该测试信息包括一个或多个测试项和每个测试项的测试参数。
其中,该一个或多个测试项可以包括耐压测试和/或接地阻抗测试。需要注意的是,该一个或多个测试项可以包括一项或多项耐压测试,和/或一项或多项接地阻抗测试。
例如,结合上述实例,被测产品5的一个或多个测试项可以包括:“In Put-PE”回路的耐压测试;“Out Put-PE”回路的耐压测试;接地阻抗测试回路1的接地阻抗测试。上述“InPut-PE”回路的耐压测试的测试参数可以为3000V。上述“Out Put-PE”回路的耐压测试的测试参数可以为2000V。上述接地阻抗测试回路1的接地阻抗测试的测试参数可以为25A。
其中,ATE 1202中保存有多个条码信息和每个条码信息对应的测试信息。ATE1202中可以包括测试工程TPS模块。ATE 1202接收到被测产品5的条码信息后,可以由TPS模块根据条码信息查询被测产品的测试信息。
S1304、ATE 1202向调度设备1203发送上述测试信息。
S1305、监控平台1201向ATE 1202发送上述端口信息,由ATE 1202向调度设备1203转发端口信息。该端口信息包括被测产品所连接的测试设备的端口的标识。
S1306、调度设备1203根据上述端口信息、一个或多个测试项中的第一测试项,以及级联设备组中的与第一测试项对应的测试能量源的状态信息,确定至少一个第一测试通道。
其中,至少一个第一测试通道连通端口信息对应的端口与处于未使用状态的至少一个第一能量源。第一能量源(即测试能量源)是为被测产品提供用于执行第一测试项的恒压源或恒流源。至少一个第一能量源与至少一个第一测试通道一一对应。
本申请实施例中,调度设备1203中可以保存测试系统1200中每个测试设备中每个电压源和电流源的状态信息。该状态信息可以为正在使用状态、未被使用状态或故障状态。
示例性的,如表1所示,为本申请实施例提供的一种状态信息表实例。调度设备1203中可以保存该状态信息表。
表1
如表1所示,测试设备1211的电压转换电路311和312处于未使用状态,测试设备1212的电压转换电路311处于未使用状态、测试设备1211的电流转换电路314处于未使用状态。测试设备1213的电压转换电路312处于故障状态。其他的测试能量源均处于正在使用状态。
上述第一测试项可以为耐压测试或者接地阻抗测试。当第一测试项是耐压测试时,与第一测试项对应的测试能量源为电压源。当第一测试项是接地阻抗测试时,与第一测试项对应的测试能量源为电流源。
其中,被测产品5的一个或多个测试项包括耐压测试和接地阻抗测试两种测试项。调度设备1203可以随机选择一种测试项作为第一测试项。例如,本申请实施例这里以第一测试项为耐压测试为例。该第一测试项可以包括“In Put-PE”回路的耐压测试和“Out Put-PE”回路的耐压测试。
调度设备1203查询表1所示的状态信息表可知:测试设备1211的电压转换电路311和312,以及测试设备1212的电压转换电路311可用于为被测产品5的“In Put-PE”回路和“Out Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源。即上述第一能量源可以包括测试设备1211的电压转换电路311和312,以及测试设备1212的电压转换电路311中的任意两个电压转换电路。
示例性的,调度设备1203可以从测试设备1211的电压转换电路311和312,以及测试设备1212的电压转换电路311中,随机选择两个电压转换电路分别为“In Put-PE”回路和“Out Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源。
或者,由于测试设备1212是被测产品5所连接的测试端口对应的测试设备;因此,调度设备1203可以优先选择测试设备1212的电压转换电路311作为第一能量源。然后,调度设备1203可以从测试设备1211的电压转换电路311和312中,随机选择1个电压转换电路提供耐压测试的恒压源。
例如,调度设备1203可以选择测试设备1212的电压转换电路311和测试设备1211的电压转换电路311作为2个第一能量源,分别为“In Put-PE”回路和“Out Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源。
随后,调度设备1203可以确定出第一能量源与上述端口信息对应的端口之间的测试通道(即第一测试通道)。例如,请参考图10,调度设备1203可以确定出“In Put-PE”回路的第一测试通道“HV1-501b-501a-701b-701a-311c-311b-接地端口400”,由测试设备1212的电压转换电路311为“In Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源。调度设备1203可以确定出“Out Put-PE”回路的第一测试通道“HV3-502b-502a-702b-702c-第一级联端口组800中的V1-测试设备1211中的电压转换电路311”,由测试设备1211的电压转换电路311为“OutPut-PE”回路提供耐压测试的恒压源。其中,图10所示的第一级联端口组800中的V1连接测试设备1211中的电压转换电路311(附图未示出)。
S1307、调度设备1203向ATE 1202发送第一调度信息,该第一调度信息用于指示至少一个第一测试通道。
例如,第一调度信息可以指示第一测试通道“HV1-501b-501a-701b-701a-311c-311b-接地端口400”和“HV3-502b-502a-702b-702c-第一级联端口组800中的V1-测试设备1211中的电压转换电路311”。该第一调度信息中可以包括上述多个端口的标识及其连接关系。
S1308、ATE 1202向级联设备组发送第一调度信息和第一测试项的测试参数。
其中,ATE 1202可以向调度设备1203发送第一调度信息和第一测试项的测试参数,由调度设备1203向级联设备组转发第一调度信息和第一测试项的测试参数。
S1309、级联设备组根据第一调度信息连通至少一个第一测试通道,并控制第一能量源按照第一测试项的测试参数为被测产品提供恒压源,执行第一测试项。
其中,ATE 1202可以向级联设备组(即测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213)发送上述第一调度信息。这样,测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213便可以根据该第一调度信息控制其高压开关电路和通道切换开关组连接对应的输入和输出端口,以使连通至少一个第一测试通道。
例如,以测试设备1212为例。测试设备1212的控制器可以根据上述第一调度信息,控制高压开关电路500的第一开关组件510连通高压输入端501a与高压输出端501b,控制电压切换开关701的第二开关组件701e连通本机信号输入端701a与本机信号输出端701b,以连通第一测试通道“HV1-501b-501a-701b-701a-311c-311b-接地端口400”。
测试设备1212的控制器可以根据上述第一调度信息,控制高压开关电路500的第一开关组件510连通高压输入端502a与高压输出端502b,控制电压切换开关702的第二开关组件702e连通级联信号输入端702c与本机信号输出端702b,以连通第一测试通道“HV3-502b-502a-702b-702c-第一级联端口组800中的V1-测试设备1211中的电压转换电路311”。
在连通上述第一测试通道“HV1-501b-501a-701b-701a-311c-311b-接地端口400”之后,测试设备1212的控制器可以控制电压转换电路(即电压源)311根据“In Put-PE”回路的耐压测试的测试参数输出恒压源(如3000V的恒压)。在连通第一测试通道“HV3-502b-502a-702b-702c-第一级联端口组800中的V1-测试设备1211中的电压转换电路311”之后,测试设备1211的控制器可以控制连接第一级联端口组800中的V1的电压源根据“Out Put-PE”回路的耐压测试的测试参数输出恒压源(如2000V的恒压)。
本申请实施例提供一种测试系统,级联的多个测试设备不仅可以为连接本机的测试回路提供耐压测试的恒压源,还可以为其他测试设备的测试回路提供耐压测试的恒压源。即本申请实施例提供的测试系统实现了级联的多个测试设备之间的资源共享,可以提升测试系统中的测试设备的利用率。
进一步的,调度设备1203可以及时更新上述第一能量源的状态信息。具体的,测试设备的第一能量源输出恒压源或恒流源时,可以向调度设备1203反馈该第一能量源的状态信息为正在使用状态。这样,调度设备1203便可以及时更新该第一能量源的状态信息。如图14所示,本申请实施例的方法还可以包括S1401:
S1401、调度设备1203将第一能量源的状态信息由未使用状态修改为正在使用状态。
其中,第一能量源(如测试电路1212的电压转换电路311和测试电路1211的电压转换电路311)的状态信息由未使用状态修改为正在使用状态后,第一能量源则不会被分配给其他的测试回路。如图14所示,S1309之后,本申请实施例的方法还可以包括S1402-S1403。
S1402、级联测试组向ATE 1202发送第一测试项的测试结果。
S1403、ATE 1202根据第一测试项的测试结果判断第一测试项测试是否成功。
具体的,如果第一测试项测试成功,则可以继续执行S1404-S1407;如果第一测试项测试失败,则可以执行S1408。
S1404、ATE 1202向监控平台1201发送第一测试项的测试结果。
S1405、监控平台1202显示第一测试项测试结果。
其中,如果第一测试项测试成功,ATE 1202可以向监控平台1201发送第一测试项的测试结果,由监控平台1202显示第一测试项测试结果。这样,测试人员便可以在监控平台1202查看第一测试项的测试结果。
为了可以提升测试系统中各个测试能量源的利用率,ATE 1202可以在第一测试项测试成功后,释放上述至少一个第一测试通道的测试资源。具体的,本申请实施例的方法还可以包括S1406-S1407。
S1406、ATE 1202指示调度设备1203将第一能量源的状态信息由正在使用状态修改为未使用状态。
其中,第一能量源(如测试电路1212的电压转换电路311和测试电路1211的电压转换电路311)的状态信息由正在使用状态修改为未使用状态后,第一能量源则可以被分配给其他的测试回路。这样,可以提升测试系统中的测试能量源的利用率。
S1407、ATE 1202指示级联设备组释放至少一个第一测试通道。
例如,ATE 1202可以指示测试设备1212断开电压切换开关701的本机信号输入端701a和本机信号输出端701b,断开高压开关电路500的高压输入端501a和高压输出端501b,断开电压切换开关702的级联信号输入端702c和本机信号输出端702b,断开高压开关电路500的高压输入端502a和高压输出端502b。
并且,ATE 1202还可以指示测试设备1212的电压转换电路311和测试设备1211的电压转换电路311停止输出恒压源。这样,可以降低测试设备1212和测试设备1211的功耗。
S1408、ATE 1202指示级联设备组通过至少一个第一测试通道,按照第一测试项的测试参数重新执行第一测试项。
其中,级联设备组通过至少一个第一测试通道按照第一测试项的测试参数重新执行第一测试项的方法可以参考S1309中的描述,本申请实施例这里不予赘述。
可选的,ATE 1202还可以在第一测试项的测试失败次数超过预设阈值时,执行S1406-S1407,以释放上述至少一个第一测试通道的测试资源,提升测试系统中各个测试能量源的利用率。
本申请实施例提供一种测试系统,不仅可以通过级联的多个测试设备之间的资源共享,提升测试系统中的测试设备的利用率。还可以及时释放测试资源,提升测试系统中各个测试能量源的利用率。
进一步的,在S1407之后,ATE 1202还可以控制级联设备组执行上述一个或多个测试项中的第二测试项。其中,第二测试项与所述第一测试项不同。例如,第二测试项可以是上述被测产品5的接地阻抗测试回路1的接地阻抗测试。
示例性的,ATE 1202可以根据端口信息、第二测试项,以及级联设备组中与第二测试项对应的测试能量源的状态信息,确定至少一个第二测试通道。该,至少一个第二测试通道连通端口信息对应的端口与处于未使用状态的至少一个第二能量源。第二能量源(即测试能量源)是为被测产品提供用于执行第二测试项的恒压源或恒流源。至少一个第二能量源与至少一个第二测试通道一一对应。
调度设备1203查询表1所示的状态信息表可知:测试设备1211的电流转换电路314处于未使用状态。即测试设备1211的电流转换电路314可以作为第二能量源为被测产品5的接地阻抗测试回路1提供接地阻抗测试的恒流源。
随后,调度设备1203可以确定出第二能量源与上述端口信息对应的端口之间的测试通道(即第二测试通道)。
例如,请参考图11B,调度设备1203可以确定出接地阻抗测试回路的第二测试通道“CURR1+-601b-601a-703b-703c-第一级联端口组800中的A2-测试设备1211中的电流转换电路314”,由测试设备1211的电流转换电路314为“Out Put-PE”回路提供耐压测试的恒压源。其中,图11B所示的第一级联端口组800中的A2连接测试设备1211中的电流转换电路314(附图未示出)。
调度设备1203可以向ATE 1202发送用于指示至少一个第二测试通道的第二调度信息。例如,该第二调度信息可以指示第二测试通道“CURR1+-601b-601a-703b-703c-第一级联端口组800中的A2-测试设备1211中的电流转换电路314”。该第二调度信息中可以包括上述多个端口的标识及其连接关系。
ATE 1202可以向级联设备组发送第二调度信息。这样,级联设备组便可以根据第二调度信息连通至少一个第二测试通道。具体的,测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213可以根据该第二调度信息控制其接地开关电路和通道切换开关组连接对应的输入和输出端口,以使连通至少一个第二测试通道。
例如,以测试设备1212为例。测试设备1212的控制器可以根据上述第二调度信息,控制接地开关电路600的第三开关组件610连通接地输入端601a与接地输出端601b,控制电流切换开关703的第四开关组件703e连通级联信号输入端703c与本机信号输出端703b,以连通第二测试通道“CURR1+-601b-601a-703b-703c-第一级联端口组800中的A2-测试设备1211中的电流转换电路314”。
ATE 1202还可向级联设备组发送第二调度信息。这样,在连通上述第二测试通道之后,测试设备1212可以根据接地阻抗测试回路1的测试参数输出恒流源(如25A的恒流)。
本申请实施例提供一种测试系统,级联的多个测试设备不仅可以为连接本机的测试回路提供接地阻抗测试的恒流源,还可以为其他测试设备的测试回路提供接地阻抗测试的恒流源。即本申请实施例提供的测试系统实现了级联的多个测试设备之间的资源共享,可以提升测试系统中的测试设备的利用率。
进一步的,调度设备1203可以及时更新上述第二能量源的状态信息。调度设备1203更新上述第二能量源的状态信息的方法可以参考上述实施例中,调度设备1203更新第一能量源的状态信息的方法,本申请实施例这里不予赘述。
进一步的,级联测试组还可以向ATE 1202发送第二测试项的测试结果。ATE 1202还可以在第二测试项测试成功时,向监控平台1201发送第一测试项的测试结果。由监控平台1202显示第一测试项测试结果。这样,测试人员便可以在监控平台1202查看第二测试项的测试结果。
进一步的,ATE 1202还可以在第二测试项测试失败时指示级联设备组通过至少一个第二测试通道,按照第二测试项的测试参数重新执行第二测试项。
为了可以提升测试系统中各个测试能量源的利用率,ATE 1202还可以在第二测试项测试成功后,释放上述至少一个第二测试通道的测试资源。具体的,ATE 1202可以指示调度设备1203将第二能量源的状态信息由正在使用状态修改为未使用状态,指示级联设备组释放至少一个第二测试通道。
可选的,ATE 1202还可以在第二测试项的测试失败次数超过预设阈值时,释放上述至少一个第二测试通道的测试资源,提升测试系统中各个测试能量源的利用率。
进一步的,调度设备1203可以针对测试系统中的每个测试能量源(包括电压源和电流源)保存一个测试队列。该测试队列用于保存待测试的测试项。测试能量源可以按照先进先出的原则执行测试队列中的测试项。如此,当测试系统中的所有测试能量源均不处于未使用状态时,调度设备1203也可以在测试设备连接新的被测产品后,为新增的测试项分配测试能量源。
其中,调度设备1203可以结合各个测试能量源的负载,为新增的测试项分配测试能量源。具体的,每个测试能量源的测试队列中保存的测试项的个数不同。如果一个测试能量源的测试队列中保存了较多的测试项,则表示该测试能量源的负载较大。为了实现各个测试能量源的负载均衡,调度设备1203可以将新增的测试项添加至测试项最少的测试队列,由对应的测试能量源执行该新增的测试项。
进一步的,上述ATE 1202还可以用于控制测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213等进行仪表清零。例如,时间清零或日期清零等。并且,ATE 1202还可以用于对测试设备1211、测试设备1212和测试设备1213等进行仪表校准。
需要注意的是,本申请实施例中,级联的多个测试设备中的每个测试设备均可与其他的任一测试设备实现资源共享。当测试系统中仅包括一个测试设备时,该测试设备的第一级联端口组和第二级联端口组不连接任何端口或者设备。这样,可以提升测试设备进行安规测试时的安全系数。
进一步的,如图12所示,测试系统1200还可以包括仪表云监控设备1205。该仪表云监控设备1205用于监控测试系统1200中测试设备(如测试设备中的能量源)的利用率。仪表云监控设备1205可以在监控到上述利用率高于第一预设阈值时,提示测试人员在测试系统1200中增加新的测试设备。仪表云监控设备1205可以在监控到上述利用率低于第二预设阈值时,提示测试人员拆除测试系统1200中的部分测试设备。其中,第一预设阈值高于第二预设阈值。
并且,仪表云监控设备1205还可以用于监控测试系统1200中各个测试设备的运行情况,并在监控到某个测试设备故障时,提示测试人员维修该测试设备。
通过以上的实施方式的描述,所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将装置的内部结构划分成不同的功能模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的系统,装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本实施例所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统,设备,电路和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的电路仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本实施例各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)或处理器执行各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:快闪存储器、移动硬盘、只读存储器、随机存取存储器、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,仅为本实施例的具体实施方式,但本实施例的保护范围并不局限于此,任何在本实施例揭露的技术范围内的变化或替换,都应涵盖在本实施例的保护范围之内。因此,本实施例的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (20)

1.一种测试电路,其特征在于,所述测试电路包括:多个测试能量源、高压开关电路和控制器;所述多个测试能量源包括M个电压源,所述M为正整数,M≥2;
所述高压开关电路包括M个高压输入端、N个高压输出端和第一开关组件,所述N为正整数,N≥M;所述N个高压输出端用于连接耐压测试回路的第一测试节点;
所述M个电压源与所述M个高压输入端一一对应,所述M个电压源中的每个电压源的第一输出端连接一个高压输入端;每个电压源的第二输出端用于连接耐压测试回路的第二测试节点;
其中,所述控制器与所述M个电压源中的每个电压源连接;所述控制器用于控制所述M个电压源中的X个电压源同时输出电压,X为正整数,2≤X≤M;
所述控制器还与所述第一开关组件连接,所述控制器还与M个电压源中的每个电压源连接,所述控制器用于控制所述第一开关组件,第一开关组件用于根据控制器的控制,连通或断开M 个高压输入端与N个高压输出端,使得所述M个高压输入端中、分别连接所述X个电压源的X个高压输入端与X个高压输出端分别同时连通;其中,所述X个高压输出端分别用于连接多个耐压测试回路的多个第一测试节点;
所述测试电路还包括通道切换开关组、第一级联端口组和第二级联端口组;所述第一级联端口组包括M个电压端口,所述第二级联端口组包括M个电压端口;
所述通道切换开关组中包括M个电压切换开关;所述M个电压切换开关中的每个电压切换开关包括:本机信号输入端、级联信号输入端、本机信号测试端、级联信号输出端和第二开关组件;
所述第二开关组件与所述控制器连接,所述第二开关组件用于根据所述控制器的控制,连通或者断开对应电压切换开关的本机信号输入端与本机信号测试端或级联信号输出端,连通或断开对应电压切换开关的级联信号输入端与本机信号测试端或级联信号输出端;
所述M个电压源与所述M个电压切换开关一一对应;所述M个电压切换开关与所述高压开关电路的所述M个高压输入端一一对应;
其中,对于每组相互对应的所述电压源、所述电压切换开关以及所述高压开关电路的高压输入端,每个所述电压源的第一输出端连接所述电压切换开关的本机信号输入端,每个所述电压切换开关的本机信号测试端连接所述高压开关电路中对应的高压输入端;当所述电压切换开关的第二开关组件根据所述控制器的控制,连通所述电压切换开关的本机信号输入端和本机信号测试端时,所述电压源的第一输出端连接所述高压开关电路中对应的高压输入端;
所述M个电压切换开关中的每个电压切换开关的级联信号输入端分别连接所述第一级联端口组中的一个电压端口;所述第一级联端口组中的电压端口用于连接上一级测试电路中的第二级联端口组中的电压端口;
每个电压切换开关的级联信号输出端分别连接所述第二级联端口组中的一个电压端口;所述第二级联端口组中的电压端口用于连接下一级测试电路中的第一级联端口组中的电压端口。
2.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述控制器用于控制所述M个电压源中的所述X个电压源同时输出电压时,具体用于:
根据与所述X个电压源一一对应的测试参数来控制所述X个电压源同时输出电压;
其中,与所述X个电压源中的第一电压源对应的测试参数是第一耐压测试回路的测试参数,所述第一耐压测试回路的第一测试节点连接所述X个高压输出端中的第一高压输出端,所述第一高压输出端与所述X个高压输入端中的第一高压输入端连通,所述第一高压输入端连接所述第一电压源的第一输出端。
3.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述控制器,还用于控制所述M个电压切换开关中的第一电压切换开关的第二开关组件,使所述第一电压切换开关的第二开关组件连通所述第一电压切换开关的本机信号输入端与本机信号测试端,以使所述测试电路中的电压源向连接所述高压开关电路的耐压测试回路输出电压;
所述控制器,还用于控制所述第一电压切换开关的第二开关组件,以使所述第一电压切换开关的第二开关组件连通所述第一电压切换开关的级联信号输入端与本机信号测试端,以使上一级测试电路中的一个电压源向连接所述高压开关电路的耐压测试回路输出电压;
所述控制器,还用于控制所述第一电压切换开关的第二开关组件,以使所述第一电压切换开关的第二开关组件连通所述第一电压切换开关的本机信号输入端与级联信号输出端,以使所述测试电路中的电压源向所述下一级测试电路中的一个级连信号输入端对应的耐压测试回路输出电压;
所述控制器,还用于控制所述第一电压切换开关的第二开关组件,以使所述第一电压切换开关的第二开关组件连通所述第一电压切换开关的级联信号输入端与级联信号输出端,以使连接所述上一级测试电路通过所述第一电压切换开关向所述下一级测试电路中的一个级连信号输入端对应的耐压测试回路输出电压。
4.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述多个测试能量源还包括P个电流源,所述P为正整数;所述测试电路还包括接地开关电路;
所述接地开关电路包括P个接地输入端、Q个接地输出端和第三开关组件,所述Q为正整数,Q≥P;所述Q个接地输出端用于连接接地阻抗测试回路的测试节点;
所述P个电流源与所述P个接地输入端一一对应,所述P个电流源中的每个电流源的第一输出端连接一个接地输入端;每个电流源的第二输出端用于连接接地阻抗测试回路的保护导体PE;
其中,所述控制器与所述P个电流源中的每个电流源连接;所述控制器,用于控制所述P个电流源中的Y个电流源同时输出电流,Y为正整数,2≤Y≤P;
所述控制器还与所述第三开关组件连接,所述控制器用于控制所述第三开关组件,使得P个电流输入端中、分别连接所述Y个电流源的Y个接地输入端与Y个接地输出端分别同时连通;其中,所述Y个接地输出端分别用于连接多个接地阻抗测试回路的多个测试节点。
5.根据权利要求4所述的测试电路,其特征在于,所述控制器用于控制所述P个电流源中的所述Y个电流源同时输出电流时,具体用于:
根据与所述Y个电流源一一对应的测试参数来控制所述Y个电流源同时输出电流;
其中,与所述Y个电流源中的第一电流源对应的测试参数是第一接地阻抗测试回路的测试参数,所述第一接地阻抗测试回路的测试节点连接所述Y个接地输出端中的第一接地输出端,所述第一接地输出端与所述Y个接地输入端中的第一接地输入端连通,所述第一接地输入端连接所述第一电流源的第一输出端。
6.根据权利要求4所述的测试电路,其特征在于,所述通道切换开关组还包括P个电流切换开关;所述第一级联端口组还包括P个电流端口,所述第二级联端口组包括P个电流端口;
所述P个电流切换开关中的每个电流切换开关包括:本机信号输入端、级联信号输入端、本机信号测试端、级联信号输出端和第四开关组件;
所述第四开关组件与所述控制器连接,所述第四开关组件用于根据所述控制器的控制,连通或者断开对应电流切换开关的本机信号输入端与本机信号测试端或级联信号输出端,连通或断开对应电流切换开关的级联信号输入端与本机信号测试端或级联信号输出端;
所述P个电流源与所述P个电流切换开关一一对应;所述P个电流切换开关与所述接地开关电路的所述P个接地输入端一一对应;
其中,对于每组相互对应的所述电流源、所述电压切换开关以及所述接地开关电路,每个所述电流源的第一输出端连接所述电流切换开关的本机信号输入端,每个所述电流切换开关的本机信号测试端连接所述接地开关电路中对应的接地输入端;当所述电流切换开关的第四开关组件连通所述电流切换开关的本机信号输入端和本机信号测试端时,所述电流源的第一输出端连接所述接地开关电路中对应的接地输入端;
所述P个电流切换开关中的每个电流切换开关的级联信号输入端分别连接所述第一级联端口组中的一个电流端口;所述第一级联端口组中的电流端口用于连接上一级测试电路中的第二级联端口组中的电流端口;
每个电流切换开关的级联信号输出端分别连接所述第二级联端口组中的一个电流端口;所述第二级联端口组中的电流端口用于连接下一级测试电路中的第一级联端口组中的电流端口。
7.根据权利要求6所述的测试电路,其特征在于,所述控制器,还用于控制所述P个电流切换开关中的第一电流切换开关的第四开关组件,使所述第一电流切换开关的第四开关组件连通所述第一电流切换开关的本机信号输入端与本机信号测试端,以使所述测试电路中的电流源向连接所述接地开关电路的接地阻抗测试回路输出电流;
所述控制器,还用于控制所述第一电流切换开关的第四开关组件,使所述第一电流切换开关的第四开关组件连通所述第一电流切换开关的级联信号输入端与本机信号测试端,以使上一级测试电路中的一个电流源向连接所述接地开关电路的接地阻抗测试回路输出电流;
所述控制器,还用于控制所述第一电流切换开关的第四开关组件,使所述第一电流切换开关的第四开关组件连通所述第一电流切换开关的本机信号输入端与级联信号输出端,以使所述测试电路中的电流源向所述下一级测试电路中的一个级连信号输入端对应的接地阻抗测试回路输出电流;
所述控制器,还用于控制所述第一电流切换开关的第四开关组件,使所述第一电流切换开关的第四开关组件连通所述第一电流切换开关的级联信号输入端与级联信号输出端,以使连接所述上一级测试电路通过所述第一电流切换开关向所述下一级测试电路中的一个级连信号输入端对应的接地阻抗测试回路输出电流。
8.根据权利要求1-7中任一项所述的测试电路,其特征在于,所述M个电压源中的一个电压源的第二输出端与另一个电压源的第二输出端连接;
所述控制器,还用于控制所述一个电压源与所述另一个电压源反向串联同时输出电压;
所述控制器,还用于控制所述第一开关组件,使得所述M个高压输入端中、分别连接所述一个电压源和所述另一个电压源的2个高压输入端与2个高压输出端分别同时连通;其中,所述2个高压输出端分别用于连接一个耐压测试回路的第一测试节点和第二测试节点。
9.根据权利要求8所述的测试电路,其特征在于,所述控制器用于控制所述一个电压源与所述另一个电压源反向串联同时输出电压时,具体用于:
根据与所述一个电压源和所述另一个电压源对应的测试参数来控制所述一个电压源与所述另一个电压源反向串联;
其中,与所述一个电压源和所述另一个电压源对应的测试参数为:所述2个高压输出端连接的耐压测试回路的测试参数。
10.根据权利要求4-7中任一项所述的测试电路,其特征在于,所述测试电路还包括电源模块;所述电源模块包括:整流模块、直流电源电路和多个逆变功率放大器;
所述整流模块的输入端连接交流电源,所述整流模块用于将所述交流电源输出的第一交流电转换为直流电;所述整流模块的输出端连接所述直流电源电路的输入端;
所述直流电源电路用于对所述直流电进行稳压和滤波;所述直流电源电路的输出端连接所述多个逆变功率放大器的输入端;
每个逆变功率放大器用于将所述直流电源电路输出的直流电转换成第二交流电;所述每个逆变功率放大器的第一输出端连接所述M个电压源中的一个电压源,所述每个逆变功率放大器的第二输出端连接所述P个电流源中的一个电流源;其中,不同的逆变功率放大器连接的电压源不同,且不同的逆变功率放大器连接的电压流不同;
所述M个电压源是M个电压转换电路,所述电压转换电路用于转换所述第二交流电输出恒压源;所述P个电流源是P个电流转换电路,所述电流转换电路用于转换所述第二交流电输出恒流源。
11.一种测试设备,其特征在于,所述测试设备包括设备外壳以及如权利要求1-10中任一项所述的测试电路,所述测试电路被部分或者全部设置在所述设备外壳内。
12.一种测试系统,其特征在于,所述测试系统包括:监控平台、自动化测试设备ATE、调度设备和K个如权利要求11所述的测试设备,K≥1;每个测试设备用于连接一个或多个被测产品,每个被测产品包括一个或多个测试节点,所述一个或多个测试节点包括耐压测试回路和/或接地阻抗测试的测试节点;
所述监控平台,用于获取被测产品的端口信息和条码信息,并向所述ATE发送所述条码信息,向所述调度设备发送所述端口信息;所述端口信息包括所述被测产品所连接的测试设备的端口的标识;
所述ATE,用于根据所述条码信息查询所述被测产品的测试信息,并向所述调度设备指示所述测试信息;所述测试信息包括一个或多个测试项和每个测试项的测试参数,所述一个或多个测试项包括耐压测试和/或接地阻抗测试,所述ATE中保存有多个条码信息和每个条码信息对应的测试信息;
所述调度设备,用于根据所述端口信息、所述一个或多个测试项中的第一测试项,以及K个测试设备中与所述第一测试项对应的测试能量源的状态信息,确定至少一个第一测试通道;所述第一测试项是耐压测试或接地阻抗测试;所述调度设备中保存多个测试能量源的状态信息,所述状态信息为正在使用状态、未使用状态或故障状态;所述至少一个第一测试通道连通所述端口信息对应的端口与处于所述未使用状态的第一能量源,所述第一能量源是为所述被测产品提供用于执行所述第一测试项的恒压源或恒流源;
所述调度设备,还用于向所述ATE发送第一调度信息,所述第一调度信息用于指示所述至少一个第一测试通道;
所述ATE,用于向所述测试设备发送所述第一调度信息和所述第一测试项的测试参数;
所述测试设备中的控制器,用于根据所述ATE发送的所述第一调度信息连通所述至少一个第一测试通道,并控制所述第一能量源按照所述第一测试项的测试参数为所述被测产品提供恒压源或恒流源,执行所述第一测试项。
13.根据权利要求12所述的系统,其特征在于,所述调度设备,还用于确定所述至少一个测试通道之后,将所述第一能量源的状态信息由所述未使用状态修改为所述正在使用状态。
14.根据权利要求12所述的系统,其特征在于,所述测试设备,还用于向所述ATE发送所述第一测试项的测试结果;
所述ATE,还用于响应于所述测试结果指示所述第一测试项测试成功,向所述监控平台反馈所述第一测试项的测试结果;
所述监控平台,还用于显示所述第一测试项测试结果;
所述ATE,还用于响应于所述测试结果指示所述第一测试项测试失败,指示所述测试设备通过所述至少一个第一测试通道,按照所述第一测试项的测试参数重新执行所述第一测试项。
15.根据权利要求14所述的系统,其特征在于,所述ATE,还用于响应于所述测试结果指示所述第一测试项测试成功,指示所述调度设备将所述第一能量源的状态信息由所述正在使用状态修改为所述未使用状态,并指示所述测试设备释放所述至少一个第一测试通道。
16.根据权利要求14所述的系统,其特征在于,所述ATE,还用于所述第一测试项的测试失败次数超过预设阈值时,指示所述调度设备将所述第一能量源的状态信息由所述正在使用状态修改为所述未使用状态,并指示所述测试设备释放所述至少一个第一测试通道。
17.根据权利要求13-16中任一项所述的系统,其特征在于,所述ATE,还用于响应于测试结果指示所述第一测试项测试成功,或者响应于所述第一测试项的测试失败次数超过预设阈值,根据所述端口信息、所述一个或多个测试项中的第二测试项,以及所述K个测试设备中与所述第二测试项对应的测试能量源的状态信息,确定至少一个第二测试通道;所述第二测试项与所述第一测试项不同;所述状态信息为正在使用状态、未被使用状态或故障状态;所述至少一个第二测试通道连通所述端口信息对应的端口与处于所述未使用状态的至少一个第二能量源,所述第二能量源是为所述被测产品提供用于执行所述第二测试项的恒压源或恒流源;
所述调度设备,还用于向所述ATE发送第二调度信息,所述第二调度信息用于指示所述至少一个第二测试通道;
所述ATE,用于向所述测试设备发送所述第二调度信息和所述第二测试项的测试参数;
所述测试设备,用于根据所述第二调度信息连通所述至少一个第二测试通道,并控制所述第二能量源按照所述第二测试项的测试参数为所述被测产品提供恒压源或恒流源,执行所述第二测试项。
18.根据权利要求12-16中任一项所述的系统,其特征在于,所述ATE包括测试工程TPS;
所述TPS,用于根据所述条码信息查询所述被测产品的测试信息。
19.根据权利要求12-16中任一项所述的系统,其特征在于,所述调度设备针对每个测试能量源保存一个测试队列,所述测试队列用于保存待测试的测试项;
所述调度设备,用于调度所述测试能量源按照先进先出的原则执行对应测试队列中的测试项。
20.根据权利要求19所述的系统,其特征在于,所述调度设备,还用于接收到所述ATE发送的新增的测试项后,将所述新增的测试项添加至测试项的个数最少的测试队列。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN210775722U (zh) * 2019-01-11 2020-06-16 华为技术有限公司 一种测试电路、设备及系统
WO2023070301A1 (zh) * 2021-10-26 2023-05-04 华为技术有限公司 用于逻辑仿真的方法、装置及设备

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1268670A (zh) * 1999-03-24 2000-10-04 华仪电子股份有限公司 多功能安全规格自动测试装置
CN105510736A (zh) * 2015-11-26 2016-04-20 北京东方计量测试研究所 一种星载设备的测试系统及方法
CN210775722U (zh) * 2019-01-11 2020-06-16 华为技术有限公司 一种测试电路、设备及系统

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3622916A1 (de) * 1986-07-08 1988-01-28 Siemens Ag Anordnung zum pruefen von unterschiedlichen kabeln, verdrahtungsfeldern und leiterplatten mit hilfe eines pruefautomaten
CN201935972U (zh) * 2010-12-30 2011-08-17 芯通科技(成都)有限公司 基于矩阵开关的并行测试系统
CN206863127U (zh) * 2017-03-29 2018-01-09 广西电网有限责任公司百色供电局 一种接地线自动测试系统

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1268670A (zh) * 1999-03-24 2000-10-04 华仪电子股份有限公司 多功能安全规格自动测试装置
CN105510736A (zh) * 2015-11-26 2016-04-20 北京东方计量测试研究所 一种星载设备的测试系统及方法
CN210775722U (zh) * 2019-01-11 2020-06-16 华为技术有限公司 一种测试电路、设备及系统

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