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CN107121441A - 一种基于嵌入式视觉的sop芯片引脚缺陷检测装置 - Google Patents

一种基于嵌入式视觉的sop芯片引脚缺陷检测装置 Download PDF

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CN107121441A
CN107121441A CN201710365911.8A CN201710365911A CN107121441A CN 107121441 A CN107121441 A CN 107121441A CN 201710365911 A CN201710365911 A CN 201710365911A CN 107121441 A CN107121441 A CN 107121441A
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CN
China
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sop
chip
card
detecting devices
chip microcomputer
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Pending
Application number
CN201710365911.8A
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English (en)
Inventor
孙智权
张千
江帅
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ZHENJIANG SYD TECHNOLOGY Co Ltd
Original Assignee
ZHENJIANG SYD TECHNOLOGY Co Ltd
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Filing date
Publication date
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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    • G—PHYSICS
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Abstract

本发明公开了一种基于嵌入式视觉的SOP芯片引脚缺陷检测装置，属于无损检测领域，其包括相机、光源、图像采集卡、PC机、单片机、操作台、运动控制卡及图像处理VC源代码，相机及图像采集卡获取SOP芯片图像，同时PC机与单片机连接，单片机控制运动控制卡，进而控制操作台的运动，PC机的VC程序完成图像的预处理、模板匹配及缺陷分析；本发明基于嵌入式视觉的SOP芯片引脚缺陷检测装置，能够有效地实现检测方法的智能化和自动化，提高微观级别工艺检测精度和效率，稳定性好、降低检测成本。

Description

一种基于嵌入式视觉的SOP芯片引脚缺陷检测装置
技术领域
本发明属于无损检测领域，具体涉及到一种基于嵌入式视觉的SOP芯片引脚缺陷检测装置。
背景技术
在SOP芯片器件生产过程中，芯片的外观质量检测是其中一项必不可少的环节，目前集成电路的SOP芯片外观质量检测主要采用人工目检方法，工作强度大，容易造成误检，而且检测速度和精度较低，使得检测效率低、无法满足企业不规模生产的要求，上述因素在较大程度上制约了我国IC集成芯片生产行业的发展。
目前，一些固有的缺陷在一定程度上也限制了SOP芯片检测的准确性，比如检测装置。
发明内容
发明目的：针对上述问题，本发明的目的是提供一种基于嵌入式视觉的SOP芯片引脚缺陷检测装置，该装置可基于嵌入式视觉进行SOP芯片引脚的缺陷检测，能够有效地实现检测方法的智能化和自动化，提高微观级别工艺检测精度和效率，稳定性好、降低检测成本。
技术方案：为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：
一种基于嵌入式视觉的SOP芯片引脚缺陷检测装置，其包括相机、光源、图像采集卡、PC机、单片机、操作台、运动控制卡及图像处理VC源代码，其特征在于：
所述的相机及所述的图像采集卡获取SOP芯片图像，同时所述的PC机与所述的单片机连接，所述的单片机控制所述的运动控制卡，进而控制操作台的运动，图像传输给所述的PC机，所述的PC机的VC程序完成图像的预处理、模板匹配及缺陷分析，执行完整的检测动作。
所述的光源为条形光源。
所述的单片机采用51单片机，程序编写简单、功能强大。
有益效果：与现有技术相比，提供一种基于嵌入式视觉的SOP芯片引脚缺陷检测装置，该装置可基于嵌入式视觉进行SOP芯片引脚的缺陷检测，能够有效地实现检测方法的智能化和自动化，提高微观级别工艺检测精度和效率，稳定性好、降低检测成本。
附图说明
图1是基于嵌入式视觉的SOP芯片引脚缺陷检测装置示意图；
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本发明。
如图1所示，一种基于嵌入式视觉的SOP芯片引脚缺陷检测装置，其包括相机、光源、图像采集卡、PC机、单片机、操作台、运动控制卡及图像处理VC源代码，其特征在于：
相机及图像采集卡获取SOP芯片图像，同时PC机与单片机连接，单片机控制运动控制卡，进而控制操作台的运动，图像传输给PC机，PC机的VC程序完成图像的预处理、模板匹配及缺陷分析，执行完整的检测动作。
光源为条形光源，提供更均匀的照明，也能避免物体的反光。
单片机采用51单片机，程序编写简单、功能强大。。

Claims (3)

1.一种基于嵌入式视觉的SOP芯片引脚缺陷检测装置，其包括相机、光源、图像采集卡、PC机、单片机、操作台、运动控制卡及图像处理VC源代码，其特征在于：
所述的相机及所述的图像采集卡获取SOP芯片图像，同时所述的PC机与所述的单片机连接，所述的单片机控制所述的运动控制卡，进而控制操作台的运动，图像传输给所述的PC机，所述的PC机的VC程序完成图像的预处理、模板匹配及缺陷分析，执行完整的检测动作。
2.根据权利要求1所述的基于嵌入式视觉的SOP芯片引脚缺陷检测装置，其特征在于：所述的光源为条形光源。
3.根据权利要求1所述的基于嵌入式视觉的SOP芯片引脚缺陷检测装置，其特征在于：所述的单片机采用51单片机。
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SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20170901