CN106489073A - 检测装置、检测方法、处理装置以及处理方法 - Google Patents

Abstract

本发明的检测装置(DA1)包括：支承体(B1)，具有对光学薄膜(OP1)的第一面(OP1a)进行支承的支承面(B1a)，在支承面(B1a)内的至少一部分具有反射面(RS1)；光源部(IL1)，从光学薄膜(OP1)的第二面(OP1b)侧朝向位于反射面(RS1)上的光学薄膜(OP1)照射光；摄像部(CM1)，从光学薄膜(OP1)的第二面(OP1b)侧拍摄位于反射面(RS1)上的光学薄膜(OP1)的反射光像；滤色器(CF1)，通过吸收或者反射给定的波长成分的光，来调整多个偏振图案列(OP12a、OP12b)的反射光像的对比度；和图案检测部(IP1)，基于光学薄膜(OP1)的反射光像来检测位于反射面(RS1)上的偏振图案列(OP12a、OP12b)。

Description

检测装置、检测方法、处理装置以及处理方法

技术领域

本发明涉及检测装置、检测方法、处理装置以及处理方法。

本申请基于2014年6月30日在日本申请的特愿2014-134352号要求优先权，并将其内容援引于此。

背景技术

作为显示立体图像的方式，已知称作FPR(Film Patterned Retarder：薄膜式图案缓冲)方式的方式。在FPR方式的3D液晶显示器中，为了分离右眼用图像和左眼用图像，在液晶面板的表面配置称作FPR薄膜的图案化相位差薄膜(参照专利文献1)。

FPR薄膜包括右眼用偏振图案列和左眼用偏振图案列。右眼用偏振图案列和左眼用偏振图案列对应于液晶面板的右眼用像素列和左眼用像素列而交替地配置。右眼用偏振图案列和左眼用偏振图案列互相在滞相轴的方向上正交。在配置有右眼用偏振图案列和左眼用偏振图案列的有效区域的外侧，也有时会配置校准用的偏振图案列。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：JP特开2012-32445号公报

发明内容

发明要解决的课题

在FPR薄膜中，以微细的宽度形成多个偏振图案列。因此，在将FPR薄膜切断为给定的宽度或形状，或者将FPR薄膜粘合到液晶面板时，必须准确地检测偏振图案列的位置，并基于该位置来校准FPR薄膜。

例如，在专利文献1中，作为偏振图案列的检测装置，记载有从FPR薄膜的下表面侧照射光并从FPR薄膜的上表面侧由摄像机拍摄的装置。

在FPR薄膜与光源之间配置偏振片，在FPR薄膜与摄像机之间从FPR薄膜侧依次配置相位差板(1/4波长板)和偏振片。右眼用偏振图案列和左眼用偏振图案列沿着薄膜的长边方向延伸。这些偏振图案列伴随着FPR薄膜的开卷以及搬送而连续地被检测。

但是，在专利文献1的结构中，由于在FPR薄膜的下表面侧设置有光源，因此无法在FPR薄膜的下表面侧配置支承体。由此，必须在FPR薄膜未被支承体支承的不稳定的位置处进行偏振图案列的检测。虽然也考虑在支承体设置贯通孔，但仅由通过贯通孔的光无法充分地对FPR薄膜进行照明。

此外，在FPR薄膜的最外表面设置保护用薄膜、分离用薄膜等保护薄膜。保护薄膜具有双折射性，无意识地产生相位差。如果不存在保护薄膜，则右眼用偏振图案列和左眼用偏振图案列显示为明图案和暗图案，但如果存在保护薄膜，则明图案和暗图案的对比度降低，无法明确地区分两者。因此，在进行光学测定之前，需要剥离保护薄膜等的工夫。

此外，虽然FPR薄膜被粘合到液晶面板的显示面侧的偏振片的表面，但近来也讨论了将偏振片和FPR薄膜进行了一体化的偏振片一体型的FPR薄膜粘合到液晶面板的表面的情况。在该结构中，由于偏振片的面内的光学轴的偏差，上述的明图案和暗图案的对比度进一步降低，更加难以区分两者。

本发明的目的在于提供一种能高精度地检测偏振图案列的检测装置、检测方法、处理装置以及处理方法。

用于解决课题的手段

本发明的第一方式所涉及的检测装置，检测光学薄膜的多个偏振图案列，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、图案化相位差层以及偏振元件层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列，其中，上述检测装置包括：支承体，具有对上述光学薄膜的上述第一面进行支承的支承面，在上述支承面内的至少一部分具有对从上述第二面侧向上述第一面侧透过了上述光学薄膜的光进行反射的反射面；光源部，从上述光学薄膜的上述第二面侧朝向位于上述反射面上的上述光学薄膜照射光；摄像部，从上述光学薄膜的上述第二面侧拍摄位于上述反射面上的上述光学薄膜的反射光像；滤色器，设置在从上述光源部朝向上述摄像部的上述光的光路上，通过吸收或者反射给定的波长成分的光来调整上述多个偏振图案列的反射光像的对比度；以及图案检测部，基于上述光学薄膜的上述反射光像，来检测位于上述反射面上的上述多个偏振图案列。

在本发明的第一方式所涉及的检测装置中，上述图案检测部能够基于上述多个偏振图案列的反射光像的亮度或者颜色的差异，来检测上述多个偏振图案列。

本发明的第二方式所涉及的检测装置，检测光学薄膜的多个偏振图案列，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、偏振元件层以及图案化相位差层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列，其中，上述检测装置包括：支承体，具有对上述光学薄膜的上述第一面进行支承的支承面，在上述支承面内的至少一部分具有对从上述第二面侧向上述第一面侧透过了上述光学薄膜的光进行反射的反射面；光源部，从上述光学薄膜的上述第二面侧朝向位于上述反射面上的上述光学薄膜照射光；偏振片，设置在从上述光源部朝向上述光学薄膜的上述光的光路上；摄像部，从上述光学薄膜的上述第二面侧拍摄位于上述反射面上的上述光学薄膜的反射光像；滤色器，设置在从上述光源部朝向上述摄像部的上述光的光路上，通过吸收或者反射给定的波长成分的光来调整上述多个偏振图案列的反射光像的对比度；以及图案检测部，基于上述光学薄膜的上述反射光像，来检测位于上述反射面上的上述多个偏振图案列。

在本发明的第二方式所涉及的检测装置中，上述图案检测部能够基于上述多个偏振图案列的反射光像的亮度或者颜色的差异，来检测上述多个偏振图案列。

在本发明的第二方式所涉及的检测装置中，能够包括：调整部，对上述偏振片的偏振轴与上述偏振图案列的滞相轴的相对角度进行调整。

本发明的第一方式所涉及的检测方法，是检测光学薄膜的多个偏振图案列的检测方法，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、图案化相位差层以及偏振元件层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列，其中，上述检测方法包括：支承步骤，通过支承体对上述光学薄膜的上述第一面进行支承，该支承体具有对上述光学薄膜的上述第一面进行支承的支承面，并在上述支承面内的至少一部分具有对从上述第二面侧向上述第一面侧透过了上述光学薄膜的光进行反射的反射面；照射步骤，从上述光学薄膜的上述第二面侧朝向位于上述反射面上的上述光学薄膜照射光；摄像步骤，从上述光学薄膜的上述第二面侧拍摄位于上述反射面上的上述光学薄膜的反射光像；对比度调整步骤，通过由设置在上述光的光路上的滤色器吸收或者反射给定的波长成分的光，来调整上述多个偏振图案列的反射光像的对比度；以及图案检测步骤，基于上述光学薄膜的上述反射光像，来检测位于上述反射面上的上述多个偏振图案列。

在本发明的第一方式所涉及的检测方法中，能够在上述图案检测步骤中，基于上述多个偏振图案列的反射光像的亮度或者颜色的差异，来检测上述多个偏振图案列。

本发明的第二方式所涉及的检测方法，是检测光学薄膜的多个偏振图案列的检测方法，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、偏振元件层以及图案化相位差层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列，其中，上述检测方法包括：支承步骤，通过支承体对上述光学薄膜的上述第一面进行支承，该支承体具有对上述光学薄膜的上述第一面进行支承的支承面，并在上述支承面内的至少一部分具有对从上述第二面侧向上述第一面侧透过了上述光学薄膜的光进行反射的反射面；照射步骤，经由偏振片从上述光学薄膜的上述第二面侧朝向位于上述反射面上的上述光学薄膜照射光；摄像步骤，从上述光学薄膜的上述第二面侧拍摄位于上述反射面上的上述光学薄膜的反射光像；对比度调整步骤，通过由设置在上述光的光路上的滤色器吸收或者反射给定的波长成分的光，来调整上述多个偏振图案列的反射光像的对比度；以及图案检测步骤，基于上述光学薄膜的上述反射光像，来检测位于上述反射面上的上述多个偏振图案列。

在本发明的第二方式所涉及的检测方法中，能够在上述图案检测步骤中，基于上述多个偏振图案列的反射光像的亮度或者颜色的差异，来检测上述多个偏振图案列。

在本发明的第二方式所涉及的检测方法中，能够包括：调整步骤，对上述偏振片的偏振轴与上述偏振图案列的滞相轴的相对角度进行调整。

本发明的第一方式所涉及的处理装置，利用本发明的第一方式所涉及的检测装置来检测光学薄膜的多个偏振图案列，并基于上述偏振图案列的位置对上述光学薄膜进行给定的处理，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、图案化相位差层以及偏振元件层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列。

本发明的第二方式所涉及的处理装置，利用本发明的第二方式所涉及的检测装置来检测光学薄膜的多个偏振图案列，并基于上述偏振图案列的位置对上述光学薄膜进行给定的处理，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、偏振元件层以及图案化相位差层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列。

本发明的第一方式所涉及的处理方法，利用本发明的第一方式所涉及的检测方法来检测光学薄膜的多个偏振图案列，并基于上述偏振图案列的位置对上述光学薄膜进行给定的处理，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、图案化相位差层以及偏振元件层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列。

本发明的第二方式所涉及的处理方法，利用本发明的第二方式所涉及的检测方法来检测光学薄膜的多个偏振图案列，并基于上述偏振图案列的位置对上述光学薄膜进行给定的处理，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、偏振元件层以及图案化相位差层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列。

另外，本发明中的“对光学薄膜进行给定的处理”是指，基于偏振图案列的位置来控制光学薄膜相对于被粘合物的位置，或者在对光学薄膜进行切割加工时，控制光学薄膜在宽度方向上的偏移。

发明效果

根据本发明，能够提供一种能高精度地检测偏振图案列的检测装置、检测方法、处理装置以及处理方法。

附图说明

图1为本发明的第一实施方式所涉及的检测装置的示意图。

图2为本发明的第一实施方式的变形例所涉及的检测装置的示意图。

图3为本发明的第二实施方式所涉及的检测装置的示意图。

图4为本发明的第二实施方式的变形例所涉及的检测装置的示意图。

图5为表示光学薄膜的一例的剖视图。

图6为表示光学薄膜的反射光像的光量分布以及颜色分布的图。

图7为本发明的第三实施方式所涉及的检测装置的示意图。

图8为说明液晶面板和光学薄膜的相对粘合位置的调整方法的图。

图9A为说明由粘合滚筒向液晶面板粘合光学薄膜的粘合工序的图。

图9B为说明由粘合滚筒向液晶面板粘合光学薄膜的粘合工序的图。

图10为本发明的第四实施方式所涉及的检测装置的示意图。

图11为表示光学薄膜的一例的俯视图。

图12为切割加工装置的示意图。

具体实施方式

[第一实施方式]

图1为本发明的第一实施方式所涉及的检测装置DA1的示意图。

图2为本发明的第一实施方式的变形例所涉及的检测装置的示意图。

本实施方式的检测装置DA1包括支承体B1、摄像单元U1和图案检测部IP1。检测装置DA1检测在光学薄膜OP1中包括的偏振图案列OP12a、OP12b。

光学薄膜OP1至少包括相位差层OP11、图案化相位差层OP12和偏振元件层OP13。从光学薄膜OP1的第一面(由支承体B1支承的一侧的面)OP1a侧朝向第二面(与由支承体B1支承的一侧相反的一侧的面)OP1b侧，依次设置有相位差层OP11、图案化相位差层OP12和偏振元件层OP13。光学薄膜OP1中的除相位差层OP11之外的部分为光学薄膜主体部OPC1。

图案化相位差层OP12包括滞相轴RTAX的方向互不相同的多个偏振图案列OP12a、OP12b。图案化相位差层OP12例如包括滞相轴RTAX的方向互相正交的第一偏振图案列OP12a和第二偏振图案列OP12b。从光学薄膜OP1的法线方向观察，第一偏振图案列OP12a的滞相轴RTAX例如相对于偏振元件层OP13的偏振轴(透过轴)PLAX而呈顺时针旋转45°的角度。从光学薄膜OP1的法线方向观察，第二偏振图案列OP12b的滞相轴RTAX例如相对于偏振元件层OP13的偏振轴PLAX而呈逆时针旋转45°的角度。第一偏振图案列OP12a和第二偏振图案列OP12b在与其长边方向正交的方向上交替地配置。

相位差层OP11作为光学薄膜主体部OPC1的保护薄膜(保护用薄膜)，设置为能相对于光学薄膜主体部OPC1而剥离。保护薄膜通常通过二轴延伸来制造，具有双折射性。保护薄膜与图案化相位差层OP12、偏振元件层OP13等相比，无法充分地控制相位差。因此，保护薄膜会对透过了图案化相位差层OP12的光无意识地赋予相位差。这种相位差会使光学测定的精度降低，因此应排除，但是在本实施方式中，积极地利用这种相位差，来进行偏振图案列OP12a、OP12b的检测。关于这一点，在后面叙述。

光学薄膜OP1能包括相位差层OP11、图案化相位差层OP12以及偏振元件层OP13以外的层。例如，能将图5所示的光学薄膜OP3的一部分或者全部用作光学薄膜OP1。

图5的光学薄膜OP3在厚度方向上依次包括第一相位差层(保护用薄膜)OP31、基材层OP33、光取向层OP34、图案化相位差层OP35、第一粘接层OP36、偏振元件层OP37、第二粘接层OP38、偏振元件保护层OP39、粘附层OP40以及第二相位差层(分离用薄膜)OP41。光学薄膜OP3中的除第一相位差层OP31和第二相位差层OP41之外的部分为光学薄膜主体部OP42。

第一相位差层OP31与图1的相位差层OP11对应，图案化相位差层OP35与图1的图案化相位差层OP12对应，偏振元件层OP37与图1的偏振元件层OP13对应，光学薄膜主体部OP42与图1的光学薄膜主体部OPC1对应。在本实施方式中，例如能将从光学薄膜OP3剥离第二相位差层OP41而得到的光学薄膜OP45用作光学薄膜OP1。

以下，说明光学薄膜OP3的具体的结构。

<偏振元件层>

偏振元件层OP37在入射的光中使具有某方向的振动面的光透过并吸收具有与该振动面正交的振动面的光。经由偏振元件层OP37射出的光成为直线偏振光。

作为偏振元件层OP37，例如能够采用通过以下工序制造而得到的偏振薄膜，即，对聚乙烯醇系树脂薄膜进行单轴延伸的工序、通过由二色性染料对聚乙烯醇系树脂薄膜进行染色而使二色性染料吸附的工序、由硼酸水溶液对吸附有二色性染料的聚乙烯醇系树脂薄膜进行处理的工序、和在基于硼酸水溶液的处理后进行水洗的工序。

聚乙烯醇系树脂能够通过对聚乙酸乙烯酯系树脂进行皂化而得到。聚乙酸乙烯酯系树脂除了作为乙酸乙烯酯的均聚物的聚乙酸乙烯酯之外，还可以为乙酸乙烯酯和能与乙酸乙烯酯共聚的其他的单体的共聚物。作为能与乙酸乙烯酯共聚的其他的单体，例如能够举出不饱和羧酸类、烯烃类、乙烯基醚类、不饱和磺酸类、具有铵基的丙烯酰胺类等。

作为二色性染料，例如可采用碘、二色性的有机染料。在采用碘作为二色性染料的情况下，能够采用在含有碘以及碘化钾的水溶液中浸渍聚乙烯醇系树脂薄膜并染色的方法。

聚乙烯醇系树脂薄膜的单轴延伸可以在基于二色性染料的染色之前进行，也可以与基于二色性染料的染色同时进行，还可以在基于二色性染料的染色之后例如硼酸处理中进行。

关于偏振元件层OP37的厚度，例如能够设为平均厚度为5μm以上且40μm以下。

<图案化相位差层>

图案化相位差层OP35将入射的直线偏振光作为两种偏振状态的光射出。图案化相位差层OP35形成于光取向层OP34上。

光取向层OP34对于具有液晶性的材料(以下称作液晶材料)而具有取向限制力。光取向层OP34采用聚合性的光取向材料来形成。作为光取向材料，采用的是通过被偏振光曝光从而发现取向限制力的材料。在通过向光取向材料曝光偏振光而发现取向限制力的基础上聚合，从而形成保持了取向限制力的光取向层OP34。作为这种光取向材料，能够采用通常公知的材料。

光取向层OP34例如包括取向限制力的方向互相正交的第一取向区域和第二取向区域。第一取向区域和第二取向区域分别在与光学薄膜OP3的一边平行的方向上呈带状延伸。第一取向区域和第二取向区域在与自身的延伸方向正交的方向上交替设置。

图案化相位差层OP35包括与光取向层OP34的第一取向区域对应的第一偏振图案列OP35a和与第二取向区域对应的第二偏振图案列OP35b。第一偏振图案列OP35a和第二偏振图案列OP35b的滞相轴互相正交。第一偏振图案列OP35a使直线偏振光变化为第一圆偏振光。第二偏振图案列OP35b使直线偏振光变化为旋转方向与第一圆偏振光不同的第二圆偏振光。

图案化相位差层OP35采用具有聚合性的官能团的液晶材料来形成。根据光取向层OP34所具有的第一取向区域以及第二取向区域的取向限制力使液晶材料在2个方向上排列，进而使液晶材料所具有的聚合性的官能团反应，维持所采用的液晶材料的液晶相并使其固化，从而得到图案化相位差层OP35。作为这种聚合性的液晶材料，能够采用通常公知的材料。

<基材层>

基材层OP33用作对光取向层OP34以及图案化相位差层OP35进行支承的基材。光取向层OP34以及图案化相位差OP35通过在基材层OP33的表面涂敷光取向材料以及液晶材料，由此来形成。

作为基材层OP33的形成材料，例如能够举出三乙酰基纤维素(TAC)系树脂、聚碳酸酯系树脂、聚乙烯醇系树脂、聚苯乙烯系树脂、(甲基)丙烯酸酯系树脂、包含环状聚烯烃系树脂、聚丙烯系树脂在内的聚烯烃系树脂、聚芳酯系树脂、聚酰亚胺系树脂、聚酰胺系树脂等。

关于基材层OP33的厚度，例如能够设为平均厚度为40μm以上且100μm以下。

<偏振元件保护层>

作为偏振元件保护层OP39的形成材料，能够采用与上述的基材层OP33同样的材料。作为这种材料，例如能够举出三乙酰基纤维素(TAC)系树脂、聚碳酸酯系树脂、聚乙烯醇系树脂、聚苯乙烯系树脂、(甲基)丙烯酸酯系树脂、包含环状聚烯烃系树脂、聚丙烯系树脂在内的聚烯烃系树脂、聚芳酯系树脂、聚酰亚胺系树脂、聚酰胺系树脂等。

关于偏振元件保护层OP39的厚度，例如能够设为平均厚度为5μm以上且80μm以下。

<粘接层>

第一粘接层OP36以及第二粘接层OP38的形成材料，例如可举出以采用了聚乙烯醇系树脂或者聚氨酯树脂的组成物作为主成分并溶解到水中或者使其分散到水中的水系粘接剂、含有光固化性树脂和光阳离子聚合引发剂等的无溶剂的光固化性粘接剂。从制造时的体积收缩小、厚度的控制容易的观点出发，作为第一粘接层OP36以及第二粘接层OP38的形成材料，优选采用光固化性粘接剂，更优选采用紫外线固化型粘接剂。

作为紫外线固化型粘接剂，只要以液状的能涂敷的状态提供，就能采用一直以来在偏振片的制造中使用的各种粘接剂。从耐候性、聚合性等观点出发，紫外线固化型粘接剂优选含有阳离子聚合性的化合物、例如环氧化合物、更具体地来说如JP特开2004-245925号公报所记载的那样的在分子内不具有芳香环的环氧化合物，作为紫外线固化性成分之一的粘接剂。

作为这种环氧化合物，例如可举出对以双酚A二缩水甘油醚为代表例的芳香族环氧化合物的原料的芳香族多羟基化合物进行核氢化，将其缩水甘油醚化而得到的氢化环氧化合物、在分子内至少具有一个与脂环式环结合的环氧基的脂环式环氧化合物、脂肪族多羟基化合物的缩水甘油醚为代表例的脂肪族环氧化合物等。

在紫外线固化型粘接剂中，除了以环氧化合物作为代表例的阳离子聚合性化合物之外，调配通过聚合引发剂、尤其通过紫外线的照射而产生阳离子种或者路易斯酸，用于使阳离子聚合性化合物的聚合开始的光阳离子聚合引发剂。进而，在紫外线固化型粘接剂中，还可以调配通过加热开始聚合的热阳离子聚合引发剂、此外还有光增感剂等各种添加剂。

第一粘接层OP36以及第二粘接层OP38的形成材料可以相同，或者，也可以不同，但从生产率的观点出发，在得到适度的粘接力的前提下，优选采用相同的粘接剂来形成第一粘接层OP36以及第二粘接层OP38。

关于第一粘接层OP36以及第二粘接层OP38的厚度，例如能够设为平均厚度为0.5μm以上且5μm以下。

<粘附层>

粘附层OP40例如用于将光学薄膜OP45粘合于液晶面板的显示面。作为形成粘附层OP40的粘附剂，可举出例如以丙烯酸系树脂、有机硅系树脂、聚酯、聚氨酯、聚醚等作为基础树脂的粘附剂。其中，以丙烯酸系树脂作为基础树脂的丙烯酸系粘附剂由于在光学的透明性方面优良，保持适度的湿润性、凝聚力，进而在耐候性、耐热性等方面优良，在加热、加湿的条件下难以产生浮起或剥离等的剥离问题，因此适合采用。

在构成丙烯酸系粘附剂的丙烯酸系树脂中，适合采用酯部分具有甲基、乙基、丁基或者2-乙基己基那样的碳原子数为20以下的烷基的丙烯酸烷基酯、和(甲基)丙烯酸、(甲基)丙烯酸-2-羟基乙酯那样的含官能团的(甲基)丙烯酸系单体的丙烯酸系共聚物。

包含这种丙烯酸系共聚物的粘附层OP40在粘合到液晶面板之后具有某些不良状况从而需要剥离的情况下，不会在玻璃基板产生残留糊料等，能够较容易地进行剥离。优选丙烯酸系共聚物的玻璃化转变温度为25℃以下，更优选为0℃以下。此外，该丙烯酸系共聚物通常具有10万以上的重量平均分子量。

关于粘附层OP40的厚度，例如能够设为平均厚度为1μm以上且40μm以下。

<第一相位差层>

第一相位差层(保护用薄膜)OP31与基材层OP33一起保护图案化相位差层OP35。第一相位差层OP31设置为相对于基材层OP33自由剥离。

第一相位差层OP31采用在透明树脂薄膜形成粘附/剥离性的树脂层或者附着性的树脂层，并赋予较弱的粘附性的相位差层。作为透明树脂薄膜，例如能够举出聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚萘二甲酸乙二醇酯、聚乙烯、以及聚丙烯那样的热可塑性树脂的挤出薄膜、对它们进行组合的共挤出薄膜、将它们在单轴或者二轴上延伸的薄膜等。作为透明树脂薄膜，优选采用透明性以及均质性优良、且廉价的聚对苯二甲酸乙二醇酯或者聚乙烯的单轴或者二轴延伸薄膜。

作为粘附/剥离性的树脂层，例如能够举出丙烯酸系粘附剂、天然橡胶系粘附剂、苯乙烯-丁二烯共聚树脂系粘附剂、聚异丁烯系粘附剂、乙烯基醚系树脂粘附剂、有机硅系树脂粘附剂等。此外，作为附着性的树脂层，例如能够举出乙烯-乙酸乙烯酯共聚树脂等。作为粘附/剥离性的树脂层，优选采用透明性优良的丙烯酸系粘附剂。

关于第一相位差层OP31的厚度，例如能够设为平均厚度为15μm以上且75μm以下。

<第二相位差层>

第二相位差层(分离用薄膜)OP41覆盖粘附层OP40来保护粘附层OP40。第二相位差层OP41设置为相对于粘附层OP40自由剥离。作为第二相位差层OP41，能够采用与第一相位差层OP31同样的透明树脂薄膜。

关于第二相位差层OP41的厚度，例如能够设为平均厚度为15μm以上且75μm以下。

返回到图1，支承体B1具有对光学薄膜OP1的第一面OP1a进行支承的支承面B1a。支承体B1在支承面B1a内的至少一部分，具有对从第二面OP1b侧向第一面OP1a侧透过了光学薄膜OP1的光进行反射的反射面RS1。反射面RS1的材料、结构没有特别限定。反射面RS1可以通过对支承体B1的表面进行镜面加工来形成，也可以通过在支承体B1的表面配置金属反射膜、反射型偏振片等的反射部件来形成。此外，支承面B1a可以整体成为反射面RS1，也可以仅支承面B1a的一部分区域成为反射面RS1。支承体B1只要能稳定地保持光学薄膜OP1即可。支承体B1的形状没有特别限定，能够采用板状、柱状、筒状等任意的形状。支承面B1a的形状也能够采用平面、弯曲面等任意的形状。

摄像单元U1包括光源部IL1、摄像部CM1和滤色器CF1。摄像单元U1例如使光源部IL1和摄像部CM1接近地一体保持，以使得透过一个偏振图案列并由反射面RS1反射的光会透过相同的一个偏振图案列并入射到摄像部CM1。

光源部IL1朝向位于反射面RS1上的光学薄膜OP1，从光学薄膜OP1的第二面OP1b侧照射光。滤色器CF1设置在从光源部IL1朝向摄像部CM1的光的光路上。滤色器CF1通过吸收或者反射给定的波长成分的光来调整多个偏振图案列OP12a、OP12b的反射光像的对比度(反射光像的亮度之比)。滤色器CF1例如设置在从光源部IL1朝向光学薄膜OP1的光的光路上，但如图2所示，也可以设置在从光学薄膜OP1朝向摄像部CM1的光的光路上、光学薄膜OP1与反射面RS1之间的光的光路上。

作为光源部IL1，能够采用LED等公知的光源。光源部IL1例如朝向光学薄膜OP1照射白色光，但光源部IL1照射的光并不限于此。在本实施方式中，能够根据相位差层OP11、图案化相位差层OP12以及偏振元件层OP13的相位差、波长分散特性等，从光源部IL1照射适当的波长的光。

作为滤色器CF1，可以采用吸收给定的波长成分的光并透过剩余的波长成分的光的吸收型的滤光器，也可以采用反射给定的波长成分的光并透过剩余的波长成分的光的反射型的滤光器。作为吸收型的滤光器以及反射型的滤光器，能够采用公知的滤光器。

摄像部CM1从光学薄膜OP1的第二面OP1b侧拍摄位于反射面RS1上的光学薄膜OP1的反射光像。作为摄像部CM1，能够采用CCD摄像机等公知的摄像部件。

图案检测部IP1基于光学薄膜OP1的反射光像来检测位于反射面RS1上的偏振图案列OP12a、OP12b，并提取偏振图案列OP12a、OP12b的边界线的位置信息。作为图案检测部IP1，能够采用公知的图像处理部件。由摄像部CM1拍摄到的反射光像的图像信号通过图案检测部IP1变换为被数字数据化的图像数据，实施颜色提取处理、二值化处理等公知的图像处理。

关于第一偏振图案列OP12a和第二偏振图案列OP12b，滞相轴RTAX相对于偏振元件层OP13的偏振轴PLAX所构成的方向互不相同。因此，透过偏振元件层OP13、图案化相位差层OP12以及相位差层OP11并由反射面RS1进行反射从而再次透过了相位差层OP11、图案化相位差层OP12以及偏振元件层OP13的光的亮度、颜色，在透过了第一偏振图案列OP12a时和透过了第二偏振图案列OP12b时不同。由此，图案检测部IP1基于第一偏振图案列OP12a和第二偏振图案列OP12b的反射光像的亮度或者颜色的差异，来检测第一偏振图案列OP12a和第二偏振图案列OP12b。

在本实施方式中，通过由滤色器CF1对照射到光学薄膜OP1的光的波长进行变换，从而能够使第一偏振图案列OP12a和第二偏振图案列OP12b的反射光像的亮度或者颜色有较大不同。由此，第一偏振图案列OP12a和第二偏振图案列OP12b的检测变得容易。

例如，图6中所示的(a)表示在光源部IL1的前面不配置滤色器CF1并从光源部IL1照射了白色光的情况下的光学薄膜OP1的反射光像的颜色分布。图6中所示的(b)表示在光源部IL1的前面不配置滤色器CF1并从光源部IL1照射了白色光的情况下的光学薄膜OP1的光量分布。图6中所示的(c)表示在光源部IL1的前面配置滤色器CF1并从光源部IL1照射了白色光的情况下的光学薄膜OP1的反射光像的光量分布。

如图6中的(a)以及(b)所示，产生以下那样的现象，即，如果从光源部IL1照射白色光，则例如透过第一偏振图案列OP12a并入射到摄像部CM1的光为红色R且光量也大，相对于此，透过第二偏振图案列OP12b并入射到摄像部CM1的光为绿色G且光量也小。

另一方面，如图6中的(c)所示，如果在光源部IL1的前面配置例如吸收或者反射绿色G的光并透过红色R的光的滤色器CF1，则几乎不包括红色R的第二偏振图案列OP12b的反射光像变黑。由此，第一偏振图案列OP12a的反射光像的亮度与第二偏振图案列OP12b的反射光像的亮度之比(以下称作“第一偏振图案列与第二偏振图案列的反射光像的对比度”)变大，第一偏振图案列OP12a和第二偏振图案列OP12b的检测变得容易。

作为滤色器CF1，也能够采用吸收或者反射红色R的光并透过绿色G的光的滤色器。但是，采用透过显示得更明亮的颜色(在图6中例如为红色R)的滤色器，在提高第一偏振图案列OP12a与第二偏振图案列OP12b的反射光像的对比度上更有利。

如上述那样，第一偏振图案列OP12a与第二偏振图案列OP12b的反射光像的对比度根据入射到光学薄膜OP1的光的波长而不同。滤色器CF1对从光源部IL1照射的光的波长进行变换，以使得：与不采用滤色器CF1的情况相比，第一偏振图案列OP12a与第二偏振图案列OP12b的反射光像的对比度相对地变大。

其结果，例如，如图6中的(b)所示，在从光源部IL1照射的第一光的波长分布中，即使在第一偏振图案列OP12a与第二偏振图案列OP12b的反射光像的对比度不充分的情况下，也能通过滤色器CF1将第一光的波长变换为不同的波长，从而如图6中的(c)所示那样实现高的对比度。

图案检测部IP1通过对反射光像的图像数据实施颜色提取处理、二值化处理等公知的图像处理，由此来检测第一偏振图案列OP12a以及第二偏振图案列OP12b。关于颜色提取处理、二值化处理，也能选择任一个处理来使用，但也能并用两者来使用。例如，图案检测部IP1在反射光像的图像数据中，提取具有显示得明亮的颜色(在图6中所示的(c)中例如为红色R)的部分，对提取出的图像数据进一步进行二值化处理，由此将第一偏振图案列OP12a和第二偏振图案列OP12b作为明图案和暗图案来检测。上述那样的颜色提取处理、二值化处理的算法在大多数情况下是公知的，不限于特定的检测方法。

如上那样，在本实施方式的检测装置DA1中，使透过了偏振元件层OP13以及图案化相位差层OP12的光经由相位差层OP11入射到反射面RS1，并使由反射面RS1反射的光再次经由相位差层OP11入射到图案化相位差层OP12以及偏振元件层OP13。因此，在由摄像部CM1拍摄的反射光像中，颜色、亮度不同的多个图案列与第一偏振图案列OP12a和第二偏振图案列OP12b对应地显示。在本实施方式中，从光源部IL1照射的光的一部分由滤色器CF1吸收或者反射，以使得第一偏振图案列OP12a与第二偏振图案列OP12b的反射光像的对比度变大。由此，如果对该反射光像的图像数据实施颜色提取处理、二值化处理等的图像处理，则能够高精度地检测第一偏振图案列OP12a和第二偏振图案列OP12b。

例如，当相位差层OP11未设置在图案化相位差层OP12与反射面RS1之间的情况下，由摄像部CM1拍摄的反射光像成为整面为黑色的图像。由此，无法检测第一偏振图案列OP12a和第二偏振图案列OP12b。通过相位差层OP11设置在图案化相位差层OP12与反射面RS1之间，从而会产生从偏振元件层OP13漏出的光，该光的颜色、亮度也在透过了第一偏振图案列OP12a时和透过了第二偏振图案列OP12b时不同。

相位差层OP11与图案化相位差层OP12、偏振元件层OP13等相比，无法充分地控制其相位差，因此在光学测定中产生不良状况的情况较多。因此，需要在光学测定之前预先剥离相位差层等的工夫，但在本实施方式中，积极地利用相位差层OP11的相位差，不剥离相位差层OP11地检测偏振图案列OP12a、OP12b。由此，能够提供一种能高精度且有效地检测偏振图案列OP12a、OP12b的检测装置以及检测方法。

[第二实施方式]

图3为本发明的第二实施方式所涉及的检测装置DA2的示意图。

图4为本发明的第二实施方式的变形例所涉及的检测装置的示意图。

本实施方式的检测装置DA2包括支承体B2、摄像单元U2、图案检测部IP2和调整部PLR。检测装置DA2检测在光学薄膜OP2中包括的偏振图案列OP23a、OP23b。

光学薄膜OP2至少包括相位差层OP21、偏振元件层OP22和图案化相位差层OP23。从光学薄膜OP2的第一面(由支承体B2支承的一侧的面)OP2a侧朝向第二面(与由支承体B2支承的一侧相反的一侧的面)OP2b侧，依次设置有相位差层OP21、偏振元件层OP22和图案化相位差层OP23。光学薄膜OP2中的除相位差层OP21之外的部分为光学薄膜主体部OPC2。

图案化相位差层OP23包括滞相轴RTAX的方向互不相同的多个偏振图案列OP23a、OP23b。图案化相位差层OP23例如包括滞相轴RTAX的方向互相正交的第一偏振图案列OP23a和第二偏振图案列OP23b。从光学薄膜OP2的法线方向观察，第一偏振图案列OP23a的滞相轴RTAX例如相对于偏振元件层OP22的偏振轴(透过轴)PLAX1而呈顺时针旋转45°的角度。从光学薄膜OP2的法线方向观察，第二偏振图案列OP23b的滞相轴RTAX例如相对于偏振元件层OP22的偏振轴PLAX1而呈逆时针旋转45°的角度。第一偏振图案列OP23a和第二偏振图案列OP23b在与其长边方向正交的方向上交替地配置。

相位差层OP21作为光学薄膜主体部OPC2的保护薄膜(分离用薄膜)，设置为能相对于光学薄膜主体部OPC2而剥离。保护薄膜通常通过二轴延伸制造，具有双折射性。保护薄膜与图案化相位差层OP23、偏振元件层OP22等相比，无法充分控制相位差。因此，保护薄膜会对透过了图案化相位差层OP23的光无意识地赋予相位差。这种相位差会使光学测定的精度降低，因此应排除，但是在本实施方式中，积极地利用这种相位差，来进行偏振图案列OP23a、OP23b的检测。关于这一点，在后面叙述。

光学薄膜OP2能包括相位差层OP21、偏振元件层OP22以及图案化相位差层OP23以外的层。在本实施方式中，例如，能将图5所示的光学薄膜OP3用作光学薄膜OP2。在该情况下，第二相位差层OP41与图3的相位差层OP21对应，偏振元件层OP37与图3的偏振元件层OP22对应，图案化相位差层OP35与图3的图案化相位差层OP23对应，光学薄膜主体部OP42与图3的光学薄膜主体部OPC2对应。

支承体B2具有对光学薄膜OP2的第一面OP2a进行支承的支承面B2a。支承体B1在支承面B2a内的至少一部分，具有对从第二面OP2b侧向第一面OP2a侧透过了光学薄膜OP2的光进行反射的反射面RS2。反射面RS2的材料、结构没有特别限定。反射面RS2可以通过对支承体B2的表面进行镜面加工来形成，也可以通过在支承体B2的表面配置金属反射膜、反射型偏振片等反射部件来形成。此外，支承面B2a可以整体成为反射面RS2，电可以仅支承面B2a的一部分区域成为反射面RS2。

支承体B2只要能稳定地保持光学薄膜OP2即可。支承体B2的形状没有特别限定，能够采用板状、柱状、筒状等任意的形状。支承面B2a的形状也能够采用平面、弯曲面等任意的形状。

摄像单元U2包括光源部IL2、摄像部CM2、偏振片PLF和滤色器CF2。摄像单元U2例如使光源部IL2和摄像部CM2接近地一体保持，以使得透过一个偏振图案列并由反射面RS2反射的光会透过相同的一个偏振图案列并入射到摄像部CM2。

光源部IL2朝向位于反射面RS2上的光学薄膜OP2，从光学薄膜OP2的第二面OP2b侧照射光。偏振片PLF设置在从光源部IL2朝向光学薄膜OP2的光的光路上。从光源部IL2照射的光透过偏振片PLF而变换为直线偏振光。作为光源部IL2，能够采用LED等公知的光源。光源部IL2例如朝向光学薄膜OP2照射白色光，但光源部IL2照射的光并不限于此。在本实施方式中，能够根据相位差层OP21、偏振元件层OP22、图案化相位差层OP23以及偏振片PLF的相位差、波长分散特性等，从光源部IL2照射适当的波长的光。

滤色器CF2设置在从光源部IL2朝向摄像部CM2的光的光路上。滤色器CF2通过吸收或者反射给定的波长成分的光来调整多个偏振图案列OP23a、OP23b的反射光像的对比度(反射光像的亮度之比)。滤色器CF2例如设置在从光源部IL2朝向光学薄膜OP2的光的光路上，但如图4所示，也可以设置在从光学薄膜OP2朝向摄像部CM2的光的光路上、光学薄膜OP2与反射面RS2之间的光的光路上。滤色器CF2可以设置在偏振片PLF与光学薄膜OP2之间的光路上，也可以设置在光源部IL2与偏振片PLF之间的光路上。

作为滤色器CF2，可以采用吸收给定的波长成分的光并透过剩余的波长成分的光的吸收型的滤光器，也可以采用反射给定的波长成分的光并透过剩余的波长成分的光的反射型的滤光器。作为吸收型的滤光器以及反射型的滤光器，能够采用公知的滤光器。

摄像部CM2从光学薄膜OP2的第二面OP2b侧拍摄位于反射面RS2上的光学薄膜OP2的反射光像。作为摄像部CM2，能够采用CCD摄像机等公知的摄像部件。

图案检测部IP2基于光学薄膜OP2的反射光像来检测位于反射面RS2上的偏振图案列OP23a、OP23b，并提取偏振图案列OP23a、OP23b的边界线的位置信息。作为图案检测部IP2，能够采用公知的图像处理部件。由摄像部CM2拍摄到的反射光像的图像信号通过图案检测部IP2变换为被数字数据化的图像数据，实施颜色提取处理、二值化处理等公知的图像处理。

关于第一偏振图案列OP23a和第二偏振图案列OP23b，滞相轴RTAX相对于偏振片PLF的偏振轴(透过轴)PLAX2所构成的方向互不相同。因此，透过偏振片PLF、图案化相位差层OP23、偏振元件层OP22以及相位差层OP21并由反射面RS2反射从而再次透过了相位差层OP21、偏振元件层OP22以及图案化相位差层OP23的光的亮度、颜色，在透过了第一偏振图案列OP23a时和透过了第二偏振图案列OP23b时不同。由此，图案检测部IP2基于第一偏振图案列OP23a和第二偏振图案列OP23b的反射光像的亮度或者颜色的差异，来检测第一偏振图案列OP23a和第二偏振图案列OP23b。

在本实施方式中，通过由滤色器CF2对照射到光学薄膜OP2的光的波长进行变换，从而能使第一偏振图案列OP23a和第二偏振图案列OP23b的反射光像的亮度或者颜色有较大不同。由此，第一偏振图案列OP23a和第二偏振图案列OP23b的检测变得容易。

图案检测部IP2通过对反射光像的图像数据实施颜色提取处理、二值化处理等公知的图像处理，由此来检测第一偏振图案列OP23a以及第二偏振图案列OP23b。关于颜色提取处理、二值化处理，也能选择任一个处理来使用，但也能并用两者来使用。例如，图案检测部IP2在反射光像的图像数据中，提取具有显示得明亮的颜色的部分，对提取出的图像数据进一步进行二值化处理，由此将第一偏振图案列OP23a和第二偏振图案列OP23b作为明图案和暗图案来检测。上述那样的颜色提取处理、二值化处理的算法在大多数情况下是公知的，不限于特定的检测方法。

调整部PLR调整偏振片PLF的偏振轴PLAX2与偏振图案列OP23a、OP23b的滞相轴RTAX的相对角度。通过调整部PLR调整第一偏振图案列OP23a以及第二偏振图案列OP23b的滞相轴RTAX相对于偏振片PLF的偏振轴PLAX2而构成的角度，从而能够增大第一偏振图案列OP23a与第二偏振图案列OP23b的反射光像的非对称性(颜色、亮度等的差异)。由此，图案检测部IP2能够高精度地检测位于反射面RS2上的偏振图案列OP23a、OP23b。

另外，例如，通过调整部PLR将偏振片PLF粘贴到能旋转的夹具之后，作业人员一边确认光学薄膜OP2的反射光像一边使粘贴到能旋转的夹具的偏振片PLF按每个夹具旋转，从而能够进行上述的偏振片PLF的偏振轴PLAX2和偏振图案列OP23a、OP23b的滞相轴RTAX的相对角度的调整。在该情况下，能够设为如下的次序，即，作业人员一边确认光学薄膜OP2的反射光像一边使夹具旋转，在判断为第一偏振图案列OP23a与第二偏振图案列OP23b的非对称性最大的位置处，停止夹具的旋转。另一方面，通过调整部PLR利用省略图示的电动机等使夹具旋转，从而也能自动地进行上述的相对角度的调整。此外，上述的相对角度的调整可以在每一次的工序中实施，但也可以在卷料辊(参照图12中的符号R1)更换时确认光学薄膜OP2的反射光像，在该反射光像中的非对称性大的情况下不进行相对角度的调整，仅在非对称性小且图案识别不良时进行调整。

如上那样，在本实施方式的检测装置DA2中，也是积极地利用相位差层OP21的相位差，不剥离相位差层OP21地检测偏振图案列OP23a、OP23b。因此，能够提供一种能高精度且有效地检测偏振图案列OP23a、OP23b的检测装置以及检测方法。在本实施方式中，从光源部IL2照射的光的一部分由滤色器CF2吸收或者反射，以使得第一偏振图案列OP23a与第二偏振图案列OP23b的反射光像的对比度变大。进而，在本实施方式中，通过调整部PLR能够增大第一偏振图案列OP23a与第二偏振图案列OP23b的反射光像的非对称性。由此，偏振图案列OP23a、OP23b的检测精度提高。

[第三实施方式]

图7为本发明的第三实施方式所涉及的检测装置DA3的示意图。

图8为说明对液晶面板P和光学薄膜F1的相对粘合位置进行调整的方法的图。

图9A以及图9B为说明向液晶面板P粘合光学薄膜F1的粘合工序的图。

如图7所示，本实施方式的检测装置DA3包括支承体(粘合滚筒)32、摄像单元35和图案检测部IP3。检测装置DA3检测在光学薄膜F1中包括的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图8)。

如图7～图9A、图9B所示，本实施方式的检测装置DA3构成了基于偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图8)的位置(例如，偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置)将光学薄膜F1校准并粘合到液晶面板P的粘合装置13的一部分。粘合装置13除了检测装置DA3之外，还包括控制装置25、驱动装置42、粘合台41、摄像单元36等。支承体32为将保持于保持面32a的光学薄膜F1粘合到液晶面板P的滚筒状的粘合部件。由此，以下将“支承体”标记为“粘合滚筒”来进行说明。

光学薄膜F1与图1所示的光学薄膜OP1同样地，至少从第一面(由粘合滚筒32支承的一侧的面)侧朝向第二面(与由粘合滚筒32支承的一侧相反的一侧的面)侧，依次包括相位差层、图案化相位差层和偏振元件层。在本实施方式中，例如能够将图5所示的光学薄膜OP45用作光学薄膜F1。偏振图案列APAa以及偏振图案列DPAa与图5的第一偏振图案列OP35a对应，偏振图案列APAb以及偏振图案列DPAb与图5的第二偏振图案列OP35b对应。

如图7所示，光学薄膜F1为包括与液晶面板P的显示区域对置的有效区域AC、和与位于液晶面板P的显示区域的周边部的周边区域对置的周边区域SR在内的片状的薄膜。

如图7以及图8所示，在有效区域AC中，滞相轴的方向互不相同的多个偏振图案列DPAa、DPAb与液晶面板P的多个像素列对应地设置。在液晶面板P的显示区域，交替地配置显示右眼用图像的右眼用像素列和显示左眼用图像的左眼用像素列。因此，在有效区域AC中，交替地配置与右眼用像素列对应的右眼用偏振图案列DPAa、和与左眼用像素列对应的左眼用偏振图案列DPAb。

在周边区域SR中，交替地配置滞相轴的方向与右眼用偏振图案列DPAa平行的第一偏振图案列APAa、和滞相轴的方向与左眼用偏振图案列DPAb平行的第二偏振图案列APAb。设置于周边区域SR的偏振图案列APAa、APAb能够单独地或者与设置于有效区域AC的偏振图案列DPAa、DPAb一起，用作用于使光学薄膜F1与液晶面板P校准的校准基准。为了使偏振图案列APAa、APAb的检测变得容易，例如能使设置于周边区域SR的偏振图案列APAa、APAb之中的至少一个偏振图案列的宽度比设置于有效区域AC的偏振图案列DPAa、DPAb的宽度宽。

如图7所示，粘合滚筒32具有与光学薄膜F1的宽度方向平行的圆筒状的保持面32a。保持面32a为对光学薄膜F1的第一面(图5的第一相位差层OP31的下表面)进行支承的支承面。保持面32a例如具有比光学薄膜F1的粘合面(图5的粘附层OP40的表面)弱的粘贴力，光学薄膜F1的表面保护薄膜(图5的第一相位差层OP31)能反复地被粘贴、剥离。粘合滚筒32例如通过在金属制的滚筒的外周面缠绕粘附片来制作。该粘附片的表面成为保持面32a。保持面32a的宽度方向中央部为保持光学薄膜F1的保持区域FA。

粘合滚筒32在保持面32a内的多处，具有对从第二面侧向第一面侧透过了光学薄膜F1的光进行反射的反射面39。反射面39例如通过在保持面32a的表面配置金属反射膜、反射型偏振片等反射部件来形成。

反射面39在保持面32a内被设置在配置有成为校准基准的偏振图案列的部分。配置有反射面39的位置成为能检测偏振图案列的检测区域。能够将设置于保持面32a的多个检测区域之中的一个或者多个检测区域中所检测到的偏振图案列设为校准基准。在本实施方式中，例如在保持区域FA的中央部和两端部，分别沿着粘合滚筒32的旋转方向而以互相相等的间隔来设置同一形状的多个反射面39。保持区域FA的中央部所设置的反射面39与光学薄膜F1的有效区域AC的中央部对置。保持区域FA的端部所设置的反射面39与光学薄膜F1的有效区域AC和周边区域SR的边界线对置。

驱动装置42使粘合滚筒32绕着旋转轴RA旋转，并且使粘合滚筒32在与旋转轴RA正交的水平方向以及铅垂方向上移动。驱动装置42与控制装置25电连接，通过控制装置25来控制驱动装置42的驱动。

摄像单元35包括光源部35a、摄像部35b和滤色器35d。摄像单元35例如使光源部35a和摄像部35b接近地一体保持，以使得透过一个偏振图案列并由反射面39反射的光会透过相同的一个偏振图案列并入射到摄像部35b。在图7中，为了方便，仅表示了一个摄像单元35，但摄像单元35例如能够与反射面39的设置位置相对应地在粘合滚筒32的宽度方向(与旋转轴RA平行的方向)上设置多个。此外，可以设置使摄像单元35在粘合滚筒32的宽度方向上移动的移动机构，并通过一个摄像单元35来检测多个检测区域的偏振图案列。

光源部35a朝向位于反射面39上的光学薄膜F1，从光学薄膜F1的第二面侧照射光。滤色器35d设置在从光源部35a朝向摄像部35b的光的光路上。滤色器35d通过吸收或者反射给定的波长成分的光来调整多个偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的反射光像的对比度(反射光像的亮度之比)。滤色器35d例如设置在从光源部35a朝向光学薄膜F1的光的光路上，但也可设置在从光学薄膜F1朝向摄像部35b的光的光路上、光学薄膜F1与反射面39之间的光的光路上。

作为光源部35a，能够采用LED等公知的光源。光源部35a例如朝向光学薄膜F1照射白色光，但光源部35a照射的光并不限于此。例如，能够根据在光学薄膜F1中包括的相位差层、图案化相位差层以及偏振元件层的相位差、波长分散特性等，从光源部35a照射适当的波长的光。

作为滤色器35d，可以采用吸收给定的波长成分的光并透过剩余的波长成分的光的吸收型的滤光器，也可以采用反射给定波长成分的光并透过剩余的波长成分的光的反射型的滤光器。作为上述那样的吸收型的滤光器以及反射型的滤光器，能够采用公知的滤光器。

摄像部35b从光学薄膜F1的第二面侧拍摄位于反射面39上的光学薄膜F1的反射光像。作为摄像部35b，能够采用CCD摄像机等公知的摄像部件。

图案检测部IP3基于光学薄膜F1的反射光像来检测位于反射面39上的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图8)，并提取偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置信息。作为图案检测部IP3，能够采用公知的图像处理部件。由摄像部35b拍摄到的反射光像的图像信号通过图案检测部IP3变换为被数字数据化的图像数据，实施颜色提取处理、二值化处理等公知的图像处理。如上所述，滞相轴的方向不同的两个偏振图案列的反射光像的颜色、亮度互不相同。因此，通过对图像数据实施颜色提取处理、二值化处理等图像处理，从而能够高精度地检测偏振图案列。

在本实施方式中，通过滤色器35d对照射到光学薄膜F1的光的波长进行变换，从而能够使偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图8)的反射光像的亮度或者颜色有较大不同。由此，偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的检测变得容易。

控制装置25取得图案检测部IP3提取出的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图8)的边界线的位置信息。控制装置25基于偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置信息来确认光学薄膜F1相对于粘合滚筒32的配置位置。控制装置25基于偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置信息，通过驱动装置(未图示)使粘合台41(参照图8)分别在与粘合滚筒32的旋转轴RA正交的方向以及与粘合滚筒32的旋转轴RA平行的方向上移动，或者通过旋转装置(未图示)使粘合台41在水平面内旋转。由此，进行为了调整在粘合台41保持的液晶面板P、和在粘合滚筒32保持的光学薄膜F1的相对粘合位置的校准。

控制装置25构成为包括计算机系统。计算机系统包括CPU等运算处理部、存储器、硬盘等存储部。图案检测部IP3的功能通过运算处理部来实现。控制装置25包括能执行与计算机系统的外部装置的通信的接口，综合地控制检测装置DA3、驱动装置42以及粘合台41(参照图8)等外部装置的动作。

以下，采用图8，说明液晶面板P与光学薄膜F1的相对粘合位置的调整方法。在图8中，右部分的图为在粘合滚筒32粘贴的光学薄膜F1的配置位置的说明图，左部分的图为在粘合台41保持的液晶面板P的配置位置的说明图，下部分的图为粘合台41的调整量的说明图。在图8中，为了方便，省略反射面39的图示。

如图8的右部分所示，通过摄像单元35拍摄在保持面32a粘贴保持的光学薄膜F1的角部。在光学薄膜F1，在与沿着粘合滚筒32的旋转轴的一边平行的方向上排列设置有多个偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb。摄像单元35伴随着粘合滚筒32的旋转而拍摄沿着该旋转方向的光学薄膜F1的一边的两角部。

图7所示的图案检测部IP3基于由摄像单元35拍摄到的光学薄膜F1的角部的反射光像，来检测位于光学薄膜F1的角部的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb，并提取偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置信息。此外，图案检测部IP3检测位于光学薄膜F1的角部的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPA之中的特定的2个偏振图案列(例如，最接近有效区域的周边区域的2个偏振图案列APAa、APAb)的边界线的端部的位置，作为光学薄膜F1的角部的位置EGP。由图案检测部IP3检测出的光学薄膜F1的角部的位置EGP成为将光学薄膜F1粘合到液晶面板P时的光学薄膜F1的校准基准。

在以下的说明中，将由摄像单元35拍摄的光学薄膜F1的2个角部之间的沿着粘合滚筒32的周向的距离称为摄像机间距离Lc。摄像机间距离Lc与上述的沿着光学薄膜F1的旋转方向的一边的长度大概相等。

例如，在伴随着粘合滚筒32的旋转而光学薄膜F1仅移动摄像机间距离Lc时，光学薄膜F1的角部EGP的位置从起点Ep1移动到终点Ep2。由摄像单元35以及图案检测部IP3检测到的起点Ep1以及终点Ep2的位置信息被发送到控制装置25。控制装置25如图8的下部分所示，基于摄像机间距离Lc、和与粘合滚筒32的旋转轴平行的方向上的起点Ep1和终点Ep2之间的距离Le(以下称作起点/终点偏差Le。)，算出校正角度α(tanα＝Le/Lc)。

如图8的左部分所示，通过后述的摄像单元36(参照图9A以及图9B)拍摄在粘合台41保持的液晶面板P的角部。例如，对于液晶面板P的各角部赋予标记Pm(例如，在本实施方式中为3个标记Pm1、Pm2、Pm3)。由摄像单元36检测到的第一标记Pm1、第二标记Pm2以及第三标记Pm3的位置信息被发送到控制装置25。控制装置25基于摄像单元36的检测信息来控制粘合台41的驱动，进行在粘合台41保持的液晶面板P的校准。控制装置25基于校正角度α来对省略图示的旋转装置进行驱动控制，使粘合台41在水平面内旋转角度α。由此，进行液晶面板P相对于粘合滚筒32的校准。

以下，采用图9A以及图9B，说明由粘合滚筒32向液晶面板P粘合光学薄膜F1的粘合工序。

如图9A所示，控制装置25使粘合滚筒32移动到粘合台41的上方的给定位置。控制装置25基于光学薄膜F1的角部EGP的位置信息、和液晶面板P的第一标记Pm1、第二标记Pm2以及第三标记Pm3的位置信息，来进行粘合滚筒32和粘合台41的校准，以使得光学薄膜F1的右眼用偏振图案列DPAa以及左眼用偏振图案列DPAb与设置于液晶面板P的右眼用像素以及左眼用像素呈平面地重叠。

控制装置25通过在粘合时使粘合滚筒32下降，从而成为在保持面32a粘贴的光学薄膜F1的前端部被从上方按压到液晶面板P的端部的状态。

粘合滚筒32下降，以使得成为光学薄膜F1被按压到液晶面板P的状态。此时，粘合滚筒32通过将被保持面32a保持的光学薄膜F1按压到液晶面板P来旋转，由此将光学薄膜F1粘合到液晶面板P。

如图9B所示，控制装置25在粘合时，伴随着粘合滚筒32的旋转，使粘合台41在与粘合滚筒32的旋转轴正交的方向上相对移动。在本实施方式中，粘合滚筒32逆时针旋转，粘合台41朝纸面右方向移动。此外，也可构成为，不使粘合台41移动，使粘合滚筒32旋转的同时使粘合滚筒32朝纸面左方向移动。

例如，粘合滚筒32的旋转驱动、和基于粘合台41的液晶面板P的移动动作同步地进行。由此，能够抑制在光学薄膜F1与液晶面板P之间产生摩擦。由此，能够抑制偏离的同时使光学薄膜F1向液晶面板P进行粘合。

粘合滚筒32例如具有比光学薄膜F1的粘合面(图5的粘附层OP40的表面)弱的粘贴力，能反复粘贴、剥离光学薄膜F1的表面保护薄膜(图5的第一相位差层OP31)，因此，粘合面侧被按压到液晶面板P的光学薄膜F1从保持面32a剥离并粘合到液晶面板P侧。

虽然省略了图示，但在液晶面板P的粘合光学薄膜F1的面相反的一侧的面，粘合有偏振片、提高亮度的薄膜等光学薄膜。由此，可提供能立体显示的光学显示设备。

如上那样，在本实施方式的检测装置DA3中，也与第一实施方式同样，能高精度且有效地检测偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb。本实施方式的粘合装置13基于由检测装置DA3提取出的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置信息来进行光学薄膜F1与液晶面板P的校准，因此能够提高光学薄膜F1和液晶面板P的粘合精度。由此，能够提供显示质量优良的光学显示设备。

[第四实施方式]

图10为第四实施方式所涉及的检测装置DA4的示意图。

图11为表示光学薄膜F2的示意结构的俯视图。

图12为切割加工装置50的示意图。

本实施方式的检测装置DA4包括支承体61、摄像单元62、图案检测部IP4和调整部63。检测装置DA4对在光学薄膜F2中包括的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图11)进行检测。

如图10～图12所示，本实施方式的检测装置DA3构成了将光学薄膜F2沿着切割线SL1、SL2、SL3进行切割加工的切割加工装置50的一部分。切割加工装置50除了检测装置(第一检测装置)DA4之外，还包括薄膜提供部51、薄膜缠绕部52、53、边料缠绕部54、第一偏移控制部55、第二偏移控制部56、第二检测装置57、切断部58以及控制装置70等。

光学薄膜F2与图3所示的光学薄膜OP2同样地，至少从第一面(由支承体61支承的一侧的面)侧朝向第二面(与由支承体61支承的一侧相反的一侧的面)侧，依次包括相位差层、偏振元件层和图案化相位差层。在本实施方式中，例如能将图5所示的光学薄膜OP3用作光学薄膜F2。

如图11所示，光学薄膜F2为在与长边方向正交的宽度方向上交替地包括有效区域AC和周边区域SR的长条状的薄膜。有效区域AC例如为与图8所示的液晶面板P的显示区域对置的部分，周边区域SR为与位于液晶面板P的显示区域的周边部的周边区域对置的部分。

光学薄膜F2具有与多个液晶面板对应的量(图11中例如为与两个液晶面板对应的量)的宽度。光学薄膜F2采用后述的切割加工装置50(参照图12)沿着切割线SL1、SL2、SL3被切断。切割线SL1、SL2、SL3被设定在周边区域SR内。由此，光学薄膜F2被分割为具有与一个液晶面板对应的量的宽度的多个长条薄膜。分割得到的一个长条薄膜被剪切为液晶面板P的尺寸，采用图9A以及图9B所示的粘合装置13而粘合到液晶面板P。

光学薄膜F2的有效区域AC以及周边区域SR的结构与在第三实施方式中所说明的结构相同。由此，在此，省略其详细的说明。切割线SL1、SL2、SL3例如被设定在设置于周边区域SR的偏振图案列APAa、APAb的边界线的位置。

如图10所示，支承体61具有与光学薄膜F2的宽度方向平行的圆柱状的支承面61a。支承体61例如为构成光学薄膜F2的搬送路径FCL(参照图12)的多个搬送辊中的一个搬送辊。支承体61支承光学薄膜F2的第一面(图5的第二相位差层41的上表面)，并且伴随着光学薄膜F2的搬送而旋转。支承体61例如为实施了镜面加工而成的金属制的辊，支承面61a整体成为反射面。

摄像单元62包括光源部62a、摄像部62b、偏振片62c和滤色器62d。摄像单元62例如使光源部62a和摄像部62b接近地一体保持，以使得透过一个偏振图案列并由反射面(支承面61a)反射的光会透过相同的一个偏振图案列并入射到摄像部62b。

光源部62a朝向位于反射面上的光学薄膜F2，从光学薄膜F2的第二面(图5的第一相位差层OP31的下表面)侧照射光。偏振片62c设置在从光源部62a朝向光学薄膜F2的光的光路上。从光源部62a照射的光透过偏振片62c而变换为直线偏振光。作为光源部62a，能够采用LED等公知的光源。光源部62a例如朝向光学薄膜F2照射白色光，但光源部62a照射的光不限于此。例如，能够根据在光学薄膜F2中包括的相位差层、图案化相位差层以及偏振元件层、偏振片62c的相位差、波长分散特性等，从光源部62a照射适当的波长的光。

滤色器62d被设置在从光源部62a朝向摄像部62b的光的光路上。滤色器62d通过吸收或者反射给定的波长成分的光来调整多个偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的反射光像的对比度(反射光像的亮度之比)。滤色器62d例如被设置在从光源部62a朝向光学薄膜F2的光的光路上，但也可设置在从光学薄膜F2朝向摄像部62b的光的光路上、光学薄膜F2与反射面(支承面61a)之间的光的光路上。滤色器62d可以设置在偏振片62c与光学薄膜F2之间的光路上，也可以设置在光源部62a与偏振片62c之间的光路上。

作为滤色器62d，可以采用吸收给定的波长成分的光并透过剩余的波长成分的光的吸收型的滤光器，也可以采用反射给定的波长成分的光并透过剩余的波长成分的光的反射型的滤光器。作为上述那样的吸收型的滤光器以及反射型的滤光器，能够采用公知的滤光器。

摄像部62b从光学薄膜F2的第二面侧拍摄位于反射面上的光学薄膜F2的反射光像。作为摄像部62b，能够采用CCD摄像机等公知的摄像部件。

图案检测部IP4基于光学薄膜F2的反射光像来检测位于反射面上的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb，并提取偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图11)的边界线的位置信息。作为图案检测部IP4，能够采用公知的图像处理部件。由摄像部62b拍摄到的反射光像的图像信号通过图案检测部IP4变换为被数字数据化的图像数据，实施颜色提取处理、二值化处理等公知的图像处理。如上述那样，滞相轴的方向不同的两个偏振图案列的反射光像的颜色、亮度互不相同。因此，通过对图像数据实施颜色提取处理、二值化处理等图像处理，从而能够高精度地检测偏振图案列。

在本实施方式中，通过滤色器62d对照射到光学薄膜F2的光的波长进行变换，从而能使偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图11)的反射光像的亮度或者颜色有较大不同。由此，偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的检测变得容易。

调整部63对偏振片62c的偏振轴和偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图11)的滞相轴的相对角度进行调整。通过调整部63调整偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的滞相轴相对于偏振片62c的偏振轴而构成的角度，从而能够增大偏振图案列APAa、DPAa与偏振图案列APAb、DPAb的反射光像的非对称性(颜色、亮度等的差异)。由此，图案检测部IP4能够高精度地检测位于反射面上的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb。

控制装置70取得图案检测部IP4提取出的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置信息。控制装置70基于偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置信息，来确认光学薄膜F2相对于支承体61的配置位置。控制装置70基于偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置信息，来检测实际的光学薄膜F2的行驶位置相对于预先设定的行驶位置而偏离何种程度。

控制装置70通过图12所示的第一偏移控制部55使薄膜提供部51在与光学薄膜F2的搬送方向正交的宽度方向上移动，以使得减小光学薄膜F2的行驶位置的偏离。

控制装置70构成为包括计算机系统。计算机系统包括CPU等运算处理部、存储器、硬盘等存储部。图案检测部IP4的功能通过运算处理部来实现。控制装置70包括能执行与计算机系统的外部装置的通信的接口，综合地控制第一检测装置DA4、薄膜提供部51、薄膜缠绕部52、53、边料缠绕部54、第一偏移控制部55、第二偏移控制部56、第二检测装置57以及切断部58等外部装置的动作。

以下，采用图12来说明切割加工装置50的结构。

薄膜提供部51保持缠绕有光学薄膜F2的卷料辊R1，并且将光学薄膜F2沿着其长边方向陆续放出。在从薄膜提供部51陆续放出的光学薄膜F2的搬送路径FCL中，从搬送方向上游侧依次配置有第一偏移控制部55、第一检测装置DA4、第二偏移控制部56、第二检测装置57以及切断部58。

采用第一检测装置DA4来检测从薄膜提供部51陆续放出的光学薄膜F2的刚刚陆续放出之后的行驶位置。第一检测装置DA4检测设置于光学薄膜F2的多个偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图11)。控制装置70基于由第一检测装置DA4检测到的多个偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的位置(例如，偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置)，来检测光学薄膜F2的行驶位置的偏离，控制第一偏移控制部55来控制光学薄膜F2的宽度方向的偏移。

采用第二检测装置57来检测由第一偏移控制部55控制偏移之后的光学薄膜F2的行驶位置。第二检测装置57检测设置于光学薄膜F2的多个偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图11)。控制装置70基于由第二检测装置57检测到的多个偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的位置(例如，偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置)，来检测光学薄膜F2的行驶位置的偏离，控制第二偏移控制部56来控制光学薄膜F2的宽度方向的偏移。

第一偏移控制部55例如基于由第一检测装置DA4以及控制装置70检测到的光学薄膜F2的行驶位置的偏离，使由薄膜提供部51陆续放出光学薄膜F2的位置(卷料辊R1的位置)在光学薄膜F2的宽度方向上移动。通过第一偏移控制部55来粗略地控制光学薄膜F2的行驶位置的偏离。

第二检测装置57具有与第一检测装置DA4相同的结构。第二检测装置57通过摄像单元67拍摄由支承体66的反射面反射的光学薄膜F2的反射光像，基于其摄像结果来检测位于反射面上的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图11)，并提取偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置信息。

控制装置70取得第二检测装置57提取出的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb(参照图11)的边界线的位置信息。控制装置70基于偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置信息来确认光学薄膜F2相对于支承体66的配置位置。控制装置70基于偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置信息，来检测实际的光学薄膜F2的行驶位置相对于预先设定的行驶位置而偏离何种程度。控制装置70控制第二偏移控制部56来调整光学薄膜F2的行驶位置，以使得光学薄膜F2的行驶位置与预先设定的行驶位置一致。

第二偏移控制部56例如基于由第二检测装置57以及控制装置70检测到的光学薄膜F2的行驶位置的偏离，使支承光学薄膜F2的第一引导辊64以及第二引导辊65相对于光学薄膜F2的搬送方向而倾斜。第一引导辊64和第二引导辊65配置为旋转轴互相平行。第二偏移控制部56使第一引导辊64和第二引导辊65的旋转轴的方向相对于光学薄膜F2的行驶方向而一体倾斜。由此，光学薄膜F2的行驶位置在宽度方向上被微调整，光学薄膜F2在预先设定的行驶位置行驶。

此外，第二偏移控制部56也可为使支承光学薄膜F2的一根引导辊相对于光学薄膜F2的搬送方向而倾斜的结构。

搬送到切断部58的光学薄膜F2的行驶位置通过第一偏移控制部55以及第二偏移控制部56被精密地控制。第一偏移控制部55以及第二偏移控制部56的结构并不限于上述的结构。作为第一偏移控制部55，优选能够比第二偏移控制部56更大程度地调整光学薄膜F2的行驶位置。作为第二偏移控制部56，优选能够比第一偏移控制部105更精密地调整光学薄膜F1的行驶位置。

此外，第一偏移控制部55、第一检测装置DA4、第二偏移控制部56以及第二检测装置57的配置并不限于上述的情况。第一检测装置DA4可以在第一偏移控制部55的上游侧，也可以在下游侧。第二检测装置57可以在第二偏移控制部56的上游侧，也可以在下游侧。第二检测装置57只要比通过第一偏移控制部55控制光学薄膜F2的宽度方向的偏移的位置更靠下游侧、且比通过切断部58切断光学薄膜F2的位置更靠上游侧，来检测光学薄膜F2的多个偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb即可。第二偏移控制部56只要比通过第一偏移控制部55控制光学薄膜F2的宽度方向的偏移的位置更靠下游侧、且比通过切断部58切断光学薄膜F2的位置更靠上游侧，来控制光学薄膜F2的宽度方向的偏移即可。

切断部58沿着图11中所示的切割线SL1、SL2、SL3切断光学薄膜F2。切断部58例如能够由切断刀、激光剪切器等构成。切断部58以与切割线SL1、SL2、SL3的配置间隔相同的间隔，在光学薄膜F2的宽度方向上配置多个。控制装置70通过第一偏移控制部55以及第二偏移控制部56来控制光学薄膜F2的行驶位置，以使得在切断部58的正下方配置切割线SL1、SL2、SL3。切断部58在比通过第一偏移控制部55以及第二偏移控制部56控制光学薄膜F2的宽度方向的偏移的位置更靠下游侧，将光学薄膜F2沿着与其搬送方向平行的切割线SL1、SL2、SL3来切断。

由切断部58在宽度方向上被分割的光学薄膜F2之中的包括有效区域AC的部分，通过薄膜缠绕部52、53缠绕，并作为具有与一个液晶面板对应的量的宽度的长条状薄膜的卷料辊R2、R3来提供。由切断部58被分割的光学薄膜F2之中的不包括有效区域AC的部分，通过边料缠绕部54缠绕，被废弃。

如上那样，在本实施方式的第一检测装置DA4以及第二检测装置57中，电与第二实施方式同样地，能高精度且有效地检测偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb。本实施方式的切割加工装置50基于由第一检测装置DA4以及第二检测装置57检测到的偏振图案列APAa、APAb、DPAa、DPAb的边界线的位置信息，来控制光学薄膜F2的行驶位置。因此，能够高精度地进行行驶位置的控制。此外，由于采用第一偏移控制部55和第二偏移控制部56以两阶段地进行行驶位置的控制，因此能够几乎消除光学薄膜F2的行驶位置的偏离。由此，减少由于行驶位置的偏离而错误地切断有效区域AC的可能性，成品率得以提高。此外，由于能够缩窄考虑到行驶位置的偏离的剩余部分(周边区域)的宽度，因此光学薄膜F2的浪费减少，制造成本降低。

以上，参照附图对本发明所涉及的优选的实施方式例进行了说明，但本发明并不限于所涉及的例子。在上述的例子中所示的各构成部件的各种形状、组合等只是一个例子，在不脱离本发明的主旨的范围中，能基于设计要求等进行各种变更。

例如，在上述的实施方式中，作为具备本发明所涉及的检测装置的处理装置的一例，举出粘合装置、切割加工装置，但处理装置并不限于此。本发明所涉及的检测装置以及检测方法能够适用于需要基于偏振图案列的位置进行处理的各种处理装置以及处理方法。

此外，在上述的实施方式中，说明了两种偏振图案列作为在图案化相位差层中包括的偏振图案列。但是，在图案化相位差层中包括的偏振图案列不限于两种，也可设为三种以上。这种情况下，多个偏振图案列的反射光像的亮度、颜色等也互不相同。由此，图案检测部能够基于多个偏振图案列的反射光像的亮度或者颜色的差异来检测多个偏振图案列。

在该情况下，滤色器例如能够调整多个偏振图案列的反射光像的对比度，以使得多个偏振图案列的反射光像的对比度较之于不采用上述滤色器的情况而相对变大。

上述的“多个偏振图案列的反射光像的对比度较之于不采用滤色器的情况而相对变大”意味着，从成为图案检测部的检测对象的多个偏振图案列之中提取全部互相相邻的两个偏振图案列的组合，针对提取出的所有的组合算出两个偏振图案列的反射光像的亮度之比时，针对所有的组合算出的上述比中最小的比的值较之于不采用上述滤色器的情况而相对变大。

产业上的可利用性

根据本发明所涉及的检测装置、检测方法、处理装置以及处理方法，能够提供可高精度地检测偏振图案列的检测装置、检测方法、处理装置以及处理方法。

符号说明

13...粘合装置(处理装置)、32...粘合滚筒(支承体)、32a...保持面(支承面)、35a...光源部、35b...摄像部、35d...滤色器、39...反射面、50...切割加工装置(处理装置)、57...第二检测装置、61...支承体、61a...支承面、62a...光源部、62b...摄像部、62c...偏振片、62d...滤色器、63...调整部、APAa、APAb、DPAa、DPAb...偏振图案列、B1、B2...支承体、B1a、B2a...支承面、CF1、CF2...滤色器、CM1、CM2...摄像部、DA1、DA2、DA3、DA4...检测装置、F1、F2...光学薄膜、IL1、IL2...光源部、IP1、IP2、IP3、IP4...图案检测部、OP1、OP2、OP3、OP45...光学薄膜、OP1a、OP2a...第一面、OP1b、OP2b...第二面、OP11、OP21、OP31、OP41...相位差层、OP12、OP23、OP35...图案化相位差层、OP12a、OP12b、OP23a、OP23b...偏振图案列、OP13、OP22、OP37...偏振元件层、PLAX2...偏振片的偏振轴、PLF...偏振片、PLR...调整部、RS1、RS2...反射面、RTAX...偏振图案列的滞相轴。

Claims (14)

1.一种检测装置，检测光学薄膜的多个偏振图案列，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、图案化相位差层以及偏振元件层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列，其中，上述检测装置包括：

支承体，具有对上述光学薄膜的上述第一面进行支承的支承面，在上述支承面内的至少一部分具有对从上述第二面侧向上述第一面侧透过了上述光学薄膜的光进行反射的反射面；

光源部，从上述光学薄膜的上述第二面侧朝向位于上述反射面上的上述光学薄膜照射光；

摄像部，从上述光学薄膜的上述第二面侧拍摄位于上述反射面上的上述光学薄膜的反射光像；

滤色器，设置在从上述光源部朝向上述摄像部的上述光的光路上，通过吸收或者反射给定的波长成分的光来调整上述多个偏振图案列的反射光像的对比度；以及

图案检测部，基于上述光学薄膜的上述反射光像，来检测位于上述反射面上的上述多个偏振图案列。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其中，

上述图案检测部基于上述多个偏振图案列的反射光像的亮度或者颜色的差异，来检测上述多个偏振图案列。

3.一种检测装置，检测光学薄膜的多个偏振图案列，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、偏振元件层以及图案化相位差层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列，其中，上述检测装置包括：

支承体，具有对上述光学薄膜的上述第一面进行支承的支承面，在上述支承面内的至少一部分具有对从上述第二面侧向上述第一面侧透过了上述光学薄膜的光进行反射的反射面；

光源部，从上述光学薄膜的上述第二面侧朝向位于上述反射面上的上述光学薄膜照射光；

偏振片，设置在从上述光源部朝向上述光学薄膜的上述光的光路上；

摄像部，从上述光学薄膜的上述第二面侧拍摄位于上述反射面上的上述光学薄膜的反射光像；

滤色器，设置在从上述光源部朝向上述摄像部的上述光的光路上，通过吸收或者反射给定的波长成分的光来调整上述多个偏振图案列的反射光像的对比度；以及

图案检测部，基于上述光学薄膜的上述反射光像，来检测位于上述反射面上的上述多个偏振图案列。

4.根据权利要求3所述的检测装置，其中，

上述图案检测部基于上述多个偏振图案列的反射光像的亮度或者颜色的差异，来检测上述多个偏振图案列。

5.根据权利要求3或4所述的检测装置，其中，

上述检测装置包括：调整部，对上述偏振片的偏振轴与上述偏振图案列的滞相轴的相对角度进行调整。

6.一种检测方法，是检测光学薄膜的多个偏振图案列的检测方法，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、图案化相位差层以及偏振元件层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列，其中，上述检测方法包括：

支承步骤，通过支承体对上述光学薄膜的上述第一面进行支承，该支承体具有对上述光学薄膜的上述第一面进行支承的支承面，并在上述支承面内的至少一部分具有对从上述第二面侧向上述第一面侧透过了上述光学薄膜的光进行反射的反射面；

照射步骤，从上述光学薄膜的上述第二面侧朝向位于上述反射面上的上述光学薄膜照射光；

摄像步骤，从上述光学薄膜的上述第二面侧拍摄位于上述反射面上的上述光学薄膜的反射光像；

对比度调整步骤，通过由设置在上述光的光路上的滤色器吸收或者反射给定的波长成分的光，来调整上述多个偏振图案列的反射光像的对比度；以及

图案检测步骤，基于上述光学薄膜的上述反射光像，来检测位于上述反射面上的上述多个偏振图案列。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其中，

在上述图案检测步骤中，基于上述多个偏振图案列的反射光像的亮度或者颜色的差异，来检测上述多个偏振图案列。

8.一种检测方法，是检测光学薄膜的多个偏振图案列的检测方法，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、偏振元件层以及图案化相位差层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列，其中，上述检测方法包括：

支承步骤，通过支承体对上述光学薄膜的上述第一面进行支承，该支承体具有对上述光学薄膜的上述第一面进行支承的支承面，并在上述支承面内的至少一部分具有对从上述第二面侧向上述第一面侧透过了上述光学薄膜的光进行反射的反射面；

照射步骤，经由偏振片从上述光学薄膜的上述第二面侧朝向位于上述反射面上的上述光学薄膜照射光；

摄像步骤，从上述光学薄膜的上述第二面侧拍摄位于上述反射面上的上述光学薄膜的反射光像；

对比度调整步骤，通过由设置在上述光的光路上的滤色器吸收或者反射给定的波长成分的光，来调整上述多个偏振图案列的反射光像的对比度；以及

图案检测步骤，基于上述光学薄膜的上述反射光像，来检测位于上述反射面上的上述多个偏振图案列。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其中，

在上述图案检测步骤中，基于上述多个偏振图案列的反射光像的亮度或者颜色的差异，来检测上述多个偏振图案列。

10.根据权利要求8或9所述的检测方法，其中，

上述检测方法包括：调整步骤，对上述偏振片的偏振轴与上述偏振图案列的滞相轴的相对角度进行调整。

11.一种处理装置，其中，利用权利要求1或2所述的检测装置来检测光学薄膜的多个偏振图案列，并基于上述偏振图案列的位置对上述光学薄膜进行给定的处理，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、图案化相位差层以及偏振元件层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列。

12.一种处理装置，其中，利用权利要求3～5中任一项所述的检测装置来检测光学薄膜的多个偏振图案列，并基于上述偏振图案列的位置对上述光学薄膜进行给定的处理，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、偏振元件层以及图案化相位差层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列。

13.一种处理方法，其中，利用权利要求6或7所述的检测方法来检测光学薄膜的多个偏振图案列，并基于上述偏振图案列的位置对上述光学薄膜进行给定的处理，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、图案化相位差层以及偏振元件层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列。

14.一种处理方法，其中，利用权利要求8～10中任一项所述的检测方法来检测光学薄膜的多个偏振图案列，并基于上述偏振图案列的位置对上述光学薄膜进行给定的处理，该光学薄膜从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、偏振元件层以及图案化相位差层，该图案化相位差层包括滞相轴的方向互不相同的上述多个偏振图案列。