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CN108548656B - 一种用于to-can激光器的测试装置和测试系统 - Google Patents

一种用于to-can激光器的测试装置和测试系统 Download PDF

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Abstract

本发明涉及TO‑CAN激光器测试领域，具体涉及一种用于TO‑CAN激光器的测试装置。所述测试装置包括测试插座、同轴波导基板和测试PCB板，所述测试插座包括容纳TO‑CAN激光器信号输出引脚的同轴波导管，以及容纳TO‑CAN激光器信号输入引脚的导电插槽，所述同轴波导基板分别与测试PCB板的同轴波导引脚和插座的同轴波导管连接，所述测试插座的导电插槽与测试PCB板的对应控制引脚连接。本发明还涉及一种用于TO‑CAN激光器的测试系统。本发明通过设计一种用于TO‑CAN激光器的测试装置和测试系统，测试TOCAN时无需剪短其引线，有利于批量生产测试，以及对TOCAN光发射器进行全面测试；同时，通过同轴波导基板可将带宽从DC扩展到约60GHz。

Description

一种用于TO-CAN激光器的测试装置和测试系统
技术领域
本发明涉及TO-CAN激光器测试领域，具体涉及一种用于TO-CAN激光器的测试装置和测试系统。
背景技术
TO-CAN激光器为镭射二极体模组，特别是同轴型，壳体通常为圆柱形，一般用于40Gbit/s的传输系统内。目前最主要的用途还在于2.5Gbit/s及10Gbit/s短距离传输，但现在已经有同轴带制冷技术在发展，10Gbit/s及20km传输技术已经初步具备，并且由于其成本低廉，工艺简单，前景极佳。
对TO-CAN激光器进行测试，获取；然而，现有的测试TOCAN时，需剪短其引线，不利于批量生产测试。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种用于TO-CAN激光器的测试装置，解决现有测试效率低、不利于批量生产测试的问题。
本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种用于TO-CAN激光器的测试系统，解决现有测试效率低、不利于批量生产测试的问题。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种用于TO-CAN激光器的测试装置，所述测试装置包括测试插座、同轴波导基板和测试PCB板，所述测试插座包括容纳TO-CAN激光器信号输出引脚的同轴波导管，以及容纳TO-CAN激光器信号输入引脚的导电插槽，所述同轴波导基板分别与测试PCB板的同轴波导引脚和插座的同轴波导管连接，所述测试插座的导电插槽与测试PCB板的对应控制引脚连接。
其中，较佳方案是：所述同轴波导基板为铜基板。
其中，较佳方案是：所述同轴波导基板还包括射频接地引脚，所述射频接地引脚与测试PCB板的接地引脚连接。
其中，较佳方案是：所述测试插座包括插座筒身，所述插座筒身的端面设有作为同轴波导管开口的第一通孔，以及设有作为导电插槽槽口的第二通孔；所述同轴波导管和导电插槽均设置在插座筒身内。
其中，较佳方案是：所述测试PCB板包括主控处理电路，所述同轴波导引脚和多个所述控制引脚分别与主控处理电路连接。
其中，较佳方案是：所述控制引脚包括LD控制引脚、TEC控制引脚和GND引脚，所述同轴波导引脚为PD控制引脚。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种用于TO-CAN激光器的测试系统，所述测试系统包括测试装置和测试平台，所述测试平台获取测试装置测试TO-CAN激光器的测试信息并显示。
其中，较佳方案是：所述测试信息包括波长、阈值电流、工作电流、监控电流中的一种或多种。
本发明的有益效果在于，与现有技术相比，本发明通过设计一种用于TO-CAN激光器的测试装置和测试系统，测试TOCAN时无需剪短其引线，有利于批量生产测试，以及对TOCAN光发射器进行全面测试；同时，通过同轴波导基板可将带宽从DC扩展到约60GHz。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：
图1是本发明测试装置的结构示意图；
图2是本发明测试装置的侧面结构示意图；
图3是本发明测试装置的结构框图；
图4是本发明测试系统的结构框图。
具体实施方式
现结合附图，对本发明的较佳实施例作详细说明。
如图1至图3所示，本发明提供测试装置的优选实施例。
一种用于TO-CAN激光器的测试装置，所述测试装置包括测试插座10、同轴波导基板20和测试PCB板30，所述测试插座10包括容纳TO-CAN激光器信号输出引脚的同轴波导管，以及容纳TO-CAN激光器信号输入引脚的导电插槽，所述同轴波导基板20分别与测试PCB板30的同轴波导引脚和插座的同轴波导管的引脚连接，所述测试插座10的导电插槽引脚11与测试PCB板30的对应控制引脚连接。
其中，同轴波导基板20通过同轴波导引脚201与测试PCB板30的同轴波导引脚连接。
具体地，TO-CAN激光器包括LD引脚(正极和负极)、TEC引脚(正极和负极)、PD引脚(正极和负极)和GND引脚；以及，测试插座10包括用于容纳上述引脚的同轴波导管和多个导电插槽，所述同轴波导管容纳PD正极引脚，而多个导电插槽容分别容纳其余对应的引脚。以及，所述测试PCB板30的控制引脚包括LD控制引脚、TEC控制引脚和GND引脚，所述同轴波导引脚为PD控制引脚。
优选地，所述同轴波导基板20为铜基板。以及，射频信号在测试插座10的传输方式是同轴共面波导的方式，测试插座10到测试PCB板30的过度是通过铜基板使用的同轴共面波导方式进行传输，能够将带宽从DC扩展到约60GHz；可用于10G-TOCAN EM发射器产品的评估中。其中，所述同轴波导基板20还包括射频接地引脚202，所述射频接地引脚202与测试PCB板30的接地引脚连接。
在本实施例中，所述测试插座10包括插座筒身，所述插座筒身的端面设有作为同轴波导管开口的第一通孔121，以及设有作为导电插槽槽口的第二通孔122；所述同轴波导管和导电插槽均设置在插座筒身内。
其中，TO-CAN激光器通过TO-CAN激光器的引脚插入插座筒身上的第一通孔121和第二通孔122，以及所述插座筒身通过同轴波导管通过同轴波导基板20与测试PCB板30连接，所述插座筒身通过导电插槽与测试PCB板30连接。
在本实施例中，所述测试PCB板30包括主控处理电路，所述同轴波导引脚和多个所述控制引脚分别与主控处理电路连接。具体地，主控处理电路包括主控芯片，以及通过引线将同轴波导引脚和多个所述控制与主控芯片连接。
如图4所示，在本发明提供测试系统的较佳实施例。
一种用于TO-CAN激光器的测试系统，所述测试系统包括测试装置1和测试平台40，所述测试平台40获取测试装置1测试TO-CAN激光器的测试信息并显示。
具体地，测试系统包括与测试平台40连接并显示相关信息的显示设备50，如显示器或其他显示仪器，便于直观获取检测结果。以及，测试系统还包括与测试平台40连接并实现相应控制的控制设备60，如计算机等。
在本实施例中，所述测试信息包括波长、阈值电流、工作电流、监控电流中的一种或多种。其中，波长(nm)为激光器工作波长，阈值电流(Ith)为激光二极管开始产生激光振荡的电流，对小功率激光器而言其值约在数十毫安，工作电流(Iop)为激光二极管达到额定输出功率时的驱动电流，此值对于设计调试激光驱动电路较重要，监控电流(Im)激光二极管在额定输出功率时在PIN管上流过的电流。
其中，根据测试平台40的控制，获取放置在测试装置1的TO-CAN激光器在各种工作环境下的实施参数，检测待检测TO-CAN激光器的性能。
以上所述者，仅为本发明最佳实施例而已，并非用于限制本发明的范围，凡依本发明申请专利范围所作的等效变化或修饰，皆为本发明所涵盖。

Claims (8)

1.一种用于TO-CAN激光器的测试装置，其特征在于：所述测试装置包括测试插座、同轴波导基板和测试PCB板，所述测试插座包括容纳TO-CAN激光器信号输出引脚的同轴波导管，以及容纳TO-CAN激光器信号输入引脚的导电插槽，所述同轴波导基板分别与测试PCB板的同轴波导引脚和插座的同轴波导管连接，所述测试插座的导电插槽与测试PCB板的对应控制引脚连接。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述同轴波导基板为铜基板。
3.根据权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于：所述同轴波导基板还包括射频接地引脚，所述射频接地引脚与测试PCB板的接地引脚连接。
4.根据权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于：所述测试插座包括插座筒身，所述插座筒身的端面设有作为同轴波导管开口的第一通孔，以及设有作为导电插槽槽口的第二通孔；所述同轴波导管和导电插槽均设置在插座筒身内。
5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述测试PCB板包括主控处理电路，所述同轴波导引脚和多个所述控制引脚分别与主控处理电路连接。
6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述控制引脚包括LD控制引脚、TEC控制引脚和GND引脚，所述同轴波导引脚为PD控制引脚。
7.一种用于TO-CAN激光器的测试系统，其特征在于：所述测试系统包括如权利要求1-6任一所述的测试装置和测试平台，所述测试平台获取测试装置测试TO-CAN激光器的测试信息并显示。
8.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于：所述测试信息包括波长、阈值电流、工作电流、监控电流中的一种或多种。
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Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0111482A1 (en) * 1982-06-14 1984-06-27 Gte Products Corporation Apparatus for trimming of piezoelectric components
WO1993016687A1 (en) * 1992-02-28 1993-09-02 Board Of Regents, The University Of Texas System Gels for encapsulation of biological materials
CN1619899A (zh) * 2004-02-26 2005-05-25 惠州市中科光电有限公司 一种半导体激光器老化方法
CN1635354A (zh) * 2003-12-26 2005-07-06 中国科学院半导体研究所 激光器发散角测量仪和测量方法
CN1894832A (zh) * 2003-11-10 2007-01-10 康宁股份有限公司 包层泵浦式准三能级光纤激光器/放大器
GB0814273D0 (en) * 2008-08-04 2008-09-10 Eblana Photonics Ltd A method of packaing a lase diode
CN101281127A (zh) * 2008-05-06 2008-10-08 中国科学院安徽光学精密机械研究所 一种光纤分布式多点瓦斯实时监测仪及监测方法
CN101672889A (zh) * 2009-08-19 2010-03-17 哈尔滨工业大学 脉冲式半导体激光器特性的检测装置及检测方法
CN101762784A (zh) * 2009-12-30 2010-06-30 中国科学院上海硅酸盐研究所 一种大功率光电导开关测试装置及其应用
CN201751851U (zh) * 2010-08-02 2011-02-23 众达光通科技(苏州)有限公司 用于dfb/fp激光器的测试治具
CN203054176U (zh) * 2012-12-20 2013-07-10 武汉华工正源光子技术有限公司 光探测器to-can自动耦合测试系统
CN104237762A (zh) * 2014-07-23 2014-12-24 北京光电技术研究所 半导体激光器测试装置、系统和方法
CN104330243A (zh) * 2014-11-14 2015-02-04 中国人民解放军海军工程大学 一种激光器q开关性能测试方法及装置
CN104880298A (zh) * 2015-05-15 2015-09-02 北京光电技术研究所 半导体激光器测试系统
CN105242153A (zh) * 2015-11-16 2016-01-13 东莞铭普光磁股份有限公司 一种eml激光器可重复插拔自动测试系统及测试方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100464342B1 (ko) * 2003-04-14 2005-01-03 삼성전자주식회사 티오-캔 구조의 광 모듈
US7503789B2 (en) * 2004-08-30 2009-03-17 Finisar Corporation Optical package alignment and test module
US7595630B2 (en) * 2005-09-26 2009-09-29 Finisar Corporation Automated laser header testing
KR102182860B1 (ko) * 2015-07-20 2020-11-26 한국전자통신연구원 무선 주파수 프로브 장치

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0111482A1 (en) * 1982-06-14 1984-06-27 Gte Products Corporation Apparatus for trimming of piezoelectric components
WO1993016687A1 (en) * 1992-02-28 1993-09-02 Board Of Regents, The University Of Texas System Gels for encapsulation of biological materials
CN1894832A (zh) * 2003-11-10 2007-01-10 康宁股份有限公司 包层泵浦式准三能级光纤激光器/放大器
CN1635354A (zh) * 2003-12-26 2005-07-06 中国科学院半导体研究所 激光器发散角测量仪和测量方法
CN1619899A (zh) * 2004-02-26 2005-05-25 惠州市中科光电有限公司 一种半导体激光器老化方法
CN101281127A (zh) * 2008-05-06 2008-10-08 中国科学院安徽光学精密机械研究所 一种光纤分布式多点瓦斯实时监测仪及监测方法
GB0814273D0 (en) * 2008-08-04 2008-09-10 Eblana Photonics Ltd A method of packaing a lase diode
CN101672889A (zh) * 2009-08-19 2010-03-17 哈尔滨工业大学 脉冲式半导体激光器特性的检测装置及检测方法
CN101762784A (zh) * 2009-12-30 2010-06-30 中国科学院上海硅酸盐研究所 一种大功率光电导开关测试装置及其应用
CN201751851U (zh) * 2010-08-02 2011-02-23 众达光通科技(苏州)有限公司 用于dfb/fp激光器的测试治具
CN203054176U (zh) * 2012-12-20 2013-07-10 武汉华工正源光子技术有限公司 光探测器to-can自动耦合测试系统
CN104237762A (zh) * 2014-07-23 2014-12-24 北京光电技术研究所 半导体激光器测试装置、系统和方法
CN104330243A (zh) * 2014-11-14 2015-02-04 中国人民解放军海军工程大学 一种激光器q开关性能测试方法及装置
CN104880298A (zh) * 2015-05-15 2015-09-02 北京光电技术研究所 半导体激光器测试系统
CN105242153A (zh) * 2015-11-16 2016-01-13 东莞铭普光磁股份有限公司 一种eml激光器可重复插拔自动测试系统及测试方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Multipoint fiber-optic laser-ultrasonic actuator based on fiber core-opened tapers;Jiaju Tian等;《FIBER OPTIC SENSING AND OPTICAL COMMUNICATION》;20171130;第25卷(第24期);第29737-29745页 *
半导体激光器筛选方法及可行性测试;李锐 等;《长春师范学院学报(自然科学版)》;20081031;第27卷(第5期);第11-15页 *

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