CN107340940B - 在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法以及丝刷装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法以及丝刷装置。该在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，包括如下步骤：提供用于形成多个小片基板的大片基板，其中，相邻两小片基板之间的区域为分隔区；在小片基板上形成引线以及在小片基板的边线处形成检验标识，其中，每一检验标识的一部分位于小片基板上，另一部分位于分隔区上；将小片基板从大片基板上分离出来；目测小片基板上的检验标识，以确定引线是否偏位。在制作触控屏的过程中可以通过目测小片基板上的检验标识来确定引线是否偏位，相对于采用测量引线与小片基板边线之间的距离方式，作业效率较高。
Description
技术领域
本发明涉及触控技术领域，特别是涉及一种在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法以及丝刷装置。
背景技术
电容式触摸屏可以分为以下两种：(1)玻璃电容式触摸屏；(2)Film(薄膜)电容式触摸屏。
在制作玻璃电容式触摸屏时，根据图纸排版设计，先在大片的玻璃上形成用于确定触控坐标的触控电极以及用于连接触控电极与芯片的引线，然后再切割大片的玻璃，得到小片的玻璃(小片的玻璃尺寸与实际产品相当)。
在制作Film电容式触摸屏时，根据图纸排版设计，先在大片的Film上形成用于确定触控坐标的触控电极、用于连接触控电极与芯片的引线以及靶标，然后通过靶标，套位冲切大片的Film，得到小片Film(小片的Film尺寸与实际产品相当)。
在切割大片的玻璃或冲切大片的Film时，由于材料(引线的材料、靶标的材料)本身存在内缩外扩想象以及存在加工误差的存在，会导致小片玻璃或小片Film上的引线与小片玻璃或小片Film的边缘之间的距离过大或过小，也即存在切割偏位的现象。通常在判断切割是否偏位时，需要工作人员去测量每片小片玻璃或小片Film上的引线与小片玻璃或小片Film的边缘之间的距离，从而检验出偏位不良品，作业效率低下。
发明内容
基于此，有必要提供一种作业效率较高的在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法以及丝刷装置。
一种在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，包括如下步骤：
提供用于形成多个小片基板的大片基板，其中，相邻两所述小片基板之间的区域为分隔区；
在所述小片基板上形成引线以及在所述小片基板的边线处形成检验标识，其中，每一所述检验标识的一部分位于所述小片基板上，另一部分位于所述分隔区上；
将所述小片基板从所述大片基板上分离出来；以及
目测所述小片基板上的检验标识，以确定所述引线是否偏位。
上述在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，通过先在所述小片基板上形成引线以及在所述小片基板的边线处形成检验标识，其中，每一所述检验标识的一部分位于所述小片基板上，另一部分位于所述分隔区上，然后在制作触控屏的过程中可以通过目测小片基板上的检验标识来确定引线是否偏位，相对于采用测量引线与小片基板边线之间的距离方式，作业效率较高。
在其中一个实施例中，所述大片基板包括中心区域及边框区域，所述中心区域用于形成多个所述小片基板；
在将所述小片基板从所述大片基板分离出来的步骤之前，还包括在所述边框区域形成靶标的步骤。如此可以采用套位靶标的方式从大片基板上将小片基板分离出来，提高生产效率和良率。
在其中一个实施例中，所述检验标识与所述引线同时形成。如此可以避免出现因增设检验标识而导致工艺步骤增加的问题。
在其中一个实施例中，所述检验标识与所述引线的材质相同。如此可进一步避免出现因增设检验标识而导致工艺步骤增加的问题。
在其中一个实施例中，所述检验标识为中心对称图形，所述检验标识的中心线与所述小片基板的边线重合。如此，中心对称图形更利于目测判断，因为中心对称图形例如半圆、优弧及劣弧相对于非中心对称图形如直角三角形具有更高的辨识度。
在其中一个实施例中，形成所述引线的尺寸公差为正负X，所述检验标识在沿相邻两所述小片基板的排布方向上的最大长度为所述X的两倍。如此设置，一方面可以保证检验标识便于肉眼观测，另一方面可以减少检验标识的制作材料，降低成本。
在其中一个实施例中，多个所述小片基板呈阵列形式排布，每列及每行均包括若干个所述小片基板，所述小片基板呈方形，每一所述小片基板包括相对的第一边线与第二边线，以及相对的第三边线与第四边线，在每行中，相邻两所述小片基板的所述第一边线与所述第二边线交错排布，在每列中，相邻两所述小片基板的所述第三边线与所述第四边线交错排布；
所述检验标识设于所述第一边线与所述第三边线中的至少一者上。如此可可以便于从大片基板上切割小片基板，同时在制作触控屏的过程中可以通过目测小片基板上的检验标识来确定引线是否偏位，相对于采用测量引线与小片基板边线之间的距离方式，作业效率较高。
一种在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，包括如下步骤：
提供第一大片基板以及第二大片基板，所述第一大片基板用于形成多个第一小片基板，所述第二大片基板用于形成多个第二小片基板，相邻两所述第一小片基板之间的区域为第一分隔区；
在所述第一小片基板上形成第一引线、第一触控电极以及在所述第一小片基板的边线处形成检验标识，在所述第二小片基板上形成第二引线及第二触控电极，其中，每一所述检验标识的一部分位于所述第一小片基板上，另一部分位于所述第一分隔区上；
将所述第一大片基板远离所述第一引线的表面贴于所述第二大片基板上，且所述第一小片基板的边线与所述第二小片基板的边线重合；
将所述第一小片基板从所述第一大片基板分离出来，同时将所述第二小片基板从所述第二大片基板分离出来；以及
目测所述第一小片基板上的检验标识，以确定所述第一引线是否偏位。如此在成批量的生产第一小片基板时，只需要目测一遍所述第一小片基本上的检验标识就可以确定所述第一引线是否偏位，如此可提高生产效率。
一种丝刷装置，包括用于形成引线的第一丝印区域以及用于形成检验标识的第二丝印区域。
在其中一个实施例中，还包括用于形成靶标的第三丝印区域。
附图说明
图1为一实施方式的大片基板的结构示意图；
图2为图1中A处的局部放大图；
图3为图2的局部放大图；
图4为图1中的B处的局部放大图；
图5为图1对应的示意图；
图6为一实施方式的小片基板的结构示意图；
图7为图6中C处的局部放大图。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施例对在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法以及丝刷装置进行进一步说明。
在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，包括如下步骤：
步骤S110，提供用于形成多个小片基本的大片基板，其中，相邻两小片基板之间的区域为分隔区。
步骤S120，在小片基板上形成引线以及在小片基板的边线处形成检验标识，其中，每一检验标识的一部分位于小片基板上，另一部分位于分隔区上。
步骤S130，将小片基板从大片基板分离出来。
步骤S140，目测小片基板上的检验标识，以确定引线是否偏位。
在制作触控屏的过程中可以通过目测小片基板上的检验标识来确定引线是否偏位，相对于采用测量引线与小片基板边线之间的距离方式，作业效率较高。
在本实施方式中，在步骤S120之前，还包括提供设计图纸的步骤，根据设计图纸，进行步骤S120。具体的，如图1至图5所示，根据设计图纸可知，大片基板10用于形成多个小片基板12，相邻两小片基板12之间的区域为分隔区14，分隔区14包括横向分隔区14a与纵向分隔区14b。大片基板10包括中心区域10a及边框区域10b，中心区域10a用于形成多个小片基板12。多个小片基板12呈阵列形式排布，每列及每行均包括若干个小片基板12。小片基板12呈方形，每一小片基板12包括相对的第一边线12a与第二边线12b，以及相对的第三边线12c与第四边线12d。在每行中，相邻两小片基板12的第一边线12a与第二边线12b交错排布；在每列中，相邻两小片基板12的第三边线12c与第四边线12d交错排布。小片基板12上形成有引线20，且小片基板12的边线处形成有检验标识30。每一检验标识30的一部分位于小片基板12上，另一部分位于分隔区14上。
在本实施方式中，在实施步骤S120之前，大片基板10上并没有设有用于区分小片基板12的标致，小片基板12的边线是在形成小片基板12的同时形成的，也即小片基板12的边线是在步骤S130中形成的。其中，引线20及检验标识30的形成，以及小片基板12的边线的形成，都是根据设计图纸，通过自动化程序形成的。可以理解，在其他实施方式中，也可以预先在大片基板10上设置用于区分小片基板12的标致，例如，预先在大片基板10上制作与小片基板12的边线重合的线条。
小片基板12呈方形，每一小片基板12具有四条边线，可以在四条边线上都设置检验标识30，也可以只在其中一条或两条边线上设置检验标识30。优选的，在本实施方式中，检验标识30设于第一边线12a与第三边线12c中的至少一者上。
进一步，在本实施方式中，分隔区14包括横向分隔区14a以及纵向分隔区14b，纵向分隔区14b位于第一边线12a与第二边线12b之间，横向分隔区14a位于第三边线12c与第四边线12d之间。纵向分隔区14b具有与第一边线12a平行的纵向中心线14c，横向分隔区14a具有与第三边线12c平行的横向中心线14d。检验标识30还设于纵向中心线14c与横向中心线14d中的至少一者上。具体的，在本实施方式中，检验标识30设于纵向中心线14c。在纵向中心线14c与横向中心线14d中的至少一者上设置检验标识30，可以辅助判断引线20是否偏位。
进一步，在本实施方式中，在进行步骤S120之前，还包括在小片基板12上形成触控电极(图未示)的步骤。形成触控电极后，再进行步骤S120。在步骤S120中形成的引线20一端与触控电极连接，另一端用于与触控屏的柔性电路板(即FPC)连接。具体的，在本实施方式中，触控电极为ITO电极。
进一步，在本实施方式中，大片基板10为膜基板，在将小片基板12从大片基板10分离出来的步骤之前，还包括在边框区域10b形成靶标40的步骤。大片基板10的边框区域10b上设有靶标40，可以采用套位靶标40的方式从大片基板10上将小片基板12分离出来。大片基板10可以为聚酯薄膜基板。在其他实施方式中，当大片基板为玻璃基板时，可以采用切割的方式从大片基板上将小片基板分离出来。
进一步，在本实施方式中，引线20与检验标识30同时形成，从而可以避免出现因增设检验标识30而导致工艺步骤增加的问题。进一步，在本实施方式中，引线20与检验标识30的材质也相同，可以进一步避免出现因增设检验标识30而导致工艺步骤增加的问题。具体的，在本实施方式中，引线20与检验标识30的材质为银浆，采用丝网印刷的方式形成引线20及检验标识30。
进一步，在本实施方式中，检验标识30为中心对称图形，检验标识30的中心线与小片基板12的边线重合。其中，检验标识30可以为圆环、圆点(圆斑)、等腰三角形等。在本实施方式中，检验标识30优选为圆环，相对于相同尺寸的圆点，圆环用料更少，且对小片基板12的非可视区(引线20所在的区域)的影响小。而圆环相对于等腰三角形更利于目测判断，因为半圆、优弧及劣弧相对于直角三角形具有更高的辨识度。
进一步，在本实施方式中，形成引线20的尺寸公差为正负X，在设计检验标识时，检验标识在沿相邻两小片基板的排布方向上的最大长度为形成X的两倍。具体的，如图6及图7所示，在本实施方式中，设计的引线20与边线之间的间距为0.40±0.15mm，形成引线20的尺寸公差为正负0.15mm，检验标识的直径为0.30mm。
目测小片基板12上的检验标识30，来判断引线20是否偏位。例如，可以根据存在于小片基板12上的检验标识30的情况来判断是否偏位，当小片基板12上不存在检验标识30时或者当小片基板12上的检验标识30的图形完整时，引线20偏位，也即，在设计时，以引线没有偏位或者偏位的程度在公差范围内的小片基板12上的检验标识30的大小为标准，目测的小片基板12上的检验标识30的大小偏离该标准时，即引线20偏位。在本实施方式中，检验标识30为圆环或圆点，小片基板12上的检验标识30为半环或半圆点时，引线20不偏位。
在本实施方式中，触控屏为双层触控屏，制作该双层触控屏包括如下步骤：
步骤S210，提供第一大片基板以及第二大片基板，第一大片基板用于形成多个第一小片基板，第二大片基板用于形成多个第二小片基板，相邻两第一小片基板之间的区域为第一分隔区。
步骤S220，在第一小片基板上形成第一引线、第一触控电极以及在第一小片基板的边线处形成检验标识，在第二小片基板上形成第二引线及第二触控电极，其中，每一检验标识的一部分位于第一小片基板上，另一部分位于第一分隔区上。
步骤S230，将第一大片基板远离第一引线的表面贴于第二大片基板上，且第一小片基板的边线与第二小片基板的边线重合。
步骤S240，将第一小片基板从第一大片基板分离出来，同时将第二小片基板从第二大片基板分离出来。
步骤S250，目测第一小片基板上的检验标识，以确定第一引线是否偏位。
由于第一大片基板与第二大片基板的贴合精度能够使得第一小片基板的边线与第二小片基板的边线重合，第一引线是否偏位可以表示第二引线是否偏位。
采用丝网印刷的方式形成引线20及检验标识30。在本实施方式中，还提供一种丝刷装置，该丝刷装置包括用于形成引线的第一丝印区域以及用于形成检验标识的第二丝印区域。进一步，在本实施方式中，该丝刷装置还包括用于形成靶标的第三丝印区域。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (8)
1.一种在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，包括如下步骤：
提供用于形成多个小片基板的大片基板，其中，相邻两所述小片基板之间的区域为分隔区；
在所述小片基板上形成引线以及在所述小片基板的边线处形成检验标识，其中，每一所述检验标识的一部分位于所述小片基板上，另一部分位于所述分隔区上；
将所述小片基板从所述大片基板上分离出来；以及目测所述小片基板上的检验标识，以确定所述引线是否偏位；
所述检验标识为中心对称图形，所述检验标识的中心线与所述小片基板的边线重合；
形成所述引线的尺寸公差为正负X，所述检验标识在沿相邻两所述小片基板的排布方向上的最大长度为所述X的两倍。
2.根据权利要求1所述的在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，所述大片基板包括中心区域及边框区域，所述中心区域用于形成多个所述小片基板；
在将所述小片基板从所述大片基板分离出来的步骤之前，还包括在所述边框区域形成靶标的步骤。
3.根据权利要求1所述的在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，所述检验标识与所述引线同时形成。
4.根据权利要求3所述的在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，所述检验标识与所述引线的材质相同。
5.根据权利要求1所述的在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，多个所述小片基板呈阵列形式排布，每列及每行均包括若干个所述小片基板，所述小片基板呈方形，每一所述小片基板包括相对的第一边线与第二边线，以及相对的第三边线与第四边线，在每行中，相邻两所述小片基板的所述第一边线与所述第二边线交错排布，在每列中，相邻两所述小片基板的所述第三边线与所述第四边线交错排布；
所述检验标识设于所述第一边线与所述第三边线中的至少一者上。
6.一种在制作触控屏的过程中检验引线偏位的方法，其特征在于，包括如下步骤：
提供第一大片基板以及第二大片基板，所述第一大片基板用于形成多个第一小片基板，所述第二大片基板用于形成多个第二小片基板，相邻两所述第一小片基板之间的区域为第一分隔区；
在所述第一小片基板上形成第一引线、第一触控电极以及在所述第一小片基板的边线处形成检验标识，在所述第二小片基板上形成第二引线及第二触控电极，其中，每一所述检验标识的一部分位于所述第一小片基板上，另一部分位于所述第一分隔区上；
将所述第一大片基板远离所述第一引线的表面贴于所述第二大片基板上，且所述第一小片基板的边线与所述第二小片基板的边线重合；
将所述第一小片基板从所述第一大片基板分离出来，同时将所述第二小片基板从所述第二大片基板分离出来；以及目测所述第一小片基板上的检验标识，以确定所述第一引线是否偏位；
所述检验标识为中心对称图形，所述检验标识的中心线与所述小片基板的边线重合；
形成所述引线的尺寸公差为正负X，所述检验标识在沿相邻两所述小片基板的排布方向上的最大长度为所述X的两倍。
7.一种丝刷装置，其特征在于，包括用于形成引线的第一丝印区域以及用于形成检验标识的第二丝印区域。
8.根据权利要求7所述的丝刷装置，其特征在于，还包括用于形成靶标的第三丝印区域。
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