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CN102253751A - 单层ito的布线结构及定位方法 - Google Patents

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CN102253751A
CN102253751A CN2011102069987A CN201110206998A CN102253751A CN 102253751 A CN102253751 A CN 102253751A CN 2011102069987 A CN2011102069987 A CN 2011102069987A CN 201110206998 A CN201110206998 A CN 201110206998A CN 102253751 A CN102253751 A CN 102253751A
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CN
China
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row
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layer ito
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Pending
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CN2011102069987A
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English (en)
Inventor
樊永召
朱建锋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Pixcir Microelectronics Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Pixcir Microelectronics Co Ltd
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Publication date
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Abstract

本发明涉及一种单层ITO的布线结构,由多个正、负触控电极组成,所述正负触控电极相向排列,且一个方向上的电极分别布设于另一个方向电极之间的空隙区域。本发明所述的单层ITO的布线结构,相对双层ITO的布线而言,制造工艺更加简单,所以成本低廉,再者,由单层ITO组成的触摸屏厚度较薄,功能上相互匹配性能好。

Description

单层ITO的布线结构及定位方法
技术领域
本发明涉及ITO的布线结构,尤其是指单层ITO的布线结构及定位方法。 
背景技术
所谓ITO(铟锡氧化物)是一种用于生产液晶显示器的关键材料,目前,其在仪器仪表、计算机、电子表、游戏机和家用电器等领域都有了极为广泛的应用。近年来市场上大热的电容式触摸屏也是利用ITO来完成侦测触摸的动作,而电容触摸屏上ITO的布线一般是双层,其主要原理是:利用人体电场,当使用者触摸时,表面行或列的交叉处感应单元的互电容(也称耦合电容)会有变化,根据上述变化最终可检测出触摸点的具体位置。
常见的双层ITO的结构是菱形结构,其双层ITO分别布设在玻璃基板的同侧面上,为了避免电极之间的相互导通,所以需要在玻璃基板上设置桥接点,这样就可将双层ITO布设在玻璃基板的同一侧面上。虽然上述方法实现了侦测触摸的动作,但是这种采用双层ITO的触摸屏结构,不但工艺复杂,而且桥接处容易损坏,产品良率低,导致成本升高。为了克服上述缺点,部分厂商将ITO的结构设置成矩形,然后双面设置在玻璃基板的两层,如此以来,工艺的确的简单了很多,而且提高了产品良率,但是仍旧采用的是双层ITO的布线结构,ITO本身成本就较高,再加上双层的结构,使由此形成触摸屏的厚度也就增加了。如果能够克服双层ITO布图结构带来的局限性,所以无论是从成本上还是触摸屏的结构上考虑,单层ITO均具有更多优势。
因此需要为广大用户提供一种更加简便的ITO的布线结构来解决以上问题。 
发明内容
本发明实际所要解决的技术问题是如何提供一种工艺简单,成本低廉的单层ITO的布线结构。
为了实现本发明的上述目的,本发明提供了一种
本发明所述的单层ITO的布线结构,相对双层ITO的布线而言,制造工艺更加简单,所以成本低廉,再者,由单层ITO组成的触摸屏厚度较薄,功能上相互匹配性能好。
附图说明
图1是根据本发明所述单层ITO布线的第一种实施例。
图2是根据本发明所述触控后感应量随时间的变化图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。
请参考图1所示,发明涉及单层ITO的布线结构,所述ITO层1由若干个触控电极块10组成,形成若干纵行和纵列,即每个纵行或者纵列均由复数个触控电极块10组成;每个触控电极块10均呈矩形,为了方便的计算触碰点的位置,均设置成正方形,所有电极块10均通过导线连接到触控芯片11的相应引脚上。
所述ITO层1扫描时,逐次扫描纵行和纵列,每次同时扫描两行或者两列,并获取其差值。设单层ITO层1有A行B列,先扫描纵行时,首先分别将第一行和第二行中所有触控电极块10在芯片内部设置成导通形式,即将第一行中的所有电极块10设置成导通形式,然后将第二行中的所有电极块10设置成导通形式。第一次扫描时,若第一行设置为扫描端,则依次顺序相邻的第二行设置为参考端,此时其它电极块10均悬空或者接地;第二次扫描时,继续分别将第二行和第三行中所有触控电极块10在芯片内部设置成导通形式,若将第二行设置为扫描端,则依次顺序相邻的第三行就为参考端,此时其它电极块10均悬空或者接地;依次顺序扫描直至扫描到第A-1行为止。
根据上述扫描方法记录每次扫描后获得的数据,由上述数据就形成了如图2所述感应量数值变化的抛物线,首先检测所述电极块10扫描后产生的数据,分别找出所述电极块10所连接的扫描线上所产生数据中的最大、最小感应值,然后根据所获得的最大、最小感应值作进一步的判断和处理。设在所述电极层1上的电极块10所连接的扫描线上都侦测到了数据,且出现了最大感应值M以及最小感应值N,其中,最大感应值M为正值,最小感应值N为负值;然后接着判断与电极块10所连接的扫描线上所产生的最大感应值M是否大于提前预设的正门槛感应值M0,所产生的最小感应值N是否小于提前预设的负门槛感应值N0,即判断最大感应值M是否大于正门槛感应值M0,同时最小感应值N是否小于负门槛感应值N0;若满足上述两个条件,则再继续检查上述最大、最小感应值M、N之间是否有穿越零感应值;若任意相邻的最大、最小感应值M、N之间穿越了零感应值,则表明有触控对象触碰,且穿越零感应值的点就是触碰点位置坐标,从图2可以看出,只有感应值为M和N的最大、最小感应值之间满足了穿越零感应值的条件,则说明这个位置有触控对象触碰,且该穿越零感应值的位置即是触控对象触碰所述单层ITO的位置坐标。
由于在本发明中,每个电极块10均具有扫描端,且连接到触控芯片11的相应引脚上,只是在扫描时,每行中的所有电极块10才均被设置成导通形式,因此,根据每个电极块10就可以确定出触控对象的具体位置,而上述零穿越点的位置就是触控对象触碰后的具体位置坐标。
求出上述触控对象的具体位置坐标后,需要利用上述同样原理继续依次顺序扫描纵列,用于消除外界噪声,作抗干扰处理。即扫描单层ITO层的 B列时, 第一次扫描时,第一列中的所有电极块10均设置为导通,此时第一列设置为扫描端,而依次顺序相邻的第二列中的所有电极块10也均设置为导通,此时第二列设置为参考端,与此同时,其它电极块10均悬空或者接地;依次顺序扫描直至扫描到第B-1列为止。
根据上述步骤,我们就可以确定触碰点在单层ITO上的具体位置,且有效的消除了外界噪声,从而可以快速准确的判断出触碰点的具体位置。由于本发明采用了单层ITO的布线结构及定位方法,所以不但结构上更加简单、成本低廉,而且侦测定位的速度更迅速及准确,并且能够支持多指触控。

Claims (10)

1.一种单层ITO的布线结构,其由若干电极块组成,形成若干纵行和纵列,特征在于:所述触控电极块均通过导线连接到芯片的相应引脚上。
2.如权利要求1所述的布线结构,其特征在于:所述触控电极块呈矩形。
3.如权利要求1所述的布线结构,其特征在于:所述触控电极块呈正方形。
4.利用上述权利要求1的布线结构所采用的定位方法,其步骤如下:
首先,逐次顺序同时扫描两行并获取各个数据,根据上述各个数据判断出触碰点的具体位置;
其次,继续逐次顺序同时扫描两列。
5.如权利要求4所述的定位方法,其特征在于:所述扫描上述两行或者两列时,每行或每列中的若干电极块均导通。
6.如权利要求5所述的定位方法,其特征在于:所述扫描上述两行或者两列时,所述每行或每列中的电极块分别在芯片内部设置成导通。
7.如权利要求4至6中任意一项所述的定位方法,其特征在于:所述任意一行或者一列作为扫描端,则依次相邻的另一行或者另一列作为参考端。
8.如权利要求4所述的定位方法,其特征在于:所述逐次顺序同时扫描两行并获取各个数据,由所述数据中的最大、最小感应值确定出触碰点的位置坐标。
9.如权利要求8所述的定位方法,其特征在于:所述最大感应值若大于预设正门槛感应值,且最小感应值小于预设负门槛感应值,那么任意相邻的最大、最小感应值之间的穿越零感应值的点就是触碰点位置坐标。
10.如权利要求4所述的定位方法,其特征在于:所述继续逐次顺序同时扫描两列用于消除外界噪音,作抗干扰处理。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102750038A (zh) * 2012-06-29 2012-10-24 苏州瀚瑞微电子有限公司 一种触控芯片的扫描方法
CN103076937A (zh) * 2013-01-30 2013-05-01 福建科创光电有限公司 电容式触摸屏的电极引脚
CN104142765A (zh) * 2013-05-10 2014-11-12 胜华科技股份有限公司 触控感测单元以及触控板
CN107918235A (zh) * 2013-12-31 2018-04-17 上海天马微电子有限公司 一种阵列基板及显示装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070008299A1 (en) * 2005-07-08 2007-01-11 Harald Philipp Two-Dimensional Position Sensor
CN101727242A (zh) * 2009-12-21 2010-06-09 苏州瀚瑞微电子有限公司 触控板上侦测多指触控的方法
CN102073430A (zh) * 2011-01-24 2011-05-25 苏州瀚瑞微电子有限公司 电容屏自动调整感应值的方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070008299A1 (en) * 2005-07-08 2007-01-11 Harald Philipp Two-Dimensional Position Sensor
CN101727242A (zh) * 2009-12-21 2010-06-09 苏州瀚瑞微电子有限公司 触控板上侦测多指触控的方法
CN102073430A (zh) * 2011-01-24 2011-05-25 苏州瀚瑞微电子有限公司 电容屏自动调整感应值的方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102750038A (zh) * 2012-06-29 2012-10-24 苏州瀚瑞微电子有限公司 一种触控芯片的扫描方法
CN103076937A (zh) * 2013-01-30 2013-05-01 福建科创光电有限公司 电容式触摸屏的电极引脚
CN103076937B (zh) * 2013-01-30 2016-04-27 福建科创光电有限公司 电容式触摸屏的电极引脚
CN104142765A (zh) * 2013-05-10 2014-11-12 胜华科技股份有限公司 触控感测单元以及触控板
CN104142765B (zh) * 2013-05-10 2017-04-12 胜华科技股份有限公司 触控感测单元以及触控板
CN107918235A (zh) * 2013-12-31 2018-04-17 上海天马微电子有限公司 一种阵列基板及显示装置

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PB01 Publication
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SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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