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CN102303027A - 全自动等离子清洗装置 - Google Patents

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CN102303027A CN201110197505A CN201110197505A CN102303027A CN 102303027 A CN102303027 A CN 102303027A CN 201110197505 A CN201110197505 A CN 201110197505A CN 201110197505 A CN201110197505 A CN 201110197505A CN 102303027 A CN102303027 A CN 102303027A
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China
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microcomputer controller
plasma cleaning
full
plasma
cleaning device
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边毅
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Hitech Semiconductor Wuxi Co Ltd
Original Assignee
Hitech Semiconductor Wuxi Co Ltd
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Abstract

本发明涉及一种全自动等离子清洗装置，包括等离子清洗机，所述等离子清洗机内设置有图形识别系统，所述等离子清洗机与微电脑控制器相连，所述微电脑控制器内储存有分析软件，所述微电脑控制器上连接有条形码扫描枪。本发明将等离子清洗机与微电脑控制器相连，并由微电脑控制器控制全自动完成清洗作业，提高了设备清洁的稳定性，提高了产品的品质，减少了人力资源的投入。

Description

全自动等离子清洗装置
技术领域
本发明涉及等离子清洗机，具体地说是一种全自动等离子清洗装置。
背景技术
现有的等离子清洗机构造简单，由人工将待清洗产品放入等离子清洗机内进行清洗，并且由人工判断待清洗产品的清洁情况，经常会出现因为人为失误或者设备故障而造成清洁不干净，从而导致大量的不合格产品的产生，影响产品的品质。
发明内容
本发明针对上述问题，提供一种全自动等离子清洗装置，该清洗装置可自动完成待清洗产品的清洗及清洁情况判断，减少了不合格产品的发生率。
按照本发明的技术方案：一种全自动等离子清洗装置，包括等离子清洗机，所述等离子清洗机内设置有图形识别系统，所述等离子清洗机与微电脑控制器相连，所述微电脑控制器内储存有分析软件，所述微电脑控制器上连接有条形码扫描枪。
所述等离子清洗机内设置有第二条形码扫描枪。
本发明的技术效果在于：本发明将等离子清洗机与微电脑控制器相连，并由微电脑控制器控制全自动完成清洗作业，提高了设备清洁的稳定性，提高了产品的品质，减少了人力资源的投入。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步的说明。
图1中，包括微电脑控制器1、待清洗产品2、图形识别系统3、条形码扫描枪4、等离子清洗机5等。
如图1所示，本发明是一种全自动等离子清洗装置，包括等离子清洗机5，该等离子清洗机5内设置有图形识别系统3，等离子清洗机5与微电脑控制器1相连，微电脑控制器1内储存有分析软件，微电脑控制器1上连接有条形码扫描枪4。在等离子清洗机5内还可以设置有第二条形码扫描枪。
本发明的工作过程如下：使用设备前通过条形码扫描枪4扫描需作业的一批次待清洗产品2的条形码，并输入作业者的作业工号，从而激活设备，这时设备会通过微电脑控制器1提醒放入待清洗产品2；放入待清洗产品2后，等离子清洗机5自动锁上安全锁并进行清洗作业；作业完毕，等离子清洗机5内的图形识别系统3自动识别待清洗产品2的清洁情况，如果清洁合格，则显示作业完毕，如果清洁不合格，则显示作业异常。
当等离子清洗机5内设置有第二条形码扫描枪时，在放入待清洗产品2后，第二条形码扫描枪对第一个待清洗产品2上的条形码进行扫描，扫描结果和之前扫描的一批次待清洗产品2的条形码通过微电脑控制器1内的软件进行比对，如果比对结果不一致，设备会报警提示放入的待清洗产品2有误；比对结果一致后，才启动洗涤作业。这样做，就避免了人为操作的失误。
本发明将等离子清洗机5与微电脑控制器1相连，并由微电脑控制器1控制全自动完成清洗作业，提高了设备清洁的稳定性，有效地防止等离子清洗不干净事故的发生，提高了产品的品质，操作人员的工作量大大减少，减少了人力资源的投入。

Claims (2)

1.一种全自动等离子清洗装置，包括等离子清洗机（5），其特征是：所述等离子清洗机（5）内设置有图形识别系统（3），所述等离子清洗机（5）与微电脑控制器（1）相连，所述微电脑控制器（1）内储存有分析软件，所述微电脑控制器（1）上连接有条形码扫描枪（4）。
2.按照权利要求1所述的全自动等离子清洗装置，其特征是：所述等离子清洗机（5）内设置有第二条形码扫描枪。
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Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20120104

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