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CN103678055A - Pcie总线设备存储空间性能测试方法 - Google Patents

Pcie总线设备存储空间性能测试方法 Download PDF

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Publication number
CN103678055A
CN103678055A CN201210339764.4A CN201210339764A CN103678055A CN 103678055 A CN103678055 A CN 103678055A CN 201210339764 A CN201210339764 A CN 201210339764A CN 103678055 A CN103678055 A CN 103678055A
Authority
CN
China
Prior art keywords
data
storage space
pcie bus
bus apparatus
buffer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201210339764.4A
Other languages
English (en)
Inventor
吴伟林
王亮
黄耀
姜维
陈春梅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chengdu Linhai Electronics Co Ltd
Original Assignee
Chengdu Linhai Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chengdu Linhai Electronics Co Ltd filed Critical Chengdu Linhai Electronics Co Ltd
Priority to CN201210339764.4A priority Critical patent/CN103678055A/zh
Publication of CN103678055A publication Critical patent/CN103678055A/zh
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

本发明公开了一种PCIE总线设备存储空间性能测试方法，该方法包括步骤：获取PCIE总线设备存储空间容量；根据PCIE总线设备存储空间容量，分配与PCIE总线设备存储空间容量一致的读数据缓冲区和写数据缓冲区；使用递增数据填充写数据缓冲区；将写数据缓冲区填充的数据写入PCIE总线设备存储空间；将PCIE总线设备存储空间写入的数据读取到读数据缓冲区；检查读数据缓冲区的数据与写数据缓冲区的数据是否相同，如果读数据缓冲区和写数据缓冲区中对应位置的对应数据相同，则PCIE总线设备存储空间正常工作，否则PCIE总线设备存储空间不能正常工作。本发明方法可覆盖存储空间的所有地址，高效地验证设备存储空间的正确性。

Description

PCIE总线设备存储空间性能测试方法
技术领域
本发明涉及卫星移动通信系统技术领域，特别涉及一种PCIE总线设备存储空间性能测试方法。
背景技术
PCI Express是新一代的总线接口。PCI-E的接口根据总线位宽不同而有所差异，包括X1、X4、X8以及X16，而X2模式将用于内部接口而非插槽模式。PCI-E规格从1条通道连接到32条通道连接，有非常强的伸缩性，以满足不同系统设备对数据传输带宽的不同需求。此外，较短的PCI-E卡可以插入较长的PCI-E插槽中使用，PCI-E接口还能够支持热拔插。PCI-E X1的250MB/秒传输速度可以满足主流声效芯片、网卡芯片和存储设备对数据传输带宽的需求，而位宽为X16的PCI-E接口能够提供5GB/s的带宽，取代了AGP接口应用。 
PCI-E技术规格允许实现X1（250MB/秒），X2，X4，X8，X12，X16和X32通道规格，目前PCI-E X1和PCI-E X16已成为PCI-E主流规格，同时很多芯片组厂商在南桥芯片当中添加对PCI-E X1的支持，在北桥芯片当中添加对PCI-E X16的支持。除去提供极高数据传输带宽之外，PCI-E因为采用串行数据包方式传递数据，所以PCI-E接口每个针脚可以获得比传统I/O标准更多的带宽，可以降低PCI-E设备生产成本和体积。另外，PCI-E也支持高阶电源管理，支持热插拔，支持数据同步传输，为优先传输数据进行带宽优化，故PCIE总线得到广泛应用。
由于PCIE总线的广泛应用，PCIE总线设备日益增多。存储空间能否正常工作影响了PCIE总线设备能否正常工作，故存储空间是衡量PCIE总线性能的重要内容之一，因此有效的PCIE总线设备存储空间测试方法是非常必要的。目前通常使用的测试PCIE总线设备存储空间的方法是，通过向存储空间指定地址写入单个数据，然后读出存储空间的数据，检查读出的数据与写入的数据是否相同，如果相同，则PCIE总线设备存储空间工作正常，否则异常。通过此种方法验证PCIE总线设备存储空间的工作状态正确性，其缺点是，只能检查测试所指定地址的存储空间正常与否，不能检查整个PCIE总线设备存储空间的正确性。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种PCIE总线设备存储空间测试方法，用于测试PCIE总线设备的存储空间能否正常工作。
为了实现上述发明目的，本发明提供了以下技术方案：
一种PCIE总线设备存储空间性能测试方法，包括以下步骤：
步骤1：获取PCIE总线设备存储空间容量；
步骤2：根据PCIE总线设备存储空间容量，分配与PCIE总线设备存储空间容量一致的读数据缓冲区和写数据缓冲区；
步骤3：向写数据缓冲区填充数据；
步骤4：将写数据缓冲区填充的数据写入PCIE总线设备存储空间；
步骤5：将PCIE总线设备存储空间写入的数据读取到读数据缓冲区；
步骤6：检查读数据缓冲区的数据与写数据缓冲区的数据是否相同，如果读数据缓冲区和写数据缓冲区中对应位置的对应数据相同，则PCIE总线设备存储空间正常工作，否则PCIE总线设备存储空间不能正常工作。
与现有技术相比，本发明的有益效果：采用本发明方法对PCIE总线设备的存储空间进行测试，可以覆盖到PCIE总线设备的存储空间的所有地址，从而可以全面、准确、高效地验证PCIE总线设备的存储空间能否正常工作。
附图说明：
图1为PCIE总线设备存储空间测试方法的流程框图。
具体实施方式
下面结合试验例及具体实施方式对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。
参考图1，本发明PCIE总线设备存储空间性能测试方法，包括以下步骤：
S1：驱动模块获取PCIE总线设备的存储空间的容量；
S2：根据PCIE总线设备存储空间容量，驱动模块分配一个读数据缓冲区和一个写数据缓冲区，所述读数据缓冲区和写数据缓冲区的容量均与PCIE总线设备存储空间容量一致；
S3：向写数据缓冲区填充数据；所述数据可以是任意或随机的数据，也可以是递增或递减数据，本实施例中，选取公差为1的一系列递增数据填充写数据缓冲区；
S4：驱动模块将写数据缓冲区填充的数据写入PCIE总线设备存储空间；
S5：驱动模块将PCIE总线设备存储空间写入的数据读取到读数据缓冲区；
S6：检查读数据缓冲区的数据与写数据缓冲区的数据是否相同，如果读数据缓冲区和写数据缓冲区中的数据完全相同，所述数据完全相同的含义是对应位置的对应数据值相同，即数据值和位置均相同，则PCIE总线设备存储空间正常工作，否则PCIE总线设备存储空间不能正常工作。
采用本发明方法对PCIE总线设备的存储空间进行测试，可以覆盖到PCIE总线设备的存储空间的所有地址，从而可以准确、高效地验证PCIE总线设备的存储空间能否正常工作。在使用PCIE总线设备进行数据传输操作前，通过本发明方法，检测PCIE总线设备存储空间是否工作正常，若PCIE总线设备存储空间不能工作正常，则退出数据传输操作，从而避免因PCIE总线设备存储空间异常而引起数据传输操作失败。同时，检测PCIE总线设备存储空间是否工作正常过程中，获取PCIE总线设备存储空间的大小也有利于根据PCIE总线设备存储空间的大小确定写入数据块的大小，避免因写入PCIE总线设备存储空间的数据过大，而导致数据传输操作失败或错误。    

Claims (1)

1.一种PCIE总线设备存储空间性能测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
步骤1：获取PCIE总线设备存储空间容量；
步骤2：根据PCIE总线设备存储空间容量，分配与PCIE总线设备存储空间容量一致的读数据缓冲区和写数据缓冲区；
步骤3：向写数据缓冲区填充数据；
步骤4：将写数据缓冲区填充的数据写入PCIE总线设备存储空间；
步骤5：将PCIE总线设备存储空间写入的数据读取到读数据缓冲区；
步骤6：检查读数据缓冲区的数据与写数据缓冲区的数据是否相同，如果读数据缓冲区和写数据缓冲区中对应位置的对应数据相同，则PCIE总线设备存储空间正常工作，否则PCIE总线设备存储空间不能正常工作。
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