CN109357111B - 一种单轴精密测试转台 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种单轴精密测试转台，包括主轴、导电滑环、编码器、支撑座以及驱动支撑座绕主轴转动的电机；电机包括电机转子和套设于电机转子内的电机定子，主轴向下延伸有轴座，电机定子固定套接于轴座；导电滑环包括滑环转子和滑环定子，滑环转子固定套接于电机转子，滑环定子与电机定子固定连接；编码器包括编码器转子和编码器定子，编码器定子固定套接于主轴，编码器转子与电机转子固定连接。本发明提供一种单轴精密测试转台，该单轴精密测试转台不仅满足测试精度高、应用范围广等要求，而且结构简单、维修更换方便，具有较高的实际应用价值。

Description

一种单轴精密测试转台

技术领域

本发明属于转台的技术领域，具体地说，涉及一种单轴精密测试转台。

背景技术

光电跟踪系统是连续跟踪并测量运动目标轨迹参数的系统，转台是光电跟踪系统的主要组件，光电跟踪系统在使用中往往都是不间断的连续使用，某些部件发生损坏时需要能够对损坏部件快速更换使其不影响使用，现有的转台结构复杂，部件维修更换麻烦，尤其是转台中的导电滑环，特别容易发生损坏，而现有转台中的导电滑环基本安装在主轴上，其更换过程复杂，影响光电跟踪系统的使用；此外，随着光电跟踪系统的发展，要求转台结构紧凑、体积小，负载能力强，方便转移，便于在各种设备上使用。

新型内容

针对现有技术中上述的不足，本发明提供一种单轴精密测试转台，该单轴精密测试转台不仅满足测试精度高、应用范围广等要求，而且结构简单、维修更换方便，具有较高的实际应用价值。

为了达到上述目的，本发明采用的解决方案是：一种单轴精密测试转台，包括主轴、导电滑环、编码器、支撑座以及驱动支撑座绕主轴转动的电机；电机包括电机转子和套设于电机转子内的电机定子，主轴向下延伸有轴座，电机定子固定套接于轴座；导电滑环包括滑环转子和滑环定子，滑环转子固定套接于电机转子，滑环定子与电机定子固定连接；编码器包括编码器转子和编码器定子，编码器定子固定套接于主轴，编码器转子与电机转子固定连接。

进一步地，该单轴精密测试转台还包括有第一轴承，滑环转子与第一轴承的内环固定连接，滑环定子与第一轴承的外环固定连接。

进一步地，电机还包括有电机支架，电机定子与电机支架固定连接，电机支架包括依次固定连接的第一连接部、第二连接部和第三连接部，第一连接部与滑环定子固定连接，第二连接部与轴座固定连接，第三连接部与电机转子转动连接。

进一步地，支撑座底部向内凸设有第一台阶部，支撑座顶部向外凸设有第二台阶部，第一台阶部与电机转子固定连接，第二台阶部与滑环转子固定连接。

进一步地，编码器转子与第一台阶部固定连接，第二台阶部固定连接有负载，负载与主轴转动连接。

进一步地，负载与主轴之间设置有第二轴承，第二轴承位于主轴端部，第二轴承的内环与主轴固定连接，第二轴承的外环与负载转动连接。

进一步地，主轴端部设置有用于限定负载轴向运动的限位组件，限位组件与第二轴承的内环固定连接。

进一步地，第一轴承为高精密轴承。

本发明的有益效果是：

(1)本发明的单轴精密测试转台，导电滑环位于整个设备最外围，当导电滑环发生故障时，可快速拆卸更换，不需要经过层层拆卸到达滑环部位，大大减少了维修时间，减少了对光电跟踪系统运行的影响；

(2)本发明的单轴精密测试转台，导电滑环与高精密轴承设置为一体，大大减少了整个装置的尺寸，使得该测试转台体积小，便于转移，可应用于多种场合。

附图说明

图1为本发明的单轴精密测试转台的结构示意图；

图2为本发明的电机支架的剖视图；

图3为本发明的支撑座的剖视图。

附图中：

11-主轴，12-轴座，21-电机定子，22-电机转子，23-电机支架，31-滑环定子，32-滑环转子，41-编码器定子，42-编码器转子，51-第二轴承，61-限位板，62-紧固螺母，23-电机支架，23a-第一连接部，23b-第二连接部，23c-第三连接部，70-支撑座，71-第一台阶部，72-第二台阶部，80-负载。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面对本发明中的技术方案进行清楚完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

以下结合附图对本发明作进一步描述：

如附图1-附图3所示：本发明提供一种单轴精密测试转台，该单轴精密测试转台应用于光电追踪系统，包括主轴11、导电滑环、编码器、支撑座70以及驱动支撑座70绕主轴11转动的电机；电机包括电机转子22和套设于电机转子22内的电机定子21，主轴11向下延伸有轴座12，电机定子21固定套接于轴座12；导电滑环包括滑环转子32和滑环定子31，滑环转子32固定套接于电机转子22，滑环定子31与电机定子21固定连接；编码器包括编码器转子42和编码器定子41，编码器定子41固定套接于主轴11，编码器转子42与电机转子22固定连接。滑环转子32固定套接于电机转子22，导电滑环位于转台最外围，当导电滑环发生故障时，可快速对导电滑环进行更换。

本实施例中，支撑座70上固定连接有负载80，本实施例中的负载80为光电追踪器，电机转子22转动驱动支撑座70转动，支撑座70上固定连接的光电追踪器进行转动以搜集信号，与电机转子22固定连接的滑环转子32与光电追踪系统同步转动，导电滑环可以将搜集到的信息传输至处理系统，并将反馈信息传输至光电追踪器；此外，与电机转子22固定连接的编码器转子42与光电追踪器同步转动，编码器对光电追踪器的转动速度、位置、加速度等进行实时检测。

该单轴精密测试转台还包括有第一轴承，滑环转子32与第一轴承的内环固定连接，滑环定子31与第一轴承的外环固定连接，本实施例中，第一轴承为高精密轴承，第一轴承与导电滑环设为一体，大大节省了设备结构尺寸，使得转台体积小，便于应用于车载、船载、机载等各种光电追踪系统中。

本实施例中，电机还包括有电机支架23，电机定子21与电机支架23固定连接，电机支架23包括依次固定连接的第一连接部23a、第二连接部23b和第三连接部23c，第一连接部23a与滑环定子31固定连接，第二连接部23b与轴座12固定连接，第三连接部23c与电机转子22转动连接。通过电机支架23的这种结构设置，可以同时实现电机转子22与电机定子21的转动连接、电机定子21与轴座12的固定连接以及电机定子21与滑环定子31的固定连接。

本实施例中，支撑座70底部向内凸设有第一台阶部71，支撑座70顶部向外凸设有第二台阶部72，第一台阶部71与电机转子22固定连接，第二台阶部72与滑环转子32固定连接。通过第一台阶部71与第二台阶部72的作用实现电机转子22与滑环转子32的固定连接。

本实施例中，编码器转子42与第一台阶部71固定连接，第二台阶部72固定连接有负载80，负载80与主轴11转动连接。通过第一台阶部71实现编码器转子42与电机转子22的固定连接，通过第二台阶部72，实现负载80与电机转子22的固定连接。

本实施例中，负载80与主轴11之间设置有第二轴承51，第二轴承51位于主轴11端部，第二轴承51的内环与主轴11固定连接，第二轴承51的外环与负载80转动连接。通过第二轴承51的作用，减少负载80绕主轴11转动的摩擦力。

本实施例中，主轴11端部设置有用于限定负载80轴向运动的限位组件，限位组件包括限位板61和紧固螺母62，主轴11端部设置有螺杆段，紧固螺母62与螺杆段螺纹配合，使得限位板61与第二轴承51内环固定连接，实现对负载80的轴向限位。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (5)

1.一种单轴精密测试转台，其特征是：包括主轴、导电滑环、编码器、支撑座以及驱动所述支撑座绕所述主轴转动的电机；

所述电机包括电机转子和套设于所述电机转子内的电机定子，所述主轴向下延伸有轴座，所述电机定子固定套接于所述轴座；

所述导电滑环包括滑环转子和滑环定子，所述滑环转子固定套接于所述电机转子，所述滑环定子与所述电机定子固定连接；

所述编码器包括编码器转子和编码器定子，所述编码器定子固定套接于所述主轴，所述编码器转子与所述电机转子固定连接;

所述电机还包括有电机支架，所述电机定子与所述电机支架固定连接，所述电机支架包括依次固定连接的第一连接部、第二连接部和第三连接部，所述第一连接部与所述滑环定子固定连接，所述第二连接部与所述轴座固定连接，所述第三连接部与所述电机转子转动连接;

所述支撑座底部向内凸设有第一台阶部，所述支撑座顶部向外凸设有第二台阶部，所述第一台阶部与所述电机转子固定连接，所述第二台阶部与所述滑环转子固定连接;

所述编码器转子与所述第一台阶部固定连接，所述第二台阶部固定连接有负载，所述负载与所述主轴转动连接。

2.根据权利要求1所述的单轴精密测试转台，其特征是：还包括有第一轴承，所述滑环转子与所述第一轴承的内环固定连接，所述滑环定子与所述第一轴承的外环固定连接。

3.根据权利要求1所述的单轴精密测试转台，其特征是：所述负载与所述主轴之间设置有第二轴承，所述第二轴承位于所述主轴端部，所述第二轴承的内环与所述主轴固定连接，所述第二轴承的外环与所述负载转动连接。

4.根据权利要求3所述的单轴精密测试转台，其特征是：所述主轴端部设置有用于限定所述负载轴向运动的限位组件，所述限位组件与所述第二轴承的内环固定连接。

5.根据权利要求2所述的单轴精密测试转台，其特征是：所述第一轴承为高精密轴承。