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CN106935525A - 全自动通用太阳能晶片检测平台 - Google Patents

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CN106935525A
CN106935525A CN201511018169.0A CN201511018169A CN106935525A CN 106935525 A CN106935525 A CN 106935525A CN 201511018169 A CN201511018169 A CN 201511018169A CN 106935525 A CN106935525 A CN 106935525A
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CN
China
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platform
module
wafer
full
chip
Prior art date
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CN201511018169.0A
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English (en)
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不公告发明人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
COMTEC SOLAR (JIANGSU) Co Ltd
Original Assignee
COMTEC SOLAR (JIANGSU) Co Ltd
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Publication date
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Abstract

本发明提供一种全自动通用太阳能晶片检测平台,包括控制单元、设备本体、堆叠晶片上料机构、晶片输送机构、测量模块、收片机构、控制模块和信号处理模块。堆叠晶片上料机构自动将晶片传送到输送皮带,由输送皮带带动晶片进入测量模块,经过测量后,控制模块根据测量结果将晶片自动分选入不同的收片台。该平台具有自动上料、输送和简易分选的功能,且可以进行功能扩展,通过配置需求的测量模块就可以实现相应的检测功能。与现有技术相比,具有更高的配置灵活性和可选择性,同时可使新机型的开发周期更短,开发和生产成本更低,后期维护更方便。

Description

全自动通用太阳能晶片检测平台
技术领域
本发明涉及太阳能晶片检测平台,尤其是涉及一种全自动的通用太阳能晶片检测平台。
背景技术
晶片是太阳能电池片的载体,晶片质量的好坏直接决定了太阳能电池片转换效率的高低,因此,太阳能生产厂家需要对生产的晶片进行多个参数的检测。随着市场竞争的愈加激烈和太阳能行业技术水平的发展,对晶片的检测要求越来越高。
现有的晶片生产厂家常常面临着客户有新的检测要求,而公司内部缺少相应的检测设备,或是已有的分选仪的功能不全面,缺少部分测量功能,目前的普遍解决方法是采用人工检测或另外购置一台多功能分选仪。但使用人工检测的方法会增加人力成本,不仅测量速度慢,而且容易因人为因素的影响而使错检率和漏检率上升。而目前市场上也不提供具备单功能的分选设备,另外采购一台多功能分选仪则会造成功能和资源的浪费。
发明内容
本发明的目的是提供一种针对太阳能晶片的全自动通用检测平台,重点检测好或坏和实时分选参数,或者补充现有设备缺乏的某种检测功能,用户可以根据自身的需求选择测量功能和测量单元的数量,且可以进行功能扩展。
本发明所提供的全自动通用太阳能晶片检测平台包括:控制单元、设备本体、堆叠晶片上料机构、晶片输送机构、测量模块、收片机构、控制模块和信号处理模块;
所述控制单元包括传感器及执行机构模块、控制器模块和电源模块:
传感器及执行机构模块包括行程限位传感器、晶片探测传感器、步进电机、气缸、电磁阀,其中行程限位传感器用于步进电机的位置归零,晶片探测传感器用于检测晶片所处的位置,步进电机,气缸,电磁阀用于驱动晶片上料机构,晶片输送机构,以及分选收片机构的机械动作;
控制器模块包括微处理器单元、通讯模块、LED显示器接口、数字输入输出模块、步进电机驱动器,其中微处理器单元发出控制指令,协调各模块的工作,通讯模块完成和上位机的通讯,数字输入输出模块完成各类传感器,电磁阀与微处理器单元之间的电气信号转换工作,步进电机驱动器用于产生可以驱动步进电机动作的驱动信号;制器模块按照模块化的思想进行设计,按照不同功能划分为不同的电路板,并且可以根据不同功能需求灵活组合配置;
所述堆叠晶片上料机构包括将堆叠晶片顶起的顶起机构,将片盒里的晶片抓取并且释放到输送带上的吸盘装置,带动吸盘传送晶片的滑台等;
所述晶片输送机构由马达通过同步带轮带动,皮带为平皮带,皮带速度可调,根据测量模块的处理速度调节皮带的运行速度;
所述测量模块设在晶片输送机构的两段皮带中间,可以根据用户的需求自由配
置,可以选择的测量功能包括:厚度、电学型号、电阻率、外观、线痕、隐裂等;
所述收片机构分为合格片收片台、晶片顶起机构、不合格片收片台和其它片收片台;合格片收片台带有升降机构,被判定为合格的片子最终进入合格片片盒,每进入一片升降台下降一定的位置;晶片顶起机构根据控制单元的指令将经过判定区的不合格晶片顶起,送入不合格片片盒;其它片收片盒主要接收来不及处理或者待定的片子。
进一步的,本发明所提供的全自动通用太阳能晶片检测平台可在尾端加装扩展平台,所述扩展平台包括平台本体、输送模块和非合格片收片台,原全自动通用太阳能晶片检测平台的合格片收片台装在扩展平台的尾端。扩展平台不具备上料功能,上道工序分选出来的合格片流入通用扩展平台,可进行进一步的检测和分选。以此方式进行多次的功能扩展就可以实现多功能分选。
本发明所提供的全自动通用太阳能晶片检测平台具有自动上料、输送和简易分选的功能,且有了新的检测需求时可以进行功能扩展,用户可以根据自身的需求选择测量功能和测量单元的数量,通过配置需求的测量模块就可以实现相应的检测功能。与现有技术相比,具有更高的配置灵活性和可选择性,同时可以使得新机型的开发周期更短,开发和生产成本更低,后期维护更方便,特别适用于需要新增某一种或几种检测功能的太阳能晶片生广厂家。
附图说明
图1是本发明所提供的全自动通用太阳能晶片检测平台的单功能模块图。
图2是本发明所提供的全自动通用太阳能晶片检测平台的结构示意图。
图3是本发明所提供的全自动通用太阳能晶片检测平台的扩展平台模块图。
具体实施方式
为让本发明的上述目的、特征和优点能详细易懂,以下将结合附图对本发明的具体实施方式做详细说明。
图1是本发明所提供的全自动通用太阳能晶片检测平台的单功能模块图,用于太阳能晶片的所有参数测量和分选。平台包括设备本体01、堆叠晶片上料机构02、输送模块03、测量模块04、非合格片接收台05、合格片接收台06、控制模块07和信号处理模块08。
图2是本发明所提供的全自动通用太阳能晶片检测平台的结构示意图。如图2所示,堆叠上料结构02包括晶片上料升降机构11、上料吸盘13和运送晶片的上料机械手12。开始测量时,将待测的一叠晶片放入发片盒,按下确认按钮后,上料升降机构11在马达的带动下上升,上料吸盘13上装有传感器31,待传感器31探测到晶片后,上料升降机构11停止,上料吸盘13在气缸的带动下往下运动,吸起晶片,上料机械手12运动将晶片传送到输送皮带20。
输送模块03包括两段独立的输送皮带19和输送皮带20,由不同的马达带动,速度保持一致且可调。上料机械手12将晶片放到输送皮带20上后,由输送皮带20带动进入测量模块14。
测量模块14的前端有一个传感器32,待32探测到晶片进入检测区域后开始采集数据,将数据传输到信号处理模块08,经过测量区域的晶片经过数据处理,系统会给出测量结果,判定合格、不合格或其他。
当晶片到达传感器33的上方时,控制模块07会根据信号处理结果控制顶起机构18,如果是合格片,气缸不顶起,晶片流进合格片收片台17;如果是非合格片,气缸在电磁阀的控制下顶起,将晶片送入非合格片收片盒16,从而实现分选功能。
图3是本发明所提供的全自动通用太阳能晶片检测平台经过扩展后的多功能模块图,在通用主平台40的基础上可以进行多个检测功能扩展。
通用平台主平台40分选出来的合格片直接流入扩展平台41进行第二个功能检测,从第二个扩展平台41流出的合格片直接进入第三个扩展平台42进行功能检测和分选,最后合格片进入合格片收片台06。
综上所述,本发明具有自动上料和简易分选功能,用户可以通过配置不同的测量模块实现需要的测量功能。

Claims (2)

1.一种全自动通用太阳能晶片检测平台,其特征在于:包括控制单元、设备本体、堆叠晶片上料机构、晶片输送机构、测量模块、收片机构、控制模块和信号处理模块;
所述控制单元包括传感器及执行机构模块、控制器模块和电源模块;传感器及执行机构模块包括行程限位传感器、晶片探测传感器、步进电机、气缸、电磁阀;控制器模块包括微处理器单元、通讯模块、LED显示器接口、数字输入输出模块、步进电机驱动器;
所述堆叠晶片上料机构包括将堆叠晶片顶起的顶起机构;
所述晶片输送机构由马达通过同步带轮带动,皮带为平皮带,皮带速度可调;
所述测量模块设在晶片输送机构的两段皮带中间,可以根据用户的需求自由配置;所述收片机构分为合格片收片台、晶片顶起机构、不合格片收片台和其它片收片台。
2.如权利要求1所述的全自动通用太阳能晶片检测平台,其特征在于:平台的功能可以扩展,还包括扩展平台,所述扩展平台包括平台本体、输送模块和非合格片收片台,所述扩展平台加装在通用平台的后端,原全自动通用太阳能晶片检测平台的合格片收片台装在扩展平台的尾端。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN107591342A (zh) * 2017-10-23 2018-01-16 常州亿晶光电科技有限公司 自动测方阻设备
CN108438903A (zh) * 2018-03-22 2018-08-24 昆山国显光电有限公司 一种基板处理系统
CN111457878A (zh) * 2020-05-15 2020-07-28 长治高测新材料科技有限公司 一种多功能硅片检测平台

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Application publication date: 20170707

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