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CN102207481A - 具有连续波长扫描及三维谱功能的光致电化学分析仪的研制 - Google Patents

具有连续波长扫描及三维谱功能的光致电化学分析仪的研制 Download PDF

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CN102207481A
CN102207481A CN2010106211807A CN201010621180A CN102207481A CN 102207481 A CN102207481 A CN 102207481A CN 2010106211807 A CN2010106211807 A CN 2010106211807A CN 201010621180 A CN201010621180 A CN 201010621180A CN 102207481 A CN102207481 A CN 102207481A
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CN
China
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instrument
wavelength
chemistry
electrode potential
optical electro
Prior art date
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Pending
Application number
CN2010106211807A
Other languages
English (en)
Inventor
张书圣
周起设
张晓茹
胡宋强
李雪梅
张玉冰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
XI'AN ANALYTICAL INSTRUMENTS CO Ltd
Qingdao University of Science and Technology
Original Assignee
XI'AN ANALYTICAL INSTRUMENTS CO Ltd
Qingdao University of Science and Technology
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Filing date
Publication date
Application filed by XI'AN ANALYTICAL INSTRUMENTS CO Ltd, Qingdao University of Science and Technology filed Critical XI'AN ANALYTICAL INSTRUMENTS CO Ltd
Priority to CN2010106211807A priority Critical patent/CN102207481A/zh
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Abstract

本发明描述了一种具有连续波长扫描功能的光电化学仪器,可用于光电化学检测分析。氙灯光源配备光谱仪可调节激发光波长,对光电活性物质在200~1000nm范围内连续扫描,找到最佳激发波长。电化学检测系统采用电荷积分测试技术,提高微弱电流的检测灵敏度,检测下限可达1pA。同时,本仪器可通过连续改变激发波长和电极电位,连续记录电流得到三维关系谱,用于光致循环伏安等新方法探索研究。

Description

具有连续波长扫描及三维谱功能的光致电化学分析仪的研制
技术领域
研制具有连续波长扫描功能及三维谱功能的光电化学仪器,可对光电活性物质进行全波长扫描,得到光电流-波长扫描谱,确定最佳激发波长,用于光致电化学分析检测。
背景技术
光致电化学是指光电活性物质通过光激发后,其外层电子从基态跃迁到激发态,激发态分子进一步将电子转移到电极上,产生电流,从而实现光致电化学分析检测的目的。由于在检测中由于光激发过程与电流检测分步进行,可降低背景噪音,因而可提高其灵敏度,有望成为一种适用于化学及生物样品检测的简单、快速、灵敏的分析方法。但目前的光致电化学分析研究工作主要采用现有仪器组装而成,仅有德国Zahner公司通过在IM6ex电化学工作站上连接一个“光致电效应测试系统”附件,能够进行光致电化学测试,该仪器仅能发射固定的三个波长的激发光,适用的光电活性物质的种类有限。仪器的限制大大阻碍了光电化学在分析检测领域的应用。国内的郭良宏等人曾利用组装的单色仪或滤光器研究了波长在400~800nm区间的光致电化学现象。与本发明的区别在于其是在一定波长范围内,选取若干个点进行测量,然后根据测量结果绘制一定波长范围段的光电信号相应。而本发明目标在于实现在全波长范围内的连续扫描。
发明内容
本发明的目的是研制一种具有连续波长扫描功能的光电化学仪器,该仪器同时具有三维扫描功能,可应用于光致电化学分析检测。
光致电化学分析仪系统组成:激发光源系统,电化学检测系统,软件系统。本发明的装置包括如下仪器:光源电源,氙灯光源,光谱仪,电化学工作站。
1)激发光源:仪器增加波长扫描功能,采用氙灯光源内部安装高压短弧球形氙灯,在高频高压激发下形成弧光放电。实现激发光波长在200~1000nm范围内连续扫描。
光源设计在半椭球反射镜内部,光照射在半椭球反射镜的冷反射面上,使光以平行光的方式照射到凸透镜上,凸透镜焦点在单色器的入射狭缝处,基本没有光的散失。这样,在不增加光源效率的情况下,可收集光源发出的绝大部分的光能,提高光的收集效率,使可利用的光强度大大提高,同时还克服了由耗散的光能量被仪器吸收而转换成的热能,降低了仪器的热噪声。
2)单色器:单色器装置要解决的主要问题是:计算机对波长驱动机构控制的实现。包括:波长扫描的硬件执行机构;控制驱动机构的接口技术;波长扫描与光电流变化的有机统一。
3)电化学检测系统采用电荷积分测试技术,提高微弱电流的检测灵敏度,检测下限可达1pA。
4)软件系统:通过标准的数据接口和文件格式,进行数据的切割、存储、输入、输出等操作。此外,输出的标准数据文件,可以在其他专业数据处理软件(例如Origin)中,进行更为复杂和专业的处理和谱图的二次成像。
6)光致电化学分析方法的建立:采用本仪器,可获得如下关系谱图:(1)波长-电流二维关系谱。固定电极电位,连续改变激发波长,研究电流随激发波长变化进行分析的方法;(2)电极电位-电流二维关系谱。固定激发波长,连续改变电极电位,研究电流随激发电极电位变化进行分析的方法;(3)波长-电极电位-电流三维关系谱。连续改变电极电位和激发波长,研究电流随激发波长和电极电位变化进行分析的方法;(4)瞬态电流-时间分析方法。固定激发波长和电极电位,研究光激发及暗态下瞬态电流与时间变化关系进行分析的方法;(5)光致光致循环伏安、恒电位法、计时电流法、计时电量法、线性扫描伏安法、开路电压-时间曲线、间歇循环伏安法、阶跃脉冲法分析。
附图说明
图1为光致电化学分析仪结构框图;
图2为激发光源系统示意图;
图3为CdSe纳米离子组装ITO电极的光电流全波长扫描;
图4为CdSe纳米离子组装ITO电极的描瞬态电流-时间关系二维谱;
图5为CdSe纳米离子组装ITO电极的波长-电极电位-电流三维关系谱。
具体实施方式
以下为实施本发明的具体示例,其作用在于进一步阐明本发明的内容,使阅读者更容易理解,但不构成对本发明要求的保护范围的限定或限制。
实施例一CdSe纳米离子组装ITO电极的全波长扫描
所用仪器如前所述。
在ITO电极表面先吸附一层阳离子聚合物聚二烯丙基二甲基胺盐酸盐(PDDA),再通过静电吸附组装一层巯基乙酸修饰的CdSe纳米离子。将该电极放插入含有0.1M的抗坏血酸的PBS溶液(0.1M,pH=7.4),在波长200~1000nm间,扫描光电流随激发波长的变化。扫描结果如图3所示。
实施例二测定CdSe纳米离子组装ITO电极的瞬态电流-时间关系二维谱。
采用上述修饰电极,在380nm波长处,于相同电解质溶液中扫描瞬态电流-时间关系二维谱。扫描结果如图4所示。
实施例三测定CdSe纳米离子组装ITO电极的波长-电极电位-电流三维关系谱。
采用上述修饰电极,在相同电解质溶液中扫描瞬态波长-电极电位-电流三维关系谱。扫描结果如图5所示。

Claims (8)

1.研制具有连续波长扫描功能的光电化学仪器,其特征在于:
将氙灯光源与光谱仪,电化学工作站有机结合,制备商品化的光电化学仪器。
2.按照权利要求1所述制备光电化学仪,其特征在于实现光源发射波长的连续调节,可对光电活性物质进行全波长扫描,确定最佳激发波长。
3.按照权利要求1所述制备光电化学仪,特征在于采用电荷积分测试技术,提高微弱电流的检测灵敏度,电流测量下限可达到1.0pA。
4.按照权利要求1所述制备光电化学仪,其特征在于采用本仪器可获得波长-电流二维关系谱。固定电极电位,连续改变激发波长,研究电流随激发波长变化进行分析的方法。
5.按照权利要求1所述制备光电化学仪,其特征在于可获得电极电位-电流二维关系谱。固定激发波长,连续改变电极电位,研究电流随激发电极电位变化进行分析的方法。
6.按照权利要求1所述制备光电化学仪,其特征在于可获得波长-电极电位-电流三维关系谱。连续改变电极电位和激发波长,研究电流随激发波长和电极电位变化进行分析的方法。
7.按照权利要求1所述制备光电化学仪,其特征在于能够进行瞬态电流-时间分析方法。固定激发波长和电极电位,研究光激发及暗态下瞬态电流与时间变化关系进行分析的方法。
8.按照权利要求1所述制备光电化学仪,其特征在于能够进行光致循环伏安、恒电位法、计时电流法、计时电量法、线性扫描伏安法、开路电压-时间曲线、间歇循环伏安法、阶跃脉冲法分析。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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