CN105354099A - 一种西数硬盘修复方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种西数硬盘修复方法，包括以下步骤：S1：获取的地图模块，解析磁头位图信息；S2：修改位图信息，屏蔽坏的磁头；S3：将微码匹配的11号模块加载到缓存，加载ATA使硬盘正常起转，回写使硬盘能正常访问数据的主要固件。本发明的有益效果如下：使用屏蔽方法禁止损坏磁头工作，防止再次损坏盘片，通过校验重建磁头位图有效数据部分和整个地图模块，最后通过匹配微码的方式，将11模块加载到缓存，达到坏盘电机起转正常工作的目的，降低更换磁头的资金成本，提高修复硬盘的稳定性，修复成功率更高。通过磁头位图关闭了坏道严重的磁头，避免加电过程发生敲盘，能够正常寻到，不发生异响，不停转等问题。
Description
技术领域
本发明涉及信息安全技术领域，特别涉及一种西数硬盘修复方法。
背景技术
如今的世面上流通的西数硬盘容量少则500G，多则2000G。这些大容量的硬盘都需要多个磁头来对硬盘盘片进行读写和存储数据。在实际的生产和生活中，长时间的读写操作，硬盘磁头的寿命或多或少会减弱，由此可能会导致坏道产生，引起硬盘敲盘现象的发生。一旦发生敲盘，可能会导致硬盘无法正常寻到，加载硬盘固件，最终导致无法访问硬盘数据区数据。本方法通过使用调整磁头位图的方法来避免损坏磁头工作，从而能让硬盘使用其他好头来访问固件区，读取固件区固件的方法来恢复硬盘数据。
关于本文中的专业术语说明：
地图模块:固件区每个模块的存储位置都被记录在地图模块中。
发明内容
本发明针对现有技术的缺陷，提供了一种西数硬盘修复方法，能有效的解决上述现有技术存在的问题。
为了实现以上发明目的，本发明采取的技术方案如下：
一种西数硬盘修复方法，包括以下步骤：
S1：从硬盘电路板中获取ROM，并从ROM中解析地图模块，从获取的地图模块中，解析磁头位图信息；
S2：修改位图信息，屏蔽坏的磁头；
S3：将微码匹配的11号模块加载到缓存，加载ATA使硬盘正常起转，回写使硬盘能正常访问数据的主要固件。
所述S1的详细步骤如下：
S101：通过ATA指令获取西数硬盘ROM；
S102：检索ROM中的数据，搜索地图模块头部特征，该特征位置向后偏移5个字节位置找到地图模块起始位置，在向后偏移2个字节位置找到记录地图模块大小的位置；
S103：根据S102的地图模块大小及起始位置扫描整个地图模块，地图块头部“0x06”字节为地图模块有效数据起始位置，该位置可以得到有效数据长度，找到地图模块的磁头位图信息，磁头位图信息包括物理磁头数信息、正在使用的磁头数信息、正在使用的位图信息和记录缺省位图信息。
作为优选，所述S2的详细步骤如下：
S201：根据磁头测试结果，找到损坏的磁头和坏道；
S202：屏蔽损坏的磁头，执行公式：
正在使用的磁头数-坏的磁头数＝要修改的磁头数；
正在使用的位图数值综合-损坏的位图数值＝要修改的位图数值；
S203：执行0x10000-有效数据字节总和＝有效数据校验值，然后将校验写入最后2个字节覆盖旧的校验，让修改的磁头位图生效；
S204：对整个磁头地图模块进行有效校验，并将4字节的校验码写入磁头地图模块头部向后偏移12字节的位置。
作为优选，校验的校验算法如下：
S2041：设变量：效验值数据和，校验值赋初始值0；
S2042：将磁头地图模块待检验数据按照4字节划分成N份：N＝固件区扇区长度*512/4；
S2043：计算每一份4字节的DWORD型无符号整数之和，赋值给数据和；
S2044：执行公式：校验值＝0x100000000-数据和；
S2045：将校验值数据转换成4字节后，按照低前高后排列。
作为优选，所述S3的详细步骤如下：
S301：加载同微码ATA，通过查看ROM中4F模块的微码，从其他好盘中找到一个能与故障盘的4F模块中微码一致的11模块，并将微码一致的11模块加载至损坏硬盘缓存中；
S302：使用好磁头读取使硬盘能正常访问数据的主要固件，并将主要固件备份在其他存储介质中；
S303：重新回写主要固件到磁道，重新回写S302备份出来的主要模块到磁道。主要是为了让存在坏道受损的地方，重新刷写一次主要模块的结构，让硬盘自身能够通过校验检测。
与现有技术相比本发明的优点在于：使用屏蔽方法禁止损坏磁头工作，防止再次损坏盘片，通过校验重建磁头位图有效数据部分和整个地图模块，最后通过匹配微码的方式，将11模块加载到缓存，达到坏盘电机起转正常工作的目的，降低更换磁头的资金成本，提高修复硬盘的稳定性，修复成功率更高。通过磁头位图关闭了坏道严重的磁头，避免加电过程发生敲盘，能够正常寻到，不发生异响，不停转等问题。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下举实施例，对本发明做进一步详细说明。
一种西数硬盘修复方法，包括以下步骤：
S1：从硬盘电路板中获取ROM，并从ROM中解析地图模块，从获取的地图模块中，解析磁头位图信息；
S2：修改位图信息，屏蔽坏的磁头；
S3：将微码匹配的11号模块加载到缓存，加载ATA使硬盘正常起转，回写使硬盘能正常访问数据的主要固件。
所述S1的详细步骤如下：
S101：通过ATA指令获取西数硬盘ROM；
S102：检索ROM中的数据，搜索地图模块头部特征“0x524F594C”的十六进制值，该特征位置向后偏移5个字节位置为地图模块起始位置，在向后偏移2个字节位置，为记录地图模块大小的位置，一般是一个扇区；
S103：根据S102的地图模块大小及起始位置扫描整个地图模块，地图块头部“0x06”字节为地图模块有效数据起始位置，该位置可以得到有效数据长度，找到地图模块的磁头位图信息，磁头位图信息包括物理磁头数信息、正在使用的磁头数信息、正在使用的位图信息和记录缺省位图信息。
在找到有效数据起始位置向后偏移“0x03”位置记录物理磁头数信息；
向后偏移“0x04”位置记录当前正在使用的磁头数信息；
向后偏移“0x05”位置记录当前正在使用的位图信息；
向后偏移“0x06”位置记录缺省位图信息。
所述S2的详细步骤如下：
S201：根据磁头测试结果，找到损坏的磁头和坏道；
S202：屏蔽损坏的磁头，执行公式：
正在使用的磁头数-坏的磁头数＝要修改的磁头数；
正在使用的位图数值综合-损坏的位图数值＝要修改的位图数值；
例如：
物理磁头数信息为“0x04”；
正在使用的磁头数信息为“0x02”；
正在使用的位图信息为“0x03”；
缺省位图信息为“0x0F”。
及磁头位图信息为“0402030F”，如果在S201中发现0号磁头损坏，可将磁头位图信息修改为“0401020F”让一个好磁头工作。
S203：在磁头位图的有效数据部分的最后2个字节，为磁头位图有效数据部分的校验；要想让修改的磁头位图生效，必须使用0x10000减去有效数据字节数值总和。然后将校验值写入最后2个字节覆盖旧的校验。
S204：对整个磁头地图模块进行有效校验，并将4字节的校验码写入磁头地图模块头部向后偏移8字节的位置。
所述校验的校验算法如下：
S2041：设变量：效验值数据和，校验值赋初始值0；
S2042：将磁头地图模块待检验数据按照4字节划分成N份：N＝固件区扇区长度*512/4；
S2043：计算每一份4字节的DWORD型无符号整数之和，赋值给数据和；
S2044：执行公式：校验值＝0x100000000-数据和；
S2045：将校验值数据转换成4字节后，按照低前高后排列。
所述S3的详细步骤如下：
S301：加载同微码ATA，通过查看ROM中4F模块的微码，从其他好盘中找到一个能与故障盘的4F模块中微码一致的11模块，并将微码一致的11模块加载至损坏硬盘缓存中；
S302：使用好磁头读取使硬盘能正常访问数据的主要固件，并将主要固件备份在其他存储介质中。
S303：重新回写主要固件到磁道，重新回写S302备份出来的主要模块到磁道。主要是为了让存在坏道受损的地方，重新刷写一次主要模块的结构，让硬盘自身能够通过校验检测。这样硬盘才能够正常访问固件，固件区才能够正常工作，从而最终影响数据区的数据。
本领域的普通技术人员将会意识到，这里所述的实施例是为了帮助读者理解本发明的实施方法，应被理解为本发明的保护范围并不局限于这样的特别陈述和实施例。本领域的普通技术人员可以根据本发明公开的这些技术启示做出各种不脱离本发明实质的其它各种具体变形和组合，这些变形和组合仍然在本发明的保护范围内。
Claims (5)
1.一种西数硬盘修复方法，其特征在于包括以下步骤：
S1：从硬盘电路板中获取ROM，并从ROM中解析地图模块，从获取的地图模块中，解析磁头位图信息；
S2：修改位图信息，屏蔽坏的磁头；
S3：将微码匹配的11号模块加载到缓存，加载ATA使硬盘正常起转，回写使硬盘能正常访问数据的主要固件。
2.根据权利要求1所述的一种西数硬盘修复方法，其特征在于所述S1的详细步骤如下：
S101：通过ATA指令获取西数硬盘ROM；
S102：检索ROM中的数据，搜索地图模块头部特征，该特征位置向后偏移5个字节位置找到地图模块起始位置，在向后偏移2个字节位置找到记录地图模块大小的位置；
S103：根据S102的地图模块大小及起始位置扫描整个地图模块，地图块头部“0x06”字节为地图模块有效数据起始位置，该位置可以得到有效数据长度，找到地图模块的磁头位图信息，磁头位图信息包括物理磁头数信息、正在使用的磁头数信息、正在使用的位图信息和记录缺省位图信息。
3.根据权利要求2所述的一种西数硬盘修复方法，其特征在于所述S2的详细步骤如下：
S201：根据磁头测试结果，找到损坏的磁头和坏道；
S202：屏蔽损坏的磁头，执行公式：
正在使用的磁头数-坏的磁头数＝要修改的磁头数；
正在使用的位图数值综合-损坏的位图数值＝要修改的位图数值；
S203：执行0x10000-有效数据字节总和＝有效数据校验值，然后将校验写入最后2个字节覆盖旧的校验，让修改的磁头位图生效；
S204：对整个磁头地图模块进行有效校验，并将4字节的校验码写入磁头地图模块头部向后偏移12字节的位置。
4.根据权利要求3所述的一种西数硬盘修复方法，其特征在于S204中校验的算法如下：
S2041：设变量：效验值数据和，校验值赋初始值0；
S2042：将磁头地图模块待检验数据按照4字节划分成N份：N＝固件区扇区长度*512/4；
S2043：计算每一份4字节的DWORD型无符号整数之和，赋值给数据和；
S2044：执行公式：校验值＝0x100000000-数据和；
S2045：将校验值数据转换成4字节后，按照低前高后排列。
5.根据权利要求3所述的一种西数硬盘修复方法，其特征在于所述S3的详细步骤如下：
S301：加载同微码ATA，通过查看ROM中4F模块的微码，从其他好盘中找到一个能与故障盘的4F模块中微码一致的11模块，并将微码一致的11模块加载至损坏硬盘缓存中；
S302：使用好磁头读取使硬盘能正常访问数据的主要固件，并将主要固件备份在其他存储介质中；
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