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CN108174098A - 一种灰尘检测装置及方法 - Google Patents

一种灰尘检测装置及方法 Download PDF

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CN108174098A
CN108174098A CN201711472347.6A CN201711472347A CN108174098A CN 108174098 A CN108174098 A CN 108174098A CN 201711472347 A CN201711472347 A CN 201711472347A CN 108174098 A CN108174098 A CN 108174098A
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CN
China
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polarizer
camera
light source
dust
computer
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Withdrawn
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CN201711472347.6A
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Inventor
张涛
张凌菲
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Wuhan University WHU
Original Assignee
Wuhan University WHU
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Publication date
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    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60—Control of cameras or camera modules
    • H04N23/67—Focus control based on electronic image sensor signals
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/004—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for digital television systems

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  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明公开了一种透明面板上的高透明度灰尘检测装置及方法。所述装置，包括光源、第一偏振片、第二偏振片、支撑台、摄像机、电脑，所述光源置于支撑台下方，所述摄像机置于支撑台的上方，所述摄像机与电脑连接，所述第一偏振片的偏振方向与第二偏振片的偏振方向垂直，所述第一偏振片置于光源的光出口处，所述第二偏振片置于摄像机的镜头前。本发明特别适合于检测透明度高的灰尘，检测原理科学新颖，方法简单易行。

Description

一种灰尘检测装置及方法
技术领域
本发明属于检测领域，特别涉及一种透明面板上的高透明度灰尘检测装置及方法。
背景技术
在显示器件制造以及其他光学与精密仪器制造与研究行业，往往对于透明面板上的洁净度有要求，即需要检测面板上是否有灰尘。由于灰尘的透明度高低不同，对于透明度低的灰尘，相对来说易于检测，而透明度高的灰尘，目前尚未有较好的检测方法，只能盲目除尘。事实上，很多灰尘微粒由于厚度很小，其透明度往往较高，难以检测。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种灰尘检测装置及方法，特别适合于检测透明度高的灰尘，检测原理科学新颖，方法简单易行。
本发明采用的技术方案如下：
一种灰尘检测装置，包括光源、第一偏振片、第二偏振片、支撑台、摄像机、电脑，所述光源置于支撑台下方，所述摄像机置于支撑台的上方，所述摄像机与电脑连接，所述第一偏振片的偏振方向与第二偏振片的偏振方向垂直，所述第一偏振片置于光源的光出口处，所述第二偏振片置于摄像机的镜头前。
一种采用上述所述的灰尘检测装置的检测方法，包括以下步骤：
步骤S1，将待测面板置于支撑台上；
步骤S2，打开光源、摄像机和电脑；
步骤S3，调节摄像机的焦距，使其聚焦在支撑台上的待测面板上，由于第一偏振片与第二偏振片的偏振方向互相垂直，因此不应该有光线通过，此时的待测面板如果没有灰尘，则应为全黑状态，亮点处即为灰尘所在，用电脑记录处理摄像机所得到的影像；
步骤S4，将待测面板水平旋转90度，重复步骤S3，以避免由于显色偏振角度造成的漏检，第一偏振片与第二偏振片保持不动；
步骤S5，关闭光源、摄像机、电脑，检测完成。
有益效果：
本发明提供的一种灰尘检测装置及方法，由于透明度高的灰尘，要么具有漫反射特性，要么具有显色偏振特性。本方法利用这些灰尘的这两种不同特性，通过偏振光法，对其进行检测。首先产生偏振光源，将偏振光照射在待检目标上，然后用通过与光源偏振角度垂直的偏振片观察待检目标，然后再将待检目标旋转90度再次观察待检目标，待检目标上没有灰尘的部位由于偏振光被阻挡呈黑色，而有灰尘的部位，必然对光产生漫射或者显色偏振，无论灰尘对光产生漫射或者显色偏振，都会改变原先的偏振光特性，呈现亮点，于是被检测出来。之所以需要将待检目标旋转90度再次检测，是因为第一次检测的时候有些灰尘的显色偏振角度正好处于暗区，检测结果不明显，而旋转90度后就易于检测，避免漏检。
附图说明
图1 是本发明实施例提供的一种灰尘检测装置的结构图；
图2 是第一偏振片与第二偏振片以及待测面板的相互位置关系示意图；
图3是第一偏振片与第二偏振片以及待测面板的相互位置关系示意图；
图中：
1-光源；2-第一偏振片；3-第二偏振片；4-支撑台；5-摄像机；6-电脑。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明技术方案进行详细说明如下：
实施例1：
如图1所示，本发明所述的一种灰尘检测装置，包括光源1、第一偏振片2、第二偏振片3、支撑台4、摄像机5、电脑6，所述光源1置于支撑台4下方，所述摄像机5置于支撑台4的上方，所述摄像机5与电脑6连接，所述第一偏振片2的偏振方向与第二偏振片3的偏振方向垂直，所述第一偏振片2置于光源1的光出口处，所述第二偏振片3置于摄像机5的镜头前。
实施例2：
本实施例是方法实施例，与上述实施例1装置实施例属于同一技术构思，在本实施例中未详尽描述的内容，请参见装置实施例1。
一种采用实施例1所述的检测装置的检测方法，包括以下步骤：步骤S1，将待测面板7置于支撑台4上；
步骤S2，打开光源1、摄像机5和电脑6；
步骤S3，调节摄像机5的焦距，使其聚焦在支撑台4上的待测面板7上，由于第一偏振片2与第二偏振片3的偏振方向互相垂直，因此不应该有光线通过，此时第一偏振片2与第二偏振片3以及待测面板7的相互关系如图2，第一偏振片2与第二偏振片3的偏振角度互相垂直，待测面板7位于第一偏振片2与第二偏振片3之间。此时的待测面板7如果没有灰尘，则应为全黑状态，亮点处即为灰尘所在，用电脑6记录处理摄像机5所得到的影像以检测较小的、肉眼无法检测到的灰尘；
步骤S4，将待测面板7水平旋转90度，重复步骤S3，以避免由于显色偏振角度造成的漏检，此时第一偏振片2与第二偏振片3以及待测面板7的相互关系如图3，第一偏振片2与第二偏振片3保持不动，只是待测面板7水平旋转了90度；
步骤S5，关闭光源1、摄像机5、电脑6，检测完成。
虽然本发明已经详细示例并描述了相关的特定实施例做参考，但对本领域的技术人员来说，在阅读和理解了该说明书和附图后，在不背离本发明的思想和范围上，可以在耦合对准装置的结构和制作细节上作出各种改变。这些改变都将落入本发明的权利要求所要求的保护范围。

Claims (2)

1.一种灰尘检测装置，其特征在于，包括光源(1)、第一偏振片(2)、第二偏振片(3)、支撑台(4)、摄像机(5)、电脑(6)，所述光源(1)置于支撑台(4)下方，所述摄像机(5)置于支撑台(4)的上方，所述摄像机(5)与电脑(6)连接，所述第一偏振片(2)的偏振方向与第二偏振片(3)的偏振方向垂直，所述第一偏振片(2)置于光源(1)的光出口处，所述第二偏振片(3)置于摄像机(5)的镜头前。
2.一种采用权利要求1所述的灰尘检测装置的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1，将待测面板(7)置于支撑台(4)上；
步骤S2，打开光源(1)、摄像机(5)和电脑(6)；
步骤S3，调节摄像机(5)的焦距，使其聚焦在支撑台(4)上的待测面板(7)上，由于第一偏振片(2)与第二偏振片(3)的偏振方向互相垂直，因此不应该有光线通过，此时的待测面板(7)如果没有灰尘，则应为全黑状态，亮点处即为灰尘所在，用电脑(6)记录处理摄像机(5)所得到的影像；
步骤S4，将待测面板(7)水平旋转90度，重复步骤S3，以避免由于显色偏振角度造成的漏检，第一偏振片(2)与第二偏振片(3)保持不动；
步骤S5，关闭光源(1)、摄像机(5)、电脑(6)，检测完成。
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SE01 Entry into force of request for substantive examination
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WW01 Invention patent application withdrawn after publication

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