CN108132386A - 一种10km长距离低阻测试通道扩展系统及方法 - Google Patents
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Abstract
一种10km长距离低阻测试通道扩展系统,包括测试终端A1、测试终端B2,其中测试终端A1包括第一主控CPU3、恒流源A4、通道阵列A5、电压采样模块A6,恒流源A4、通道阵列A5、电压采样模块A6均连接第一主控CPU3;而测试终端B2包括第二主控CPU7、恒流源B8、通道阵列B9、电压采样模块B10,恒流源B8、通道阵列B9、电压采样模块B10均连接第二主控CPU7;第一主控CPU3与第二主控CPU7之间通过can总线连接。
Description
技术领域
该技术属于通道扩展领域,具体涉及一种10km长距离低阻测试通道扩展系统。
背景技术
针对发射靶场固定在塔架或地下的长电缆(>100m)测试,采用传统方式将电缆两端接入测试仪形成回路测试非常困难,目前已有测试仪测试距离一般不超过100m。而大型武器系统如飞机、运载火箭电缆的在线测试,因其电缆网络系统庞大,芯点多达几十万点,而普通的电缆网测试仪所包含的测试通道不能满足测试需求,这就需要对电缆网测试仪不仅能够实现大规模通道扩展,而且要求能够实现长距离测试,满足电缆网检测要完全覆盖所有芯点的质量目标要求。而现有电缆网测试仪,如北京航天测控技术开发公司的PMD-CTI系列电缆测试仪,其测试通道点数为128点;诺典科技有限公司的DIT-MCO 2650.MTA型高性能电缆测试仪配置了1500个测试点,而MK公司线缆/线束/背板测试系统测试点数:32点-26万点,但对于长距离测试需要长距离转接工装,测试成本巨大,不能满足长距离的多芯点大型电缆网的测试需求。
发明内容
本发明的目的在于:一种10km长距离低阻测试通道扩展系统,满足长距离的多芯点大型电缆网的测试需求
本发明的技术方案如下:一种10km长距离低阻测试通道扩展系统,包括测试终端A、测试终端B,其中测试终端A包括第一主控CPU、恒流源A、通道阵列A、电压采样模块A,恒流源A、通道阵列A、电压采样模块A均连接第一主控CPU;而测试终端B包括第二主控CPU、恒流源B、通道阵列B、电压采样模块B,恒流源B、通道阵列B、电压采样模块B均连接第二主控CPU;第一主控CPU与第二主控CPU之间通过can总线连接;在通道阵列A与通道阵列B连接被测电缆。
所述通道阵列A与通道阵列B可切换电流输出端、电流输入端、电压采样正端、电压采样负端到被测电缆的不同芯点。
一种10km长距离低阻测试通道方法,包括以下步骤,
S1:将被测电缆接在通道阵列A与通道阵列B之间,且可通过通道阵列A与通道阵列B切换被测电缆的不同芯点;
S2:通过电压采样模块A6与电压采样模块B10得到电压采样正端V+、电压采样负端V-
S3:根据恒流源A与恒流源B可知通过电流输出端I+、电流输入端I-,在根据S2中的电压采样正端V+、电压采样负端V-,可得被测电缆电阻值。
采用“四线测量法”可得被测电缆电阻值。
本发明的显著效果在于:测试成本低,能满足长距离的多芯点大型电缆网的测试需求。。
附图说明
图1为本发明所述的一种10km长距离低阻测试通道扩展系统示意图
图中:1测试终端A、2测试终端B、3第一主控CPU、4恒流源A、5通道阵列A、6电压采样模块A、7第二主控CPU、8恒流源B、9通道阵列B、10电压采样模块B、
具体实施方式
下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步详细说明。
一种10km长距离低阻测试通道扩展系统,包括测试终端A1、测试终端B2,其中测试终端A1包括第一主控CPU3、恒流源A4、通道阵列A5、电压采样模块A6,恒流源A4、通道阵列A5、电压采样模块A6均连接第一主控CPU3;而测试终端B2包括第二主控CPU7、恒流源B8、通道阵列B9、电压采样模块B10,恒流源B8、通道阵列B9、电压采样模块B10均连接第二主控CPU7;第一主控CPU3与第二主控CPU7之间通过can总线连接;在通道阵列A5与通道阵列B9连接被测电缆,且通道阵列A5与通道阵列B9可切换电流输出端、电流输入端以及电压采样正端、电压采样负端到被测电缆的不同芯点;通过电流输出端、电流输入端、电压采样正端、电压采样负端,采用“四线测量法”可得被测电缆电阻值;
一种10km长距离低阻测试通道方法,包括以下步骤:
S1:将被测电缆接在通道阵列A5与通道阵列B9之间,且可通过通道阵列A5与通道阵列B9切换被测电缆的不同芯点;
S2:通过电压采样模块A6与电压采样模块B10得到电压采样正端V+、电压采样负端V-
S3:根据恒流源A4与恒流源B8可知通过电流输出端I+、电流输入端I-,在根据S2中的电压采样正端V+、电压采样负端V-,采用“四线测量法”可得被测电缆电阻值。
Claims (4)
1.一种10km长距离低阻测试通道扩展系统,其特征在于:包括测试终端A(1)、测试终端B(2),其中测试终端A(1)包括第一主控CPU3、恒流源A(4)、通道阵列A(5)、电压采样模块A(6),恒流源A(4)、通道阵列A(5)、电压采样模块A(6)均连接第一主控CPU(3);而测试终端B(2)包括第二主控CPU(7)、恒流源B(8)、通道阵列B(9)、电压采样模块B(10),恒流源B(8)、通道阵列B(9)、电压采样模块B(10)均连接第二主控CPU(7);第一主控CPU(3)与第二主控CPU(7)之间通过can总线连接;在通道阵列A(5)与通道阵列B(9)连接被测电缆。
2.根据权利要求1所述的一种10km长距离低阻测试通道扩展系统,其特征在于:所述通道阵列A(5)与通道阵列B(9)可切换电流输出端、电流输入端、电压采样正端、电压采样负端到被测电缆的不同芯点。
3.一种10km长距离低阻测试通道方法,其特征在于:包括以下步骤,
S1:将被测电缆接在通道阵列A(5)与通道阵列B(9)之间,且可通过通道阵列A(5)与通道阵列B(9)切换被测电缆的不同芯点;
S2:通过电压采样模块A(6)与电压采样模块B(10)得到电压采样正端V+、电压采样负端V-;
S3:根据恒流源A(4)与恒流源B(8)可知通过电流输出端I+、电流输入端I-,在根据S2中的电压采样正端V+、电压采样负端V-,可得被测电缆电阻值。
4.根据权利要求1所述的一种10km长距离低阻测试通道方法,其特征在于:采用“四线测量法”可得被测电缆电阻值。
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