CN103632725B - 一种快闪存储器的擦除方法和装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种快闪存储器的擦除方法和装置，以解决现有技术增加擦除测试成本和擦除成功率越来越低的问题。所述方法包括：预先设定第一次擦除的擦除强度、最大擦除次数和擦除操作次数X；进行第一次擦除；统计所经历的擦除次数；根据擦除次数和最大擦除次数确定擦除次数比较参数，根据擦除次数比较参数确定下一次擦除的擦除强度和最大擦除次数；继续对快闪存储器进行擦除、统计擦除次数、确定擦除次数比较参数，以及确定下一次擦除的擦除强度和最大擦除次数的循环操作，直至全部存储单元擦除完毕或进行第X次擦除后为止。不通过测试操作确定固定的擦除电压和最大擦除时间，节省了擦除的成本；也考虑到快闪存储器的老化问题，提高了擦除成功率。

Description

一种快闪存储器的擦除方法和装置

技术领域

本申请涉及存储器技术领域，特别是涉及一种快闪存储器的擦除方法和装置。

背景技术

快闪存储器（flash EPROM）是电子可擦除可编程只读存储器(electricallyerasable programmable read-only memory,EEPROM)的一种形式。快闪存储器允许在操作中多次擦或写，并具有非易失性，即单指保存数据而言，它并不需要耗电。快闪存储器和传统的EEPROM不同在于它是以较大区块进行数据擦除，而传统的EEPROM只能进行擦除和重写单个存储位置。这就使得快闪存储器在写入大量数据时具有显著地优势。图1为快闪存储器的存储单元阵列示意图。

作为新型的EEPROM，快闪存储器在进行擦除操作时，不是以单个存储位置为单位，而必须是以一个区块为单位进行。一般来说都是设置某一区块中的所有位为“1”，初始时，区块内的所有位都可以写入，然而当有任何一位被设为“0”时，就只能通过清除整个区块来恢复“1”的状态。

快闪存储器的擦除次数也是有限的，从10000次到1百万次不等。尽管可以通过耗损平衡以及坏区管理等技术延长其使用寿命，但是这个限制也决定了快闪存储器不适用于大量数据读写循环的高可靠性数据存储应用。

受生产工艺的影响，快闪存储器中的存储单元的性能会出现较大范围的变化，这就导致同一批产品中的不同存储器，或者一个存储器在生命周期的不同阶段，擦除性能都出现较大变化，快闪存储器的擦除就会存在着较大的不稳定性。

目前，快闪存储器的擦除操作是通过设计少数几种调试位，根据各调试位不同的擦除电压和最大擦除次数，对快闪存储器进行擦除，最后统计分析出擦除效果最理想的调试位，以此调试位对同一批产品中的快闪存储器进行擦除。这种方法不仅增加了擦除测试的成本；同时也忽略了快闪存储器在使用过程中的老化问题，擦除成功率越来越低。

发明内容

本申请所要解决的技术问题是提供一种快闪存储器的擦除方法和装置，以解决现有技术增加擦除测试成本和擦除成功率越来越低的问题。

为了解决上述问题，本申请公开了一种快闪存储器的擦除方法，包括：

预先设定第一次擦除操作的擦除强度N₁和最大擦除次数M₁，以及，擦除操作次数X，X是正整数，X≥2；

按照擦除强度N₁对快闪存储器的存储区块进行第一次擦除操作；

统计所经历的擦除次数T₁；根据擦除次数T₁和最大擦除次数M₁确定擦除次数比较参数m₁，并且根据擦除次数比较参数m₁确定下一次擦除操作的擦除强度N₂和最大擦除次数M₂；

当X=2时，根据擦除强度N₂和最大擦除次数M₂对快闪存储器的存储区块进行擦除操作后，擦除结束；

当X＞2时，继续对快闪存储器的存储区块进行擦除、统计擦除次数、确定擦除次数比较参数，以及确定下一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数的循环操作，直至存储区块中的全部存储单元擦除完毕或进行第X次擦除操作后为止；

其中，N₁≤N₂，M₁≤M₂。

优选的，所述根据擦除次数比较参数m₁确定下一次擦除操作的擦除强度N₂，包括：

根据N₂=8-2m₁确定下一次擦除操作的擦除强度N₂。

优选的，所述根据擦除次数比较参数m₁确定下一次擦除操作的最大擦除次数M₂，包括：

根据M₂=2^12-2m1确定下一次擦除操作的最大擦除次数M₂。

优选的，当X=3时，根据N₃=8-m₂确定第三次擦除操作的擦除强度N₃；

其中，m₂是第二次擦除操作的擦除次数比较参数。

优选的，当X=3时，根据M₃=2^12-m2确定第三次擦除操作的最大擦除次数M₃。

本申请还公开了一种快闪存储器的擦除装置，包括：

擦除强度设定模块，用于预先设定第一次擦除操作的擦除强度N₁；

最大擦除次数设定模块，用于预先设定第一次擦除操作的最大擦除次数M₁；

擦除操作次数设定模块，用于预先设定擦除操作次数X，X是正整数，X≥2；

擦除操作模块，用于对快闪存储器的存储区块进行擦除操作；

擦除次数统计模块，用于统计第X次擦除操作之前的每次擦除操作所经历的擦除次数T；

擦除次数比较参数确定模块，用于根据第X次擦除操作之前的每次擦除操作所经历的擦除次数T和最大擦除次数M确定该次擦除操作的擦除次数比较参数m；

擦除强度和最大擦除次数确定模块，用于根据擦除次数比较参数m确定下一次擦除操作的擦除强度N’和最大擦除次数M’；

其中，N₁≤N’，M₁≤M’。

优选的，所述擦除强度和最大擦除次数确定模块，包括：

擦除强度确定子模块，用于根据N₂=8-2m₁确定第二次擦除操作的擦除强度N₂；

其中，m₁是第一次擦除操作的擦除次数比较参数。

优选的，所述擦除强度和最大擦除次数确定模块，还包括：

最大擦除次数确定子模块，用于根据M₂=2^12-m1确定第二次擦除操作的最大擦除次数M₂。

优选的，所述擦除强度确定子模块，还用于当X=3时，根据N₃=8-m₂确定第三次擦除操作的擦除强度N₃；

其中，m₂是第二次擦除操作的擦除次数比较参数。

优选的，所述最大擦除次数确定子模块，还用于当X=3时，根据M₃＝2^12-m2确定第三次擦除操作的最大擦除次数M₃。

与现有技术相比，本申请包括以下优点：

本申请提出了一种快闪存储器的擦除方法和装置，预先设定第一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数，以及，擦除操作的次数，根据每次擦除操作所经历的擦除次数和最大擦除次数确定该次操作的擦除次数比较参数，再根据擦除次数比较参数确定下一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数，动态调整擦除操作的擦除电压和最大擦除时间，不需要通过擦除测试操作确定固定的擦除电压和最大擦除时间，节省了擦除操作的成本；同时也考虑到快闪存储器的老化问题，提高了擦除成功率。

附图说明

图1是背景技术中快闪存储器的存储单元阵列示意图；

图2是本申请实施例一所述一种快闪存储器的擦除方法流程图；

图3是本申请实施例二所述一种快闪存储器的擦除方法流程图；

图4是本申请实施例二所述一种快闪存储器的擦除方法示意图；

图5是本申请实施例二所述一种快闪存储器的擦除方法示意图；

图6是本申请实施例三所述一种快闪存储器的擦除装置结构图；

图7是本申请实施例四所述一种快闪存储器的擦除装置结构图。

具体实施方式

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步详细的说明。

本申请提出了一种快闪存储器的擦除方法和装置，首先通过预设的较弱的擦除强度和较少的最大擦除次数对快闪存储器进行擦除操作，目的是检测快闪存储器的实际擦除性能；然后统计擦除操作所经历的擦除次数；根据所经历的擦除次数和最大擦除次数确定该次擦除操作的擦除次数比较参数；再根据擦除次数比较参数确定下一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数，如此循环下去，直至存储单元全部擦除完毕，或已经进行了预设的擦除操作的次数。

下面通过列举几个具体的实施例详细介绍本申请提出的一种快闪存储器的擦除方法和装置。

实施例一，详细介绍本申请提出的一种快闪存储器的擦除方法。

参照图2，示出了本申请实施例一所述一种快闪存储器的擦除方法流程图。

步骤11，预先设定第一次擦除操作的擦除强度N₁和最大擦除次数M₁，以及，擦除操作次数X，X是正整数，X≥2；

在对快闪存储器进行擦除操作之前，预先设定第一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数，以及，整个擦除操作的擦除操作次数。

例如，预先设定第一次擦除操作的擦除强度为电压13V，最大擦除次数为16次；以及，整个擦除过程进行3次擦除操作，分别为第一次擦除操作，第二次擦除操作和第三次擦除操作，每次擦除操作中包括各自的擦除电压和最大擦除次数。

并且，3次擦除操作的擦除强度可以逐渐增强，最大擦除次数也可以逐渐增强。

步骤12，按照擦除强度N₁对快闪存储器的存储区块进行第一次擦除操作；

按照步骤11中预先设定的第一次擦除操作的擦除强度对快闪存储器中需要进行擦除操作的存储区块进行第一次擦除操作。

步骤13，统计所经历的擦除次数T₁；根据擦除次数T₁和最大擦除次数M₁确定擦除次数比较参数m₁，并且根据擦除次数比较参数m₁确定下一次擦除操作的擦除强度N₂和最大擦除次数M₂；

通过步骤12对存储区块内的存储单元进行第一次擦除操作，统计所经历的擦除次数T₁，当擦除未成功时，擦除次数T₁=最大擦除次数M₁。

例如，在第一次擦除操作过程中，当进行到第2次擦除时，所有存储单元被擦除成功，则擦除次数T₁=2，根据则M₁/T₁=16/2=8，确定第一擦除次数比较参数m₁的取值。第一擦除次数比较参数m₁∈（1、2、3、4），当确定的M₁/T₁=8时，8大于（1、2、3、4）中的最大值4，则第一擦除次数比较参数m₁=4。若进行到第M₁次，仍存在未擦除成功的存储单元，则擦除次数T₁=M₁=16，则M₁/T₁=1，由于1∈（1、2、3、4），则第一擦除次数比较参数m₁=1。

根据第一擦除次数比较参数m₁确定下一次擦除操作的擦除强度N₂和最大擦除次数M₂。

步骤14，当X=2时，根据擦除强度N₂和最大擦除次数M₂对快闪存储器的存储区块进行擦除操作后，擦除结束；

当预先设定的擦除操作的次数X=2时，即预先设定对快闪存储器进行两次擦除，根据步骤13中确定得到的下一次擦除操作，也就是第二次擦除操作的擦除强度N₂和最大擦除次数M₂对存储区块进行第二次擦除操作。

当第二次擦除操作进行完毕后，对快闪存储器的擦除操作也相应结束。此时存储区块内的存储单元可能全部擦除成功，也可能只有部分存储区块擦除成功。如果存储区块内的存储单元未全部擦除成功，可以采用其他方法继续进行擦除，在本实施例一中不进行说明。

步骤15，当X＞2时，继续对快闪存储器的存储区块进行擦除、统计擦除次数、确定擦除次数比较参数，以及确定下一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数的循环操作，直至存储区块中的全部存储单元擦除完毕或进行第X次擦除操作后为止；

其中，N₁≤N₂，M₁≤M₂。

当预先设定的擦除操作的次数X＞2时，即预先设定对快闪存储器进行两次以上擦除，根据步骤13中确定的第二次擦除操作的擦除强度N₂和最大擦除次数M₂对存储区块进行第二次擦除操作后，统计所经历的擦除次数T₂，并且根据M₂/T₂的比值，确定第二擦除次数比较参数m₂，当M₂/T₂的比值在（1、2、3、4）内时，第二擦除次数比较参数m₂=M₂/T₂；当M₂/T₂＞4时，第二擦除次数比较参数m₂=4；当M₂/T₂的比值在（1、2、3、4）内任意两个数之间时，第二擦除次数比较参数m₂为较大的那个数，例如，M₂/T₂=2.5，2.5在2和3之间，则此时第二擦除次数比较参数m₂=3，根据第二擦除次数比较参数m₂确定下一次，即第三次擦除操作的擦除强度N₃和最大擦除次数M₃。

如果预先设定的擦除操作的次数X＞3，则根据确定的第三次擦除操作的擦除强度N₃和最大擦除次数M₃对存储区块继续进行第三次擦除操作，然后统计所经历的擦除次数T₃，并根据M₃/T₃的比值，确定第三擦除次数比较参数m₃，根据第三擦除次数比较参数m₃确定第四次擦除操作的擦除强度N₄和最大擦除次数M₄。依此类推，直到存储区块中的全部存储单元擦除完毕或进行第X次擦除操作后为止。

如果进行第X次擦除操作之后，存储区块中仍然有未擦除成功的存储单元，则可以利用其他方法继续进行擦除操作，本实施例一中不进行说明。

在进行的各次擦除操作中，无论是预先设定的擦除强度和最大擦除次数，还是之后确定的擦除强度和最大擦除次数，都遵循着由弱至强的规律，下一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数可以等于本次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数，但不可小于。

综上所述，本申请实施例一提出的一种快闪存储器的擦除方法，与现有技术相比，具有以下优点：

本申请实施例一提出了一种快闪存储器的擦除方法，预先设定第一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数，以及，擦除操作的次数，根据每次擦除操作所经历的擦除次数和最大擦除次数确定该次操作的擦除次数比较参数，再根据擦除次数比较参数确定下一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数，动态调整擦除操作的擦除电压和最大擦除时间，不需要通过擦除测试操作确定固定的擦除电压和最大擦除时间，节省了擦除操作的成本；同时也考虑到快闪存储器的老化问题，提高了擦除成功率。

实施例二，详细介绍本申请提出的一种快闪存储器的擦除方法。

参照图3，示出了本申请实施例二所述一种快闪存储器的擦除方法流程图。

步骤21，预先设定第一次擦除操作的擦除强度N₁和最大擦除次数M₁，以及，擦除操作次数X，X是正整数，X≥2；

在进行擦除操作之前，预先设定第一次擦除操作的擦除强度0和最大擦除次数16，以及整个擦除操作的擦除次数3。

步骤22，按照擦除强度N₁对快闪存储器的存储区块进行第一次擦除操作；

按照步骤21中预先设定的第一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数对快闪存储器的存储区块进行第一次擦除操作。

步骤23，统计所经历的擦除次数T₁；根据擦除次数T₁和最大擦除次数M₁确定擦除次数比较参数m₁，并且根据擦除次数比较参数m₁确定下一次擦除操作的擦除强度N₂和最大擦除次数M₂；

例如，第一次擦除操作的擦除次数T₁=2，第一次擦除操作的最大擦除次数M₁=16，根据擦除次数T₁和最大擦除次数M₁确定擦除次数比较参数m₁，M₁/T₁=16/2=8，由于8大于集合（1、2、3、4）中的最大值4，则第一擦除次数比较参数m₁=4；再根据第一擦除次数比较参数m₁确定第二次擦除操作的擦除强度N₂和最大擦除次数M₂。

步骤231，根据N₂=8-2m₁确定下一次擦除操作的擦除强度N₂；

第二次擦除操作的擦除强度N₂与第一擦除次数比较参数m₁满足如下关系：n₂=8-2m₁，因为m₁值取4，通过计算得到N₂=8-2m₁=8-2x4=0，则第二次擦除操作的擦除强度为0。

步骤232，根据M₂=2^12-m1确定下一次擦除操作的最大擦除次数M₂；

第二次擦除操作的最大擦除次数M₂与第一擦除次数比较参数m₁满足如下关系：M₂=2^12-2m1，因为m₁值取4，通过计算得到M₂=2^12-2m1=2^12-2x4＝16，则第二次擦除操作的最大擦除次数为16。

步骤24，根据确定的擦除强度N₂和最大擦除次数M₂对存储区块进行下一次擦除操作，统计所经历的擦除次数T₂；确定第二擦除次数比较参数m₂；并且根据第二擦除次数比较参数m₂确定下一次擦除操作的擦除强度N₃和最大擦除次数M₃；

根据步骤23中确定的第二次擦除操作的擦除强度0和最大擦除次数16对存储区块进行第二次擦除操作，统计所经历的擦除次数T₂，假设T₂=16；根据M₂/T₂确定第二擦除次数比较参数m₂；并且根据第二擦除次数比较参数m₂确定下一次擦除操作的擦除强度N₃和最大擦除次数M₃；

m₂是第二次擦除操作的擦除次数比较参数；

其中，T₂=16，M₂=16，M₂/T₂=16/16=1，1属于集合（1、2、3、4）中的1，则m₂=1。

步骤241，当X=3时，根据N₃=8-m₂确定第三次擦除操作的擦除强度N₃；

当预先设定的擦除操作次数为3次时，根据N₃=8-m₂确定第三次擦除操作的擦除强度N₃=8-1=7。

步骤242，当X=3时，根据M₃=2^12-m2确定第三次擦除操作的最大擦除次数M₃；

当预先设定的擦除操作次数为3次时，根据M₃=2^12-m2确定第三次擦除操作的最大擦除次数M₃=2^12-1=2048。

步骤25，根据确定的擦除强度N₃和最大擦除次数M₃对存储区块进行下一次擦除操作。

根据步骤24中得到第三次擦除操作的擦除强度N₃=7和最大擦除次数M₃=2048后，对存储区块继续进行第三次擦除操作，第三次擦除操作完毕后，整个擦除操作也相应结束。

第三次擦除操作完毕后，存储区块中的存储单元不一定全部擦除完毕，可以按照更大的擦除强度和最大擦除次数继续擦除，也可以利用其他方法进行擦除，本实施例二对第三次擦除操作之后的情况不做说明。

本实施例二还可以利用图4简单描述，擦除1为第一次擦除操作，擦除2为第二次擦除操作，擦除3为第三次擦除操作；擦除次数1为第一次擦除操作所经历的擦除次数，擦除次数2为第二次擦除操作所经历的擦除次数。

步骤A1，按照预先设定的擦除强度和最大擦除次数进行第一次擦除操作；

步骤A2，先根据擦除次数1和第一次擦除操作的最大擦除次数确定第一擦除次数比较参数，再按照根据第一擦除次数比较参数确定得到的擦除强度和最大擦除次数进行第二次擦除操作；

步骤A3，先根据擦除次数2和第二次擦除操作的最大擦除次数确定第二擦除次数比较参数，再按照根据第二擦除次数比较参数确定得到的擦除强度和最大擦除次数进行第三次擦除操作。

并且将本实施例二中各次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数做为固定的组合，可以得到表1中的部分组合。

表1

组合	0	1	2	3	4	5	6
								N	0	2	5	4	6	7	8
M	16	64	512	256	1024	2048	4096

其中，N表示各组合的擦除强度，M表示各组合的最大擦除次数。

如果利用各次擦除操作中的擦除强度和最大擦除次数表示该次擦除操作，则当X=3时，本实施例二提出的一种快闪存储器的擦除方法示意图如图5所示。其中，N₁为第一次擦除操作的擦除强度，M₁为第一次擦除操作的最大擦除次数；N₂为第二次擦除操作的擦除强度，M₂为第二次擦除操作的最大擦除次数；N₃为第三次擦除操作的擦除强度，M₃为第三次擦除操作的最大擦除次数；Time₁为第一次擦除操作所经历的擦除次数；Time₂为第二次擦除操作所经历的擦除次数；m₁为第一次擦除操作的擦除次数比较参数，即第一擦除次数比较参数；m₂为第二次擦除操作的擦除次数比较参数，即第二擦除次数比较参数。

步骤B1，按照预先设定的擦除强度N₁和最大擦除次数M₁进行第一次擦除操作；

步骤B2，先根据第一次擦除操作所经历的擦除次数Time₁和第一次擦除操作的最大擦除次数确定第一擦除次数比较参数m₁，再按照根据第一擦除次数比较参数m₁确定得到的擦除强度N₂和最大擦除次数M₂进行第二次擦除操作；

根据第一次擦除操作所经历的擦除次数Time₁和第一次擦除操作的最大擦除次数M₁确定第一擦除次数比较参数m₁。

第二次擦除操作的擦除强度N₂与第一擦除次数比较参数m₁的关系式为N₂=8-2m₁。；

第二次擦除操作的最大擦除次数M₂与第一擦除次数比较参数m₁的关系式为M₂=2^12-2m1。

步骤B3，先根据第二次擦除成功所经历的擦除次数Time₂和第二次擦除操作的最大擦除次数确定第二擦除次数比较参数m₂，再按照根据第二擦除次数比较参数m₂确定得到的擦除强度N₃和最大擦除次数M₃进行第三次擦除操作。

第三次擦除操作的擦除强度N₃与第二擦除次数比较参数m₂的关系式为N₃=8-m₂；

第三次擦除操作的最大擦除次数M₃与第二擦除次数比较参数m₂的关系式为M₃＝2^12-m2。

实施例三，详细介绍本申请提出的一种快闪存储器的擦除装置。

参照图6，示出了本申请实施例四所述一种快闪存储器的擦除装置结构图。

所述装置包括：

擦除强度设定模块31，最大擦除次数设定模块32，擦除操作次数设定模块33，擦除操作模块34，擦除次数统计模块35，擦除次数比较参数确定模块36，以及，擦除强度和最大擦除次数确定模块37。

下面分别详细介绍各模块的功能以及之间的关系。

擦除强度设定模块31，用于预先设定第一次擦除操作的擦除强度N₁；

所述擦除强度设定模块31用于在擦除操作进行之前，预先设定第一次擦除操作的擦除强度N₁。

最大擦除次数设定模块32，用于预先设定第一次擦除操作的最大擦除次数M₁；

所述最大擦除次数设定模块32用于在擦除操作进行之前，预先设定第一次擦除操作的最大擦除次数M₁。

擦除操作次数设定模块33，用于预先设定擦除操作次数X，X是正整数，X≥2；

所述擦除操作次数设定模块33用于在擦除操作进行之前，预先设定擦除操作次数X，X是正整数，X≥2。

擦除操作模块34，用于对快闪存储器的存储区块进行擦除操作；

所述擦除操作模块34用于按照各次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数对快闪存储器的存储区块进行擦除操作。

擦除次数统计模块35，用于统计第X次擦除操作之前的每次擦除操作所经历的擦除次数T；

例如所述擦除操作次数设定模块33预先设定擦除次数X=3，则所述擦除次数统计模块35统计第三次擦除操作之前的第一次擦除操作所经历的擦除次数T₁，统计第二次擦除操作所经历的擦除次数T₂。

擦除次数比较参数确定模块36，用于根据第X次擦除操作之前的每次擦除操作所经历的擦除次数T和最大擦除次数M确定该次擦除操作的擦除次数比较参数m；

所述擦除次数比较参数确定模块36根据第一次擦除操作所经历的擦除次数T₁和最大擦除次数M₁确定第一擦除次数比较参数m₁；

所述擦除次数比较参数确定模块36根据第二次擦除操作所经历的擦除次数T₂和最大擦除次数M₂确定第二擦除次数比较参数m₂。

如果所述擦除操作次数设定模块33预先设定擦除操作的次数为3，则所述擦除次数比较参数确定模块36确定第三次擦除操作之前的，第一次擦除操作的第一擦除次数比较参数和第二次擦除操作的第二擦除次数比较参数。

擦除强度和最大擦除次数确定模块37，用于根据擦除次数比较参数m确定下一次擦除操作的擦除强度N’和最大擦除次数M’；

其中，N₁≤N’，M₁≤M’。

当所述擦除次数比较参数确定模块36确定出的各次擦除操作的擦除次数比较参数/m后，所述擦除强度和最大擦除次数确定模块37根据擦除次数比较参数m确定下一次擦除操作的擦除强度N’和最大擦除次数M’。

综上所述，本申请实施例三提出的一种快闪存储器的擦除装置，与现有技术相比，具有以下优点：

本申请实施例三提出了一种快闪存储器的擦除装置，预先设定第一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数，以及，擦除操作的次数，根据每次擦除操作所经历的擦除次数和最大擦除次数确定该次操作的擦除次数比较参数，再根据擦除次数比较参数确定下一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数，动态调整擦除操作的擦除电压和最大擦除时间，不需要通过擦除测试操作确定固定的擦除电压和最大擦除时间，节省了擦除操作的成本；同时也考虑到快闪存储器的老化问题，提高了擦除成功率。

实施例四，详细介绍本申请提出的一种快闪存储器的擦除装置。

参照图7，示出了本申请实施例四所述一种快闪存储器的擦除装置结构图。

所述装置包括：

擦除强度设定模块41，最大擦除次数设定模块42，擦除操作次数设定模块43，擦除操作模块44，擦除次数统计模块45，擦除次数比较参数确定模块46，以及，擦除强度和最大擦除次数确定模块47。

其中，所述擦除强度和最大擦除次数确定模块47，包括：

擦除强度确定子模块471，以及，最大擦除次数确定子模块472。

下面分别详细介绍各模块的功能以及之间的关系。

擦除强度设定模块41，用于预先设定第一次擦除操作的擦除强度N₁；

所述擦除强度设定模块41用于在擦除操作进行之前，预先设定第一次擦除操作的擦除强度N₁=0。

最大擦除次数设定模块42，用于预先设定第一次擦除操作的最大擦除次数M₁；

所述最大擦除次数设定模块42用于在擦除操作进行之前，预先设定第一次擦除操作的最大擦除次数M₁=16。

擦除操作次数设定模块43，用于预先设定擦除操作次数X，X是正整数，X≥2；

所述擦除操作次数设定模块43用于在擦除操作进行之前，预先设定擦除操作次数X=3，X是正整数，X≥2。

擦除操作模块44，用于对快闪存储器的存储区块进行擦除操作；

所述擦除操作模块44用于按照各次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数对快闪存储器的存储区块进行擦除操作。

擦除次数统计模块45，用于统计第X次擦除操作之前的每次擦除操作所经历的擦除次数T；

如果所述擦除操作次数设定模块43预先设定擦除次数X=3，则所述擦除次数统计模块45统计第三次擦除操作之前的第一次擦除操作所经历的擦除次数T₁，统计第二次擦除操作所经历的擦除次数T₂。

擦除次数比较参数确定模块46，用于根据第X次擦除操作之前的每次擦除操作所经历的擦除次数T和最大擦除次数M确定该次擦除操作的擦除次数比较参数m；

如果所述擦除操作次数设定模块43预先设定擦除操作的次数为3，则所述擦除次数比较参数确定模块46确定第三次擦除操作之前的，第一次擦除操作的第一擦除次数比较参数和第二次擦除操作的第二擦除次数比较参数。擦除强度和最大擦除次数确定模块47，用于根据擦除次数比较参数m确定下一次擦除操作的擦除强度N’和最大擦除次数M’；

其中，N₁≤N’，M₁≤M’；

当所述擦除次数比较参数确定模块46确定出的各次擦除操作的擦除次数比较参数m后，所述擦除强度和最大擦除次数确定模块47根据擦除次数比较参数m确定下一次擦除操作的擦除强度N’和最大擦除次数M’。

所述擦除强度和最大擦除次数确定模块47，包括：

擦除强度确定子模块471，用于根据N₂=8-2m₁确定第二次擦除操作的擦除强度N₂；

其中，m₁是第一次擦除操作的擦除次数比较参数；

当所述擦除操作模块44对存储区块进行第一次擦除操作后，所述擦除强度确定子模块471根据所述擦除次数比较参数确定模块46确定得到的第一次擦除操作的擦除次数比较参数m₁，即第一擦除次数比较参数m₁和N₂=8-2m₁确定第二次擦除操作的擦除强度N₂。

所述擦除强度确定子模块471，还用于当X=3时，根据N₃=8-m₂确定第三次擦除操作的擦除强度N₃；

其中，m₂是第二次擦除操作的擦除次数比较参数；

当所述擦除操作次数设定模块43预先设定擦除操作次数X=3时，并且所述擦除操作模块44对存储区块进行第二次擦除操作后，所述擦除强度确定子模块471根据所述擦除次数比较参数确定模块46确定得到的第二次擦除操作的擦除次数比较参数m₂，即第二擦除次数比较参数和N₃=8-m₂确定第三次擦除操作的擦除强度N₃。

最大擦除次数确定子模块472，用于根据M₂=2^12-2m1确定第二次擦除操作的最大擦除次数M₂；

当所述擦除操作模块44对存储区块进行第一次擦除操作后，所述最大擦除次数确定子模块472根据所述擦除次数比较参数确定模块46确定得到的第一次擦除操作的擦除次数比较参数m₁和M₂=2^12-2m1确定第二次擦除操作的最大擦除次数M₂。

所述最大擦除次数确定子模块472，还用于当X=3时，根据M₃=2^12-m2确定第三次擦除操作的最大擦除次数M₃。

当所述擦除操作次数设定模块43预先设定擦除操作次数X=3时，并且所述擦除操作模块44对存储区块进行第二次擦除操作后，所述最大擦除次数确定子模块472根据所述擦除次数比较参数确定模块46确定得到的第二次擦除操作的擦除次数比较参数m₂和M₃=2^12-m2确定第三次擦除操作的最大擦除次数M₃。

对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

以上对本申请所提供的一种快闪存储器的擦除方法和装置，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种快闪存储器的擦除方法，其特征在于，包括：

预先设定第一次擦除操作的擦除强度N₁和最大擦除次数M₁，以及，擦除操作次数X，X是正整数，X≥2；其中，所述擦除强度包括擦除电压；

按照擦除强度N₁对快闪存储器的存储区块进行第一次擦除操作；

统计所经历的擦除次数T₁；根据擦除次数T₁和最大擦除次数M₁确定擦除次数比较参数m₁，并且根据擦除次数比较参数m₁确定下一次擦除操作的擦除强度N₂和最大擦除次数M₂；

当X＝2时，根据擦除强度N₂和最大擦除次数M₂对快闪存储器的存储区块进行擦除操作后，擦除结束；

当X＞2时，继续对快闪存储器的存储区块进行擦除、统计擦除次数、确定擦除次数比较参数，以及确定下一次擦除操作的擦除强度和最大擦除次数的循环操作，直至存储区块中的全部存储单元擦除完毕或进行第X次擦除操作后为止；

其中，N₁≤N₂，M₁≤M₂。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据擦除次数比较参数m₁确定下一次擦除操作的擦除强度N₂，包括：

根据N₂＝8-2m₁确定下一次擦除操作的擦除强度N₂。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据擦除次数比较参数m₁确定下一次擦除操作的最大擦除次数M₂，包括：

根据M₂＝2^12-2m1确定下一次擦除操作的最大擦除次数M₂。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：

当X＝3时，根据N₃＝8-m₂确定第三次擦除操作的擦除强度N₃；

其中，m₂是第二次擦除操作的擦除次数比较参数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：

当X＝3时，根据M₃＝2^12-m2确定第三次擦除操作的最大擦除次数M₃。

6.一种快闪存储器的擦除装置，其特征在于，包括：

擦除强度设定模块，用于预先设定第一次擦除操作的擦除强度N₁；其中，所述擦除强度包括擦除电压；

最大擦除次数设定模块，用于预先设定第一次擦除操作的最大擦除次数M₁；

擦除操作次数设定模块，用于预先设定擦除操作次数X，X是正整数，X≥2；

擦除操作模块，用于对快闪存储器的存储区块进行擦除操作；

擦除次数统计模块，用于统计第X次擦除操作之前的每次擦除操作所经历的擦除次数T；

擦除次数比较参数确定模块，用于根据第X次擦除操作之前的每次擦除操作所经历的擦除次数T和最大擦除次数M确定该次擦除操作的擦除次数比较参数m；

擦除强度和最大擦除次数确定模块，用于根据擦除次数比较参数m确定下一次擦除操作的擦除强度N’和最大擦除次数M’；

其中，N₁≤N’，M₁≤M’。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述擦除强度和最大擦除次数确定模块，包括：

擦除强度确定子模块，用于根据N₂＝8-2m₁确定第二次擦除操作的擦除强度N₂；

其中，m₁是第一次擦除操作的擦除次数比较参数。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述擦除强度和最大擦除次数确定模块，还包括：

最大擦除次数确定子模块，用于根据M₂＝2^12-m1确定第二次擦除操作的最大擦除次数M₂。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于：

所述擦除强度确定子模块，还用于当X＝3时，根据N₃＝8-m₂确定第三次擦除操作的擦除强度N₃；

其中，m₂是第二次擦除操作的擦除次数比较参数。

10.根据权利要求8或9所述的装置，其特征在于：

所述最大擦除次数确定子模块，还用于当X＝3时，根据M₃＝2^12-m2确定第三次擦除操作的最大擦除次数M₃。