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CN103092864A - 一种生成测试数据报表的方法和系统 - Google Patents

一种生成测试数据报表的方法和系统 Download PDF

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China
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CN2011103436536A
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Inventor
连晓谦
凌耀君
许文慧
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CSMC Technologies Corp
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CSMC Technologies Corp
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Abstract

本发明公开了一种生成测试数据报表的方法和系统,包括:提供基于WINDOWS系统的一个用户操作界面,该操作界面中包含测试菜单名输入框、批号输入框、片号选择区和报表生成选项;依据用户在测试编码输入框和批号输入框中输入的指令,获取与该指令相对应的测试数据;将与测试数据对应的硅片片号显示在片号选择区;识别用户在片号选择区选择的硅片片号,并接收用户通过点击报表生成选项发送的报表生成指令,利用与识别出的硅片片号相对应的测试数据,生成测试数据报表。该方法生成测试报表的操作过程简单,生成测试报表的时间较短,报表生成效率提高。

Description

一种生成测试数据报表的方法和系统
技术领域
本发明涉及集成电路测量技术领域,更具体的说是涉及一种生成测试数据报表的方法和系统。
背景技术
集成电路(IC,Integrate Circuit)是电子信息产业的核心。IC的制作过程包括硅片制作、前道、检测和后道四个工艺。在进行前道工艺时,需要从前道测试机台中获取前道工艺的在线数据,并利用获取到的在线数据生成相应测试数据报表,以便检验前道工艺产品的是否满足质量规范标准等。
现有生成测试数据报表一般是基于UNIX系统制作的,由于在UNIX系统的操作界面中,无法进行鼠标操作,只能是手动输入的纯命令操作,且完成一个操作界面中相应的选项输入后,需要按动回车进入下一操作界面进行命令输入以及选项输入,一般需要在多个这样的UNIX操作界面的进行指令输入并完成相应的选项输入后,才能生成测试数据报表。参见图1,为现有技术中生成测试数据报表过程中所用的多个操作界面中的一个界面,当依次输入<工艺>,<类型>等选项后,进入图1的该操作界面,在该操作界面上输入<codename>,<Lot ID>等选项,需要生成的经过多个操作界面的选项输入才可以完成测试数据报表的生成。因此,现有技术生成测试数据报表的方法操作复杂、生成测试数据报表的效率较低,耗时较长。
同时在生成测试数据报表的过程中,如果在某个操作界面中发现错误,无法在中间的操作界面进行修改,只能从第一个界面开始重新进行指令输入,进一步降低的报表生成效率。
发明内容
有鉴于此,本发明提供一种生成测试数据报表的方法和系统,生成测试报表的操作过程简单,生成测试报表的时间较短,报表生成效率提高。
为实现上述目的,本发明提供了一种生成测试数据报表的方法,包括:
提供基于WINDOWS系统的一个用户操作界面,所述操作界面中包含测试菜单名输入框、批号输入框、片号选择区和报表生成选项;
依据用户在所述测试编码输入框和批号输入框中输入的指令,获取与所述指令相对应的测试数据;
将与所述测试数据对应的硅片片号显示在所述片号选择区;
识别用户在所述片号选择区选择的硅片片号,并接收用户通过点击所述报表生成选项发送的报表生成指令,利用与所述识别出的硅片片号相对应的测试数据,生成测试数据报表。
优选的,所述利用与所述识别出的硅片片号相对应的测试数据生成测试数据报表,包括:
将与所述识别出的硅片片号相对应的测试数据按照预设格式添加到对应的EXCEL报表中,得到测试数据报表。
优选的,获取与所述指令相对应的测试数据,包括:
从前道测试机台中获取指令所请求的测试数据。
优选的,在生成所述测试数据报表的同时,还包括:
在与所述识别出的硅片片号相对应的测试数据中,提取与失效点数相对应的数据,生成测试数据分析报表。
优选的,所述测试数据报表中包括:参数编码、测试名称、失效点数/片、单项合格/不合格信息、单项最大失效点数和/或单片最大失效点数。
优选的,所述操作界面中还包括:
数据上传选项;
所述方法还包括:接收用户通过点击所述数据上传选项发出的备份请求,存储所述测试数据报表。
对应的,本发明还提供了一种生成测试数据报表的系统,包括:
界面提供单元,用于提供基于WINDOWS系统的一个用户操作界面,所述操作界面中包含测试菜单名输入框、批号输入框、片号选择区和报表生成选项;
数据获取单元,用于依据用户在所述测试编码输入框和所述批号输入框中输入的指令,获取与所述指令相对应的测试数据;
片号筛选单元,用于将与所述测试数据对应的硅片片号显示在所述片号选择区;
硅片片号识别单元,用于识别用户在所述片号选择区选择的硅片片号;
报表生成单元,用于接收用户通过点击所述报表生成选项发送的报表生成指令,利用与所述硅片识别单元识别出的硅片片号相对应的测试数据,生成测试数据报表。
优选的,所述报表生成单元,包括:第一报表生成单元,用于将与所述硅片识别单元识别出的硅片片号相对应的测试数据按照预设格式添加到对应的EXCEL报表中,得到测试数据报表。
优选的,所述报表生成单元,还包括:
第二报表生成单元,用于在与所述识别出的硅片片号相对应的测试数据中,提取与失效点数相对应的数据,生成测试数据分析报表。
优选的,所述操作界面中还包括:
数据上传选项;
所述系统还包括:报表存储单元,用于接收用户通过点击所述数据上传选项发出的备份请求,存储所述测试数据报表。
经由上述的技术方案可知,与现有技术相比,本发明公开提供了一种生成测试数据报表的方法和系统,该方法在生成报表时,只需在提供的一个用户操作界面上,进行指令选项的输入,就可以获取到与输入的指定相对应的测试数据,且在能根据获取的数据得到对应的硅片片号并显示,用户只需在显示出的硅片片号中进行选择所需的硅片片号,就可以生成相应的测试数据报表。在生成测试报表的过程中无需呈现多个操作界面,系统资源消耗较少,生成报表的耗时减少。在生成报表的过程中,用户输入的指令或选项数减少,操作过程简单。
同时,由于用户输入指令较少,减少了指令输入错误的概率,且如果在生成报表的过程中发现错误,只需在该操作界面中进行修改即可,报表生成的效率提高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为现有技术中基于UNIX系统的用于生成测试数据报表的一个操作界面示意图;
图2为本发明所公开的一种生成测试数据报表的方法的一个实施例的步骤流程图;
图3为本发明生成测试数据报表的用户操作界面的示意图;
图4为本发明生成的测试数据报表的示意图;
图5为本发明生成的测试数据分析报表的示意图;
图6为本发明所公开的一种生成测试数据报表的系统的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
参见图2,为本发明公开的一种生成测试数据报表的方法的一个实施例的流程示意图,包括:
步骤201:提供基于WINDOWS系统的一个用户操作界面,所述操作界面中包含测试菜单名输入框、批号输入框、片号选择区和报表生成选项。
为了降低用户输入指令的复杂度,降低操作复杂度,本发明提供的用户操作界面是基于Windows系统的界面。在操作界面包含生成测试报表所需的输入的选项,包括测试菜单名输入框、批号输入框、片号选择区和报表生成选项。当然,还可以根据需要添加其他选项,在该测试菜单名单输入框中可以输入测试菜单或测试编码,如可以输入“SW101”;在批号输入选项框内输入需要获取的测试数据对应的批号,如输入批号为“C8M43001”;片号选择区中包含可能的硅片片号(wafer ID),如01、02、03……25。
步骤202:依据用户在所述测试编码输入框和所述批号输入框中输入的指令,获取与所述指令相对应的测试数据。
当用户需要生成相应的测试数据报表时,需要在该测试编码输入框中输入测试数据菜单名(测试数据编码),并在批号输入框中输入相应的完整的产品批号,在完成以上两项指令输入后,用户可以按动回车键或其他案件,以向系统提交输入的指令(输入选项),服务器系统接收到用户的指令后,获取与用户输入的测试数据菜单名和产品批号相对应的测试数据。
其中,由于在IC产品的前道工艺制作过程中,一般会将在线工艺数据保存在前道测试机台中,因此,获取与所述指令相对应的测试数据的具体过程可以为依据用户提交的指令中的测试数据菜单名和产品批号,在前道测试机台中获取与该测试菜单名和产品批号对应的测试数据。当然获取到该测试数据后可以将该测试数据保存在指定的内存空间中,如可以在建立临时文件夹来保存获取到的测试数据。
步骤203:将与所述测试数据对应的硅片片号显示在所述片号选择区。
在获取到测试数据后,对获取到的测试数据进行分析处理,确定该测试数据中包含哪些硅片片号的数据信息,并提取出这些硅片片号,并在该片号选择区内将提取出的硅片片号显示出来。
将与测试数据对应的硅片片号显示出来的方式可以有多种,可以为在片号选择区内已经列出的硅片片号中,将这些依据测试数据提取出的硅片片号设定为可选项,而将其余的列出的硅片片号设定为不可选项,或隐藏其余硅片片号。
步骤204:识别用户在所述片号选择区选择的硅片片号,并接收用户通过点击所述报表生成选项发送的报表生成指令,利用与所述识别出的硅片片号相对应的测试数据,生成测试数据报表。
当用户在测试数据对应的硅片片号中选定了相应的硅片片号后,系统可以识别出选择的硅片片号,以便从步骤203获取到的测试数据中提取与该选择的片号相对应的测试数据。当用户点击报表生成选项后,系统接收报表生成指令,利用与识别出的硅片片号对应的测试数据生成相应的测试数据报表。
需要说明的是,用户在片号选择区中显示出的硅片片号中选择所需的硅片片号时,可以选个单个硅片片号,也可以同时选择多个硅片片号,进而生成对应单个硅片片号或多个硅片片号的测试数据报表。
其中,将生成测试数据报表的具体过程可以为,预先设定一个数据分布格式,如字段名与数据间的对应关系等,依据设定的格式,将与识别出的硅片片号对应的测试数据生成相应的测试数据报表。该测试数据报表可以在EXCEL表格中,即,将与识别出的硅片片号相对应的测试数据按照预设格式添加到对应的EXCEL报表中,得到测试数据报表。现有技术中基于UNIX系统生成的测试报表是以文本格式存在的,测试数据报表中不便于分析汇总,且在报文中进程会出现一些乱码不利于于阅读,而本发明采用EXCEL格式的测试数据报表相对于现有技术中的文本格式来说,更加有利于对测试数据报表的阅读,能更加方便的扩展一些功能,如对测试数据报表中的某字段的数据进行统计,求平均值等。
本实施例的方法在生成报表时,只需在提供的一个用户操作界面上,进行指令选项的输入,就可以获取到与输入的指定相对应的测试数据,且在能根据获取的数据得到对应的硅片片号并显示,用户只需在显示出的硅片片号中进行选择所需的硅片片号,就可以生成相应的测试数据报表。在生成测试报表的过程中无需呈现多个操作界面,系统资源消耗较少,生成报表的耗时减少。在生成报表的过程中,用户输入的指令或选项数减少,操作过程简单。
同时,由于用户输入指令较少,减少了指令输入错误的概率,且如果在生成报表的过程中发现错误,只需在该操作界面中进行修改即可,报表生成的效率提高。
为了清楚的理解以上实施例所描述的生成测试数据报表的方法,以下对本发明的应用场景进行详细的描述。参见图3,为本发明生成测试数据报表的用户操作界面的示意图。在该操作界面上包括:测试菜单名输入框“InputCODE”、批号输入框“Input LOT ID and Push Enter”、片号选择区“Please SelectWafer ID”和报表生成选项“SUMMARY REPORT”。
首先系统向用户呈现该操作界面。用户可以在该操作界面的1、InputCODE之后的输入框中输入需要测试代码,如图中输入的为“SW0103”,在该操作界面的2、Input LOT ID and Push Enter之后的输入框中输入产片批号,如“C8M4301”,完成这两步输入之后,按动回车键enter,以便提交指令请求。
系统接收用户输入的指令,识别出测试代码和产品批号,并在前道测试机台中获取与该测试代码和产品批号对应的测试数据。获取到测试数据之后,对获取到的测试数据进行分析,确定出该测试数据中包含哪些硅片片号对应的测试数据,并显示在片号选择区。如图3中,在片号选择区Please Select WaferID内列出了25中片号,由于获取到的测试数据中仅包含硅片片号为20、21、23和24对应的测试数据,因此在该硅片选择区中仅将片号为20、21、23和24设定为可选项,其余片号为灰色的不可选项。用户更需自己需要生成的测试数据报表是针对哪个或哪几个硅片片号的,并在以上显示出的片号中进行选择。确定了硅片片号后按动报表生成选项“SUMMARY REPORT”,就可以完成测试数据报表的生成。
在前道测试机台获取到测试数据之后,确定该测试数据中包含哪些硅片片号对应的测试数据时,为了确保分析无误,增设片号读取选项,如图3中的“LOAD WAFER ID”可以在片号选择区显示出相应的硅片片号,且用户选定了硅片片号之后,按动该片号读取选项,以便系统验证是否选在该用户已选定的硅片片号。之后在进行测试数据报表的生成。
生成的测试数据报表是存在于Excel中的,但是测试数据报表中包含的字段名以及数据信息与现有技术生成的测试数据报表是相同的,且打印出的测试报表也是相同的。但是本发明的测试数据报表在以电子表格在客户端显示时却不会像现有技术中的文本格式那样出现乱码,参见图4,为本发明对于产品批号为A40722,测试菜单名CODE为NF0084生成的一个测试数据报表,该测试数据报表中,包括台头,在台头中包含了产品批号A40722,测试菜单名CODE:NF0084,建表日期等信息;参数编号T#;测试名称Testname;单位units;上、下限,如表中字段名为LC1和UC1的部分;平均值Ave;标准值Dev,以及五点平均值信息,如01E、02E等字段对应的数据部分。在该测试数据报表的最下方还包括对该测试数据的总结或结论,如FOR LABELLEDPARAMETERS等部分内容。
进一步的,为了能对产品异常情况进行快速分析,本发明在测试报表的同时,还可以在与识别出的硅片片号相对应的测试数据中,提取与失效点数相对应的数据,生成测试数据分析报表。在该测试数据分析报表中可以包括:参数编码、测试名称、单项合格/不合格信息、失效点数/片&项、单项最大失效点数和/或单片最大失效点数。为了保证整个圆片的均匀性,实际生产时会根据需要测试至少5个点的参数。测试数据报表中的一个数据点仅仅是所有测试点的平均值。测试数据报表仅仅是出片功能,所以如果发现中间的异常处后还需要技术人员到数据服务器查询所有测试点来判断失效点进行判断后续处理。本发明中增加了一个测试数据分析报表用于生成失效点数,减少技术人员分析时间,提高生产效率。参见图5、为本发明生成的测试数据分析报表示意图,该测试报表中包括参数编码T#、测试名称test、单位units、,如01E、02E、03E、22E、23E和24E对应的数据信息,其中,“0”表示不存在失效点数。单项合格PASS/不合格FALL信息、单项最大失效点数MAX和/或位于表格下方的单片最大失效点数MAX,以及最终分析结果RESULT。
为了保存生成的测试数据报表和/或测试数据分析报表,在操作界面中还包括了数据上传选项UPLOAD DATA,用户可以点击该数据上传选项,系统接收用户通过点击所述数据上传选项发出的备份请求,存储所述测试数据报表。
当然,用户操作界面上还还可根据需要设定一些其他的选项,以便减少用户输入的指令操作。
对应本发明的方法,参见图6,本发明还提供了一种生成测试数据报表的系统,包括:
界面提供单元601,用于提供基于WINDOWS系统的一个用户操作界面,所述操作界面中包含测试菜单名输入框、批号输入框、片号选择区和报表生成选项;
数据获取单元602,用于依据用户在所述测试编码输入框和所述批号输入框中输入的指令,获取与所述指令相对应的测试数据;
片号筛选单元603,用于将与所述测试数据对应的硅片片号显示在所述片号选择区;
硅片片号识别单元604,用于识别用户在所述片号选择区选择的硅片片号;
报表生成单元605,用于接收用户通过点击所述报表生成选项发送的报表生成指令,利用与所述硅片识别单元识别出的硅片片号相对应的测试数据,生成测试数据报表。
具体的该报表生成单元,包括:第一报表生成单元,用于将与硅片识别单元识别出的硅片片号相对应的测试数据按照预设格式添加到对应的EXCEl报表中,得到测试数据报表。
为了能更方便的对产品异常情况进行分析,该报表生成单元,还包括:
第二报表生成单元,用于在与识别出的硅片片号相对应的测试数据中,提取与失效点数相对应的数据,生成测试数据分析报表。
在该测试数据分析报表中可以包括:参数编码、测试名称、单项合格/不合格信息、失效点数/片&项、单项最大失效点数和/或单片最大失效点数。为了保证整个圆片的均匀性,实际生产时会根据需要测试至少5个点的参数。测试数据报表中的一个数据点仅仅是所有测试点的平均值。测试数据报表仅仅是出片功能,所以如果发现中间的异常处后还需要技术人员到数据服务器查询所有测试点来判断失效点进行判断后续处理。
进一步的,在用户操作界面中还包括:数据上传选项。
本发明的系统还包括:报表存储单元,用于接收用户通过点击所述数据上传选项发出的备份请求,存储所述测试数据报表。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的系统而言,由于其与实施例公开的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种生成测试数据报表的方法,其特征在于,包括:
提供基于WINDOWS系统的一个用户操作界面,所述操作界面中包含测试菜单名输入框、批号输入框、片号选择区和报表生成选项;
依据用户在所述测试编码输入框和批号输入框中输入的指令,获取与所述指令相对应的测试数据;
将与所述测试数据对应的硅片片号显示在所述片号选择区;
识别用户在所述片号选择区选择的硅片片号,并接收用户通过点击所述报表生成选项发送的报表生成指令,利用与所述识别出的硅片片号相对应的测试数据,生成测试数据报表。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用与所述识别出的硅片片号相对应的测试数据生成测试数据报表,包括:
将与所述识别出的硅片片号相对应的测试数据按照预设格式添加到对应的EXCEL报表中,得到测试数据报表。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取与所述指令相对应的测试数据,包括:
从前道测试机台中获取指令所请求的测试数据。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在生成所述测试数据报表的同时,还包括:
在与所述识别出的硅片片号相对应的测试数据中,提取与失效点数相对应的数据,生成测试数据分析报表。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述测试数据报表中包括:参数编码、测试名称、失效点数/片、单项合格/不合格信息、单项最大失效点数和/或单片最大失效点数。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述操作界面中还包括:
数据上传选项;
所述方法还包括:接收用户通过点击所述数据上传选项发出的备份请求,存储所述测试数据报表。
7.一种生成测试数据报表的系统,其特征在于,包括:
界面提供单元,用于提供基于WINDOWS系统的一个用户操作界面,所述操作界面中包含测试菜单名输入框、批号输入框、片号选择区和报表生成选项;
数据获取单元,用于依据用户在所述测试编码输入框和所述批号输入框中输入的指令,获取与所述指令相对应的测试数据;
片号筛选单元,用于将与所述测试数据对应的硅片片号显示在所述片号选择区;
硅片片号识别单元,用于识别用户在所述片号选择区选择的硅片片号;
报表生成单元,用于接收用户通过点击所述报表生成选项发送的报表生成指令,利用与所述硅片识别单元识别出的硅片片号相对应的测试数据,生成测试数据报表。
8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述报表生成单元,包括:第一报表生成单元,用于将与所述硅片识别单元识别出的硅片片号相对应的测试数据按照预设格式添加到对应的EXCEL报表中,得到测试数据报表。
9.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述报表生成单元,还包括:
第二报表生成单元,用于在与所述识别出的硅片片号相对应的测试数据中,提取与失效点数相对应的数据,生成测试数据分析报表。
10.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述操作界面中还包括:
数据上传选项;
所述系统还包括:报表存储单元,用于接收用户通过点击所述数据上传选项发出的备份请求,存储所述测试数据报表。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103617118A (zh) * 2013-11-28 2014-03-05 北京奇虎科技有限公司 测试结果的统一处理方法、装置及系统
CN104361106A (zh) * 2014-11-27 2015-02-18 国家电网公司 一种cognos报表中多图表切换展示的方法及装置
CN105447878A (zh) * 2015-12-14 2016-03-30 深圳市高斯贝尔家居智能电子有限公司 一种图像质量测试分析方法及系统
CN112380140A (zh) * 2020-12-08 2021-02-19 安徽江淮汽车集团股份有限公司 智能座舱数据测试方法及系统
CN112526317A (zh) * 2020-11-13 2021-03-19 上海华岭集成电路技术股份有限公司 一种集成电路测试数据记录方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1555014A (zh) * 2003-12-26 2004-12-15 中兴通讯股份有限公司 一种人机命令测试方法
CN2755619Y (zh) * 2004-08-19 2006-02-01 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 封装级可靠性模型参数提取系统
CN101388254A (zh) * 2007-09-13 2009-03-18 英业达股份有限公司 存储装置的测试方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1555014A (zh) * 2003-12-26 2004-12-15 中兴通讯股份有限公司 一种人机命令测试方法
CN2755619Y (zh) * 2004-08-19 2006-02-01 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 封装级可靠性模型参数提取系统
CN101388254A (zh) * 2007-09-13 2009-03-18 英业达股份有限公司 存储装置的测试方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张路路: ""集成电路测试仪总体软件与人机界面设计"", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库(电子期刊)》, no. 4, 15 April 2011 (2011-04-15) *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103617118A (zh) * 2013-11-28 2014-03-05 北京奇虎科技有限公司 测试结果的统一处理方法、装置及系统
CN103617118B (zh) * 2013-11-28 2016-06-29 北京奇虎科技有限公司 测试结果的统一处理方法、装置及系统
CN104361106A (zh) * 2014-11-27 2015-02-18 国家电网公司 一种cognos报表中多图表切换展示的方法及装置
CN104361106B (zh) * 2014-11-27 2018-07-31 国家电网公司 一种cognos报表中多图表切换展示的方法及装置
CN105447878A (zh) * 2015-12-14 2016-03-30 深圳市高斯贝尔家居智能电子有限公司 一种图像质量测试分析方法及系统
CN112526317A (zh) * 2020-11-13 2021-03-19 上海华岭集成电路技术股份有限公司 一种集成电路测试数据记录方法
CN112380140A (zh) * 2020-12-08 2021-02-19 安徽江淮汽车集团股份有限公司 智能座舱数据测试方法及系统

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