CN108413870B - 基于代入法测量平面尺寸的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及基于代入法测量平面尺寸的方法，该方法在已知待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的理论设计距离X0的基础上，将待测产品置于测量系统的坐标系中，坐标系划分若干连续的单位值为D的单位测量区，测量A、B到所在的单位测量区边界的相对坐标值；依据公式L=△X1‑△X2+X；将X是理论设计距离X0及X0±D代入计算，得出三个测量值，然后将三个测量值与理论设计距离X0比对，最接近理论设计距离X0的测量值计为待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的实际距离。本发明可采用高精度影像攫取器抓取待测产品的测量点，利用代入换算比对，经过电脑进行换算处理后，获得精度较高的待测产品平面尺寸，测量方便、快捷，符合产业利用。
Description
技术领域
本发明涉及光电检测技术领域，尤其是涉及产品平面尺寸测量领域。
背景技术
产品加工制作后，需要测量其相关特征的平面尺寸，常规方法是工具尺测量，但效率低，且准确性不高。随后出现如CCD等检测仪器，通过攫取被测物件的图像后传输到电脑上分析处理及换算，由此获得更准确的检测结果，高精度、高效率的检测，满足现代制造业的生产要求。但现有技术中，由于影像攫取器（CCD）的结构性，其所抓取图像面越大，则分辨率越低，因此测量较大面积的产品时，如果一次抓取完产品的图像，则测量的点位准确性极大下降，如果分次抓取产品的图像，则会受到影像攫取器移动基准误差影响，同样造成测量的点位准确性下降。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种方便、快捷，检测准确的基于代入法测量平面尺寸的方法。
为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：
基于代入法测量平面尺寸的方法，该方法在已知待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的理论设计距离X0的基础上，将待测产品置于测量系统的坐标系中，坐标系划分若干连续的单位测量区，单位测量区的单位值为D，以及
利用影像攫取器抓取待测产品的第一测量点A和第一测量点A所在的单位测量区图像，通过电脑处理并计算得出第一测量值△X1，该第一测量值△X1是第一测量点A到所在的单位测量区边界的相对坐标值；
利用影像攫取器抓取待测产品的第二测量点B和第二测量点B所在的单位测量区图像，通过电脑处理并计算得出第二测量值△X2，该第二测量值△X2是第二测量点B到所在的单位测量区边界的相对坐标值；
第一测量值△X1和第二测量值△X2的测量方向一致且在第一测量点A与第二测量点B之间测量连线；
待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的实际距离为：
L=△X1-△X2+X；
将X是理论设计距离X0及X0±D代入计算，得出三个测量值，然后将三个测量值与理论设计距离X0比对，最接近理论设计距离X0的测量值计为待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的实际距离。
上述方案中，所述单位测量区是网格、点矩阵、条形码构成，单位测量区的单位值D大于第一测量点A与第二测量点B之间尺寸公差。
本发明提供的基于代入法测量平面尺寸的方法，可采用高精度影像攫取器抓取待测产品的测量点，提升测量的点位准确性，利用代入换算比对，不受影像攫取器移动基准误差影响，经过电脑进行换算处理后，获得精度较高的待测产品平面尺寸，测量方便、快捷，符合产业利用。
附图说明：
附图1为本发明较佳实施例结构示意图。
具体实施方式：
以下将结合附图对本发明的构思，具体结构产生的技术效果做进一步的说明，以充分地了解发明的目的，特征和效果。
参阅图1所示，本发明有关一种基于代入法测量平面尺寸的方法，其特征在于：该方法在已知待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的理论设计距离X0的基础上，将待测产品置于测量系统的坐标系中，坐标系划分若干连续的单位测量区，单位测量区的单位值为D，所述单位测量区是网格、点矩阵、条形码构成，单位测量区的单位值D大于第一测量点A与第二测量点B之间尺寸公差。以及利用影像攫取器抓取待测产品的第一测量点A和第一测量点A所在的单位测量区图像，通过电脑处理并计算得出第一测量值△X1，该第一测量值△X1是第一测量点A到所在的单位测量区边界的相对坐标值；利用影像攫取器抓取待测产品的第二测量点B和第二测量点B所在的单位测量区图像，通过电脑处理并计算得出第二测量值△X2，该第二测量值△X2是第二测量点B到所在的单位测量区边界的相对坐标值。其中，第一测量值△X1和第二测量值△X2的测量方向一致且在第一测量点A与第二测量点B之间测量连线，如测量X轴向的尺寸时，测量第一测量点A与其左边的单位测量区边界，测量第二测量点B也是与其左边的单位测量区边界。
待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的实际距离为：
L=△X1-△X2+X；
将X是理论设计距离X0及X0±D代入计算，得出三个测量值，然后将三个测量值与理论设计距离X0比对，最接近理论设计距离X0的测量值计为待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的实际距离。
实施例：
假设理论设计距离X0是300mm，单位测量区的单位值D为5mm，影像攫取器是CCD，影像攫取器抓取面大于单位测量区，影像攫取器分别抓取待测产品的第一测量点A和第二测量点B及对应所在的单位测量区图像，传送给电脑后，经过电脑处理并计算得出测量值△X1、△X2，然后利用公式：L=△X1-△X2+X，X分别是300mm、295mm、305mm代入换算，获得三个测量值L1、L2、L3，然后在将三个测量值与理论设计距离X0比对，最接近理论设计距离X0的测量值计为待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的实际距离。
本发明可采用高精度影像攫取器抓取待测产品的测量点，提升测量的点位准确性，利用代入换算比对，不受影像攫取器移动基准误差影响，经过电脑进行换算处理后，获得精度较高的待测产品平面尺寸，测量方便、快捷，符合产业利用。
当然，以上结合实施方式对本发明做了详细说明，只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人了解本发明的内容并加以实施，并不能以此限定本发明的保护范围，故凡根据本发明精神实质所做的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围内。
Claims (1)
1.基于代入法测量平面尺寸的方法，其特征在于：该方法在已知待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的理论设计距离X0的基础上，将待测产品置于测量系统的坐标系中，坐标系划分若干连续的单位测量区，单位测量区的单位值为D，所述单位测量区是网格、点矩阵或条形码构成，单位测量区的单位值D大于第一测量点A与第二测量点B之间尺寸公差；以及
利用影像攫取器抓取待测产品的第一测量点A和第一测量点A所在的单位测量区图像，通过电脑处理并计算得出第一测量值△X1，该第一测量值△X1是第一测量点A到所在的单位测量区边界的相对坐标值；
利用影像攫取器抓取待测产品的第二测量点B和第二测量点B所在的单位测量区图像，通过电脑处理并计算得出第二测量值△X2，该第二测量值△X2是第二测量点B到所在的单位测量区边界的相对坐标值；
第一测量值△X1和第二测量值△X2的测量方向一致且在第一测量点A与第二测量点B之间测量连线；
待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的实际距离为：
L=△X1-△X2+X；
将X是理论设计距离X0及X0±D代入计算，得出三个测量值，然后将三个测量值与理论设计距离X0比对，最接近理论设计距离X0的测量值计为待测产品的第一测量点A与第二测量点B之间的实际距离。
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