CN104570421B - 一种显示面板及显示装置 - Google Patents
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Abstract
本发明描述了一种显示面板及包括该面板的显示装置，所述显示面板包括：显示区和围绕显示区设置的非显示区；设置在所述非显示区内的裂纹检测电路，所述裂纹检测电路包括裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路；所述裂纹检测电路辅电路包括沿第一方向延伸的第一端线，和一端与所述第一端线电连接且沿第二方向延伸的多条互相平行的第一支线；所述裂纹检测电路主电路包括沿第一方向延伸的第二端线，和一端与所述第二端线电连接且沿第二方向延伸的多条互相平行的第二支线；其中，所述第一支线分别与所述第二支线一一对应设置。本发明公开的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路可以对裂纹延伸程度进行精确的测量，提高了产品品质。
Description
技术领域
本发明涉及显示领域，特别是涉及一种显示面板及包括该显示面板的显示装置。
背景技术
相关技术中液晶显示面板主要包括相对设置的彩色滤光基板和阵列基板及封装在两基板间的液晶。液晶显示面板的制作过程中，先在两个大张玻璃基板上分别制作有源器件和彩色滤光膜及其它器件等，在其中一基板上滴入液晶，再将两个大张玻璃基板进行对位封装，形成具有多个液晶显示面板单元的母板，然后对母板进行切割，形成多个液晶显示面板。
在上述制造过程中，在切割玻璃基板、液晶面板的测试、组装成模块和运输中会产生裂纹或导致既有的裂纹加深，导致液晶显示面板的周边电路有断路的风险，进而导致模块组装到最终的显示装置上后有显示异常的风险，而有潜在风险的液晶面板若无法在组装完最终显示装置前无法挑出，会造成一定材料、人力等的浪费。为了解决此问题，通常会在液晶显示面板周边预定切割位置附近设置一金属走线，通过测量所述金属走线的电阻等手段判断裂纹是否存在，但因为切割有一定误差，导致裂纹检测电路不能距液晶面板切割边太近，故不能较精确的判定裂纹深度等，会导致实际有问题的液晶显示面板通过测试，并当做正常显示面板进行使用，影响产品品质。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：显示区和围绕显示区设置的非显示区；设置在所述非显示区内的裂纹检测电路，所述裂纹检测电路包括裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路；所述裂纹检测电路辅电路包括沿第一方向延伸的第一端线，和一端与所述第一端线电连接且沿第二方向延伸的多条互相平行的第一支线；所述裂纹检测电路主电路包括沿第一方向延伸的第二端线，和一端与所述第二端线电连接且沿第二方向延伸的的多条互相平行的第二支线；其中，所述第一支线分别与所述第二支线一一对应设置。
本发明实施例还包括一种显示装置，包括上述的显示面板。
与相关技术相比，本发明具有如下突出的优点之一：
本发明公开的实施例中，设置在所述显示面板所述非显示区内的裂纹检测电路可以对裂纹延伸程度进行精确的测量，使得有风险的显示面板无法通过测试，进入下一流通环节，提高了产品品质。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为相关技术提供的液晶显示面板的阵列基板的平面结构示意图；
图2为相关技术中液晶显示面板切割位置局部放大后的结构示意图；
图3为相关技术中液晶显示面板另一种切割位置局部放大后的结构示意图；
图4为本发明实施例一提供的设置有裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路的显示面板平面结构示意图；
图5为本发明实施例一提供的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路的局部放大后的平面结构示意图；
图6为本发明实施例二提供的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路的局部放大后的平面结构示意图；
图7为本发明实施例三提供的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路的局部放大后的平面结构示意图；
图8为本发明实施例四提供的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路的局部放大后的平面结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面将结合附图和实施例对本发明做进一步说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
应该理解，当元件被称作“在”另一元件“上”时，该元件可以直接在另一元件上，或者可以在它们之间存在中间元件。相反，当元件被称作“直接在”另一元件“上”时，不存在中间元件。
应该理解的是，虽然术语第一、第二、第三等可以在这里用来描述不同的元件、组件、区域、层和/或部分，但是这些元件、组件、区域、层和/或部分不应该受这些术语限制。这些术语仅是用来将一个元件、组件、区域、层或部分与另一元件、组件、区域、层或部分区分开。因此，在不脱离本发明的教导的情况下，下面讨论的第一元件、组件、区域、层或部分可以被称为第二元件、组件、区域、层或部分。
这里使用的术语仅为了描述具体的实施例的目的，而不意图限制本发明。如这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式。还将理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，说明存在所述特征、区域、整体、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除存在或附加一个或多个其它特征、区域、整体、步骤、操作、元件、组件和/ 或它们的组。
请参考图1，图1为相关技术提供的液晶显示面板的阵列基板的面结构示意图。如图1所示，液晶显示面板包括阵列基板110及与所述阵列基板110相对设置的对置基板(图中未示出)及封装在两基板间的液晶(图中未示出)。液晶显示面板的制作过程中，先在两个大张玻璃基板上分别制作有源器件和彩色滤光膜及其它器件等，在其中一基板上滴入液晶，再将两个大张玻璃基板进行对位封装，形成具有多个液晶显示面板单元的母板，然后对母板进行切割，形成多个液晶显示面板。
在上述制造过程中，在切割时、玻璃搬运、面板测试或组装背光等，玻璃基板产生的裂纹会导致液晶显示面板的周边电路断路，影响液晶显示面板的正常工作，而有裂纹存在的面板不能提前检出会造成后继材料的浪费。为了解决此问题，通常会在液晶显示面板周边非显示区112预定切割位置设置一金属走线113，通过测量所述金属走线113的电阻等手段判断切割误差，其具体结构的局部放大图请参考图2和图3。
请参考图2，图2为相关技术中液晶显示面板切割位置局部放大后的结构示意图。如图2所示，所述金属走线113设置在距离所述预定切割位置117距离为M处，所述M即预定的切割误差范围。当实际切割位置116位于预定的切割误差范围内，即位于所述金属走线113与所述预定切割位置117之间时，玻璃基板由于切割产生的裂纹118、119，较长的裂纹118延伸至所述金属走线113，切断了所述金属走线113，导致所述金属走线113电阻变大，但裂纹119却不能检测出，而119在后继的工序中又延伸到显示面板周边走线，导致所述液晶显示面板成为不能正常工作的显示面板，造成报废和相应后续材料的浪费。
请参考图3，图3为相关技术中液晶显示面板另一种切割位置局部放大后的结构示意图。如图3所示，所述金属走线113设置在距离所述预定切割位置117距离为M处，所述M即预定的切割误差范围。当实际切割位置131位于预定的切割误差范围外，即位于所述金属走线113与所述显示区(图中未示出)之间时，金属走线113会被切断，导致所述金属走线113电阻变大，而裂纹就无法检测，该金属走线丧失了检测功能。
综合上述情况，可看出此方法并不能精确判断实际切割位置及切割时裂纹的延伸程度，会导致实际有问题的液晶显示面板通过测试，并当做正常显示面板进行使用，影响产品品质，或是将能正常工作的液晶显示面板当做不能正常工作的显示面板，造成后续工序材料的浪费。
实施例一
为解决上述问题，本发明实施例一提供了一种显示面板，图4为本发明实施例一提供的设置有裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路的显示面板平面结构示意图。如图4所示，本发明实施例一提供的显示面板140包括：显示区141和围绕所述显示区141设置的非显示区142；设置在所述非显示区142内的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路；所述裂纹检测电路辅电路包括沿第一方向延伸的第一端线143，和一端与所述第一端线电连接且沿第二方向延伸的多条互相平行的第一支线144；所述裂纹检测电路主电路包括沿第一方向延伸的第二端线146，和一端与所述第二端线电连接且沿第二方向延伸的的多条互相平行的第二支线148；其中，所述第一支线144分别与所述第二支线148一一对应设置。所述裂纹检测电路主电路还包括分别与多条所述第一支线144另一端电连接的多个第一导电片145，所述裂纹检测电路辅电路还包括分别与多条所述第二支线148另一端电连接的多个第二导电片147。
需要说明的是，所述显示面板140包括相对设置的第一基板(图中未示出)和第二基板(图中未示出)，例如液晶显示面板包括相对设置的阵列基板和彩膜基板，有机发光显示面板包括相对设置的发光元件基板和封装基板，本实施例并未对此作出限制。其中，所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路可以设置在同一基板上；或所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路分别设置在两基板上；或所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路为组合设置，同时设置在所述第一基板及所述第二基板上，且所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路可以设置在同一基板的同一表面上或不同表面上，也可以设置在两基板相对表面上或相背离的表面上，本实施例并未对所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路的具体位置作出限定，可以根据实际需要进行调整，只要保证两电路中的多条支线是一一对应的即可。
需要进一步说明的是，所述裂纹检测电路主电路中的所述第一端线143、所述第一支线144和所述第一导电片145可以同层设置，也可以不同层设置，当所述第一端线143、所述第一支线144和所述第一导电片145位于不同层时，可以通过两者之间的过孔电连接。同理，所述裂纹检测电路辅电路中的所述第二端线146、所述第二支线148和所述第二导电片147可以同层设置，也可以不同层设置，当所述第二端线146、所述第二支线148和所述第二导电片147位于不同层时，可以通过两者之间的过孔电连接。当然所述裂纹检测电路主电路中的所述第一端线143、所述第一支线144、所述第一导电片145和所述裂纹检测电路辅电路中的所述第二端线146、所述第二支线148、所述第二导电片147可以全部同层设置，进一步可以与所述显示面板中的导电层同层设置，节省了工艺步骤，也可以部分或全部不同层设置，可以根据实际需要进行调整。
需要说明的是，上述第一方向和第二方向是互相垂直的，即所述第一端线或所述第二端线是沿水平方向延伸时，所述第一支线或所述第二支线是沿垂直方向延伸的，反之亦然。本实施例中，以所述第一端线和所述第二端线均沿水平方向延伸，所述第一支线和所述第二支线均沿垂直方向延伸为例。其中，所述第一支线和所述第二支线均沿垂直方向延伸，但可以设置至少一处弯折，以避开面板周边电路，其弯折数量及弯折方向可以根据实际进行设计，本实施例并未对此进行限制。
请参考图5，图5为本发明实施例一提供的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路的局部放大后的平面结构示意图，即图4中裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路部分149的放大图。如图5所示，所述裂纹检测电路辅电路包括沿第一方向延伸的第一端线153，和一端与所述第一端线电连接且沿第二方向延伸的多条互相平行的第一支线1541、1542、1543、1544；所述裂纹检测电路主电路包括沿第一方向延伸的第二端线151，和一端与所述第二端线电连接且沿第二方向延伸的的多条互相平行的第二支线1521、1522、1523、1524；其中，所述第一支线1541、1542、1543、1544分别与所述第二支线1521、1522、1523、1524一一对应设置。
在切割母板玻璃时，假设实际切割位置155位于裂纹检测电路辅电路的a区域内，则未切断裂纹检测电路辅电路中的任意一条第一支线1541、1542、1543、1544，则测量任意两第一支线1541、1542、1543、1544间的电阻，均小于预设电阻Rx，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置155产生的裂纹位于A区域内，则未切断裂纹检测电路主电路中的任意一条第二支线1521、1522、1523、1524，则测量任意两第二支线1521、1522、1523、1524间的电阻，均小于预设电阻Ry，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置155位于裂纹检测电路辅电路的b区域内，则切断裂纹检测电路辅电路中的b区域内的第一端线153和第一支线1541，则测量第一支线1541和第一支线1544间的电阻时，电阻值无穷大，第一支线1542和第一支线1544间的电阻、第一支线1543和第一支线1544间的电阻均小于预设电阻Rx，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置155产生的裂纹位于B区域内，则切断裂纹检测电路主电路中的B区域内的第二端线151和第二支线1521，则测量第二支线1521和第二支线1524间的电阻时，电阻值无穷大，第二支线1522和第二支线1524间的电阻、第二支线1523和第二支线1524间的电阻均小于预设电阻Ry，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置155位于裂纹检测电路辅电路的c区域内，则切断裂纹检测电路辅电路中的c区域内的第一端线153和第一支线1542，则测量第一支线1541和1544间的电阻、第一支线1542和第一支线1544间的电阻，电阻值均为无穷大，第一支线1543和第一支线1544间的电阻小于预设电阻Rx，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置155产生的裂纹位于C区域内，则切断裂纹检测电路主电路中的C区域内的第二端线151和第二支线1521、1522，则测量第二支线1521和第二支线1524间的电阻时、第二支线1522和第二支线1524间的电阻，电阻值均为无穷大，第二支线1523和第二支线1524间的电阻小于预设电阻Ry，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置155位于裂纹检测电路辅电路的d区域内，则切断裂纹检测电路辅电路中的d区域内的第一端线153和第一支线1543，则测量第一支线1541和1544间的电阻、第一支线1542和第一支线1544间的电阻、第一支线1543和第一支线1544间的电阻，电阻值均为无穷大。假设实际切割位置155产生的裂纹位于D区域内，则切断裂纹检测电路主电路中的D区域内的第二端线151和第二支线1521、1522、1523，则测量第二支线1521和第二支线1524间的电阻时、第二支线1522和第二支线1524间的电阻、第二支线1523和第二支线1524间的电阻，电阻值均为无穷大。
综上所述，本发明实施例一中不同切割位置对应所述裂纹检测电路辅电路的阻值请参见下表:
本发明实施例一中不同裂纹位置对应所述裂纹检测电路主电路的阻值请参见下表:
| 裂纹位置 | 1521和1524间电阻 | 1522和1524间电阻 | 1523和1524间电阻 |
| A区域 | ＜Ry | ＜Ry | ＜Ry |
| B区域 | 无穷大 | ＜Ry | ＜Ry |
| C区域 | 无穷大 | 无穷大 | ＜Ry |
| D区域 | 无穷大 | 无穷大 | 无穷大 |
本发明实施例一中结合裂纹检测电路辅电路测试判定切割位置，根据上述裂纹检测电路主电路的阻值不同即可判定裂纹位置，具体判定结果请参见下表:
本发明公开的实施例一中，设置在所述显示面板所述非显示区内的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路可以对裂纹延伸程度分别进行精确的测量，使得有裂纹风险的显示面板无法通过测试，进入下一流通环节，提高了产品品质，同时避免误判所述液晶显示面板为不能正常工作的显示面板，造成返工修复或报废的浪费。
实施例二
本发明实施例二提供了一种显示面板，本发明实施例二提供的显示面板包括：显示区和围绕所述显示区设置的非显示区；设置在所述非显示区内的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路；所述裂纹检测电路辅电路包括沿第一方向延伸的第一端线，和一端与所述第一端线电连接且沿第二方向延伸的多条互相平行的第一支线；所述裂纹检测电路主电路包括沿第一方向延伸的第二端线，和一端与所述第二端线电连接且沿第二方向延伸的的多条互相平行的第二支线；其中，所述第一支线分别与所述第二支线一一对应设置。所述裂纹检测电路辅电路还包括分别与多条所述第一支线另一端电连接的多个第一导电片，所述裂纹检测电路主电路还包括分别与多条所述第二支线另一端电连接的多个第二导电片，其中，所述裂纹检测电路主电路还包括至少一条第二引线，所述第二引线沿第一方向延伸，且至少与两条所述第二支线电连接。本实施例中，以三条所述第二支线的另一端均与一条所述第二引线电连接为例。
需要说明的是，所述显示面板包括相对设置的第一基板和第二基板，例如液晶显示面板包括相对设置的阵列基板和彩膜基板，有机发光显示面板包括相对设置的发光元件基板和封装基板，本实施例并未对此作出限制。其中，所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路可以设置在同一基板上；或所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路分别设置在两基板上；或所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路为组合设置，同时设置在所述第一基板及所述第二基板上，且所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路可以设置在同一基板的同一表面上或不同表面上，也可以设置在两基板相对表面上或相背离的表上，本实施例并未对所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路的具体位置作出限定，可以根据实际需要进行调整，只要保证两电路中的多条支线是一一对应的即可。
需要进一步说明的是，所述裂纹检测电路辅电路中的所述第一端线、所述第一支线和所述第一导电片可以同层设置，也可以不同层设置，当所述第一端线、所述第一支线和所述第一导电片位于不同层时，可以通过两者之间的过孔电连接。同理，所述裂纹检测电路主电路中的所述第二端线、所述第二支线、所述第二导电片和所述第二引线可以同层设置，也可以不同层设置，当所述第二端线、所述第二支线、所述第二导电片和所述第二引线位于不同层时，可以通过两者之间的过孔电连接。当然所述裂纹检测电路辅电路中的所述第一端线、所述第一支线、所述第一导电片和所述裂纹检测电路主电路中的所述第二端线、所述第二支线、所述第二导电片、所述第二引线可以全部同层设置，进一步可以与所述显示面板中的导电层同层设置，节省了工艺步骤，也可以部分或全部不同层设置，可以根据实际需要进行调整。
需要说明的是，上述第一方向和第二方向是互相垂直的，即所述第一端线或所述第二端线是沿水平方向延伸时，所述第一支线或所述第二支线是沿垂直方向延伸的，反之亦然。本实施例中，以所述第一端线和所述第二端线均沿水平方向延伸，所述第一支线和所述第二支线均沿垂直方向延伸为例。其中，所述第一支线和所述第二支线均沿垂直方向延伸，但可以设置至少一处弯折，以避开面板周边电路，其弯折数量及弯折方向可以根据实际进行设计，本实施例并未对此进行限制。
请参考图6，图6为本发明实施例二提供的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路的局部放大后的平面结构示意图。如图6所示，所述裂纹检测电路辅电路包括沿第一方向延伸的第一端线163，和一端与所述第一端线电连接且沿第二方向延伸的多条互相平行的第一支线1641、1642、1643、1644；所述裂纹检测电路主电路包括沿第一方向延伸的第二端线161，和一端与所述第二端线电连接且沿第二方向延伸的的多条互相平行的第二支线1621、1622、1623、1624；其中，所述第一支线1641、1642、1643、1644分别与所述第二支线1621、1622、1623、1624一一对应设置，其中，所述第二支线1621、1622、1623的另一端均与一条所述第二引线166电连接。
在切割母板玻璃时，假设实际切割位置165位于裂纹检测电路辅电路的a区域内，则未切断裂纹检测电路辅电路中的任意一条第一支线1641、1642、1643、1644，则测量任意两第一支线1641、1642、1643、1644间的电阻，均小于预设电阻Rx，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置165产生的裂纹位于A区域内，则未切断裂纹检测电路主电路中的任意一条第二支线1621、1622、1623、1624，则测量第二引线166和第二支线1624间的电阻，小于预设电阻Ry，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置165位于裂纹检测电路辅电路的b区域内，则切断裂纹检测电路辅电路中的b区域内的第一端线163和第一支线1641，则测量第一支线1641和第一支线1644间的电阻时，电阻值无穷大，第一支线1642和第一支线1644间的电阻、第一支线1643和第一支线1644间的电阻均小于预设电阻Rx，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置165产生的裂纹位于B区域内，则切断裂纹检测电路主电路中的B区域内的第二端线161和第二支线1621，但其它第二支线1622、1623、1624未断开，测量第二引线166和第二支线1624间的电阻，小于预设电阻Ry1。假设实际切割位置165位于裂纹检测电路辅电路的c区域内，则切断裂纹检测电路辅电路中的c区域内的第一端线163和第一支线1642，则测量第一支线1641和第一支线1644间的电阻、第一支线1642和第一支线1644间的电阻，电阻值均为无穷大，第一支线1643和第一支线1644间的电阻小于预设电阻Rx，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置165产生的裂纹位于C区域内，则切断裂纹检测电路主电路中的C区域内的第二端线161和第二支线1621、1622，但其它第二支线1623、1624未断开，测量第二引线166和第二支线1624间的电阻，小于预设电阻Ry2。假设实际切割位置165位于裂纹检测电路辅电路的d区域内，则切断裂纹检测电路辅电路中的d区域内的第一端线163和第一支线1643，则测量第一支线1641和第一支线1644间的电阻、第一支线1642和第一支线1644间的电阻、第一支线1643和第一支线1644间的电阻，电阻值均为无穷大。假设实际切割位置165产生的裂纹位于D区域内，则切断裂纹检测电路主电路中的D区域内的第二端线161和第二支线1621、1622、1623，则测量第二引线166和第二支线1624间的电阻，电阻值为无穷大。
综上所述，本发明实施例二中不同切割位置对应所述裂纹检测电路辅电路的阻值请参见下表:
| 切割位置 | 1641和1644间电阻 | 1642和1644间电阻 | 1643和1644间电阻 |
| a区域 | ＜Rx | ＜Rx | ＜Rx |
| b区域 | 无穷大 | ＜Rx | ＜Rx |
| c区域 | 无穷大 | 无穷大 | ＜Rx |
| d区域 | 无穷大 | 无穷大 | 无穷大 |
本发明实施例二中不同裂纹位置对应所述裂纹检测电路主电路的阻值请参见下表:
| 裂纹位置 | 166和1624间电阻 |
| A区域 | ＜Ry |
| B区域 | ＜Ry1 |
| C区域 | ＜Ry2 |
| D区域 | 无穷大 |
本发明实施例二中结合裂纹检测电路辅电路测试判定切割位置，根据上述裂纹检测电路主电路的阻值不同即可判定裂纹位置，具体判定结果请参见下表:
本发明公开的实施例二中，设置在所述显示面板所述非显示区内的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路可以对裂纹延伸程度进行精确的测量，且在实施例一的基础上，简化了裂纹检测电路主电路，使得有问题的显示面板无法通过测试，进入下一流通环节，提高了产品品质，同时避免误判所述液晶显示面板为不能正常工作的显示面板，造成返工修复或报废的浪费。
实施例三
本发明实施例三提供了一种显示面板，本发明实施例三提供的显示面板包括：显示区和围绕所述显示区设置的非显示区；设置在所述非显示区内的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路；所述裂纹检测电路辅电路包括沿第一方向延伸的第一端线，和一端与所述第一端线电连接且沿第二方向延伸的多条互相平行的第一支线；所述裂纹检测电路主电路包括沿第一方向延伸的第二端线，和一端与所述第二端线电连接且沿第二方向延伸的的多条互相平行的第二支线；其中，所述第一支线分别与所述第二支线一一对应设置。所述裂纹检测电路辅电路还包括分别与多条所述第一支线另一端电连接的多个第一导电片，其中，所述裂纹检测电路辅电路还包括至少一条第一引线，所述第一引线沿第一方向延伸，且至少与两条所述第一支线电连接。本实施例中，以三条所述第一支线的另一端均与一条所述第一引线电连接为例。所述裂纹检测电路主电路还包括分别与多条所述第二支线另一端电连接的多个第二导电片。
需要说明的是，所述显示面板包括相对设置的第一基板和第二基板，例如液晶显示面板包括相对设置的阵列基板和彩膜基板，有机发光显示面板包括相对设置的发光元件基板和封装基板，本实施例并未对此作出限制。其中，所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路可以设置在同一基板上；或所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路分别设置在两基板上；或所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路为组合设置，同时设置在所述第一基板及所述第二基板上，且所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路可以设置在同一基板的同一表面上或不同表面上，也可以设置在两基板相对表面上或相背离的表上，本实施例并未对所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路的具体位置作出限定，可以根据实际需要进行调整，只要保证两电路中的多条支线是一一对应的即可。
需要进一步说明的是，所述裂纹检测电路辅电路中的所述第一端线、所述第一支线、所述第一导电片和所述第一引线可以同层设置，也可以不同层设置，当所述第一端线、所述第一支线、所述第一导电片和所述第一引线位于不同层时，可以通过两者之间的过孔电连接。同理，所述裂纹检测电路主电路中的所述第二端线、所述第二支线和所述第二导电片可以同层设置，也可以不同层设置，当所述第二端线、所述第二支线和所述第二导电片位于不同层时，可以通过两者之间的过孔电连接。当然所述裂纹检测电路辅电路中的所述第一端线、所述第一支线、所述第一导电片、所述第一引线和所述裂纹检测电路主电路中的所述第二端线、所述第二支线、所述第二导电片可以全部同层设置，进一步可以与所述显示面板中的导电层同层设置，节省了工艺步骤，也可以部分或全部不同层设置，可以根据实际需要进行调整。
需要说明的是，上述第一方向和第二方向是互相垂直的，即所述第一端线或所述第二端线是沿水平方向延伸时，所述第一支线或所述第二支线是沿垂直方向延伸的，反之亦然。本实施例中，以所述第一端线和所述第二端线均沿水平方向延伸，所述第一支线和所述第二支线均沿垂直方向延伸为例。其中，所述第一支线和所述第二支线均沿垂直方向延伸，但可以设置至少一处弯折，以避开面板周边电路，其弯折数量及弯折方向可以根据实际进行设计，本实施例并未对此进行限制。
请参考图7，图7为本发明实施例三提供的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路的局部放大后的平面结构示意图。如图7所示，所述裂纹检测电路辅电路包括沿第一方向延伸的第一端线173，和一端与所述第一端线电连接且沿第二方向延伸的多条互相平行的第一支线1741、1742、1743、1744，其中，所述第一支线1741、1742、1743的另一端均与一条所述第一引线176电连接；所述裂纹检测电路主电路包括沿第一方向延伸的第二端线171，和一端与所述第二端线电连接且沿第二方向延伸的的多条互相平行的第二支线1721、1722、1723、1724；其中，所述第一支线1741、1742、1743、1744分别与所述第二支线1721、1722、1723、1724一一对应设置。
在切割母板玻璃时，假设实际切割位置175位于裂纹检测电路辅电路的a区域内，则未切断裂纹检测电路辅电路中的任意一条第一支线1741、1742、1743、1744，则测量第一引线176和第一支线1744间的电阻，小于预设电阻Rx。假设实际切割位置175产生的裂纹位于A区域内，则未切断裂纹检测电路主电路中的任意一条第二支线1721、1722、1723、1724，则测量任意两第二支线1721、1722、1723、1724间的电阻，小于预设电阻Ry，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置175位于裂纹检测电路辅电路的b区域内，则切断裂纹检测电路辅电路中的b区域内的第一端线173和第一支线1741，但其它第一支线1742、1743、1744未断开，则测量第一引线176和第一支线1744间的电阻时，电阻值小于预设电阻Rx1。假设实际切割位置175产生的裂纹位于B区域内，则切断裂纹检测电路主电路中的B区域内的第二端线171和第二支线1721，则测量第二支线1721和第二支线1724间的电阻时，电阻值无穷大，第二支线1722和第二支线1724间的电阻、第二支线1723和第二支线1724间的电阻均小于预设电阻Ry，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置175位于裂纹检测电路辅电路的c区域内，则切断裂纹检测电路辅电路中的c区域内的第一端线173和第一支线1742，但其它第一支线1743、1744未断开，则测量第一引线176和第一支线1744间的电阻时，电阻值小于预设电阻Rx2。假设实际切割位置175产生的裂纹位于C区域内，则切断裂纹检测电路主电路中的C区域内的第二端线171和第二支线1721、1722，则测量第二支线1721和第二支线1724间的电阻、第二支线1722和第二支线1724间的电阻时，电阻值无穷大，第二支线1723和1724间的电阻小于预设电阻Ry，不会出现无穷大的电阻。假设实际切割位置175位于裂纹检测电路辅电路的d区域内，则切断裂纹检测电路辅电路中的d区域内的第一端线173和第一支线1743，则测量第一引线176和第一支线1744间的电阻时，电阻值为无穷大。假设实际切割位置175产生的裂纹位于D区域内，则切断裂纹检测电路主电路中的D区域内的第二端线171和第二支线1721、1722、1723，则测量第二支线1721和第二支线1724间的电阻、第二支线1722和第二支线1724间的电阻、第二支线1723和第二支线1724间的电阻，电阻值均为无穷大。
综上所述，本发明实施例三中不同切割位置对应所述裂纹检测电路辅电路的阻值请参见下表:
| 切割位置 | 176和1744间电阻 |
| a区域 | ＜Rx |
| b区域 | ＜Rx |
| c区域 | ＜Rx |
| d区域 | 无穷大 |
本发明实施例三中不同裂纹位置对应所述裂纹检测电路主电路的阻值请参见下表:
| 裂纹位置 | 1721和1724间电阻 | 1722和1724间电阻 | 1723和1724间电阻 |
| A区域 | ＜Ry | ＜Ry | ＜Ry |
| B区域 | 无穷大 | ＜Ry | ＜Ry |
| C区域 | 无穷大 | 无穷大 | ＜Ry |
| D区域 | 无穷大 | 无穷大 | 无穷大 |
本发明实施例三中结合裂纹检测电路辅电路测试判定切割位置，根据上述裂纹检测电路主电路的阻值不同即可判定裂纹位置，具体判定结果请参见下表:
本发明公开的实施例三中，设置在所述显示面板所述非显示区内的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路可以对裂纹延伸程度进行精确的测量，且在实施例一的基础上，简化了裂纹检测电路辅电路，使得有问题的显示面板无法通过测试，进入下一流通环节，提高了产品品质，同时避免误判所述液晶显示面板为不能正常工作的显示面板，造成返工修复或报废的浪费。
实施例四
本发明实施例四提供了一种显示面板，本发明实施例四提供的显示面板包括：显示区和围绕所述显示区设置的非显示区；设置在所述非显示区内的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路；所述裂纹检测电路辅电路包括沿第一方向延伸的第一端线，和一端与所述第一端线电连接且沿第二方向延伸的多条互相平行的第一支线；所述裂纹检测电路主电路包括沿第一方向延伸的第二端线，和一端与所述第二端线电连接且沿第二方向延伸的的多条互相平行的第二支线；其中，所述第一支线分别与所述第二支线一一对应设置。所述裂纹检测电路辅电路还包括分别与多条所述第一支线另一端电连接的多个第一导电片，其中，所述裂纹检测电路辅电路还包括至少一条第一引线，所述第一引线沿第一方向延伸，且至少与两条所述第一支线电连接。本实施例中，以三条所述第一支线的另一端均与一条所述第一引线电连接为例。所述裂纹检测电路主电路还包括分别与多条所述第二支线另一端电连接的多个第二导电片，其中，所述裂纹检测电路主电路还包括至少一条第二引线，所述第二引线沿第一方向延伸，且至少与两条所述第二支线电连接，以三条所述第二支线的另一端均与一条所述第二引线电连接为例。
需要说明的是，所述显示面板包括相对设置的第一基板和第二基板，例如液晶显示面板包括相对设置的阵列基板和彩膜基板，有机发光显示面板包括相对设置的发光元件基板和封装基板，本实施例并未对此作出限制。其中，所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路可以设置在同一基板上；或所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路分别设置在两基板上；或所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路为组合设置，同时设置在所述第一基板及所述第二基板上，且所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路可以设置在同一基板的同一表面上或不同表面上，也可以设置在两基板相对表面上或相背离的表上，本实施例并未对所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路的具体位置作出限定，可以根据实际需要进行调整，只要保证两电路中的多条支线是一一对应的即可。
需要进一步说明的是，所述裂纹检测电路辅电路中的所述第一端线、所述第一支线、所述第一导电片和所述第一引线可以同层设置，也可以不同层设置，当所述第一端线、所述第一支线、所述第一导电片和所述第一引线位于不同层时，可以通过两者之间的过孔电连接。同理，所述裂纹检测电路主电路中的所述第二端线、所述第二支线、所述第二导电片和所述第二引线可以同层设置，也可以不同层设置，当所述第二端线、所述第二支线、所述第二导电片和所述第二引线位于不同层时，可以通过两者之间的过孔电连接。当然所述裂纹检测电路辅电路中的所述第一端线、所述第一支线、所述第一导电片、所述第一引线和所述裂纹检测电路主电路中的所述第二端线、所述第二支线、所述第二导电片、所述第二引线可以全部同层设置，进一步可以与所述显示面板中的导电层同层设置，节省了工艺步骤，也可以部分或全部不同层设置，可以根据实际需要进行调整。
需要说明的是，上述第一方向和第二方向是互相垂直的，即所述第一端线或所述第二端线是沿水平方向延伸时，所述第一支线或所述第二支线是沿垂直方向延伸的，反之亦然。本实施例中，以所述第一端线和所述第二端线均沿水平方向延伸，所述第一支线和所述第二支线均沿垂直方向延伸为例。其中，所述第一支线和所述第二支线均沿垂直方向延伸，但可以设置至少一处弯折，以避开面板周边电路，其弯折数量及弯折方向可以根据实际进行设计，本实施例并未对此进行限制。
请参考图8，图8为本发明实施例四提供的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路的局部放大后的平面结构示意图。如图8所示，所述裂纹检测电路辅电路包括沿第一方向延伸的第一端线183，和一端与所述第一端线电连接且沿第二方向延伸的多条互相平行的第一支线1841、1842、1843、1844，其中，所述第一支线1841、1842、1843的另一端均与一条所述第一引线186电连接；所述裂纹检测电路主电路包括沿第一方向延伸的第二端线181，和一端与所述第二端线电连接且沿第二方向延伸的的多条互相平行的第二支线1821、1822、1823、1824，所述第二支线1821、1822、1823的另一端均与一条所述第二引线187电连接；其中，所述第一支线1841、1842、1843、1844分别与所述第二支线1821、1822、1823、1824一一对应设置。
在切割母板玻璃时，假设实际切割位置185位于裂纹检测电路辅电路的a区域内，则未切断裂纹检测电路辅电路中的任意一条第一支线1841、1842、1843、1844，则测量第一引线186和第一支线1844间的电阻，小于预设电阻Rx。假设实际切割位置185产生的裂纹位于A区域内，则未切断裂纹检测电路主电路中的任意一条第二支线1821、1822、1823、1824，则测量第二引线187和第二支线1824间的电阻，小于预设电阻Ry。假设实际切割位置185位于裂纹检测电路辅电路的b区域内，则切断裂纹检测电路辅电路中的b区域内的第一端线183和第一支线1841，但其它第一支线1842、1843、1844未断开，则测量第一引线186和第一支线1844间的电阻时，电阻值小于预设电阻Rx1。假设实际切割位置185产生的裂纹位于B区域内，则切断裂纹检测电路主电路中的B区域内的第二端线181和第二支线1821，但其它第二支线1822、1823、1824未断开，测量第二引线187和第二支线1824间的电阻，小于预设电阻Ry1。假设实际切割位置185位于裂纹检测电路辅电路的c区域内，则切断裂纹检测电路辅电路中的c区域内的第一端线183和第一支线1842，但其它第一支线1843、1844未断开，则测量第一引线186和第一支线1844间的电阻时，电阻值小于预设电阻Rx2。假设实际切割位置185产生的裂纹位于C区域内，则切断裂纹检测电路主电路中的C区域内的第二端线181和第二支线1821、1822，但其它第二支线1823、1824未断开，测量第二引线187和第二支线1824间的电阻，小于预设电阻Ry2。假设实际切割位置185位于裂纹检测电路辅电路的d区域内，则切断裂纹检测电路辅电路中的d区域内的第一端线183和第一支线1843，则测量第一引线186和第一支线1844间的电阻时，电阻值为无穷大。假设实际切割位置185产生的裂纹位于D区域内，则切断裂纹检测电路主电路中的D区域内的第二端线181和第二支线1821、1822、1823，则测量第二引线187和第二支线1824间的电阻，电阻值为无穷大。
综上所述，本发明实施例四中不同切割位置对应所述裂纹检测电路辅电路的阻值请参见下表:
本发明实施例四中不同裂纹位置对应所述裂纹检测电路主电路的阻值请参见下表:
| 裂纹位置 | 187和1824间电阻 |
| A区域 | ＜Ry |
| B区域 | ＜Ry1 |
| C区域 | ＜Ry2 |
| D区域 | 无穷大 |
本发明实施例二中结合裂纹检测电路辅电路测试判定切割位置，根据上述裂纹检测电路主电路的阻值不同即可判定裂纹位置，具体判定结果请参见下表:
本发明公开的实施例四中，设置在所述显示面板所述非显示区内的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路可以对裂纹延伸程度进行精确的测量，且在实施例一的基础上，简化了裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路，使得有问题的显示面板无法通过测试，进入下一流通环节，提高了产品品质，同时避免误判所述液晶显示面板为不能正常工作的显示面板，造成返工修复或报废的浪费。
实施例五
本发明实施例五还提供了一种显示装置，包括上述任一实施例描述的显示面板，还包括柔性线路板，所述柔性线路板与所述裂纹检测电路辅电路及所述裂纹检测电路主电路电连接。本发明实施例五提供的显示装置设置在所述显示面板所述非显示区内的裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路可以对实际裂纹延伸程度分别进行精确的测量，且在上述实施例的基础上，节省了一部分显示面板非显示区的面积，有利于实现窄边框，且在显示面板外部即可测量裂纹延伸程度，可以和其它电学测试同时测量，节省测量步骤，使得有问题的显示面板无法通过测试，进入下一流通环节，提高了产品品质，同时避免误判所述液晶显示面板为不能正常工作的显示面板，造成返工修复或报废的浪费。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
Claims (14)
1.一种显示面板，包括：
显示区和围绕显示区设置的非显示区；
设置在所述非显示区内的裂纹检测电路，所述裂纹检测电路包括裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路；
所述裂纹检测电路辅电路包括沿第一方向延伸的第一端线，和一端与所述第一端线电连接且沿第二方向延伸的多条互相平行的第一支线；
所述裂纹检测电路主电路包括沿第一方向延伸的第二端线，和一端与所述第二端线电连接且沿第二方向延伸的的多条互相平行的第二支线；
其中，所述第一支线分别与所述第二支线一一对应设置。
2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述裂纹检测电路辅电路还包括分别与多条所述第一支线另一端电连接的多个第一导电片，所述裂纹检测电路主电路还包括分别与多条所述第二支线另一端电连接的多个第二导电片。
3.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括相对设置的第一基板和第二基板，所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路设置在同一基板上；或所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路分别设置在两基板上；或所述裂纹检测电路辅电路和所述裂纹检测电路主电路为组合设置，同时设置在所述第一基板及所述第二基板上。
4.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述裂纹检测电路辅电路还包括至少一条第一引线，所述第一引线沿第一方向延伸，且至少与两条所述第一支线电连接。
5.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，三条所述第一支线的另一端均与一条所述第一引线电连接。
6.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述裂纹检测电路主电路还包括至少一条第二引线，所述第二引线沿第一方向延伸，且至少与两条所述第二支线电连接。
7.如权利要求6所述的显示面板，其特征在于，三条所述第二支线的另一端均与一条所述第二引线电连接。
8.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一方向和所述第二方向互相垂直。
9.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一端线、所述第一支线、所述第二端线及所述第二支线同层设置。
10.如权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第一端线、所述第一支线、所述第一引线、所述第二端线、所述第二支线与所述第二引线同层设置。
11.如权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第一端线、所述第一支线、所述第一引线、所述第二端线、所述第二支线、所述第二引线与所述显示面板中的导电层同层设置。
12.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，至少一条所述第一支线和/或至少一条所述第二支线包括至少一处弯折。
13.一种显示装置，其特征在于，包括显示面板，所述显示面板包括：
显示区和围绕显示区设置的非显示区；
设置在所述非显示区内的裂纹检测电路，所述裂纹检测电路包括裂纹检测电路辅电路和裂纹检测电路主电路；
所述裂纹检测电路辅电路包括沿第一方向延伸的第一端线，和与所述第一端线电连接且沿第二方向延伸的多条第一支线；
所述裂纹检测电路主电路包括沿第一方向延伸的第二端线，和与所述第二端线电连接且沿第二方向延伸的的多条第二支线；
其中，每条所述第一支线分别与每条所述第二支线一一对应。
14.如权利要求13所述的显示装置，其特征在于，还包括柔性线路板，所述柔性线路板与所述裂纹检测电路辅电路及所述裂纹检测电路主电路电连接。
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Citations (5)
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|---|---|---|---|---|
| JP2005069945A (ja) * | 2003-08-26 | 2005-03-17 | Seiko Epson Corp | 半導体装置の検査方法 |
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| CN102269886A (zh) * | 2010-06-02 | 2011-12-07 | 株式会社日立显示器 | 显示装置 |
| CN203259741U (zh) * | 2013-03-28 | 2013-10-30 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种检测线路结构、显示面板以及显示装置 |
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Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005069945A (ja) * | 2003-08-26 | 2005-03-17 | Seiko Epson Corp | 半導体装置の検査方法 |
| CN101652705A (zh) * | 2007-04-25 | 2010-02-17 | 夏普株式会社 | 液晶显示面板及其检查方法 |
| CN102269886A (zh) * | 2010-06-02 | 2011-12-07 | 株式会社日立显示器 | 显示装置 |
| CN203259741U (zh) * | 2013-03-28 | 2013-10-30 | 北京京东方光电科技有限公司 | 一种检测线路结构、显示面板以及显示装置 |
| CN203324610U (zh) * | 2013-07-25 | 2013-12-04 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示装置 |
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