CN109408303A - 测试数据分析方法及相关产品 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种测试数据分析方法及相关产品，其中方法包括：获取多个测试数据，多个测试数据为同一类型的测试数据；依据多个测试数据生成正态分布图，正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，正态分布图为离散图，正态分布图包括对称轴；在正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，UCL与LCL基于对称轴呈对称分布；确定多个样本点中低于LCL，以及高于UCL的样本点的目标数量；确定目标数量与多个样本点的总数量之间的比值；在比值大于预设阈值时，进行预警操作。采用本申请实施例可以实现对小概率事件进行预警操作。

Description

测试数据分析方法及相关产品

技术领域

本申请涉及电子技术领域，具体涉及一种测试数据分析方法及相关产品。

背景技术

随着电子设备(如手机、平板电脑等等)的大量普及应用，电子设备能够支持的应用越来越多，功能越来越强大，电子设备向着多样化、个性化的方向发展，成为用户生活中不可缺少的电子用品。

在电子设备出厂之前，会对电子设备进行测试，测试的好坏直接决定了产品的良品率或者次品率，但是，目前来看，对小概率事件进行测试的精度较低。

发明内容

本申请实施例提供了一种测试数据分析方法及相关产品，可以提升小概率事件测试精度。

第一方面，本申请实施例提供一种测试设备，所述测试设备包括处理器，以及与所述处理电路连接显示屏，其中：

所述处理器，用于获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；

所述显示屏，用于依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；以及在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；

所述处理器，用于确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；

所述显示屏，用于在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。

第二方面，本申请实施例提供一种测试数据分析方法，应用于测试设备，包括：

获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；

依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；

在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；

确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；

确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；

在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。

第三方面，本申请实施例提供了一种测试数据分析装置，应用于测试设备，所述装置包括:获取单元、生成单元、标记单元、确定单元和预警单元，其中，

所述获取单元，用于获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；

所述生成单元，用于依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；

所述标记单元，用于在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；

所述确定单元，用于确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；以及确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；

所述预警单元，用于在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。

第四方面，本申请实施例提供一种测试设备，包括处理器、存储器、通信接口以及一个或多个程序，其中，上述一个或多个程序被存储在上述存储器中，并且被配置由上述处理器执行，上述程序包括用于执行本申请实施例第二方面中的步骤的指令。

第五方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其中，上述计算机可读存储介质存储用于电子数据交换的计算机程序，其中，上述计算机程序使得计算机执行如本申请实施例第二方面中所描述的部分或全部步骤。

第六方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，其中，上述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，上述计算机程序可操作来使计算机执行如本申请实施例第二方面中所描述的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包。

可以看出，本申请实施例中所描述的测试数据分析方法及相关产品，获取多个测试数据，多个测试数据为同一类型的测试数据，依据多个测试数据生成正态分布图，正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，正态分布图为离散图，正态分布图包括对称轴，在正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，UCL与LCL基于对称轴呈对称分布，确定多个样本点中低于LCL，以及高于UCL的样本点的目标数量，确定目标数量与多个样本点的总数量之间的比值，在比值大于预设阈值时，进行预警操作，由于低于LCL且高于UCL均为小概率事件，从而，可以实现对小概率事件进行预警操作，也提升了小概率事件的测试精度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1A是本申请实施例提供的一种测试设备的结构示意图；

图1B是本申请实施例提供的一种测试数据分析方法的流程示意图；

图1C是本申请实施例提供的一种正态分布图的演示示意图；

图2是本申请实施例提供的另一种测试数据分析方法的流程示意图；

图3是本申请实施例提供的一种测试设备的结构示意图；

图4是本申请实施例提供的一种测试数据分析装置的功能单元组成框图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

本申请实施例所涉及到的电子设备可以包括各种具有无线通信功能的手持设备、车载设备、可穿戴设备(智能手表、智能手环、无线耳机、增强现实/虚拟现实设备、智能眼镜)、计算设备或连接到无线调制解调器的其他处理设备，以及各种形式的用户设备(userequipment，UE)，移动台(mobile station，MS)，终端设备(terminal device)等等。为方便描述，上面提到的设备统称为电子设备。测试设备为用于对电子设备进行测试的设备，例如，测试平台，测试机等等，在此不作限定，测试设备也可以为电子设备。

需要说明的是，过程能力指数(Process capability index，CPK)：表示生产过程客观存在着分散的一个参数，过程能力指数的值越大，表明产品的离散程度相对于技术标准的公差范围越小，因而过程能力就越高，生产工序过程保持稳定的能力越充足。稳定过程的能力指数(capability index，CP)：定义为容差宽度除以过程能力，表明和数据中心值偏移的程度。(Low Control Limit，LCL)为控制下限值；(Upper Control Limit，UCL)为控制上限值。小概率异常数据：所有测量值在LCL和3σ控制线的下限范围内数目和在ULC和3σ控制线的上限范围内的数据。基于正态分布图分布理论知识，本申请实施例中，也可以基于测试数据构建正态分布图，其中，横轴为测试数据的具体值，纵轴为测试数据数量，二者形成的二维坐标对应关系图。在正态分布中，3σ:在正态分布中σ代表标准差，μ代表均值。x＝μ即为图像的对称轴，数值分布在(μ-3σ，μ+3σ)中的概率为0.9973,样本取值几乎全部集中在(μ-3σ，μ+3σ)区间内，超出这个范围的可能性仅占不到0.3％.

下面对本申请实施例进行详细介绍。

请参阅图1A，图1A是本申请实施例公开的一种测试设备的结构示意图，测试设备包括处理器、存储器和显示屏，其中：

存储器，例如硬盘驱动存储器，非易失性存储器(例如闪存或用于形成固态驱动器的其它电子可编程只读存储器等)，易失性存储器(例如静态或动态随机存取存储器等)等，本申请实施例不作限制。该处理器可以基于一个或多个微处理器，微控制器，数字信号处理器，基带处理器，功率管理单元，音频编解码器芯片，专用集成电路，显示驱动器集成电路等来实现。

处理器可用于运行测试设备中的软件，例如互联网浏览应用程序，互联网协议语音(Voice over Internet Protocol,VOIP)电话呼叫应用程序，电子邮件应用程序，媒体播放应用程序，操作系统功能等。这些软件可以用于执行一些控制操作，例如，基于照相机的图像采集，基于环境光传感器的环境光测量，基于接近传感器的接近传感器测量，基于诸如发光二极管的状态指示灯等状态指示器实现的信息显示功能，基于触摸传感器的触摸事件检测，与在多个(例如分层的)显示器上显示信息相关联的功能，与执行无线通信功能相关联的操作，与收集和产生音频信号相关联的操作，与收集和处理按钮按压事件数据相关联的控制操作，以及测试设备中的其它功能等，本申请实施例不作限制。

显示屏可以包括液晶显示器，有机发光二极管显示器，电子墨水显示器，等离子显示器，使用其它显示技术的显示器中一种或者几种的组合。显示屏可以包括触摸传感器阵列(即，显示屏可以是触控显示屏)。触摸传感器可以是由透明的触摸传感器电极(例如氧化铟锡(ITO)电极)阵列形成的电容式触摸传感器，或者可以是使用其它触摸技术形成的触摸传感器，例如音波触控，压敏触摸，电阻触摸，光学触摸等，本申请实施例不作限制。

测试设备还可以包括通信电路，通信电路可以用于为测试设备提供与外部设备通信的能力。通信电路可以包括模拟和数字输入-输出接口电路，和基于射频信号和/或光信号的无线通信电路。通信电路中的无线通信电路可以包括射频收发器电路、功率放大器电路、低噪声放大器、开关、滤波器和天线。举例来说，通信电路中的无线通信电路可以包括用于通过发射和接收近场耦合电磁信号来支持近场通信(Near Field Communication，NFC)的电路。例如，通信电路可以包括近场通信天线和近场通信收发器。通信电路还可以包括蜂窝电话收发器和天线，无线局域网收发器电路和天线等。

基于上述图1A所描述的测试设备，可以用于实现如下功能：

所述处理器，用于获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；

所述显示屏，用于依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；以及在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；

所述处理器，用于确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；

所述显示屏，用于在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。

在一个可能的示例中，在所述获取多个测试数据方面，所述处理器具体用于：

获取电子设备的预设硬件的预设参数；

获取预设时间段内针对所述预设硬件的预设参数的测试数据，得到多个测试数据。

在一个可能的示例中，在所述依据所述多个测试数据生成正态分布图方面，所述显示屏具体用于：

确定所述多个测试数据的均值；

确定所述多个测试数据中每一测试数据与所述均值之间的差值，得到多个差值；

根据所述多个差值生成正态分布图。

在一个可能的示例中，所述在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL方面，所述显示屏具体用于：

将所述多个测试数据由小到大进行排序；

从排序后的所述多个测试数据中选取2个临界异常测试数据，所述临界异常测试数据表示测试过程中，异常概率等于预设异常阈值的测试数据；

依据所述2个临界异常测试数据确定3σ位置、-3σ位置；

在所述正态分布图中标记将3σ位置的轴线作为上控制线UCL、-3σ位置的轴线作为下控制线LCL。

在一个可能的示例中，在所述进行预警操作方面，所述显示屏具体用于：

确定所述比值与所述预设阈值之间的差值；

在所述差值处于第一预设范围时，进行黄色预警操作；

在所述差值处于第二预设范围时，进行红色预警操作，所述第一预设范围低于所述第二预设范围。

请参阅图1B，图1B是本申请实施例提供的一种测试数据分析方法的流程示意图，如图所示，应用于如图1A所示的测试设备，本测试数据分析方法包括：

101、获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据。

其中，测试设备可以获取多个测试数据，多个测试数据可来自于对大量电子设备或者电子设备的元器件进行测试的数据，该多个测试数据为同一类型的测试数据，例如，OPPO R17的天线的发射功率，又例如，CPU的散热速度等等。同一类型的数据在一定程度上，满足正态分布规律，依据正态分布规律，用以分析异常发生概率，有利于对小概率事件进行监控。

可选地，上述步骤101，获取多个测试数据，可包括如下步骤：

11、获取电子设备的预设硬件的预设参数；

12、获取预设时间段内针对所述预设硬件的预设参数的测试数据，得到多个测试数据。

其中，预设硬件可以为电子设备的任一硬件，预设硬件可以由用户自行设置或者系统默认。预设参数可以由用户自行设置或者系统默认。例如，摄像头的光圈大小，天线的发射功率等等。预设时间段也可以由用户自行设置或者系统默认，例如，一周内的测试数据。具体实现中，测试设备可以获取电子设备的预设硬件的预设参数，进而，针对该预设参数进行测试，获取预设时间段内预设硬件的预设参数的测试数据，得到多个测试数据，虽然针对同一参数，但是不同的电子设备，其测试结果不一样，测试数据之间的差异在一定程度上反映了产品的优劣，设备性能的好坏。

102、依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴。

其中，测试设备可以依据多个测试数据生成正态分布图，当然，该正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，由于样本点并非是连续的，因此，正态分布图也是离散图，当然，该正态分布图对应一个对称轴。具体实现中，可以设置坐标原点，横轴表示测试数据的大小，横轴刻度可以先确定多个测试数据的均值，先标定该均值位置，然后，依据坐标原点与均值位置描述刻度间隔，纵轴表示每个刻度对应的数量，将所有的测试数据映射在坐标系中，得到正态分布图。

可选地，上述步骤102，依据所述多个测试数据生成正态分布图，可包括如下步骤：

21、确定所述多个测试数据的均值；

22、确定所述多个测试数据中每一测试数据与所述均值之间的差值，得到多个差值；

23、根据所述多个差值生成正态分布图。

其中，测试设备可以确定多个测试数据的均值，进而，确定多个测试数据中每一测试数据与均值之间的差值，得到多个差值。进而，可以对这些差值进行分类统计，构建坐标系，设置坐标原点，横轴可以描述差值大小，纵轴可以描述每一差值大小对应的数量，将所有差值点描述在坐标系，得到正态分布图。

103、在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布。

其中，测试设备可以将正态分布图连续化处理，确定正态分布图的基本参数，例如，σ，u，进而，可以得到正态分布图的函数，依据该函数可以很容易得到3σ，-3σ的位置，进而，可以将-3σ所在垂直线作为LCL，3σ所在垂直线作为UCL，如图1C所示，图1C中，示出了正态分布图，以及对称轴，LCL和UCL，其中，UCL与LCL基于对称轴呈对称分布，当然上述UCL可包括但不仅限于：0.5σ、σ、1.5σ、2σ、2.5σ、3σ、3.5σ、4σ、1.1σ等等，在此不作限定，具体地UCL、LCL还可以由用户自行设置或者系统默认。

可选地，上述步骤103，在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，可包括如下步骤：

31、将所述多个测试数据由小到大进行排序；

32、从排序后的所述多个测试数据中选取2个临界异常测试数据，所述临界异常测试数据表示测试过程中，异常概率等于预设异常阈值的测试数据；

33、依据所述2个临界异常测试数据确定3σ位置、-3σ位置；

34、在所述正态分布图中标记将3σ位置的轴线作为上控制线UCL、-3σ位置的轴线作为下控制线LCL。

其中，测试设备可以对多个测试数据由小到大进行排序，测试数据越大，不一定好，测试数据越小，也不一定好，因此，通常情况下，测试数据在对称轴附近，这样的测试数据最好，因此，本申请实施例中，测试设备可以从排序后的多个测试数据中选取2个临界异常测试数据，临界异常测试数据表示测试过程中，异常概率等于预设异常阈值的测试数据，当然预设异常阈值可以由用户自行设置或者系统默认，异常概率可以为一个统计值，在测试阶段可以得到，进而，依据该2个临界异常测试数据确定3σ位置、-3σ位置，进而，在正态分布图中标记将3σ位置的轴线作为上控制线UCL、-3σ位置的轴线作为下控制线LCL。

104、确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量。

其中，测试设备在确定了上控制线UCL和下控制线LCL之后，则可以直接统计出正态分布图中低于LCL且高于UCL的样本点的目标数量。

105、确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值。

其中，上述多个样本点的总数量即是多个测试数据的总数量，比值＝目标数量/总数量。

106、在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。

其中，上述预设阈值可以由用户自行设置或者系统默认，预警操作可以为以下至少一种：显示预警信息、语音播放预警信息、振动预警操作等等，在此不作限定。

可选地，上述步骤106，进行预警操作，可包括如下步骤：

61、确定所述比值与所述预设阈值之间的差值；

62、在所述差值处于第一预设范围时，进行黄色预警操作；

63、在所述差值处于第二预设范围时，进行红色预警操作，所述第一预设范围低于所述第二预设范围。

其中，上述第一预设范围、第二预设范围均可以由用户自行设置或者系统默认，第一预设范围低于第二预设范围。具体实现中，测试设备可以确定比值与预设阈值之间的差值，该差值为一个正值，在该差值处于第一预设范围时，可以进行黄色预警操作，在该差值处于第二预设范围时，进行红色预警操作，当然，红色预警操作的严重程度大于黄色预警操作的严重程度。上述无论黄色预警操作、红色预警操作可以包括以下至少一种：显示预警操作、语音预警操作，振动预警操作等等，在此不作限定。

具体实现中，测试设备IT系统自动采集测试数据到自身的数据库中，数据在入数据库时进行数据清洗，保证数据的合法有效性，在测试设备中设置开发好采集数据的UCL和LCL的控制限值，还有小概率异常数据所占总样本数的比例的目标值K(即预设阈值)，测试设备对清洗后的数据进行数据统计运算，计算出该批数据的3σ控制线(控制上限和下限)，。测试设备使用采集的数据值D和UCL/3σ控制下限进行对比(3σ控制下限<D<UCL)，数据值D和LCL/3σ控制下限进行对比(LCL<D<3σ控制上限)，如果两者中的任何一个满足，则统计个数本身加1(M＝M+1)，计算M占整个样本总数(Q)的比例N＝M/Q，在运行图上进行作图展示，比较N和目标值K的大小，如果N>K，则运行图中的测试值对应的点显示空色提醒，并可根据SPC的八大判异原则进行预警。

可以看出，本申请实施例中所描述的测试数据分析方法，获取多个测试数据，多个测试数据为同一类型的测试数据，依据多个测试数据生成正态分布图，正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，正态分布图为离散图，正态分布图包括对称轴，在正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，UCL与LCL基于对称轴呈对称分布，确定多个样本点中低于LCL，以及高于UCL的样本点的目标数量，确定目标数量与多个样本点的总数量之间的比值，在比值大于预设阈值时，进行预警操作，由于低于LCL且高于UCL均为小概率事件，从而，可以实现对小概率事件进行预警操作。

与上述图1B所示的实施例一致地，请参阅图2，图2是本申请实施例提供的一种测试数据分析方法的流程示意图，如图所示，应用于如图1A所示的测试设备，本测试数据分析方法包括：

201、获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据。

202、依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴。

203、在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布。

204、确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量。

205、确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值。

206、在所述比值大于预设阈值时，确定所述比值与所述预设阈值之间的差值。

207、在所述差值处于第一预设范围时，进行黄色预警操作。

208、在所述差值处于第二预设范围时，进行红色预警操作，所述第一预设范围低于所述第二预设范围。

其中，上述步骤201-步骤208的具体描述可以参照上述图1B所描述的测试数据分析方法的相应步骤，在此不再赘述。

可以看出，本申请实施例中所描述的测试数据分析方法，获取多个测试数据，多个测试数据为同一类型的测试数据，依据多个测试数据生成正态分布图，正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，正态分布图为离散图，正态分布图包括对称轴，在正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，UCL与LCL基于对称轴呈对称分布，确定多个样本点中低于LCL，以及高于UCL的样本点的目标数量，确定目标数量与多个样本点的总数量之间的比值，在比值大于预设阈值时，确定比值与预设阈值之间的差值，在差值处于第一预设范围时，进行黄色预警操作，在差值处于第二预设范围时，进行红色预警操作，第一预设范围低于第二预设范围，由于低于LCL且高于UCL均为小概率事件，从而，可以实现对小概率事件进行预警操作。

与上述实施例一致地，请参阅图3，图3是本申请实施例提供的一种测试设备的结构示意图，如图所示，该测试设备包括处理器、存储器、通信接口以及一个或多个程序，其中，上述一个或多个程序被存储在上述存储器中，并且被配置由上述处理器执行，上述程序包括用于执行以下步骤的指令：

获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；

依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；

在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；

确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；

确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；

在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。

可以看出，本申请实施例中所描述的测试设备，获取多个测试数据，多个测试数据为同一类型的测试数据，依据多个测试数据生成正态分布图，正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，正态分布图为离散图，正态分布图包括对称轴，在正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，UCL与LCL基于对称轴呈对称分布，确定多个样本点中低于LCL，以及高于UCL的样本点的目标数量，确定目标数量与多个样本点的总数量之间的比值，在比值大于预设阈值时，进行预警操作，由于低于LCL且高于UCL均为小概率事件，从而，可以实现对小概率事件进行预警操作。

在一个可能的示例中，在所述获取多个测试数据方面，上述程序包括用于执行以下步骤的指令：

获取电子设备的预设硬件的预设参数；

获取预设时间段内针对所述预设硬件的预设参数的测试数据，得到多个测试数据。

在一个可能的示例中，在所述依据所述多个测试数据生成正态分布图方面，上述程序包括用于执行以下步骤的指令：

确定所述多个测试数据的均值；

确定所述多个测试数据中每一测试数据与所述均值之间的差值，得到多个差值；

根据所述多个差值生成正态分布图。

在一个可能的示例中，所述在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL方面，上述程序包括用于执行以下步骤的指令：

将所述多个测试数据由小到大进行排序；

从排序后的所述多个测试数据中选取2个临界异常测试数据，所述临界异常测试数据表示测试过程中，异常概率等于预设异常阈值的测试数据；

依据所述2个临界异常测试数据确定3σ位置、-3σ位置；

在所述正态分布图中标记将3σ位置的轴线作为上控制线UCL、-3σ位置的轴线作为下控制线LCL。

在一个可能的示例中，在所述进行预警操作方面，上述程序包括用于执行以下步骤的指令：

确定所述比值与所述预设阈值之间的差值；

在所述差值处于第一预设范围时，进行黄色预警操作；

在所述差值处于第二预设范围时，进行红色预警操作，所述第一预设范围低于所述第二预设范围。

上述主要从方法侧执行过程的角度对本申请实施例的方案进行了介绍。可以理解的是，测试设备为了实现上述功能，其包含了执行各个功能相应的硬件结构和/或软件模块。本领域技术人员应该很容易意识到，结合本文中所提供的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，本申请能够以硬件或硬件和计算机软件的结合形式来实现。某个功能究竟以硬件还是计算机软件驱动硬件的方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

本申请实施例可以根据上述方法示例对测试设备进行功能单元的划分，例如，可以对应各个功能划分各个功能单元，也可以将两个或两个以上的功能集成在一个处理单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。需要说明的是，本申请实施例中对单元的划分是示意性的，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。

图4是本申请实施例中所涉及的测试数据分析装置400的功能单元组成框图。该测试数据分析装置400应用于测试设备，该测试数据分析装置400包括：:获取单元401、生成单元402、标记单元403、确定单元404和预警单元405，其中，

所述获取单元401，用于获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；

所述生成单元402，用于依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；

所述标记单元403，用于在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；

所述确定单元404，用于确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；以及确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；

所述预警单元405，用于在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。

可以看出，本申请实施例中所描述的测试数据分析装置，应用于测试设备，获取多个测试数据，多个测试数据为同一类型的测试数据，依据多个测试数据生成正态分布图，正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，正态分布图为离散图，正态分布图包括对称轴，在正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，UCL与LCL基于对称轴呈对称分布，确定多个样本点中低于LCL，以及高于UCL的样本点的目标数量，确定目标数量与多个样本点的总数量之间的比值，在比值大于预设阈值时，进行预警操作，由于低于LCL且高于UCL均为小概率事件，从而，可以实现对小概率事件进行预警操作。

在一个可能的示例中，在所述获取多个测试数据方面，所述获取单元401具体用于：

获取电子设备的预设硬件的预设参数；

获取预设时间段内针对所述预设硬件的预设参数的测试数据，得到多个测试数据。

在一个可能的示例中，在所述依据所述多个测试数据生成正态分布图方面，所述生成单元402具体用于：

确定所述多个测试数据的均值；

确定所述多个测试数据中每一测试数据与所述均值之间的差值，得到多个差值；

根据所述多个差值生成正态分布图。

在一个可能的示例中，所述在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL方面，所述标记单元403具体用于：

将所述多个测试数据由小到大进行排序；

从排序后的所述多个测试数据中选取2个临界异常测试数据，所述临界异常测试数据表示测试过程中，异常概率等于预设异常阈值的测试数据；

依据所述2个临界异常测试数据确定3σ位置、-3σ位置；

在所述正态分布图中标记将3σ位置的轴线作为上控制线UCL、-3σ位置的轴线作为下控制线LCL。

在一个可能的示例中，在所述进行预警操作方面，所述预警单元具体用于：

确定所述比值与所述预设阈值之间的差值；

在所述差值处于第一预设范围时，进行黄色预警操作；

在所述差值处于第二预设范围时，进行红色预警操作，所述第一预设范围低于所述第二预设范围。

本申请实施例还提供一种计算机存储介质，其中，该计算机存储介质存储用于电子数据交换的计算机程序，该计算机程序使得计算机执行如上述方法实施例中记载的任一方法的部分或全部步骤，上述计算机包括电子设备。

本申请实施例还提供一种计算机程序产品，上述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，上述计算机程序可操作来使计算机执行如上述方法实施例中记载的任一方法的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包，上述计算机包括电子设备。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本申请并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本申请，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本申请所必须的。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置，可通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如上述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

上述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储器中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储器中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本申请各个实施例上述方法的全部或部分步骤。而前述的存储器包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储器中，存储器可以包括：闪存盘、只读存储器(英文：Read-Only Memory，简称：ROM)、随机存取器(英文：Random Access Memory，简称：RAM)、磁盘或光盘等。

以上对本申请实施例进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (13)

1.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括处理器，以及与所述处理电路连接显示屏，其中：

所述处理器，用于获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；

所述显示屏，用于依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；以及在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；

所述处理器，用于确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；

所述显示屏，用于在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，在所述获取多个测试数据方面，所述处理器具体用于：

获取电子设备的预设硬件的预设参数；

获取预设时间段内针对所述预设硬件的预设参数的测试数据，得到多个测试数据。

3.根据权利要求1或2所述的测试设备，其特征在于，在所述依据所述多个测试数据生成正态分布图方面，所述显示屏具体用于：

确定所述多个测试数据的均值；

确定所述多个测试数据中每一测试数据与所述均值之间的差值，得到多个差值；

根据所述多个差值生成正态分布图。

4.根据权利要求1-3任一项所述的测试设备，其特征在于，所述在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL方面，所述显示屏具体用于：

将所述多个测试数据由小到大进行排序；

从排序后的所述多个测试数据中选取2个临界异常测试数据，所述临界异常测试数据表示测试过程中，异常概率等于预设异常阈值的测试数据；

依据所述2个临界异常测试数据确定3σ位置、-3σ位置；

在所述正态分布图中标记将3σ位置的轴线作为上控制线UCL、-3σ位置的轴线作为下控制线LCL。

5.根据权利要求1-4任一项所述的测试设备，其特征在于，在所述进行预警操作方面，所述显示屏具体用于：

确定所述比值与所述预设阈值之间的差值；

在所述差值处于第一预设范围时，进行黄色预警操作；

在所述差值处于第二预设范围时，进行红色预警操作，所述第一预设范围低于所述第二预设范围。

6.一种测试数据分析方法，其特征在于，应用于测试设备，包括：

获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；

依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；

在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；

确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；

确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；

在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述获取多个测试数据，包括：

获取电子设备的预设硬件的预设参数；

获取预设时间段内针对所述预设硬件的预设参数的测试数据，得到多个测试数据。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述依据所述多个测试数据生成正态分布图，包括：

确定所述多个测试数据的均值；

确定所述多个测试数据中每一测试数据与所述均值之间的差值，得到多个差值；

根据所述多个差值生成正态分布图。

9.根据权利要求6-8任一项所述的方法，其特征在于，所述在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，包括：

将所述多个测试数据由小到大进行排序；

从排序后的所述多个测试数据中选取2个临界异常测试数据，所述临界异常测试数据表示测试过程中，异常概率等于预设异常阈值的测试数据；

依据所述2个临界异常测试数据确定3σ位置、-3σ位置；

在所述正态分布图中标记将3σ位置的轴线作为上控制线UCL、-3σ位置的轴线作为下控制线LCL。

10.根据权利要求6-9任一项所述的方法，其特征在于，所述进行预警操作，包括：

确定所述比值与所述预设阈值之间的差值；

在所述差值处于第一预设范围时，进行黄色预警操作；

在所述差值处于第二预设范围时，进行红色预警操作，所述第一预设范围低于所述第二预设范围。

11.一种测试数据分析装置，其特征在于，应用于测试设备，所述装置包括:获取单元、生成单元、标记单元、确定单元和预警单元，其中，

所述获取单元，用于获取多个测试数据，所述多个测试数据为同一类型的测试数据；

所述生成单元，用于依据所述多个测试数据生成正态分布图，所述正态分布图中包含多个样本点，每一样本点对应一个测试数据，所述正态分布图为离散图，所述正态分布图包括对称轴；

所述标记单元，用于在所述正态分布图中标记出上控制线UCL和下控制线LCL，其中，所述UCL与所述LCL基于所述对称轴呈对称分布；

所述确定单元，用于确定所述多个样本点中低于所述LCL，以及高于所述UCL的样本点的目标数量；以及确定所述目标数量与所述多个样本点的总数量之间的比值；

所述预警单元，用于在所述比值大于预设阈值时，进行预警操作。

12.一种测试设备，其特征在于，包括处理器、存储器，所述存储器用于存储一个或多个程序，并且被配置由所述处理器执行，所述程序包括用于执行如权利要求6-10任一项所述的方法中的步骤的指令。

13.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储用于电子数据交换的计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行如权利要求6-10任一项所述的方法。