CN103558699A - 一种检测设备及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种检测设备及方法，其中检测设备包括：下固定单元、上固定单元和检测机台，下固定单元用于固定下偏光片，上固定单元用于固定上偏光片，下固定单元和上固定单元安装在检测机台上，待检测面板置于上偏光片和下偏光片之间，压合之后上偏光片和/或下偏光片与待检测面板之间全接触。通过下固定单元和上固定单元分别固定下偏光片和上偏光片，压合后实现全接触，对上下偏光片中间的待检测面板，在通入信号前检查出待检测表面上存在的异物类不良，通入信号后再检查出其它不良，如亮度不均匀的问题。利用该检测设备检测过程中不会浪费大量的偏光片，可以节省成本，同时将存在异物类不良或者是存在亮度不均匀的面板及时检测出来。

Description

一种检测设备及方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种检测设备及方法。

背景技术

在液晶显示器件的加工过程中，由于Pad区域空间有限，目前小尺寸产品的接线间隔余量（Pad Pitch Margin）行业设计标准在10～20um之间，而全接触（Full Contact）设计的垫片间距边缘的尺寸需要在20um以上，可见10～20um垫片间距边缘无法满足全接触设计的要求。目前行业内多普遍要求达到FHD（Full High Definition，全高清）分辨率标准即1920*1080，以10.1英寸与32英寸为例，两者Pad区大小差距很大，但所需要布线的数量一致，故两者相应的线粗细等存在较大差距。全接触主要使用Blade与Pad区走线接触达到信号传递的目的，其中Blade是一种高精度的刀片，Pad是显示屏信号接入端子，将信号发生器所产生的信号借由一系列的结构，最终通过刀片与信号接入端子的接触，导入显示屏，完成信号传递。全接触的对位方式为光学对位，该对位方式本身存在一定量的精度误差，再加之10.1英寸的走线较细，故容易出现Blade与线路缺失的状态，无法正确传递信号，而32英寸则走线较粗，可以包含此误差，所以目前行业内对小尺寸产品均采用shorting bar模式进行检测，因此目前行业内普遍使用短接端子（Shorting Bar）设计进行成盒检测。但是对于短接端子设计方法中，不可避免地存在线阻，在成盒检测阶段无法避免由于线阻带来的信号衰减，给产品添加信号后出现灰度差异，造成无法正确检出Mura类不良（即面板亮度不均匀）。

另一个方面，对于小尺寸产品而言，由于近几年行业内高PPI（Pixels Per Inch，每英寸的像素数目）的发展趋势，像素（Pixel）越做越小。按照目前行业内的通常做法，在成盒阶段对于微粒等异物类不良无法有效将其检出，而是需要在背光模组进行偏光片贴附后才能将其检出，这样对于存在异物类不良的面板就造成偏光片资源浪费，加大了产业成本。

综上所述，对于小尺寸的液晶屏产品在对盒检测阶段无法将Mura类不良和异物类不良及时检测出来，并且检测过程中浪费大量偏光片。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是如何在不浪费偏光片的情况下，及时将液晶屏产品表面存在的Mura类不良和异物类不良检测处来。

（二）技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供了一种检测设备，包括：下固定单元、上固定单元和检测机台，所述下固定单元用于固定下偏光片，所述上固定单元用于固定上偏光片，所述下固定单元和所述上固定单元安装在所述检测机台上，待检测面板置于上偏光片和下偏光片之间，压合之后所述上偏光片和/或所述下偏光片与所述待检测面板之间全接触。

进一步地，所述下固定单元包括固定板和第一压合板，所述固定板上设置有第一固定槽，用于安装所述下偏光片，且所述第一压合板上设置有观察窗，所述观察窗的位置与所述第一固定槽的位置相对应。

进一步地，所述固定板和所述第一压合板之间通过铰链方式连接。

进一步地，所述上固定单元包括第二压合板，所述第二压合板上设置有第二固定槽，用于安装所述上偏光片，且所述第二固定槽的位置与所述观察窗和/或所述第一固定槽的位置相对应。

进一步地，所述上固定单元还包括短接端子，将所述待检测面板置于所述第一压合板和所述第二压合板之间后，所述短接端子与所述待检测面板实现全接触。

进一步地，所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小于所述观察窗的大小，且所述观察窗的大小不小于所述待检测面板的大小。

进一步地，还包括信号发生器和信号控制器，所述信号发生器用于产生并输入信号，所述信号控制器用于控制所述信号发生器产生不同的信号。

进一步地，还包括背光源和背光源控制器，所述背光源包括第一背光源和第二背光源，所述第一背光源用于无信号输入时使用的背光源，所述第二背光源用于有信号输入时使用的背光源，所述背光源控制器根据是否有信号输入控制所述第一背光源和所述第二背光源之间的切换。

为解决上述技术问题，本发明还提供了一种基于上述检测设备的检测方法，包括：

将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间；

通过压合实现上偏光片和下偏光片与所述带检测面板之间全接触；

通入不同的信号对所述待检测面板进行检测，根据检测结果检测出成盒不良的待检测基板。

进一步地，所述将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间具体包括：

将下偏光片安装在下固定单元中固定板的第一固定槽中，第一压合板折合到所述固定板上进行压合；

将待检测面板放置在所述下偏光片上；

将上偏光片安装在上固定单元中第二压合板的第二固定槽中，并进行压合。

进一步地，所述第一固定槽的位置对应于第一压合板上观察窗的位置，所述第一压合板折合到所述固定板上之后，通过所述观察窗观察到所述下偏光片。

进一步地，所述第二固定槽的位置与所述得到观察窗和所述第一固定槽的位置也相对应。

进一步地，所述上固定单元还包括短接端子，将所述待检测面板置于所述第一压合板和所述第二压合板之间后，所述短接端子与所述待检测面板实现全接触。

进一步地，所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小于所述观察窗的大小，且所述观察窗的大小不小于所述待检测面板的大小。

进一步地，在所述信号控制器的控制下，所述信号发生器产生不同信号，并通过通入不同的信号对待检测面板进行检测。

进一步地，在不输入信号的情况下，打开背光源，通过所述观察窗检测出待检测面板表面的异物类不良；输入信号后，打开背光源，通过所述观察窗检测出待检测面板亮度不均匀的不良。

（三）有益效果

本发明实施例提供的一种检测设备及方法，其中检测设备包括：下固定单元、上固定单元和检测机台，下固定单元用于固定下偏光片，上固定单元用于固定上偏光片，下固定单元和上固定单元安装在检测机台上，待检测面板置于上偏光片和下偏光片之间，压合之后上偏光片和/或下偏光片与待检测面板之间全接触。通过下固定单元和上固定单元分别固定下偏光片和上偏光片，压合后实现全接触，对上下偏光片中间的待检测面板，在通入信号前检查出待检测表面上存在的异物类不良，通入信号后再检查出其它不良，如亮度不均匀的问题。利用该检测设备检测过程中不会浪费大量的偏光片，可以节省成本，同时将存在异物类不良或者是存在亮度不均匀的面板及时检测出来。同时，本发明还提供了一种基于上述检测设备的检测方法，实现对待检测面板成盒阶段存在的异物类不良以及亮度不均匀的问题进行及时检测。

附图说明

图1是本发明实施例一中提供的一种检测设备的结构示意图；

图2是本发明实施例一中提供的下固定单元处于打开状态下的结构示意图；

图3是本发明实施例一中提供的下固定单元处于压合状态下的结构示意图；

图4是本发明实施例一中提供的上固定单元的结构示意图；

图5是本发明实施例二中提供的一种检测方法的步骤流程图；

图6是本发明实施例二中步骤S1的步骤流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

在面板成盒阶段对其进行的检测，主要是根据光的波动特性来实现的。对于已完成贴附偏光片的面板，通过在面板下方打开背光源进行检测，由于下偏光片对入射光具有起偏作用，面板中的液晶分子在电压场作用下具有旋光性，入射光经过面板中液晶的旋光作用后改变传播方向从上偏光片传出，在人眼中形成画面进行不良检出，可能存在的异物误判影响只有偏光片表面的异物，所以能够将异物类不良检测出来，并通过擦拭可以排除其影响。

但是在对盒测试阶段，一般基于成本的考虑是不会在面板上贴附偏光片之后再进行检测的，因为一旦检测出面板不合格，则已经贴附在面板上的偏光片就作废了，造成偏光片的浪费。所以在对盒测试阶段的检测，一般是手动将上下偏光片贴附在白玻璃上，中间放面板进行检测，但是由于贴附了玻璃，导致偏光片无法与面板接触，存在一定量的间隙，这样在像素较小时加上白玻璃造成的透光率下降，这几厘米的间隙会导致异物类不良和Mura类不良。另外，贴附过程中存在的偏光片与玻璃中间的微小颗粒以及玻璃与面板之间的微小颗粒，在最终测试时与面板内部的异物类不良现象极为类似，最终导致操作员无法分辨，难以检出。

实施例一

本发明实施例一中提供了一种检测设备，组成示意图如图1所示，具体包括：下固定单元10、上固定单元20和检测机台，下固定单元10用于固定下偏光片，上固定单元20用于固定上偏光片，下固定单元10和上固定单元20安装在检测机台上，待检测面板置于上偏光片和下偏光片之间，压合之后上偏光片和/或下偏光片与待检测面板之间全接触。

通过上述检测设备，实现偏光片与待检测面板之间的全接触，在通入信号之前和之后，通过打开背光源实现被待检测面板存在的衣物类不良和Mura类不良的实时检测。

优选地，本实施例中的下固定单元10的结构示意图如图2所示，具体包括固定板11和第一压合板12，固定板11上设置有第一固定槽13，用于安装下偏光片，且第一压合板12上设置有观察窗14，观察窗14的位置与第一固定槽13的位置相对应。通过观察窗可以看到第一固定槽中安装的下偏光片。

进一步地，本实施中的固定板11和第一压合板12之间通过铰链方式连接。图2中示出的是第一压合板打开时的状态，将其压合到固定板上时示意图如图3所示。压盒之后只能看到第一压合板和通过观察窗看到的下偏光片。

优选地，本实施中的上固定单元20的结构示意图如图4所示，包括第二压合板21，第二压合板21上设置有第二固定槽22，用于安装上偏光片，且第二固定槽22的位置与观察窗14和/或第一固定槽13的位置相对应。另外，上固定单元20还包括短接端子（在图4中未示出），将待检测面板置于第一压合板12和第二压合板21之间后，短接端子与待检测面板实现全接触。

需要说明的是，本实施例中的上偏光片和下偏光片的大小不小于观察窗的大小，且上述观察窗的大小不小于待检测面板的大小。另外，上下偏光片的大小不能大于检测机台的大小。

进一步地，本实施例中的检测设备还包括信号发生器和信号控制器（图1中未示出），信号发生器用于产生并输入信号，信号控制器用于控制信号发生器产生不同的信号。

进一步地，本实施例中的检测设备还包括背光源和背光源控制器（图1中未示出），背光源包括第一背光源和第二背光源，第一背光源用于无信号输入时使用的背光源，第二背光源用于有信号输入时使用的背光源，背光源控制器根据是否有信号输入控制第一背光源和第二背光源之间的切换。

本发明实施例检测设备中的信号控制器，能够控制图形发生器输入信号，在五信号输入的状态下，检测出ADS模式的异物类不良和Mura类不良。对于超级边缘场开关显示技术ADS以及超高透过率超级长边缘开关显示技术HADS产品，在已贴附偏光片的状态下，如果将背光源打开且不加信号，也就是打开第一背光源，正常状态下由于未加信号，液晶分子不进行偏转，则背光源的光源无法透过面板，通过观察窗观察的状态为全黑。此时如果面板内部有微小颗粒等异物或者取向等工序异常，会导致液晶的排布出现异常，出现与正常液晶排布不同的亚像素液晶，在未加信号的状态下也会将背光源光方向发生改变，观察窗观察到的就是该像素有发亮的现象，从而进行不良拦截。需要说明的是，因为液晶分子排布异常有时并不明显，一般将背光源的亮度调整至正常的两倍以上方明显可见，所以需要使用背光源控制器对有信号和无信号的两种状态下的背光源进行控制，在未添加信号时背光源亮度高，而添加信号时将其亮度减少，进行其他类不良的检查，本实施例中是以检查Mura不良为例进行说明的。

综上所述，通过使用实施例一提供的检测设备，具有以下优点：

1.无需将偏光片贴附在玻璃上，可排除偏光片与玻璃之间的微小颗粒影响；

2.偏光片更换容易且方便擦拭；

3.由于去除了白玻璃的影响，更高的透光率可保障，并且偏光片可以紧贴面板表面，实现全接触，使得基本能够达到与偏光片贴附完成后相同的检测结果。

实施例二

本发明实施例二提供了一种检测方法，步骤流程图如图5所示，具体包括以下步骤：

步骤S1、将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间。

步骤S2、通过压合实现上偏光片和下偏光片与带检测面板之间全接触。

步骤S3、通入不同的信号对待检测面板进行检测，根据检测结果检测出成盒不良的待检测基板。

基于上述方法，将上偏光片和下偏光片与二者之间的面板进行距离为零的压盒，达到全接触的效果，即与偏光片贴附完成之后的效果相同。由于检测过程中并没有真正的完成偏光片贴附，因此没有造成偏光片的浪费，还能及时检测出面板上存在的异物类不良以及Mura类不良。

优选地，步骤S1中将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间的步骤流程图如图6所示，具体包括以下步骤：

步骤S11、将下偏光片安装在下固定单元中固定板的第一固定槽中，第一压合板折合到固定板上进行压合。

步骤S12、将待检测面板放置在下偏光片上。

步骤S13、将上偏光片安装在上固定单元中第二压合板的第二固定槽中，并进行压合。

其中，第一固定槽的位置对应于第一压合板上观察窗的位置，第一压合板折合到固定板上之后，通过观察窗观察到下偏光片。并且第二固定槽的位置与得到观察窗和第一固定槽的位置也相对应。

进一步地，本实施例中的上固定单元除了第二压合板和第二固定槽之外，还包括短接端子，将待检测面板置于第一压合板和第二压合板之间后，短接端子与待检测面板实现全接触。

优选地，本实施例中的上偏光片和下偏光片的大小不小于观察窗的大小，且观察窗的大小不小于待检测面板的大小。

检测时，需要在信号控制器的控制下，信号发生器产生不同信号，并通过通入不同的信号对待检测面板进行检测。在不输入信号的情况下，打开背光源，通过观察窗检测出待检测面板表面的异物类不良；输入信号后，打开背光源，通过观察窗检测出待检测面板亮度不均匀的不良。

对于上述过程的简单流程描述如下：

将下偏光片设置在固定板上；将第一压合板翻转，压合下偏光片；放置待检测面板；放置第二压合板以及上偏光片；接入不同的信号进行检测（包括任何信号都不接入的情况）。

综上所述，采用本实施例提供的检测方法，在不会浪费大量的偏光片的前提下，对上偏光片和下偏光片进行压合，实现全接触，模拟偏光片贴附完成之后的效果，通过背光源以及是否加入信号实现对面板的检测，将存在异物类不良或者是存在亮度不均匀的面板及时检测出来。

以上实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。

Claims (16)

1.一种检测设备，其特征在于，包括：下固定单元、上固定单元和检测机台，所述下固定单元用于固定下偏光片，所述上固定单元用于固定上偏光片，所述下固定单元和所述上固定单元安装在所述检测机台上，待检测面板置于上偏光片和下偏光片之间，压合之后所述上偏光片和/或所述下偏光片与所述待检测面板之间全接触。

2.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于，所述下固定单元包括固定板和第一压合板，所述固定板上设置有第一固定槽，用于安装所述下偏光片，且所述第一压合板上设置有观察窗，所述观察窗的位置与所述第一固定槽的位置相对应。

3.如权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述固定板和所述第一压合板之间通过铰链方式连接。

4.如权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述上固定单元包括第二压合板，所述第二压合板上设置有第二固定槽，用于安装所述上偏光片，且所述第二固定槽的位置与所述观察窗和/或所述第一固定槽的位置相对应。

5.如权利要求4所述的检测设备，其特征在于，所述上固定单元还包括短接端子，将所述待检测面板置于所述第一压合板和所述第二压合板之间后，所述短接端子与所述待检测面板实现全接触。

6.如权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小于所述观察窗的大小，且所述观察窗的大小不小于所述待检测面板的大小。

7.如权利要求1-6中任一项所述的检测设备，其特征在于，还包括信号发生器和信号控制器，所述信号发生器用于产生并输入信号，所述信号控制器用于控制所述信号发生器产生不同的信号。

8.如权利要求7所述的检测设备，其特征在于，还包括背光源和背光源控制器，所述背光源包括第一背光源和第二背光源，所述第一背光源用于无信号输入时使用的背光源，所述第二背光源用于有信号输入时使用的背光源，所述背光源控制器根据是否有信号输入控制所述第一背光源和所述第二背光源之间的切换。

9.一种基于权利要求1-8所述的检测设备的检测方法，其特征在于，包括：

将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间；

通过压合实现上偏光片和下偏光片与所述带检测面板之间全接触；

通入不同的信号对所述待检测面板进行检测，根据检测结果检测出成盒不良的待检测基板。

10.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，所述将待检测面板放置在上固定单元和下固定单元之间具体包括：

将下偏光片安装在下固定单元中固定板的第一固定槽中，第一压合板折合到所述固定板上进行压合；

将待检测面板放置在所述下偏光片上；

将上偏光片安装在上固定单元中第二压合板的第二固定槽中，并进行压合。

11.如权利要求10所述的检测方法，其特征在于，所述第一固定槽的位置对应于第一压合板上观察窗的位置，所述第一压合板折合到所述固定板上之后，通过所述观察窗观察到所述下偏光片。

12.如权利要求11所述的检测方法，其特征在于，所述第二固定槽的位置与所述得到观察窗和所述第一固定槽的位置也相对应。

13.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，所述上固定单元还包括短接端子，将所述待检测面板置于所述第一压合板和所述第二压合板之间后，所述短接端子与所述待检测面板实现全接触。

14.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，所述上偏光片和所述下偏光片的大小不小于所述观察窗的大小，且所述观察窗的大小不小于所述待检测面板的大小。

15.如权利要求13所述的检测方法，其特征在于，在所述信号控制器的控制下，所述信号发生器产生不同信号，并通过通入不同的信号对待检测面板进行检测。

16.如权利要求11所述的检测方法，其特征在于，在不输入信号的情况下，打开背光源，通过所述观察窗检测出待检测面板表面的异物类不良；输入信号后，打开背光源，通过所述观察窗检测出待检测面板亮度不均匀的不良。

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