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CN108254078B - 一种红外热像仪盲元检测方法 - Google Patents

一种红外热像仪盲元检测方法 Download PDF

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CN108254078B
CN108254078B CN201810050024.6A CN201810050024A CN108254078B CN 108254078 B CN108254078 B CN 108254078B CN 201810050024 A CN201810050024 A CN 201810050024A CN 108254078 B CN108254078 B CN 108254078B
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thermal infrared
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blind element
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张子月
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
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Abstract

本发明公开了一种红外热像仪盲元检测方法,包括:调整和写入红外热像仪配置参数,保证红外热像仪工作在正常态;使红外热像仪工作在某一恒定环境温度,改变其视场内黑体的温度,对多个温度点进行标定;计算红外热像仪每个像素点的噪声、热灵敏度和实际电压值;根据之前计算所得数据,利用相应的判定准则进行盲元检测,并做归并操作;改变红外热像仪工作的环境温度,重复以上步骤,并对不同环境温度下所判定的盲元进行归并操作。本发明方法有效提高了红外热像仪的盲元检测成功率,同时本发明检测流程可以通过全软件化的方式实现,可以降低检测过程所需的时间和成本,该方法可应用到实际生产中。

Description

一种红外热像仪盲元检测方法
技术领域
本发明属于红外热像仪测温技术领域,更具体地,涉及一种红外热像仪盲元检测方法。
背景技术
盲元是红外探测器中响应异常、无法正常输出电压的像素点。在红外热像仪的生产和实际使用中,均存在盲元影响测温性能的现象。其表现为测温偏差增加、噪声增加,甚至测温值错误,在图像上表现为亮点或暗点。由于红外探测器工艺受限和结构特点,盲元问题无法避免,因此需要快速、准确、低漏检的方法去检测盲元的数量和位置。
现有盲元检测方法分为基于图像邻域判决和黑体标定,二者均存在对盲元检测漏检和误检的问题,导致红外热像仪存在测温不准和测温波动过大的缺陷。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷和改进需求,本发明提出了一种红外热像仪盲元检测方法,有效提高了红外热像仪的盲元检测成功率,同时全软件化的检测流程降低了检测方法所需时间和系统改造成本。
为了实现上述目的,本发明提供了一种红外热像仪盲元检测方法,包括如下步骤:
(1)调整和/或写入红外热像仪的配置参数,以使所述红外热像仪工作在正常工作状态;
(2)使所述红外热像仪工作在某一恒定环境温度,在该恒定环境温度下改变所述红外热像仪视场内黑体的温度,通过所述红外热像仪获得在多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵;
(3)根据多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵计算所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的噪声、热灵敏度以及实际电压值;
(4)根据所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的噪声、热灵敏度以及实际电压值,利用预设的盲元判定准则进行盲元检测,得到分别对应噪声、热灵敏度以及实际电压值的初步盲元检测结果,并对所述初步盲元检测结果进行归并操作,得到所述红外热像仪在该恒定环境温度下的综合盲元检测结果;
(5)改变所述红外热像仪工作的恒定环境温度,重复所述步骤(2)-(4),获得所述红外热像仪在不同恒定环境温度下的综合盲元检测结果;
(6)对所述红外热像仪在不同恒定环境温度下的综合盲元检测结果进行归并操作,得到所述红外热像仪的最终盲元检测结果。
本发明的一个实施例中,所述步骤(2)具体为:
(2.1)调节所述红外热像仪的工作环境温度,使所述红外热像仪工作在恒定环境温度E0中;
(2.2)待所述红外热像仪达到热平衡后,将黑体放置于红外热像仪成像清晰处,并使所述黑体充满所述红外热像仪整个成像面;
(2.3)使所述黑体温度稳定在温度T0,记录所述黑体的温度T0和红外热像仪在此时输出的全画面数值矩阵E0T0,并连续获取N帧全画面数值矩阵;
(2.4)改变黑体温度至Tj,重复步骤(2.3),得到E0Tj;其中,j=1~M-1所述M为调节所述黑体温度的次数。
本发明的一个实施例中,所述步骤(3)根据所述多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵计算所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的噪声,具体为:
(3.1.1)计算在黑体温度为Tj时所述红外热像仪连续输出N帧全画面数值矩阵E0Tj中各个像素点的噪声,计算公式如下:
其中σ(E0Tj)k,h表示像素点的噪声;k,h表示第k行、第h列的像素点;N表示连续N帧全画面数值矩阵,n表示连续N帧全画面数值矩阵的序列号;μ(E0Tj)k,h表示当前像素点在连续N帧数值中的平均值;Tj表示黑体温度。
(3.1.2)遍历不同黑体温度下的全画面数值矩阵,得到不同黑体温度下的像素点噪声σ(E0Tj)k,h,j=1~M-1。
本发明的一个实施例中,所述步骤(3)根据所述多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵计算所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的热灵敏度,具体为:
(3.2.1)计算在黑体温度为Tj时所述红外热像仪连续输出N帧全画面数值矩阵E0Tj中各个像素点的热灵敏度,计算公式如下:
其中δ(E0Tj)k,h表示当前像素点的热灵敏度;k,h表示第k行、第h列的像素点;μ(E0Tj)k,h表示当前像素点在连续N帧数值中的平均值;Tj表示黑体温度。
(3.2.2)遍历不同黑体温度下的全画面数值矩阵,得到不同黑体温度下的像素点热灵敏度δ(E0Tj)k,h,j=1~M-1。
本发明的一个实施例中,所述步骤(3)根据所述多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵计算所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的实际电压值,具体为:
(3.3.1)计算在黑体温度为Tj时所述红外热像仪连续输出N帧全画面数值矩阵E0Tj中各个像素点的实际电压值,计算公式如下:
V(E0Tj)k,h=μ(E0Tj)k,h*L/2B
其中V(E0Tj)k,h表示当前像素点的实际电压值;k,h表示第k行、第h列的像素点;μ(E0Tj)k,h表示当前像素点在连续N帧数值中的平均值;L表示数模转换器件的量程;B表示数模转换器件的位数,Tj表示黑体温度。
(3.3.2)遍历不同黑体温度下的全画面数值矩阵,得到不同黑体温度下的像素点实际电压值V(E0Tj)k,h,j=1~M-1。
本发明的一个实施例中,所述(4)中根据所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的噪声、热灵敏度以及实际电压值,利用预设的盲元判定准则进行盲元检测,得到分别对应噪声、热灵敏度以及实际电压值的初步盲元检测结果,具体为:
(4.1)对黑体温度Tj下各个像素点的噪声σ(E0Tj)k,h进行排序,去掉th个最大值和最小值,求剩余像素点噪声均值σ(E0Tj),判定噪声大于Aσ*σ(E0Tj)的像素点为盲元,记为噪声盲元表badpixel(E0Tjσ),Aσ为预设值;求取不同黑体温度Tj下的噪声盲元表badpixel(E0Tjσ),并对所述不同黑体温度Tj下的噪声盲元表badpixel(E0Tjσ)进行合并操作得到该恒定环境温度E0下的噪声盲元表badpixel(E0σ);
(4.2)对黑体温度Tj下各个像素点的灵敏度δ(E0Tj)k,h进行排序,去掉th个最大值和最小值,求剩余像素点热灵敏度均值δ(E0Tj),判定灵敏度大于A*σ(E0Tj)或小于B*σ(E0Tj)的像素点为盲元,记为热灵敏度盲元表badpixel(E0Tjδ),并对所述不同黑体温度Tj下的热灵敏度盲元表badpixel(E0Tjδ)进行合并操作得到该恒定环境温度E0下的热灵敏度盲元表badpixel(E0δ);
(4.3)对黑体温度Tj下各个像素点的实际电压值V(E0Tj)k,h进行统计,依据探测器手册中说明,判定实际电压值大于max(V)或小于min(V)的像素点为盲元,记为实际电压值盲元表badpixel(E0TjV),其中max(V)为实际电压最大值,min(V)为实际电压最小值;并对所述不同黑体温度Tj下的实际电压值盲元表badpixel(E0TjV)进行合并操作得到该恒定环境温度E0下的实际电压值盲元表badpixel(E0V);
其中盲元表为行数K、列数H的矩阵,矩阵大小与红外热像仪分辨率相同,th为设定阈值;所述合并操作为:若该像素点在任一黑体温度Tj下为盲元,则该像素点在该恒定环境温度E0下为盲元。
本发明的一个实施例中,所述步骤(4)中对所述初步盲元检测结果进行归并操作,得到所述红外热像仪在该恒定环境温度下的综合盲元检测结果,具体为:
对所述恒定环境温度E0下的三种盲元表:热灵敏度盲元表badpixel(E0δ)、热灵敏度盲元表badpixel(E0δ)以及实际电压值盲元表badpixel(E0V)进行归并操作,若某像素点在三种盲元表中均为非盲元则判定为非盲元,否则判定为盲元,记此次盲元判定结果为恒定环境温度E0下的盲元表badpixel(E0)。
本发明的一个实施例中,所述黑体温度的选取基于所述红外热像仪的测温范围,多个不同黑体温度均匀分布在所述红外热像仪测温范围内。
本发明的一个实施例中,所述步骤(6)具体为:
对不同环境温度下的盲元表badpixel(Ei)进行归并操作,若某像素点在不同环境温度下的盲元表badpixel(Ei)中均为非盲元则判定为非盲元,否则判定为盲元。
本发明的一个实施例中,所述不同恒定环境温度的温度间隔为20℃,不同恒定环境温度取值为-10℃、10℃、30℃、50℃。
总体而言,通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比,具有如下有益效果:
本发明提供的红外热像仪盲元检测方法遍历不同环境温度和黑体温度,通过计算各个像素点的噪声、热灵敏度、实际电压值以及相应的判断门限来判定该像素点是否为盲元,该方法遍历了红外热像仪工作环境温度和目标场景温度工作环境和目标场景,保证了盲元检测的成功率和低漏检特性。同时本发明检测流程可以通过全软件化的方式实现,可以降低检测过程所需的时间和成本,该方法可应用到实际生产中。
附图说明
图1是本发明实施例中一种红外热像仪盲元检测方法的原理示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。此外,下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
如图1所示,本发明提供了一种红外热像仪盲元检测方法,包括如下步骤:
(1)调整和/或写入红外热像仪的配置参数,以使所述红外热像仪工作在正常工作状态;
具体地,可根据生产的产品型号所需,将红外热像仪参数调整到合适值,并将该组参数写入红外热像仪,或者对红外热像仪的参数进行调整。
(2)使所述红外热像仪工作在某一恒定环境温度,在该恒定环境温度下改变所述红外热像仪视场内黑体的温度,通过所述红外热像仪获得在多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵;
所述红外热像仪视场内黑体的温度Tj选取基于红外热像仪测温范围,一般可选取8个,以保证Tj匀布在红外热像仪测温范围内。这样,j的取值则为j=0...7。
具体地,所述步骤(2)包括:
(2.1)调节所述红外热像仪的工作环境温度,使所述红外热像仪工作在恒定环境温度E0中;
(2.2)待所述红外热像仪达到热平衡后,将黑体放置于红外热像仪成像清晰处,并使所述黑体充满所述红外热像仪整个成像面;
(2.3)使所述黑体温度稳定在温度T0,记录所述黑体的温度T0和红外热像仪在此时输出的全画面数值矩阵E0T0,并连续获取N帧全画面数值矩阵;
一般地,所述N优选为16。
(2.4)改变黑体温度至Tj,重复步骤(2.3),得到E0Tj;其中,j=1~M-1所述M为调节所述黑体温度的次数。
(3)根据多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵计算所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的噪声、热灵敏度以及实际电压值;
(3.1)具体地,根据所述多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵计算所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的噪声,包括:
(3.1.1)计算在黑体温度为Tj时所述红外热像仪连续输出N帧全画面数值矩阵E0Tj中各个像素点的噪声,计算公式如下:
其中σ(E0Tj)k,h表示像素点的噪声;k,h表示第k行、第h列的像素点;N表示连续N帧全画面数值矩阵,n表示连续N帧全画面数值矩阵的序列号;μ(E0Tj)k,h表示当前像素点在连续N帧数值中的平均值;Tj表示黑体温度。
(3.1.2)遍历不同黑体温度下的全画面数值矩阵,得到不同黑体温度下的像素点噪声σ(E0Tj)k,h,j=1~M-1。
(3.2)根据所述多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵计算所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的热灵敏度,包括:
(3.2.1)计算在黑体温度为Tj时所述红外热像仪连续输出N帧全画面数值矩阵E0Tj中各个像素点的热灵敏度,计算公式如下:
其中δ(E0Tj)k,h表示当前像素点的热灵敏度;k,h表示第k行、第h列的像素点;μ(E0Tj)k,h表示当前像素点在连续N帧数值中的平均值;Tj表示黑体温度。
(3.2.2)遍历不同黑体温度下的全画面数值矩阵,得到不同黑体温度下的像素点热灵敏度δ(E0Tj)k,h,j=1~M-1。
(3.3)根据所述多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵计算所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的实际电压值,具体为:
(3.3.1)计算在黑体温度为Tj时所述红外热像仪连续输出N帧全画面数值矩阵E0Tj中各个像素点的实际电压值,计算公式如下:
V(E0Tj)k,h=μ(E0Tj)k,h*L/2B
其中V(E0Tj)k,h表示当前像素点的实际电压值;k,h表示第k行、第h列的像素点;μ(E0Tj)k,h表示当前像素点在连续N帧数值中的平均值;L表示数模转换器件的量程;B表示数模转换器件的位数,Tj表示黑体温度。
(3.3.2)遍历不同黑体温度下的全画面数值矩阵,得到不同黑体温度下的像素点实际电压值V(E0Tj)k,h,j=1~M-1。
(4)根据所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的噪声、热灵敏度以及实际电压值,利用预设的盲元判定准则进行盲元检测,得到分别对应噪声、热灵敏度以及实际电压值的初步盲元检测结果,并对所述初步盲元检测结果进行归并操作,得到所述红外热像仪在该恒定环境温度下的综合盲元检测结果;
具体地,根据所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的噪声、热灵敏度以及实际电压值,利用预设的盲元判定准则进行盲元检测,得到分别对应噪声、热灵敏度以及实际电压值的初步盲元检测结果,包括:
(4.1)对黑体温度Tj下各个像素点的噪声σ(E0Tj)k,h进行排序,去掉th个最大值和最小值,求剩余像素点噪声均值σ(E0Tj),判定噪声大于Aσ*σ(E0Tj)的像素点为盲元,记为噪声盲元表badpixel(E0Tjσ),Aσ为预设值;求取不同黑体温度Tj下的噪声盲元表badpixel(E0Tjσ),并对所述不同黑体温度Tj下的噪声盲元表badpixel(E0Tjσ)进行合并操作得到该恒定环境温度E0下的噪声盲元表badpixel(E0σ);
具体地,对于去掉th个最大值和最小值,一般th选取为整个像面像素点数量的5%。。
(4.2)对黑体温度Tj下各个像素点的灵敏度δ(E0Tj)k,h进行排序,去掉th个最大值和最小值,求剩余像素点热灵敏度均值δ(E0Tj),判定灵敏度大于A*σ(E0Tj)或小于B*σ(E0Tj)的像素点为盲元,记为热灵敏度盲元表badpixel(E0Tjδ),并对所述不同黑体温度Tj下的热灵敏度盲元表badpixel(E0Tjδ)进行合并操作得到该恒定环境温度E0下的热灵敏度盲元表badpixel(E0δ);
优选地,对于所述热灵敏度A*σ(E0Tj)和B*σ(E0Tj),A可以选取为2,B可以选取为0.5。
(4.3)对黑体温度Tj下各个像素点的实际电压值V(E0Tj)k,h进行统计,依据探测器手册中说明,判定实际电压值大于max(V)或小于min(V)的像素点为盲元,记为实际电压值盲元表badpixel(E0TjV),其中max(V)为实际电压最大值,min(V)为实际电压最小值;并对所述不同黑体温度Tj下的实际电压值盲元表badpixel(E0TjV)进行合并操作得到该恒定环境温度E0下的实际电压值盲元表badpixel(E0V);
其中盲元表为行数K、列数H的矩阵,矩阵大小与红外热像仪分辨率相同,th为设定阈值;所述合并操作为:若该像素点在任一黑体温度Tj下为盲元,则该像素点在该恒定环境温度E0下为盲元。
一般地,在盲元表中,可在对应位置标记为0则表示该像素点为盲元,标记为1则表示改像素点为非盲元。当然也可以是其他设定的值。
进一步地,对所述初步盲元检测结果进行归并操作,得到所述红外热像仪在该恒定环境温度下的综合盲元检测结果,具体为:
对所述恒定环境温度E0下的三种盲元表:热灵敏度盲元表badpixel(E0δ)、热灵敏度盲元表badpixel(E0δ)以及实际电压值盲元表badpixel(E0V)进行归并操作,若某像素点在三种盲元表中均为非盲元则判定为非盲元,否则判定为盲元,记此次盲元判定结果为恒定环境温度E0下的盲元表badpixel(E0)。
(5)改变所述红外热像仪工作的恒定环境温度,重复所述步骤(2)-(4),获得所述红外热像仪在不同恒定环境温度下的综合盲元检测结果;
具体地,改变所述红外热像仪工作的恒定环境温度,其温度间隔一般取20℃,例如环境温度选取为-10℃、10℃、30℃、50℃。
(6)对所述红外热像仪在不同恒定环境温度下的综合盲元检测结果进行归并操作,得到所述红外热像仪的最终盲元检测结果。
具体地,对不同环境温度下的盲元表badpixel(Ei)进行归并操作,若某像素点在不同环境温度下的盲元表badpixel(Ei)中均为非盲元则判定为非盲元,否则判定为盲元。
本发明提供的红外热像仪盲元检测方法遍历不同环境温度和黑体温度,通过计算各个像素点的噪声、热灵敏度、实际电压值以及相应的判断门限来判定该像素点是否为盲元,该方法遍历了红外热像仪工作环境温度和目标场景温度工作环境和目标场景,保证了盲元检测的成功率和低漏检特性。同时本发明检测流程可以通过全软件化的方式实现,可以降低检测过程所需的时间和成本,该方法可应用到实际生产中。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种红外热像仪盲元检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)调整和/或写入红外热像仪的配置参数,以使所述红外热像仪工作在正常工作状态;
(2)使所述红外热像仪工作在某一恒定环境温度,在该恒定环境温度下改变所述红外热像仪视场内黑体的温度,通过所述红外热像仪获得在多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵;
(3)根据多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵计算所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的噪声、热灵敏度以及实际电压值;具体地,
根据所述多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵计算所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的噪声,具体为:
(3.1.1)计算在黑体温度为Tj时所述红外热像仪连续输出N帧全画面数值矩阵E0Tj中各个像素点的噪声,计算公式如下:
其中σ(E0Tj)k,h表示像素点的噪声;k,h表示第k行、第h列的像素点;N表示连续N帧全画面数值矩阵,n表示连续N帧全画面数值矩阵的序列号;μ(E0Tj)k,h表示当前像素点在连续N帧数值中的平均值;Tj表示黑体温度;
(3.1.2)遍历不同黑体温度下的全画面数值矩阵,得到不同黑体温度下的像素点噪声σ(E0Tj)k,h,j=1~M-1;
根据所述多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵计算所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的热灵敏度,具体为:
(3.2.1)计算在黑体温度为Tj时所述红外热像仪连续输出N帧全画面数值矩阵E0Tj中各个像素点的热灵敏度,计算公式如下:
其中δ(E0Tj)k,h表示当前像素点的热灵敏度;k,h表示第k行、第h列的像素点;μ(E0Tj)k,h表示当前像素点在连续N帧数值中的平均值;Tj表示黑体温度;
(3.2.2)遍历不同黑体温度下的全画面数值矩阵,得到不同黑体温度下的像素点热灵敏度δ(E0Tj)k,h,j=1~M-1;
根据所述多个不同黑体温度下的全画面数值矩阵计算所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的实际电压值,具体为:
(3.3.1)计算在黑体温度为Tj时所述红外热像仪连续输出N帧全画面数值矩阵E0Tj中各个像素点的实际电压值,计算公式如下:
V(E0Tj)k,h=μ(E0Tj)k,h*L/2B
其中V(E0Tj)k,h表示当前像素点的实际电压值;k,h表示第k行、第h列的像素点;μ(E0Tj)k,h表示当前像素点在连续N帧数值中的平均值;L表示数模转换器件的量程;B表示数模转换器件的位数,Tj表示黑体温度;
(3.3.2)遍历不同黑体温度下的全画面数值矩阵,得到不同黑体温度下的像素点实际电压值V(E0Tj)k,h,j=1~M-1;
(4)根据所述红外热像仪在多个不同黑体温度下各个像素点的噪声、热灵敏度以及实际电压值,利用预设的盲元判定准则进行盲元检测,得到分别对应噪声、热灵敏度以及实际电压值的初步盲元检测结果,并对所述初步盲元检测结果进行归并操作,得到所述红外热像仪在该恒定环境温度下的综合盲元检测结果;具体为,
(4.1)对黑体温度Tj下各个像素点的噪声σ(E0Tj)k,h进行排序,去掉th个最大值和最小值,求剩余像素点噪声均值σ(E0Tj),判定噪声大于Aσ*σ(E0Tj)的像素点为盲元,记为噪声盲元表badpixel(E0Tjσ),Aσ为预设值;求取不同黑体温度Tj下的噪声盲元表badpixel(E0Tjσ),并对所述不同黑体温度Tj下的噪声盲元表badpixel(E0Tjσ)进行合并操作得到该恒定环境温度E0下的噪声盲元表badpixel(E0σ);
(4.2)对黑体温度Tj下各个像素点的灵敏度δ(E0Tj)k,h进行排序,去掉th个最大值和最小值,求剩余像素点热灵敏度均值δ(E0Tj),判定灵敏度大于A*σ(E0Tj)或小于B*σ(E0Tj)的像素点为盲元,记为热灵敏度盲元表badpixel(E0Tjδ),并对所述不同黑体温度Tj下的热灵敏度盲元表badpixel(E0Tjδ)进行合并操作得到该恒定环境温度E0下的热灵敏度盲元表badpixel(E0δ);
(4.3)对黑体温度Tj下各个像素点的实际电压值V(E0Tj)k,h进行统计,依据探测器手册中说明,判定实际电压值大于max(V)或小于min(V)的像素点为盲元,记为实际电压值盲元表badpixel(E0TjV),其中max(V)为实际电压最大值,min(V)为实际电压最小值;并对所述不同黑体温度Tj下的实际电压值盲元表badpixel(E0TjV)进行合并操作得到该恒定环境温度E0下的实际电压值盲元表badpixel(E0V);
其中盲元表为行数K、列数H的矩阵,矩阵大小与红外热像仪分辨率相同,th为设定阈值;所述合并操作为:若该像素点在任一黑体温度Tj下为盲元,则该像素点在该恒定环境温度E0下为盲元;
(5)改变所述红外热像仪工作的恒定环境温度,重复所述步骤(2)-(4),获得所述红外热像仪在不同恒定环境温度下的综合盲元检测结果;
(6)对所述红外热像仪在不同恒定环境温度下的综合盲元检测结果进行归并操作,得到所述红外热像仪的最终盲元检测结果。
2.如权利要求1所述的红外热像仪盲元检测方法,其特征在于,所述步骤(2)具体为:
(2.1)调节所述红外热像仪的工作环境温度,使所述红外热像仪工作在恒定环境温度E0中;
(2.2)待所述红外热像仪达到热平衡后,将黑体放置于红外热像仪成像清晰处,并使所述黑体充满所述红外热像仪整个成像面;
(2.3)使所述黑体温度稳定在温度T0,记录所述黑体的温度T0和红外热像仪在此时输出的全画面数值矩阵E0T0,并连续获取N帧全画面数值矩阵;
(2.4)改变黑体温度至Tj,重复步骤(2.3),得到E0Tj;其中,j=1~M-1所述M为调节所述黑体温度的次数。
3.如权利要求1所述的红外热像仪盲元检测方法,其特征在于,所述步骤(4)中对所述初步盲元检测结果进行归并操作,得到所述红外热像仪在该恒定环境温度下的综合盲元检测结果,具体为:
对所述恒定环境温度E0下的三种盲元表:热灵敏度盲元表badpixel(E0δ)、热灵敏度盲元表badpixel(E0δ)以及实际电压值盲元表badpixel(E0V)进行归并操作,若某像素点在三种盲元表中均为非盲元则判定为非盲元,否则判定为盲元,记此次盲元判定结果为恒定环境温度E0下的盲元表badpixel(E0)。
4.如权利要求1所述的红外热像仪盲元检测方法,其特征在于,所述黑体温度的选取基于所述红外热像仪的测温范围,多个不同黑体温度均匀分布在所述红外热像仪测温范围内。
5.如权利要求1或2所述的红外热像仪盲元检测方法,其特征在于,所述步骤(6)具体为:
对不同环境温度下的盲元表badpixel(Ei)进行归并操作,若某像素点在不同环境温度下的盲元表badpixel(Ei)中均为非盲元则判定为非盲元,否则判定为盲元。
6.如权利要求1或2所述的红外热像仪盲元检测方法,其特征在于,所述不同恒定环境温度的温度间隔为20℃,不同恒定环境温度取值为-10℃、10℃、30℃、50℃。
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CN109799068B (zh) * 2018-09-28 2020-09-04 浙江兆晟科技股份有限公司 一种不稳定盲元检测方法及系统
CN109738072B (zh) * 2019-01-07 2019-12-10 山东大学 一种InGaAs短波红外成像仪的十字盲元检测及校正装置和方法
CN110686783B (zh) * 2019-09-12 2020-11-20 山东大学 一种InGaAs短波红外成像仪的盲元检测方法及图像处理方法
CN114877998B (zh) * 2022-02-15 2023-07-28 东莞市鑫泰仪器仪表有限公司 红外图像盲元处理方法及红外热像仪
CN115507961A (zh) * 2022-10-24 2022-12-23 北京环境特性研究所 一种变环境温度的红外测量标定方法和装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102410880B (zh) * 2011-08-05 2013-06-19 重庆邮电大学 基于积分时间调整的红外焦平面阵列盲元检测方法
CN102609923B (zh) * 2012-03-09 2014-03-12 深圳职业技术学院 红外图像处理方法及装置
CN104515599B (zh) * 2013-09-29 2018-09-04 南京理工大学 基于fpga的红外焦平面阵列盲元检测系统及方法
GB201512492D0 (en) * 2015-07-17 2015-08-19 Melexis Technologies Nv Infrared sensing devices and methods
CN106500855A (zh) * 2016-10-18 2017-03-15 成都市晶林科技有限公司 一种红外探测器盲元检测方法

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