CN104678115B - 一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种一体式定量采样加试剂装置检测仪的多光路试剂检测装置，其包括检测接收电路板、用于放置一体式定量采样加试剂装置的托架、用于驱动托架绕轴摆动的驱动装置、二维码扫描器、发射光源、与发射光源相匹配的透镜通道和光电转换器D1；驱动装置包括混匀电机；发射光源的数量大于或等于2个；发射光源、驱动装置和透镜通道均设置在机架上；混匀电机的输出轴固定连接托架，托架两侧设有耳轴，耳轴与混匀电机的输出轴连接；托架位于发射光源和透镜通道之间，发射光源的光线经透镜通道传至光电转换器D1的输入端，光电转换器D1的输出端接对应检测接收电路板的输入端。本发明的优点是使用方便、检测精准、能实现在一机体内的多光路检测。

Description

一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置

技术领域

本发明涉及多光路检测试剂装置，具体为一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置。

背景技术

现阶段，对试剂的测试多停留在单台机器完成单一类型测试的阶段，一机不能多用，例如对吸光度检测、散射比浊检测、免疫荧光检测等等每一种检测需要不同的一种检测仪，检测人员对采样试剂进行检测时，需要将装有采样试剂的一体式定量采样加试剂装置放置相应的检测仪中，在使用和携带时均非常不便，费时费力；同时，对所放入的采样试剂没有核对机制，如果一旦发生检测人员放错检测仪，不仅会造成检测结果不准确、采样试剂浪费，更严重的可能造成重要采样试剂不可逆的损失。目前市场上，针对专利名称为《一种一体化定量采样加试剂装置》（其专利号为：201010539091.8）的专利中所描述的盛有采样试剂的装置，没有能实现针对其内部试剂类型进行多种不同光路选择并检测的设备，给使用带来极大不便，实际操作中，每次针对不同的试剂，都需要更换检测仪，大大降低了试验检测的效率，现阶段，往往需要反复的多步骤的操作，这也增大了试剂变质或污染的概率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种使用方便、检测精准、一机多用的用于一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置。

本发明采用如下技术方案：

一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置，其包括检测接收电路板、用于放置一体式定量采样加试剂装置的托架、用于驱动托架绕轴摆动的驱动装置、二维码扫描器、发射光源、与发射光源相匹配的透镜通道和光电转换器D1；所述驱动装置包括混匀电机；所述发射光源的数量大于或等于2个，所述透镜通道的数量和发射光源的数量相同；所述发射光源、驱动装置和透镜通道均设置在机架上；

所述混匀电机的输出轴固定连接所述托架，所述托架两侧设有耳轴，所述耳轴与混匀电机的输出轴连接；所述混匀电机的输出轴方向与发射光源的光线方向一致；所述托架位于发射光源和透镜通道之间，所述发射光源的光线经透镜通道传至光电转换器D1的输入端，所述光电转换器D1的输出端接对应检测接收电路板的输入端；所述一体式定量采样加试剂装置上设有用于唯一标识被测试剂的二维码，所述二维码扫描器与一体式定量采样加试剂装置上二维码位置相对应。

所述二维码扫描器的扫描镜头前设置有透镜。所述二维码扫描器的型号可以使基恩士二维码读取器R-610。

所述发射光源为全波长光源和/或激光管，所述全波长光源对应的检测接收电路板为光栅接收传感器，所述激光管对应的检测接收电路板为可调增益光强信号接收放大电路；

所述可调增益光强信号接收放大电路包括运算放大芯片IC1、数字电位器芯片IC2、反馈电阻R1~R2、电容C1~C6；所述光电转换器D1接在运算放大芯片IC1的2脚和地之间；所述电阻R1和电容C3并联后接在运算放大芯片IC1的2脚和数字电位器芯片IC2的6脚之间；所述电容C1和C2并联后接在运算放大芯片IC的4脚和地之间；所述运算放大芯片IC1的6脚和7脚分别对应接数字电位器芯片IC2的7脚和电源VDD；所述电容C4和C5并联后接在运算放大芯片IC1的7脚和地之间；所述电容C6并联在数字电位器芯片IC2的8脚与地之间，所述数字电位器芯片IC2的8脚接电源VCC；所述数字电位器芯片IC2的5脚经电阻R2接地；所述数字电位器芯片IC2的1、2、3脚分别接MCU控制脚；所述运算放大芯片IC1的型号为OTA121，所述数字电位器芯片IC2的型号为MCT41050。

进一步的，所述全波长光源可以为灯泡。

当所述透镜通道为三个，其中一个需要对应激光管，另外两个需要对应全波长光源时， 发射光源为一个激光管和一个全波长光源，两个透镜通道共用一个全波长光源，其中全波长光源放置在灯罩中，通过连接在灯罩上的光纤传导光线至发光处。

作为本发明的进一步改进，还包括用于确定托架摆动到位的磁体，所述磁体安装于托架上，用于识别磁体位置的磁感应器安装在摆动到位处，用于识别磁体位置的各个磁感应器安装于摆动到位处，所述摆动到位处为沿托架摆动的圆弧轨迹上对应的每个发射光源处。

所述用于识别磁体位置的磁感应器为霍尔传感器。

作为本发明的进一步改进，所述机架为高度可调的支架。

所述托架为侧面设有竖直开口的上、下不封口管状腔体，所述管状腔体上设有贯通腔体的透光孔；所述透光孔的位置与发射光源和透镜通道在同一水平线上，且所述透光孔的方向与发射光源的光线相对应。

本发明的有益效果是：

本发明结构合理，使用方便，能够实现一机多用，通过电机驱动托架转动到相应位置，对准相应的透镜通道，由于一体式定量采样加试剂装置中不同的采样试剂需要采用不同光路检测，本发明可在不更换仪器的情况下，实现对不同采样试剂在同一机体内自动检测。

根据二维码扫描器扫描位于一体式定量采样加试剂装置上的二维码标签上的信息，可判断所需的检测类型，自动旋转匹配至相应透镜通道完成检测，并且根据二维码内的信息对通过检测接收电路板的信号采取不同的判断方法，将多光路试剂检测集成一体，降低了成本，提高了效率，节约了检测人员和患者的时间，同时避免了人为误差，还可根据二维码信息将患者的检测结果分类处理，为后续工作提供方便。

另外，在所述二维码扫描器的扫描镜头前设置有透镜，根据需要调节二维码扫描器的焦距，使用方便，且缩短二维码扫描器与采样器之间距离，有利于缩小整体设备的体积，提高整体集成度。

托架上设有用于识别摆动位置的磁体，有利于准确定位，提高托架转动的准确度。

托架设计为侧面设有竖直开口的上、下不封口管状腔体，有助于后续设计的装置沿该条形竖直开口上下移动，将托架内的采样器托送到指定位置，实用性强，使用方便。

本装置中设有用于固定发射光源、驱动装置和透镜通道的机架，对其上安装的设备具有减震效果，且上述机架高度可调，方便校准各部件高度水平。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

图2为本发明除去驱动装置后的结构示意图。

图3为本发明发射光源和透镜通道的位置关系示意图。

图4为本发明中托架的结构示意图。

图5为本发明中检测接收电路板实施例的电路原理图。

图6为一体式定量采样加试剂装置检测仪整体结构示意图。

图7为本发明混匀结构的结构示意图。

图8为本发明固定板的结构示意图。

图9本发明固定板定位组件的结构示意图。

图10为本发明的槽口和凸起的连动关系示意图。

图11为本发明的下压齿条与水平滑架的连接关系示意图。

图12为本发明的舱门板的结构示意图。

图13为本发明中托架摆动到某一工位处的状态示意图。

其中，1透镜、2混匀电机、3输出轴、4发射光源、5透镜通道、6检测接收电路板、7二维码扫描器、8透光孔、9机架、10耳轴、11竖直开口、12一体式定量采样加试剂装置、13磁体、14送风管、15加热片、16检测仪壳体、17驱动电机，18驱动齿轮、19光纤、20全波长光源、21灯罩、22光栅接收传感器、23触发开关、1-3显示器、1-5固定孔、1-6防溅槽、2-1下压齿条、2-4导杆、2-6备用导轨、2-7水平滑架、2-8导轨、2-9下压连动齿轮、2-10下压从动齿轮、2-11槽口、2-13导向滑轨、2-15缺齿、2-16凸起、2-17定位卡、2-18压板、2-19啮合齿、2-21从驱动齿轮、2-22阶梯孔、3-2托架、3-3卡位簧片、3-4支撑架、3-8固定板、3-9定位凸台、3-10定位卡槽、3-11升降齿条架、3-12升降齿条、3-13定位卡勾、3-15限位凸起、3-18脊型凸起、3-21脱离缺齿、4-1舱门、4-2舱门板、4-3舱门柱、4-4舱门卡槽、4-5端挡板、5-2压瓣、5-3复位簧、5-4从动齿轮、5-5竖直滑轨、5-9托盘、9-3导向弧板。

具体实施方式

下面结合附图1~13和具体实施方式对本发明作进一步详细的描述。

本实施例中的托架3-2可与中国专利名称为“一种一体化定量采样加试剂装置”（专利号为：201010539091.8）记载的装置配合使用。

一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置，其包括检测接收电路板6、用于放置一体式定量采样加试剂装置12的托架3-2、驱动装置、二维码扫描器7、发射光源4、与发射光源4相匹配的透镜通道5和光电转换器D1；所述驱动装置包括混匀电机2；所述发射光源4的数量大于或等于2个，所述透镜通道5的数量和发射光源4的数量相同；所述混匀电机2的输出轴3固定连接所述托架3-2，所述混匀电机2的输出轴3方向与发射光源4的光线方向一致；所述托架3-2位于发射光源4和透镜通道5之间，所述发射光源4的光线经透镜通道5传至光电转换器D1的输入端，所述光电转换器D1的输出端接对应检测接收电路板6的输入端；所述一体式定量采样加试剂装置12上贴有用于唯一标识被测液体的二维码，所述二维码扫描器7与一体式定量采样加试剂装置12上二维码位置相对应。

如附图4所示，所述托架3-2为侧面设有条形竖直开口11的上、下不封口管状腔体，所述管状腔体上设有贯通腔体的透光孔8；所述透光孔8的位置与发射光源4和透镜通道5在同一水平线上，且所述透光孔8的方向与发射光源4的光线相对应。

所述二维码扫描器7的扫描镜头前设置有透镜。

所述发射光源4为全波长光源20和/或激光管，所述全波长光源20对应的检测接收电路板6为光栅接收传感器22，所述激光管对应的检测接收电路板6为可调增益光强信号接收放大电路；

所述检测接收电路板6为可调增益光强信号接收放大电路，作为现有技术。

如图5所示，所述可调增益光强信号接收放大电路包括运算放大芯片IC1、数字电位器芯片IC2、反馈电阻R1~R2、电容C1~C6；所述光电转换器D1接在运算放大芯片IC1的2脚和地之间；所述电阻R1和电容C3并联后接在运算放大芯片IC1的2脚和数字电位器芯片IC2的6脚之间；所述电容C1和C2并联后接在运算放大芯片IC1的4脚和地之间；所述运算放大芯片IC1的6脚和7脚分别对应接数字电位器芯片IC2的7脚和电源VDD；所述电容C4和C5并联后接在运算放大芯片IC1的7脚和地之间；所述电容C6并联在数字电位器芯片IC2的8脚与地之间，所述数字电位器芯片IC2的8脚接电源VCC；所述数字电位器芯片IC2的5脚经电阻R2接地；所述数字电位器芯片IC2的1、2、3脚分别接MCU控制脚；所述运算放大芯片IC1的型号为OTA121，所述数字电位器芯片IC2的型号为MCT41050。

进一步的，所述全波长光源20可以为灯泡。

作为本发明的进一步改进，还包括用于确定托架3-2摆动到位的磁体13，所述磁体13安装于托架3-2上，用于识别磁体13位置的磁感应器安装在摆动到位处，所述用于识别磁体13位置的磁感应器为霍尔传感器。

作为本发明的进一步改进，机架9包括用于固定发射光源4的发射光源支架、用于固定驱动装置的驱动装置支架和/或用于固定透镜通道5的透镜通道支架。这三者可以都有，也可以选择性安装，主要为了将光路调整在一条直线上。

作为本发明的进一步改进，所述机架9为高度可调的支架。

如图3所示，当所述透镜通道5为三个，其中一个需要对应激光管，另外两个需要对应全波长光源20时， 发射光源4为一个激光管和一个全波长光源20，两个透镜通道5共用一个全波长光源20，其中全波长光源20放置在灯罩21中，通过连接在灯罩21上的光纤19传导光线至发光处。如图1~3和图13所示为混匀电机2的输出轴3带动托架3-2转动到相应透镜通道5位置处的示意图，本实施例中设计了三个发射光源4和对应的三个透镜通道5，三个透镜通道5分别是吸光度检测通道、散射比浊通道和免疫荧光通道；吸光度检测通道采用光纤导光技术将光强传导至光栅模块；散射比浊通道，光通过三个透镜被光电转换器D1接收；免疫荧光通道，光经滤光片过滤后，被光电转换器D1接收。所述检测接收电路板6为可调增益光强信号接收放大电路；所述检测接收电路板6根据对应发射光源4的不同，可以使电流放大电路或积分放大电路或其他对应的具有同类功能的电路，属于本领域技术人员通用的电路，此处不再尽述。

本实施例中，所述吸光度检测通道和散射比浊通道后均经光电转换器D1接电流放大电路，如附图5所示，所述电流放大电路为可调增益光强信号接收放大电路，即包括运算放大芯片IC1、数字电位器芯片IC2、反馈电阻R1~R2、电容C1~C6；所述光电转换器D1接在运算放大芯片IC1的2脚和地之间；所述电阻R1和电容C3并联后接在运算放大芯片IC1的2脚和数字电位器芯片IC2的6脚之间；所述电容C1和C2并联后接在运算放大芯片IC1的4脚和地之间；所述运算放大芯片IC1的6脚和7脚分别对应接数字电位器芯片IC2的7脚和电源VDD；所述电容C4和C5并联后接在运算放大芯片IC1的7脚和地之间；所述电容C6并联在数字电位器芯片IC2的8脚与地之间，所述数字电位器芯片IC2的8脚接电源VCC；所述数字电位器芯片IC2的5脚经电阻R2接地；所述数字电位器芯片IC2的1、2、3脚分别接MCU控制脚；所述运算放大芯片IC1的型号为OTA121，所述数字电位器芯片IC2的型号为MCT41050。所述免疫荧光通道后经光电转换器D1接积分放大电路，所述积分放大电路在专利号为ZL200820077266.6的专利中已经公布。

本发明的工作过程如下：

首先，将装有采样试剂的一体式定量采样加试剂装置12放入托架3-2，根据一体式定量采样加试剂装置12内盛放的不同的被测试剂，人为控制驱动电机17转动，从而带动托架3-2中的一体式定量采样加试剂装置12摆动到相应的透镜通道5处，选择相应的光信号接收检测装置，本实施例中即选择是吸光度检测通道、散射比浊通道还是免疫荧光通道，确定通道后，自动启动混匀电机2，混匀电机2的输出轴3旋转带动托架3-2旋转一定角度，使得发射光源4对准托架3-2上的透光孔8，在每个发射光源4处或其对面都安装有磁感应器，当感应到托架3-2上的磁体13已经到位时，由于每个透镜通道5都有对应的发射光源4，就会启动发射光源4的发射光线穿透一体式定量采样加试剂装置12中的采样试剂，其光线经过采样试剂与对应的透镜通道5同轴贯穿，经光电转换器D1将接收到光强信号转换成电信号，将该电信号发送给检测接收电路板6，根据光强信号的大小产生对应的电流，电流经由运算放大芯片IC1、R1、C3、数字电位器芯片IC2、R2组成的放大电路放大并转换为电压信号通过IC1的6脚输出，所述数字电位器芯片IC2为可调数字电位器，其作用在放大电路的反馈电路中，通过MCU控制信号调整数字电位器芯片IC2的抽头位置改变电路的放大倍数以达到调整增益的功能，处理后得到检测结果，工作过程简单方便，准确度高。

当本装置的一体式定量采样加试剂装置12上贴有二维码标签时，在本装置内需要设置二维码扫描器7，二维码扫描器7对准所述二维码标签，经二维码扫描器7扫描后，读取所带信息，据此确定要选择的透镜通道5类型，后续过程同上。

本检测仪内还设有控温装置，所述控温装置包括散热块和设置在散热块上的散热风扇、加热片15和温度传感器，所述散热风扇设置在散热块一侧，所述加热片15与散热块相接触，所述温度传感器设置于散热块上或检测仪壳体内。所述散热块上还设置有送风管14，所述送风管14套接在散热块上。

如附图1~13所示，整体检测仪的工作过程如下：

首先是用于一体式定量采样加试剂装置12的检测仪的开机检测：

本检测仪接通电源后，温度传感器工作，得到机仓内实时温度，当温度等于或高于预设最低设定检测标准温度时控温装置进入待机状态；当温度低于预设最低设定检测标准温度时，控温装置工作，通电后加热片15工作，来提高检测仪壳体16内部的温度，当温度等于或高于预设最高数值时加热片15停止工作；温度传感器确保检测仪壳体16内部温度不低于预设温度范围。

设计有一体式定量采样加试剂装置12的探测装置，用于探测托架3-2内是否放入了一体式定量采样加试剂装置12，如果接到所述探测装置的回馈信号后得出有一体式定量采样加试剂装置12，那么报警提示，开始准备进入后续混匀、检测的流程；当没有一体式定量采样加试剂装置12放入的信号时，本检测仪进入待机状态。所述探测装置可以是触发开关23或其他感应器，例如红外感应开关或接近开关。

当需要检测一体式定量采样加试剂装置12内试剂时，机体内的驱动电机17启动，驱动齿轮18带动下压从驱动齿轮2-10和从驱动齿轮2-21动作，从驱动齿轮2-10带动下压连动齿轮2-9通过凸起2-16将水平滑架2-7推向远离驱动齿轮18，水平滑架2-7顶端的舱门柱4-3通过舱门卡槽4-4将机体上端的舱门板4-2拨开，打开检测仪壳体16上方的舱门4-1，与此同时，从驱动齿轮2-21将与其啮合的升降齿条3-12抬升，升降齿条架3-11随之升高到预定位置，此时一体式定量采样加试剂装置12内试剂的托盘5-9升起到最高位；此时本检测仪等待一体式定量采样加试剂装置12的到位。

其次是试剂管信息读取：

操作人员将待检测的一体式定量采样加试剂装置12通过舱门4-1放入，所述检测仪壳体16下方正对舱门4-1处设置有导向弧板9-3，在所述导向弧板9-3的引导下将一体式定量采样加试剂装置12插放到上述托架3-2内，一体式定量采样加试剂装置12上印制有信息码，所述信息码与信息读取装置正对，当一体式定量采样加试剂装置12到位后所述探测装置的感应到，然后判断出一体式定量采样加试剂装置12已经到位，二维码扫描器7读取一体式定量采样加试剂装置12上的信息码，根据信息码上的信息判断混匀电机2应该转动的角度和应该启用的发射光源4，即根据信息码上代表的被检测试剂类型信息判断要选择托架3-2转动对应哪种发射光源4，即选择哪种检测光路。

一体式定量采样加试剂装置12上的信息码可以是条形码，也可以是二维码，相对应的信息读取装置为条形码读取装置或二维码扫描器7。

接下来是一体式定量采样加试剂装置12的固定：

信息读取完毕后，驱动电机17启动反向转动带动驱动齿轮18运动，驱动齿轮18带动下压从驱动齿轮2-10和从驱动齿轮2-21动作，从驱动齿轮2-10带动下压连动齿轮2-9，并通过设置在下压连动齿轮2-9和下压从动齿轮2-10上的凸起2-16插接在水平滑架2-7水平部分上的槽口2-11内这种方式，将水平滑架2-7拨动靠近驱动齿轮18，水平滑架2-7顶端设置有舱门柱4-3，所述舱门柱4-3通过舱门卡槽4-4将机体上端用于遮蔽舱门4-1的舱门板4-2拨回，关闭机体上方的舱门4-1，使检测仪内部形成暗环境，设置在水平滑架2-7上端的压板2-18随之也移动到一体式定量采样加试剂装置12的正上方；在水平滑架2-7靠近从驱动齿轮2-21，同时，固定在水平滑架2-7上的下压齿条2-1向下压从动齿轮2-10和下压连动齿轮2-9靠近，并且下压齿条2-1上的啮合齿2-19分别与从动齿轮2-10和下压连动齿轮2-9啮合；

与此同时，从驱动齿轮2-21也向反向旋转，与其啮合的升降齿条3-12下降，随之带动升降齿条架3-11下降，托举一体式定量采样加试剂装置12的托盘5-9也下降，因此一体式定量采样加试剂装置12在托架3-2的约束下靠自身重力随托盘5-9下降，一体式定量采样加试剂装置12整体进入托架3-2内，当一体式定量采样加试剂装置12的凸缘与卡位簧片3-3抵触时一体式定量采样加试剂装置12不再随托盘5-9下降，此时托架3-2在升降齿条架3-11一侧的滑槽与升降齿条架3-11上的限位凸起3-15位置对应，为了保证滑槽和限位凸起3-15的位置配匹合适，此时升降齿条架3-11的定位卡勾3-13的脊型卡勾头3-20卡置在固定板3-8上定位凸台3-9的定位卡槽3-10内，此时的托架3-2在混匀电机2驱动下滑槽沿着限位凸起3-15可以左右摆动，此时的工作位置是混匀位置。在混匀位置，混匀电机2带动托架3-2左右摆动，弧形的滑槽沿弧形的限位凸起3-15滑动，限位凸起3-15可以间断设置。

此时，所述托架3-2左右摆动的轨迹与升降齿条架3-11上的限位凸起3-15的弧度相对应，为了保证托架10左右摆动的轨迹和限位凸起3-15的弧度相配匹合适，此时升降齿条架3-11的定位卡勾3-13的脊型卡勾头3-20卡置在固定板3-8上定位凸台3-9的定位卡槽3-10内，此时的托架10在混匀电机3-1的驱动下沿着限位凸起3-15的弧度可以左右摆动，此时的工作位置是混匀位置。

在混匀位置，混匀电机3-1带动托架10左右摆动，托架10沿弧形的限位凸起3-15滑动，限位凸起3-15可间断设置。

所述混匀用电机2继续反向转动带动驱动齿轮18运动，从驱动齿轮2-21与升降齿条3-12分离，升降齿条架3-11下移，限位凸起3-15随之下移与滑槽错位，不连续的限位凸起3-15卡在卡架3-2两侧用来固定托架3-2；此时的工作位置是下压位置。

虽然从驱动齿轮2-21与升降齿条3-12分离，但是从驱动齿轮2-21顶端的压瓣5-2会将升降齿条架3-11压置在最低位，此时，与下压连动齿轮2-9和下压从动齿轮2-10啮合的下压齿条2-1会带动压板2-18下移，将一体式定量采样加试剂装置12的凸缘压入卡位簧片3-3，固定一体式定量采样加试剂装置12。

在下压位置，所述托架3-2和一体式定量采样加试剂装置12被固定，所述压板2-18在对一体式定量采样加试剂装置15施加压力，所述卡位簧片3-3用于防止一体式定量采样加试剂装置15受压时错位。

所述从动齿轮5-4和/或从驱动齿轮2-21上设置有压瓣5-2，所述压瓣5-2一端与升降齿条3-12顶端相对应。当压瓣5-2设置在从动齿轮5-4上时，所述压瓣5-2中部与从动齿轮5-4铰连，另一端通过复位簧5-3与从动齿轮5-4连接。当压瓣5-2设置在从驱动齿轮2-21上时同理。因为压瓣5-2在驱动齿轮16的带动下使得压板2-18下压，此时啮合的从动齿轮2-21和升降齿条3-12会阻碍压板2-18下压，因此下压时从动齿轮2-21和升降齿条3-12必须脱离，脱离后的升降齿条架3-11不受制约，因此设置压瓣5-2将自由的升降齿条架3-11始终压置在底部。

对称设置的从动齿轮5-4和从驱动齿轮2-21可以通过连杆固定连接，增加从动齿轮5-4的稳定性。

然后是混匀过程：

一体式定量采样加试剂装置12卡入到位后，驱动电机17启动使机体回到混匀位置，混匀用电机2启动使托架3-2左右摆动，对一体式定量采样加试剂装置12进行第一次混匀，将试剂和采集的血样进行混匀，第一次混匀时间（次数）到达设定时间（次数）后驱动电机17启动使机体返回到下压位置，压板2-18第二次对一体式定量采样加试剂装置12按压，将储存检测剂的储液囊薄膜刺穿，使少量空气进入储液囊，此时检测液不外溢，驱动电机17启动使机体再回到混匀位置，电机2再次启动进行第二次混匀，第二次混匀时间（次数）到达设定时间（次数）后驱动电机17启动使机体返回到下压位置，压板2-18第三次对试剂管按压，将检测剂全部挤出，机体再次回到混匀位置，进行第三次混匀，第三次混匀时间（次数）到达设定时间（次数）混匀结束。在反复的下压操作时水平滑架2-7反复前后移动，此时舱门柱4-3在舱门卡槽4-4内自由滑动，而舱门板4-2不受影响。

进一步的改进是，在接下来是一体式定量采样加试剂装置12固定过程和混匀过程中，从驱动齿轮2-21的转动轴的一端固定设置有径向充磁磁铁，机架9上设置有与径向充磁磁铁对应的磁力传感器，通过磁力传感器的信息对驱动电机17的停止进行控制。

或者改进成，所述托架3-2的摆动末端安装有磁体13，用于识别磁体13位置的磁感应器安装在摆动到位处，用于识别磁体13位置的各个磁感应器安装于摆动到位处，所述摆动到位处为沿托架3-2摆动的圆弧轨迹上对应的每个发射光源4处，总之在需要托架3-2带动其内的一体式定量采样加试剂装置12摆动到何处停止，就在何处安装磁感应器，使得托架3-2摆动到和磁感应器感应上的位置处时，给混匀电机2一个信号，停止转动并锁定该位置，确保此刻托架3-2上的透光孔8对准发射光源4，透光孔8的另一侧对准的是对应的透镜通道5，形成畅通光路，为光路检测做准备。

所述固定板3-8上设置有定位凸台3-9，所述定位凸台3-9置于升降齿条架3-11的让位槽内，所述定位凸台3-9两侧设置有定位卡槽3-10，所述让位槽内两侧壁设置有与定位卡槽3-10相适配的定位卡勾3-13，所述定位卡槽3-10位于两个相邻的脊型凸起3-18之间。

所述水平滑架2-7为门型结构，在所述水平滑架2-7上设置有下压齿条架2-1；所述下压齿条架2-1为框型结构，在其上部设有压板2-18，所述下压齿条架2-1一侧设有啮合齿2-19，其另一侧设有用于导向的导向滑轨2-13；所述水平滑架2-7的一侧设有与所述导向滑轨2-13相配合的凸沿，使得下压齿条架2-1能依靠导向滑轨2-13沿水平滑架2-7上下移动，所述水平滑架2-7的下部为机架9。

接下来是检测过程：

混匀完成后的一体式定量采样加试剂装置12回到混匀前的竖直位置，此时光检的发射光源4发出检测光线，穿过待检测试剂后到达检测接收电路板6，检测接收电路板6将光信息转换为电信号回传至信号处理电路，信号处理电路将分析结果传递到控制单元，控制单元将检测结果与储存备用的试剂管信息整合后传递到显示器1-3、无线发射模块和打印机。

最后是驱动电机17反向转动，打开机体舱门4-1，将一体式定量采样加试剂装置12送回到出舱位置，出舱位置是托盘5-9将一体式定量采样加试剂装置12托举至最高位置，仪器给出检验结束的提示，操作人员取走一体式定量采样加试剂装置12，控制单元检测到仪器内没有一体式定量采样加试剂装置12，仪器回到待机状态。

本发明仅是为了保护自动识别多光路试剂检测装置，其他说明是为了体现其工作方式和过程，不属于本发明的保护内容。

以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置，其特征在于：其包括用于放置一体式定量采样加试剂装置（12）的托架（3-2）、用于驱动托架（3-2）绕轴垂直摆动的驱动装置、发射光源（4）和与发射光源（4）相匹配的光信号接收检测装置；所述发射光源（4）的数量大于或等于2个，所述发射光源（4）和对应的光信号接收检测装置分别位于所述托架（3-2）摆动平面的两侧，所述驱动装置驱动托架（3-2）垂直摆动选择相应的光信号接收检测装置；所述托架（3-2）为上、下不封口管状腔体；所述一体式定量采样加试剂装置（12）上贴有用于唯一标识被测液体的二维码。

2.根据权利要求1所述的一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置，其特征在于：其还包括二维码扫描器（7），所述一体式定量采样加试剂装置（12）上设有用于唯一标识被测试剂的二维码，所述二维码扫描器（7）与一体式定量采样加试剂装置（12）上二维码位置相对应。

3.根据权利要求1或2所述的一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置，其特征在于：所述光信号接收检测装置包括光电转换器D1和检测接收电路板（6），所述发射光源（4）和光电转换器D1之间设有透镜通道（5），所述发射光源（4）的光线依次经一体式定量采样加试剂装置（12）中的试剂、透镜通道（5）传至光电转换器D1的输入端，所述光电转换器D1的输出端接对应检测接收电路板（6）的输入端。

4.根据权利要求1或2所述的一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置，其特征在于：所述驱动装置包括混匀电机（2）；所述混匀电机（2）的输出轴（3）固定连接所述托架（3-2），所述混匀电机（2）的输出轴（3）方向与发射光源（4）的光线方向一致；所述托架（3-2）位于发射光源（4）和相对应的光信号接收检测装置之间。

5.根据权利要求3所述的一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置，其特征在于：所述检测接收电路板（6）为可调增益光强信号接收放大电路。

6.根据权利要求5所述的一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置，其特征在于：所述可调增益光强信号接收放大电路包括运算放大芯片IC1、数字电位器芯片IC2、反馈电阻R1~R2、电容C1~C6；所述光电转换器D1接在运算放大芯片IC1的2脚和地之间；所述电阻R1和电容C3并联后接在运算放大芯片IC1的2脚和数字电位器芯片IC2的6脚之间；所述电容C1和C2并联后接在运算放大芯片IC1的4脚和地之间；所述运算放大芯片IC1的6脚和7脚分别对应接数字电位器芯片IC2的7脚和电源VDD；所述电容C4和C5并联后接在运算放大芯片IC1的7脚和地之间；所述电容C6并联在数字电位器芯片IC2的8脚与地之间，所述数字电位器芯片IC2的8脚接电源VCC；所述数字电位器芯片IC2的5脚经电阻R2接地；所述数字电位器芯片IC2的1、2、3脚分别接MCU控制脚；所述运算放大芯片IC1的型号为OTA121，所述数字电位器芯片IC2的型号为MCT41050。

7.根据权利要求1或2所述的一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置，其特征在于：其还包括用于确定托架（3-2）摆动到位的磁体（13），所述磁体（13）安装于托架（3-2）上，用于识别磁体（13）位置的各个磁感应器安装于摆动到位处，所述摆动到位处为沿托架（3-2）摆动的圆弧轨迹上对应的每个发射光源（4）处。

8.根据权利要求7所述的一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置，其特征在于：用于识别所述磁体（13）位置的磁感应器为霍尔传感器。

9.根据权利要求1或2所述的一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置，其特征在于：所述托架（3-2）为侧面设有竖直开口（11）的管状腔体，所述管状腔体上设有贯通腔体的透光孔（8）；所述透光孔（8）的位置与发射光源（4）相对应。

10.根据权利要求2所述的一体式定量采样加试剂装置检测仪中的多光路试剂检测装置，其特征在于：所述二维码扫描器（7）的扫描镜头前设置有透镜（1）。