[go: up one dir, main page]

CN103678082A - 具有自诊断功能的电子设备和使用该设备的自诊断方法 - Google Patents

具有自诊断功能的电子设备和使用该设备的自诊断方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103678082A
CN103678082A CN201310399873.XA CN201310399873A CN103678082A CN 103678082 A CN103678082 A CN 103678082A CN 201310399873 A CN201310399873 A CN 201310399873A CN 103678082 A CN103678082 A CN 103678082A
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
hardware
diagnosed
diagnosis
electronic equipment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201310399873.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN103678082B (zh
Inventor
崔容勋
金贤浩
李尚垠
崔周铉
金垠映
金智源
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of CN103678082A publication Critical patent/CN103678082A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103678082B publication Critical patent/CN103678082B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/24Marginal checking or other specified testing methods not covered by G06F11/26, e.g. race tests
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • G05B23/0205Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
    • G05B23/0218Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
    • G05B23/0256Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults injecting test signals and analyzing monitored process response, e.g. injecting the test signal while interrupting the normal operation of the monitored system; superimposing the test signal onto a control signal during normal operation of the monitored system
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test buses, lines or interfaces, e.g. stuck-at or open line faults
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/27Built-in tests
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G5/00Control arrangements or circuits for visual indicators common to cathode-ray tube indicators and other visual indicators
    • G09G5/003Details of a display terminal, the details relating to the control arrangement of the display terminal and to the interfaces thereto
    • G09G5/006Details of the interface to the display terminal
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/06Adjustment of display parameters
    • G09G2320/0693Calibration of display systems
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

本发明提供一种具有自诊断功能的电子设备和使用该电子设备的自诊断方法。该电子设备包括:接口,其接收针对被诊断的对象的硬件的用户的选择信号;以及控制器,其根据通过该接口接收的选择信号向连接到被诊断的对象的硬件的多条线路提供用于诊断的信号,并且根据所述用于诊断的信号与通过环回操作从被诊断的对象的硬件返回的返回信号的比较结果计算针对该诊断对象的硬件的诊断结果。

Description

具有自诊断功能的电子设备和使用该设备的自诊断方法
相关申请的交叉引用
本申请要求2012年9月5日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2012-0098397号的优先权,其公开内容通过引用合并于此。
技术领域
与示例性实施例一致的装置和方法涉及电子设备,并且更具体来说涉及具有自诊断功能的电子设备和使用该电子设备的自诊断方法。
背景技术
在制造过程中,对电子设备的组件性能的检查或者对用于向电子设备发送信号/从电子设备接收信号的信号线的检查,通过观看连接到外部设备的屏幕来执行。
例如,对高清晰度多媒体接口(HDMI)的端口的检查通过几个外部设备或分配器以及HDMI电缆来执行。
因此,由于检查是顺次执行的,所以检查每个端口需要花费很长时间,而且消费者自己不能检查端口。因此,需要一种允许电子设备容易地执行自诊断操作的系统。
发明内容
因此,一个或多个示例性实施例可以提供具有自诊断功能的电子设备和使用该电子设备的自诊断方法,其执行自诊断操作,而无需将外部设备插入电子设备或者无需外部输入设备。
一个或多个示例性实施例可以提供具有自诊断功能的电子设备和使用该电子设备的自诊断方法,其缩短了用于电子设备的制造的检查时间。
一个或多个示例性实施例可以提供具有自诊断功能的电子设备和使用该电子设备的自诊断方法,其帮助消费者独自方便地检查电子设备。
一个或多个示例性实施例可以提供具有自诊断功能的电子设备和使用该电子设备的自诊断方法,其使用环回(loop-back)操作执行自诊断方法。
前述事项与/和其他的方面可以通过提供一种电子设备来实现,该电子设备包括:接口,其被配置为接收针对被诊断的对象的硬件的用户的选择信号;以及控制器,其被配置为根据通过所述接口接收的该选择信号向连接到被诊断的对象的硬件的多条线路提供用于诊断的信号,并且根据所述用于诊断的信号与通过环回操作从被诊断的对象的硬件返回的返回信号的比较结果计算针对被诊断的对象的硬件的诊断结果。
根据另一个示例性实施例的一方面,该用于诊断的信号可以具有被提供给所述线路的DC(直流)电压或频率。
根据另一个示例性实施例的一方面,该用于诊断的信号对于所述多条线路中的每条线可以具有不同的值。
根据另一个示例性实施例的一方面,关于所述线路的诊断可以不是顺次的,而是同时的。
根据另一个示例性实施例的一方面,控制器可以将该诊断结果显示在屏上显示(OSD)上。
根据另一个示例性实施例的一方面,被诊断的对象的硬件可以是连接器,该连接器具有连接到外部设备的端口并且该连接器可以通过施加电流的插座形成环回。
根据另一个示例性实施例的一方面,该连接器可以是通用串行总线(USB)接口或HDMI的连接器。
根据另一个示例性实施例的一方面,该电子设备还可以包括存储器,其具有针对被诊断的对象的硬件的诊断周期的信息。
根据另一个示例性实施例的一方面,该诊断周期可以由用户确定或者被预先设置。
前述事项与/和其他的方面可以通过提供一种用于电子设备的自诊断方法来实现,该方法包括:显示用于自诊断操作的指令屏幕;从用户接收针对被诊断的对象的硬件的选择信号;向连接到被诊断的对象的硬件的多条线路提供用于诊断的信号;通过环回操作从被诊断的对象的硬件接收返回信号;将该返回信号与所述用于诊断的信号相比较;根据比较结果计算针对被诊断的对象的硬件的诊断结果;并且显示该诊断结果。
附图说明
上述和/或其它的方面将从下面结合附图对示例性实施例的描述中变得清楚和更容易理解,在附图中:
图1图示根据示例性实施例的具有自诊断功能的电子设备。
图2图示根据示例性实施例的用于针对HDMI的自诊断运行的配置。
图3图示根据其它示例性实施例的用于针对USB接口的自诊断运行的配置。
图4图示根据另一个示例性实施例的用于针对视频电路的自诊断运行的配置。
图5图示电子设备的自诊断方法的流程图。
图6图示用于自诊断的指令屏幕。
图7图示用于自诊断的结果屏幕。
图8图示用于设置自诊断的周期的配置屏幕。
具体实施方式
以下,“电子设备”是指具有多个组件的电子产品。将参考附图来详细描述示例性实施例,以使其容易被本领域普通技术人员实现。示例性实施例可以以各种形式实施,而不限于这里阐述的示例性实施例。为了清楚,省略对公知部分的描述,并且相同的参考标号始终指代相同的元素。
图1图示根据示例性实施例的具有自诊断功能的电子设备。图1示出接口100和控制器200,接口100接收关于将要被诊断的硬件300的用户的选择信号,控制器200根据通过接口100接收的选择信号向连接到被诊断的对象的硬件300的多条线路提供用于诊断的信号,并且根据通过借助环回操作将用于诊断的信号与从被诊断的对象的硬件300返回的返回信号相比较而获得的比较结果来计算诊断结果。被诊断的对象的硬件的诊断结果可以被表示为连接到被诊断的对象的硬件的至少一条线路是否被切断或未连接,或者被表示为不同或相邻通道是否相互短路。
即使在图1中未图示,显示器也可以被添加到根据示例性实施例的电子设备,以便从控制器200接收控制信号并且显示诊断结果。诊断结果可以以用户可识别的方式来显示。例如,该诊断结果可以通过显示器被显示为具有7段形状或可变形式的文本。诊断结果也可以被表达为声音输出,包括,错误声音,等等。因此,显示器是优选的,但不是必不可少的组件。
图2图示根据示例性实施例的用于使用HDMI的自诊断操作的电子设备。如图2所示,控制器210可以包括诊断信号发生器211和接收与判断单元212。由于控制器210是半导体芯片,所以诊断信号发生器211和接收与判断单元212可以不是硬件组件,而可以被实现为逻辑算法。从诊断信号发生器211发送的信号被发送到HDMI310,通过施加电流的插座(cap)410而形成环回。该控制器210通过形成用于检查相邻组件之间的短路或未连接的几个或多个环路来检查被诊断的对象的硬件。另外,该控制器210可以根据相邻的组件准许不同的信号来检查相邻组件之间的短路或未连接。接收与判断单元212接收返回信号并且将接收到的返回信号与从诊断信号发生器211生成的信号相比较,并且根据比较结果来判断HDMI310的异常。通过环回操作,该控制器210能够不顺次地而是同时地检查全部端口。
图3图示根据另一个示例性实施例的用于使用USB接口的自诊断的电子设备。根据图3中图示的示例性实施例,检查多个端口(端口1、端口2、端口3和端口4)当中的第一端口225。这些端口被形成在运行控制功能的USB集线器(hub)208处。从诊断信号发生器222生成的信号在通过路由逻辑和端口控制器224传递之后被传送到端口225。这个信号可以是1字节,并且被保存在存储器221中。该信号通过端口225的D+端子输出并且通过施加电流的插座320被输入到端口225的D-端子。施加电流的插座320可以形成环回电路。数字逻辑单元223通过将通过D-端子接收并且通过路由逻辑和端口控制器224传递的信号与保存在存储器221中的信号相比较,来判断端口225的异常。
图4图示根据另一个示例性实施例的用于视频电路的自诊断的电子设备。如图4所示,通常在运行控制功能的视频主板230和视频输出板330之间通过100Ω的电阻器来使用阻抗匹配。控制器210可以通过应用内部DC(直流)电源使用用于阻抗匹配的电阻器,而不使用外部设备,来执行自诊断。也就是,控制器210的主板230通过主板230的Even1+输出DC电源,并且通过辨别通过用于视频输出板330的阻抗匹配的100Ω的电阻器的环回而返回的主板230的Even1-端子处的电压来确定短路或未连接。
另一方面,该控制器210可以通过向Even2+端子和Even3+端子输出不同的电压来辨别每条线路以及不同或相邻通道之间的短路。然后,可以根据每个通道使用不同的频率。换句话说,该控制器210可以通过向每条线路发送不同的DC电压或不同的频率来检查每条线路的未连接以及相邻通道之间的短路。
图5图示电子设备的自诊断方法的流程图。首先,当用户输入用于运行自诊断功能的操纵时,该输入被通过接口100传送到控制器200。例如,使用诸如电视(TV)或监视器的显示装置的用户可以使用在该显示装置或遥控器中提供的菜单按钮选择用于自诊断的功能(操作S301)。
该控制器200可以在显示装置上,例如,利用图6中所示的屏上显示(OSD),来显示用于自诊断操作的指导屏幕。即,控制器200可以显示执行自诊断操作功能的硬件的列表。例如,连接器将外部装置连接到显示装置。在显示装置上,连接器可以被显示为用于来自外部组件的信号的分量端子、音频/视频输入和输出端子、高清晰度多媒体接口(HDMI)端子、用于将自己的信号转换成外部装置的信号的通用串行总线(USB)端子、用于连接因特网的以太网端子(操作S302)。
当用户通过OSD中的指导屏幕选择被诊断的对象的硬件时,控制器200接收到关于被诊断的对象的硬件的选择信号。用户的选择可以通过各种方法执行。例如,用户的选择可以通过遥控器来执行,或者在显示装置具有触屏的情况下通过触板来执行。如果根据示例性实施例的用于自诊断的电子设备是计算机,那么用户的选择可以通过鼠标或键盘来执行(操作S303)。
用户的选择信号被通过接口100传送到控制器200。控制器200向连接到被诊断的对象的硬件的多条线路提供用于诊断的信号。用于诊断信号可以是具有DC电压或频率的信号,并且可以以每个不同的值被同时传送到多条线路(操作S304)。
在下一个操作中,控制器200通过环回操作从被诊断的对象的硬件接收返回信号(操作S305),并且将接收到返回信号与所提供的用于诊断的信号相比较(操作S306)。
根据比较结果,控制器200计算关于被诊断的对象的硬件的诊断结果(操作S307),并且输出如图7中所示的诊断结果。因此,如果连接器有问题,则可以向用户提供说明应当如何修理连接器的指导(操作S308)。
如图8所示,用户可以设置诊断的周期。例如,用户可以设置诊断的周期,以便当向被诊断的对象的硬件施加主电源时每月一次地自动诊断该被诊断的对象的硬件。视情况根据使用的次数设置诊断的周期。然后,诊断周期的信息可以被保存在存储器中。
尽管已经示出和描述了几个示例性实施例,但本领域技术人员将会理解,可以对这些示例性实施例做出改变而不会偏离这些示例性实施例的原理和精神。这些示例性实施例的范围在权利要求及其等效物中限定。

Claims (15)

1.一种具有自诊断功能的电子设备,该电子设备包括:
接口,其被配置为接收针对被诊断的对象的硬件的用户的选择信号;以及
控制器,其被配置为根据所述选择信号向连接到被诊断的对象的硬件的多条线路提供用于诊断的信号,并且根据所述用于诊断的信号与通过环回操作从被诊断的对象的硬件返回的返回信号的比较结果计算针对被诊断的对象的硬件的诊断结果。
2.根据权利要求1所述的电子设备,其中,所述用于诊断的信号具有DC电压,所述DC电压被提供给所述多条线路。
3.根据权利要求1所述的电子设备,其中,所述用于诊断的信号具有频率,所述频率被提供给所述多条线路。
4.根据权利要求2所述的电子设备,其中,所述用于诊断的信号对于所述多条线路中的每条线路具有不同的值。
5.根据权利要求1所述的电子设备,其中,所述控制器在屏上显示(OSD)上显示被诊断的对象的硬件列表。
6.根据权利要求1所述的电子设备,其中,所述控制器向所述线路同时提供所述用于诊断的信号。
7.根据权利要求1所述的电子设备,还包括存储器,其被配置为存储被诊断的对象的硬件的诊断周期的信息。
8.根据权利要求7所述的电子设备,其中,所述诊断周期由用户确定。
9.根据权利要求7所述的电子设备,其中,所述诊断周期被预先设置。
10.根据权利要求1所述的电子设备,其中,所述被诊断的对象的硬件是连接器,所述连接器具有连接到外部设备的端口并且通过施加电流的插座形成环回。
11.一种用于电子设备的自诊断方法,该方法包括:
在屏幕上显示用于自诊断的指令;
从用户接收针对被诊断的对象的硬件的选择信号;
向连接到被诊断的对象的硬件的多条线路中的至少一条提供用于诊断的信号;
通过环回操作从被诊断的对象的硬件接收返回信号;
将所述返回信号与所述用于诊断的信号相比较;
根据比较的结果计算针对被诊断的对象的硬件的诊断结果;并且
显示所述诊断结果。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,所述多条线路中的至少一条接收DC电压。
13.根据权利要求11所述的方法,其中,所述多条线路中的至少一条接收具有不同频率的信号。
14.根据权利要求11所述的方法,其中,所述诊断结果显示在屏上显示(OSD)上。
15.根据权利要求11所述的方法,还包括保存所述用于诊断的信号。
CN201310399873.XA 2012-09-05 2013-09-05 具有自诊断功能的电子设备和使用该设备的自诊断方法 Active CN103678082B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2012-0098397 2012-09-05
KR1020120098397A KR101953117B1 (ko) 2012-09-05 2012-09-05 자가 진단 기능을 갖는 전자 장치 및 전자 장치의 자가 진단 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103678082A true CN103678082A (zh) 2014-03-26
CN103678082B CN103678082B (zh) 2017-10-03

Family

ID=48699610

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310399873.XA Active CN103678082B (zh) 2012-09-05 2013-09-05 具有自诊断功能的电子设备和使用该设备的自诊断方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10037256B2 (zh)
EP (1) EP2706526B1 (zh)
KR (1) KR101953117B1 (zh)
CN (1) CN103678082B (zh)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20160321125A1 (en) * 2015-04-30 2016-11-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Self-diagnosis device and device including the same
EP3104242A1 (de) * 2015-06-12 2016-12-14 Siemens Aktiengesellschaft Leitsystem und verfahren zur evaluierung der kommunikation in einem technischen prozess
KR102544864B1 (ko) 2016-01-15 2023-06-19 삼성전자 주식회사 하드웨어의 진단 결과에 기초한 프로세스 수행 방법 및 이를 구현하는 전자 장치
KR20180024616A (ko) * 2016-08-30 2018-03-08 삼성전자주식회사 디스플레이 장치 및 디스플레이 장치의 캘리브레이션 수행 방법
KR20180067108A (ko) * 2016-12-12 2018-06-20 삼성전자주식회사 외부 전자 장치의 상태를 ui에 나타내는 디스플레이 장치 및 디스플레이 장치의 제어 방법
KR102696902B1 (ko) * 2019-09-06 2024-08-20 삼성전자주식회사 연결 인터페이스의 연결 상태를 검출하기 위한 전자 장치 및 방법
CN110907857B (zh) * 2019-12-10 2022-05-13 上海国微思尔芯技术股份有限公司 一种基于fpga的连接器自动检测方法
US11966288B2 (en) 2021-02-10 2024-04-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Electronic apparatus performing self-test using self-test application and control method thereof
CN113806152B (zh) * 2021-09-14 2024-04-19 合肥联宝信息技术有限公司 一种故障诊断卡及设备

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1466370A (zh) * 2002-06-07 2004-01-07 ���ǵ�����ʽ���� 传真设备自诊断方法和用于执行此方法的传真设备
US20060176943A1 (en) * 2005-02-04 2006-08-10 Agere Systems, Inc. Serializer deserializer (SERDES) testing
CN102112914A (zh) * 2008-08-06 2011-06-29 夏普株式会社 液晶显示装置的试验方法和液晶显示装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100381422B1 (ko) * 2001-02-20 2003-04-26 삼성전자주식회사 컴퓨터시스템 및 osd 표시방법
US6629169B2 (en) * 2001-03-14 2003-09-30 Winband Electronics Corp. Apparatus and method for testing of USB device
KR100402348B1 (en) 2003-07-02 2003-10-22 Bong Taek Kim Automatic train protection stop device for controlling railroad using data communication
KR100565068B1 (ko) * 2004-05-04 2006-03-30 삼성전자주식회사 범용 직렬 버스를 이용한 자가 진단 방법 및 장치
US7346819B2 (en) * 2004-10-29 2008-03-18 Rambus Inc. Through-core self-test with multiple loopbacks
KR101003351B1 (ko) 2005-05-06 2010-12-23 삼성전자주식회사 디지털 바이오 디스크 및 디지털 바이오 디스크 드라이버장치 및 방법
JP4940446B2 (ja) 2005-06-28 2012-05-30 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド バイオドライブ装置およびそれを用いた分析方法
KR101201498B1 (ko) * 2005-10-04 2012-11-14 삼성전자주식회사 메뉴 가이드 방법 및 이를 수행하는 영상처리장치
US20070104111A1 (en) * 2005-11-04 2007-05-10 Intel Corporation Internal analog loopback for a high-speed interface test
US20070121711A1 (en) * 2005-11-30 2007-05-31 Offord Glen E PLL with programmable jitter for loopback serdes testing and the like
KR100794685B1 (ko) 2006-06-23 2008-01-14 이성균 로깅 터미널 모니터링 시스템
US20080126001A1 (en) * 2006-09-01 2008-05-29 Murray David W Equipment testing system and method having scaleable test line limits
US20080239082A1 (en) * 2007-03-29 2008-10-02 Analogix Semiconductor, Inc. HDMI format video pattern and audio frequencies generator for field test and built-in self test
US7742427B2 (en) * 2008-02-26 2010-06-22 Avago Technologies Enterprise IP (Singapore) Pte. Ltd. Internal loop-back architecture for parallel serializer/deserializer (SERDES)
US8593852B2 (en) 2009-07-23 2013-11-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Test device and test method for resistive random access memory and resistive random access memory device
KR20110052205A (ko) * 2009-11-12 2011-05-18 삼성전자주식회사 외부 루프백 테스트 기능을 갖는 전송 전용 집적회로 칩 및 그에 따른 외부 루프백 테스트 방법
JP2011226917A (ja) * 2010-04-20 2011-11-10 Mitsubishi Electric Corp 自己診断装置、自己診断方法及び自己診断機能を備えた電子機器
US8694276B2 (en) * 2011-01-20 2014-04-08 Texas Instruments Incorporated Built-in self-test methods, circuits and apparatus for concurrent test of RF modules with a dynamically configurable test structure

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1466370A (zh) * 2002-06-07 2004-01-07 ���ǵ�����ʽ���� 传真设备自诊断方法和用于执行此方法的传真设备
US20060176943A1 (en) * 2005-02-04 2006-08-10 Agere Systems, Inc. Serializer deserializer (SERDES) testing
CN102112914A (zh) * 2008-08-06 2011-06-29 夏普株式会社 液晶显示装置的试验方法和液晶显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
US10037256B2 (en) 2018-07-31
KR101953117B1 (ko) 2019-05-22
EP2706526B1 (en) 2021-08-25
US20140068332A1 (en) 2014-03-06
KR20140031723A (ko) 2014-03-13
EP2706526A1 (en) 2014-03-12
CN103678082B (zh) 2017-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103678082B (zh) 具有自诊断功能的电子设备和使用该设备的自诊断方法
TWI476416B (zh) 用於電子裝置之排線連結之偵測裝置、系統與方法
US9279844B2 (en) Cable detection in a pin constrained connector
TW201721450A (zh) 通用序列匯流排轉換電路與相關方法
CN105324975B (zh) 用于媒体内容流送设备设置的方法、系统和计算机可读介质
US20180131142A1 (en) Smart media cable
US20170293584A1 (en) Cascaded hdmi connectors
WO2010016251A1 (ja) 映像処理装置
JP6464127B2 (ja) ビデオウォールを迅速に取り付けるためのビデオアダプタ及びその方法
JP6823729B2 (ja) 映像機器および接続判定方法
KR20100135419A (ko) 디스플레이 장치 및 그 디스플레이 방법
EP3373147A1 (en) A universal platform for testing of a plurality of electronic devices and a method therefor
JP2014192767A (ja) 表示制御装置、テレビジョン受像機
CN104469449B (zh) 家电设备及其功能扩展方法
US12155258B2 (en) Method for controlling power supplies
TW201729581A (zh) 時序控制晶片無畫面檢測系統及其方法
CN104243968A (zh) 测试装置及高清晰数字多媒体接口功能测试方法
WO2019052977A1 (en) TECHNIQUE FOR TESTING AN ELECTRONIC DEVICE
JP2014202699A (ja) ケーブル検査システム、ケーブル検査装置、情報処理装置、ケーブル検査方法、及びケーブル検査プログラム
JP5762125B2 (ja) スイッチャー
WO2020150912A1 (zh) 电子积木
CN113655405A (zh) 飞行器电缆网芯点导通检测装置及方法
TWI453605B (zh) 資料傳輸選擇電路及方法
JP6509004B2 (ja) 映像信号切替装置
US9655272B2 (en) Connecting circuit for server back panel

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
EXSB Decision made by sipo to initiate substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant