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CN109473366A - 用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法 - Google Patents

用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法 Download PDF

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Publication number
CN109473366A
CN109473366A CN201811165025.1A CN201811165025A CN109473366A CN 109473366 A CN109473366 A CN 109473366A CN 201811165025 A CN201811165025 A CN 201811165025A CN 109473366 A CN109473366 A CN 109473366A
Authority
CN
China
Prior art keywords
boiling
contact resistance
rear surface
resistance
solar cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201811165025.1A
Other languages
English (en)
Inventor
刘斌
黄辉巍
王赟
郝婷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jiangsu Shunfeng New Energy Technology Co Ltd
Original Assignee
Jiangsu Shunfeng New Energy Technology Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Jiangsu Shunfeng New Energy Technology Co Ltd filed Critical Jiangsu Shunfeng New Energy Technology Co Ltd
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Pending legal-status Critical Current

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    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
    • H01L22/14—Measuring as part of the manufacturing process for electrical parameters, e.g. resistance, deep-levels, CV, diffusions by electrical means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明涉及一种用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法，包括以下步骤，1)取成品电池片，采用激光切割的方式将电池片切割成固定长宽大小的测试片；2)采用四探针或欧姆表的测试方法，测量测试片电阻；3)将测试片在去离子水中进行水煮，水煮完后再按照步骤2)的方式再次测试电阻；4)通过水煮前和水煮后的两个接触电阻值来综合判定银铝合金层性能。本发明不仅可以直观的测试银铝合金的电阻，利于产线及时发现浆料性能是否有波动；而且操作简单，通过水煮实验后，测得的电阻可模拟组件在极端条件下的失效风险。

Description

用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法
技术领域
本发明涉及太阳能电池技术领域，尤其是一种用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法。
背景技术
太阳能电池广泛的采用丝网印刷的方式制备背电极和背电场，背电极与背电场存在搭接区域，在烧结过程中此区域会形成一层银铝合金，而银铝合金层的电阻会显著影响电池的性能。
目前，现有技术中没有及时的检测方法能够在生产制造过程中进行检测监控，仅依靠电池片电性能判断性能优劣，不能有效的控制直接关键因素，给组件端留下较大隐患。并且，较多生产商在本领域存在技术偏见，并未发现背面背电极和背电场的接触性能对组件性能的影响，更无方法监控。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：提出一种用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法，通过电阻值的监控判断产线不同银浆/铝浆的性能波动。
本发明所采用的技术方案为：一种用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法，包括以下步骤，
1)取成品电池片，采用激光切割的方式将电池片切割成固定长宽大小的测试片；
2)采用四探针或欧姆表的测试方法，测量测试片电阻；
3)将测试片在去离子水中进行水煮，水煮完后再按照步骤2)的方式再次测试电阻；
4)通过水煮前和水煮后的两个接触电阻值来综合判定银铝合金层性能。
进一步的说，本发明所述的步骤1)中，固定长宽的矩形面积中，背电极在中间，两边为背电场，背电场区域全部被背电极隔断。
再进一步的说，本发明所述的步骤2)中，将探针分别压在测试片两端的铝背场上。
再进一步的说，本发明所述的步骤3)中，水煮条件为75℃～80℃，210～220min。
再进一步的说，本发明所述的测试片的长度为4～30mm；宽度为2～30mm。
本发明的有益效果是：
1、可以直观的测试银铝合金的电阻，利于产线及时发现浆料性能是否有波动；
2、操作简单，通过水煮实验后，测得的电阻可模拟组件在极端条件下的失效风险。
附图说明
图1是切割成固定长宽大小的电池片结构示意图；
图2是施加探针示意图；
图3是电池片背面结构示意图；
图中：1、Al；2、银铝合金；3、Ag；4、银硅合金&铝硅合金；5、晶硅片。
具体实施方式
现在结合附图和优选实施例对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。
基于背景技术，组件端背面的失效大部分原因是背面银浆或铝浆性能不佳，特别是在极端条件下，背银和背铝的若接触性能发生大变化，组件极容易失效，而组件失效后再追溯涉及到的不良品数量大、损失大。
因此，在产品刚生产出来时用本发明可以快速的监控产品性能。
本发明为，一种用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法，包括以下步骤：
1、取成品电池片采用激光切割的方式切割成固定长宽大小，固定长宽的矩形面积中，背电极在中间，两边为背电场，长宽大小不限定，只要边缘绝缘，背场区域全部被背极隔断，如图1；
2、采用四探针或欧姆表的测试方法，将探针分别压在两端铝背场上，测试电阻；图2中黑色区域为探针下压的点；
3、将切割过的电池片在去离子水中进行水煮，水煮条件75℃，220min，水煮完后按步骤2的方式再次测试电阻，用于模拟组件端极端条件下的实效风险。
通过水煮前和水煮后两个接触电阻值来综合判定银铝合金层性能。
切割尺寸的选定：
1、若用于日常监控，则长宽尺寸须固定大小，尺寸变化会导致电阻测试结果有变化；
2、对于现在最常见的5BB电池，长度范围可选，4-30mm之间均可以；宽度范围可选，2-30mm均可以。
3、选取长度略长，宽度略窄的尺寸，电阻测试值会相对大一些，太小的电阻值不容易看出波动；长宽30*2～50*2的电阻值更容易监控稳定性。
以上说明书中描述的只是本发明的具体实施方式，各种举例说明不对本发明的实质内容构成限制，所属技术领域的普通技术人员在阅读了说明书后可以对以前所述的具体实施方式做修改或变形，而不背离本发明的实质和范围。

Claims (5)

1.一种用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法，其特征在于：包括以下步骤，
1)取成品电池片，采用激光切割的方式将电池片切割成固定长宽大小的测试片；
2)采用四探针或欧姆表的测试方法，测量测试片电阻；
3)将测试片在去离子水中进行水煮，水煮完后再按照步骤2)的方式再次测试电阻；
4)通过水煮前和水煮后的两个接触电阻值来综合判定银铝合金层性能。
2.如权利要求1所述的用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法，其特征在于：所述的步骤1)中，固定长宽的矩形面积中，背电极在中间，两边为背电场，背电场区域全部被背电极隔断。
3.如权利要求1所述的用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法，其特征在于：所述的步骤2)中，将探针分别压在测试片两端的铝背场上。
4.如权利要求1所述的用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法，其特征在于：所述的步骤3)中，水煮条件为75℃～80℃，210～220min。
5.如权利要求1所述的用于检测太阳能电池背面银浆和铝浆接触电阻的方法，其特征在于：所述的测试片的长度为4～30mm；宽度为2～30mm。
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SE01 Entry into force of request for substantive examination
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WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
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