CN102024471B - 再现设备和再现方法 - Google Patents

Abstract

公开了一种再现设备和再现方法。再现设备包括：激光照射部、校正系数信息保持部、校正系数获取部、激光功率设置部、以及驱动信号输出部。

Description

再现设备和再现方法

技术领域

本发明涉及例如执行再现以支持光盘形记录介质的再现设备及其方法。

背景技术

例如，具有通过层压两个记录层形成的物理结构的诸如蓝光光盘(注册商标)之类的光盘形记录介质(下文中也称为光盘)已经被商业化。

为了在光盘上有利地记录和再现，施加于记录层的激光的激光功率需要被恰当设置。

然后，例如，上述两层结构的光盘的每层中的光透射率不同。这意味着为了精确，对于每层而言的恰当的激光功率不同，从而记录和再现理想地应该在对每层改变并设置了恰当的激光功率之后执行。

日本专利早期公开No.2008-243339描述了在具有两个以上记录层的光盘上的如下“记录”。

具体地，从预先存储了膜厚度信息的光盘或光盘设备的预封装固件获取由半透明膜产生的光盘的反射层的膜厚度信息，并且计算记录功率调节系数。然后，使用所计算的调节系数，第二层或随后层的记录开始功率和一次性写入时的一次性写入开始功率被设置为记录功率。

然而实际上，过去的两层结构的光盘上的记录和再现被如下执行而不改变激光功率。

作为一个示例，对于两层中的表面侧(外层侧)上的记录层，某范围内的限制被规范强加于例如形成该层的材料、半反射膜特性等上。即，通过制造具有限制在规范范围内的上述特性的光盘，外层侧上的记录层的光透射率被保证到这样的一个程度：即使利用相同的激光功率在外层侧和内层侧上执行记录和再现，也不会发生问题。

作为另一个示例，已知这样一种方法，其中记录和再现在对外层侧的记录层的整个区域进行记录(格式化)之后被执行。处于经记录状态的记录层具有高于处于未记录状态的记录层的光透射率。因此，通过首先将外层侧上的整个区域设置为处于经记录的状态来确保较高的光透射率，然后利用相同的激光功率在内层侧上执行记录和再现。

发明内容

然而，当存在三个以上记录层时，作为这些层之间的关系，一个或多个层被放置在两层之间。在这种情况下，光透射率方面的差异随着两层之间存在的层数而增大。然后，对于三层以上的光学记录介质，实际上很难通过设置相同的激光功率以支持上述两层结构的方法将光透射率方面的差异限制在可以容忍的范围之内。也就是说，采用上述方法来支持三层以上的光盘是不切实际的。

因此，本发明提供了一种在三层以上时实际有效的方法和配置，特别地，该方法和配置被假设用于支持多层光学记录介质的再现。

因此，考虑到上述问题，本发明的实施例被配置为如下的再现设备。

该再现设备包括：激光照射装置，用于发射激光以供进行再现，其中在光学记录介质中形成的n个层中的一层被设置为再现对象，n是2以上(即2或更大)的自然数；校正系数信息保持装置，用于保持包括用于激光功率的校正系数的校正系数信息，所述校正系数与再现对象记录层和在所述激光到达所述再现对象记录层之前透射所述激光的每个透射记录层的已记录/未记录状态模式的组合相关联；校正系数获取装置，用于从所述校正系数信息保持装置获取与当前再现对象记录层和每个当前透射记录层的已记录/未记录状态模式的组合相对应的校正系数；激光功率设置装置，用于基于由所述校正系数获取装置获取的校正系数确定用于所述再现的激光的激光功率参考值的校正系数，并设置用所确定的校正系数校正后的激光功率；以及驱动信号输出装置，用于输出用以从所述激光照射装置发射所述激光的驱动信号以利用所设置的激光功率来发射所述激光。

上述构造基于与当前再现对象记录层和每个当前透射记录层的已记录/未记录状态模式的组合相对应的校正系数，对光学记录介质被再现时的激光功率进行校正。

根据本发明的另一个实施例，提供了一种再现方法，包括：驱动信号输出步骤，输出用于从用以发射激光的激光照射装置发射所述激光的驱动信号，并改变所述驱动信号以利用所设置的激光功率来发射所述激光，其中在光学记录介质中形成的n个层中的一层被设置为再现对象，n为2以上的自然数；校正系数信息保持步骤，保持包括用于所述激光功率的校正系数的校正系数信息，所述校正系数与再现对象记录层和在所述激光到达所述再现对象记录层之前透射所述激光的每个透射记录层的已记录/未记录状态模式的组合相关联；校正系数获取步骤，从在所述校正系数信息保持步骤中保持的所述校正系数信息获取与当前再现对象记录层和每个当前透射记录层的已记录/未记录状态模式的组合相对应的校正系数；以及激光功率设置步骤，基于在所述校正系数获取步骤获取的校正系数确定用于所述再现的激光的激光功率参考值的校正系数，并且设置用所确定的校正系数校正后的激光功率。

本发明从而使得能够在再现多层结构的光盘的过程中，根据随着被设置为再现对象的记录层而变化的透射记录层中的光透射率方面的差异来设置适当的激光功率。

附图说明

图1A和1B是示出根据本实施例的盘驱动设备支持的光盘结构的示例的示图；

图2是示出根据本实施例的盘驱动设备的配置示例的框图；

图3是示出盘驱动设备中的光学拾取器(optical pickup)的内部配置及用于其的控制系统的配置的框图；

图4A、4B、4C和4D是辅助说明取决于再现对象记录层和透射记录层的记录状态模式的组合的总的相对透射率方面的差异的示图；

图5A、5B、5C、5D、5E和5F是说明辅助取决于再现对象记录层和透射记录层的记录状态模式的组合的总的相对透射率方面的差异的示图；

图6是示出对应于本实施例的第一示例的校正系数表的内容示例的示图；

图7是对应于本实施例的第一示例的用于激光功率校正的处理过程的示例的流程图；

图8A、8B、8C、8D和8E是辅助说明对应于本实施例的第二示例的取决于再现对象记录层和所添加的透射记录层的记录状态模式的组合的总的相对透射率方面的差异的示图；

图9是示出对应于本实施例的第二示例(和第三示例)的校正系数表的内容示例的示图；

图10是对应于本实施例的第二示例的用于激光功率校正的处理过程的示例的流程图；

图11A、11B和11C是示出实际的透射记录层的已记录区域部分/未记录区域部分与透射记录层的已记录区域部分和未记录区域部分之间边界附近的激光之间的关系的示图，其中图11A、11B和11C对应于本实施例的第三示例；

图12A、12B、12C、12D和12E是示出实际的透射记录层的已记录区域部分/未记录区域部分与透射记录层的已记录区域部分和未记录区域部分之间边界附近的激光之间的关系的示图，其中图12A、12B、12C、12D和12E对应于本实施例的第三示例；以及

图13是对应于本实施例的第三示例的用于激光功率校正的处理过程的示例的流程图。

具体实施方式

下面将按照以下次序描述实现本发明(下文中称为本实施例)的方式。

<1.盘结构的示例>

<2.盘驱动设备的配置示例>

<3.光学系统和用于其的控制系统的配置>

<4.根据本实施例的激光功率校正>

[4-1.相对透射率]

[4-2.激光功率校正(第一示例)]

[4-3.激光功率校正(第二示例)]

[4-4.激光功率校正(第三示例)]

<1.盘结构的示例>

图1A是根据本实施例的再现设备支持的光盘形记录介质(光盘)90的平面图，其中示出了在光盘形记录介质的半径方向上的区配置(areaconfiguration)。

光盘90例如是具有12cm直径的盘记录介质。光盘90的区结构被粗略地划分为内圆周区91、数据带92、以及外圆周区93。

数据带92是主要的记录区，所谓的用户数据被记录在数据带中。在这种情况下，用户数据指作为利用光盘90进行存储的主要对象的诸如视频数据、音频数据、文本数据、计算机使用数据、以及软件程序之类的数据。

内圆周区91被用作所谓的管理区域。

附带地，在具有一个记录层的单层盘的情况下，内圆周区91是用作所谓的导入带(lead-in zone)的区域。在具有多个记录层的多层盘的情况下，每层中的内圆周区被用作导入带、内部带(inner zone)、导出带(lead-out zone)等。形成在内圆周区91中的是关于盘的物理信息、用于记录和再现操作的设置信息、用于管理区域配置和替换的信息、试写区域(trial writing region)等。

外圆周区93是在单层盘的情况下被用作所谓的导出带的区域。在具有多个记录层的多层盘的情况下，每层中的外圆周区被用作导出带或外部带(outer zone)。

附带地，本实施例假设可记录盘为一次性写入盘(write-once disk)或可重写盘。

图1B示意性地示出了当光盘90为四层盘时的层结构。

光盘90例如具有第一记录层L0，其中该第一记录层L0是通过在使用聚碳酸酯等进行射出成形而成形的盘衬底PK的一个表面上形成作为摆动槽(wobbling groove)的凸凹形状并在凸凹形状上形成反射膜和记录材料层形成的。

中间层C1被进一步形成在第一记录层L0上。第二记录层L1是通过在中间层C1的表面上形成作为摆动槽的凸凹形状并在凸凹形状上形成半透明反射膜和记录材料层形成的。

中间层C2被进一步形成在记录层L1上。第三记录层L2是通过在中间层C2的表面上形成作为摆动槽的凸凹形状并在凸凹形状上形成半透明反射膜和记录材料层形成的。

中间层C3被进一步形成在记录层L2上。第四记录层L3是通过在中间层C3的表面上形成作为摆动槽的凸凹形状并且在凸凹形状上形成半透明反射膜和记录材料层形成的。

覆盖层CV被形成在记录层L3上。

附带地，每个记录层L0、L1、L2和L3都具有诸如内圆周区91的部分之类的其中形成了压刻式凹坑列(embossed pit train)的部分。

实际上，光盘90具有大约1.2mm的厚度，并且盘衬底PK具有大约1.1mm的厚度。从记录层L0到覆盖层CV的部分被形成在大约100μm的厚度之间。附带地，由于记录层之间的层间距离的减小会增大杂散光和串扰的影响，所以最内部的记录层(L0)可以被形成在从多层介质中的覆盖层CV侧上的表面开始的100μm+数μm的位置处。

附带地，尽管图1B示出了四层盘的示例，但是三层盘和五层以上的盘可以通过类似的结构形成，其中需要调节中间层和覆盖层的厚度等。然而在本实施例中，将以图1B中所示的四层盘作为示例进行描述。

另外，图1B中所示的L0、L1、L2和L3是为四个单独的记录层给出的参考标号。在下面的描述中，使用参考标号的记录层L0、记录层L1、记录层L2和记录层L3的符号在以下描述中也将被作为各记录层的名称。

<2.盘驱动设备的配置示例>

接下来将描述根据本实施例的执行记录和再现以支持光盘90的盘驱动设备。

假设根据本实施例的盘驱动设备可以执行再现和记录，以支持符合蓝光光盘标准的只再现盘(reproduction-only disk)和可记录型盘(一次性写入盘和可重写盘)。附带地，如上所述，作为对应于本实施例的光盘的图1A和1B中所示的光盘90是可记录型盘。

在可记录型盘的情况下，在具有405nm的波长的激光(所谓蓝色激光)和具有0.85的NA的物镜的组合的条件下，相位改变标记或着色(dye)改变标记被记录并再现。记录和再现是使用64KB(千字节)的数据块作为一个记录和再现单元(RUB：记录单元块)执行的，其中磁道间距为0.32μm，线密度为0.12μm/bit(微米/位)。

附带地，对于只再现盘，只再现数据由具有大约λ/4的深度的压刻式凹坑记录。只再现盘类似地具有0.32μm的磁道间距以及0.12μm/bit的线密度。64KB的数据块被作为一个再现单元(RUB)处理。

作为记录和再现单元的RUB是通过例如将一帧的链接区添加到156个符号×496个帧的ECC块(簇)的前面和后面而生成的总共498个帧。

附带地，在可记录型盘的情况下，槽被以摆动的方式形成在盘上，并且摆动槽被用作记录和再现磁道。槽的摆动包括所谓的ADIP(预置凹槽地址)数据。即，盘上的地址可以通过检测槽的摆动信息获取。

在可记录型盘的情况下，由相位改变标记形成的记录标记被记录在由摆动槽形成的磁道上。相位改变标记由RLL(1，7)PP调制系统(RLL：游程长度受限，PP：极性保持/禁止rmtr(最小跳变游程重复))等以0.12μm/bit和0.08μm/ch bit的线密度记录。

假设信道时钟周期为“T”，则标记长度为2T至8T。

在只再现盘的情况下，没有槽被形成，但是类似地由RLL(1，7)PP调制系统调制的数据被记录为压刻式凹坑列。

图2示出了能够执行记录/再现从而以上述格式支持光盘90的盘驱动设备的配置示例。

当对应于本实施例的光盘90被装载到盘驱动设备中时，光盘90被装载到图中未示出的转盘上，其中在记录/再现操作时该转盘被主轴电机2以固定的线速度(CLV)驱动旋转。

在再现时，光学拾取器(光学头)1读取记录在光盘90上的磁道中的标记信息。

在将数据记录到光盘90上时，光学拾取器1将用户数据作为相位改变标记或着色改变标记记录在光盘90的磁道中。

附带地，例如盘上的物理信息等被作为只再现的管理信息通过压刻式凹坑或摆动槽记录在光盘90的内圆周区91等中。这些信息也被光学拾取器1读取。

另外，在光盘90上，光学拾取器1读取被作为槽磁道的摆动包含在光盘90上的ADIP信息。

形成在光学拾取器1中的是用作激光源的激光二极管、用于检测反射光的光电探测器、作为激光的输出端的物镜、用于经由物镜利用激光照射盘记录表面并将反射光导向光电探测器的光学系统等。激光二极管例如输出具有405nm的波长的所谓的蓝色激光。光学系统的NA为0.85。

光学拾取器1中的物镜通过双轴机构保持以在磁道方向和聚焦方向(focus direction)上可移动。

整个光学拾取器1可以通过滑动机构3在盘的半径方向上移动。

光学拾取器1中的激光二极管由来自激光驱动器13的驱动信号(驱动电流)驱动用于发射激光。

来自光盘90的反射光信息被光电探测器检测，然后被转换为对应于接收光量的电信号。电信号被供应到矩阵电路4。

矩阵电路4包括电流到电压转换器电路、矩阵运算/放大器电路等，以对应于来自作为光电探测器的多个光接收元件的输出电流。矩阵电路4通过矩阵运算处理生成必要的信号。

矩阵电路4例如生成对应于再现数据的再现信息信号(RF信号)、用于伺服控制的聚焦误差信号和追踪误差信号(tracking error signal)等。

矩阵电路4还生成作为与槽的摆动有关的信号的推挽信号，即用于检测摆动的信号。

从矩阵电路4输出的再现信息信号被供应给数据检测处理部5。从矩阵电路4输出的聚焦误差信号和追踪误差信号被供应给光学块(opticalblock)伺服电路11。从矩阵电路4输出的推挽信号被供应给摆动信号处理电路6。

数据检测处理部5对再现信息信号进行二进制化。

数据检测处理部5例如执行RF信号的A/D转换处理、通过PLL的再现时钟生成处理、PR(部分响应)均衡处理、Viterbi解码(最大似然解码)等，并通过部分响应最大似然解码处理(PRML检测方式：部分响应最大似然检测方式)获取二进制数据串。

然后，数据检测处理部5将二进制数据串作为从光盘90读取的信息供应给随后阶段的编码/解码部7。

编码/解码部7对再现时的再现数据进行解调，并且对记录时的记录数据进行调制。具体地，编码/解码部7在再现时执行数据解调、解交织(deinterleaving)、ECC解码、地址解码等，并在记录时执行ECC编码、交织(interleaving)、数据调制等。

在再现时，由上述数据检测处理部5解码的二进制数据串被供应给编码/解码部7。编码/解码部7对上述二进制数据串执行解调处理，从而获取来自光盘90的再现数据。具体地，编码/解码部7对经过了RLL(1，7)PP调制并被记录在光盘90上的数据执行解调处理，并且执行用于进行纠错的ECC解码处理，从而获取来自光盘90的再现数据。

基于系统控制器10的指令，由编码/解码部7向下解码为再现数据的数据被传输至主机接口8，然后被传输至主机设备100。主机设备100例如是，计算机设备或AV(视听)系统设备。

当在光盘90上进行记录/再现时，ADIP信息被处理。

具体地，作为与槽的摆动有关的信号的从矩阵电路4输出的推挽信号在摆动信号处理电路6中被转换为数字化的摆动数据。另外，与推挽信号同步的时钟通过PLL处理被生成。

ADIP解调电路16对摆动数据进行MSK解调和STW解调，从而摆动数据被解调为组成ADIP地址的数据流。该数据流然后被供应给地址解码器9。

地址解码器9对供应给其的数据进行解码，从而获取地址值，然后将该地址值供应给系统控制器10。

在记录时，记录数据从主机设备100传输。记录数据被经由主机接口8供应给编码/解码部7。

在这种情况下，编码/解码部7执行纠错码(ECC编码)的添加、交织、以及子码的添加等，作为记录数据编码处理。另外，从这些处理得到的数据经历RLL(1，7)PP系统的调制。

写策略部14将由编码/解码部7处理后的记录数据转换为以下状态中的激光驱动脉冲，在该状态中，对针对记录层的特性的最佳记录功率、激光的光点形状、记录线速度等的精细调节以及对激光驱动脉冲的波形的调节等已经被作为记录补偿处理进行。写策略部14然后将激光驱动脉冲供应给激光驱动器13。

激光驱动器13然后将从记录补偿处理得到的激光驱动脉冲供应给光学拾取器1中的激光二极管，以使激光发射驱动被执行。从而，对应于记录数据的标记被形成在光盘90上。

附带地，激光驱动器13包括所谓的APC(自动功率控制)电路，以在基于设置在光学拾取器1中的用于监控激光功率的探测器的输出来监控激光输出功率的同时，控制激光输出从而保持激光输出恒定而不管温度等如何。

记录时和再现时的激光输出的目标值由系统控制器10供应。激光输出的电平分别被控制为记录时的目标值和再现时的目标值。

记录时的最佳激光功率通过随后描述的激光功率调节处理来设置。

光学块伺服电路11根据来自矩阵电路4的聚焦误差信号和追踪误差信号来生成用于聚焦、追踪、以及滑动的各种伺服驱动信号，以使伺服操作被执行。

具体地，光学块伺服电路11根据聚焦误差信号和追踪误差信号生成聚焦驱动信号和追踪驱动信号，并且通过双轴驱动器18驱动光学拾取器1中的双轴机构的聚焦线圈和追踪线圈。从而，追踪伺服环和聚焦伺服环由光学拾取器1、矩阵电路4、光学块伺服电路11、双轴驱动器18、以及双轴机构形成。

另外，光学块伺服电路11通过切断追踪伺服环并响应于来自系统控制器10的磁道跳转命令(track jump command)而输出跳转驱动信号，来进行磁道跳转操作。

另外，光学块伺服电路11基于来自系统控制器10的访问执行控制、以及被作为追踪误差信号的低频分量获取的滑动误差信号等来生成滑动驱动信号，并且通过滑动驱动器15来驱动滑动机构3。尽管未示出，滑动机构3包括用于保持光学拾取器1的主轴、滑动电机、传动齿轮等。所要求的光学拾取器1的滑动运动通过根据滑动驱动信号来驱动滑动电机而被执行。

主轴伺服电路12执行控制，以使主轴电机2进行CLV旋转。

主轴伺服电路12通过对作为主轴电机2的当前旋转速度信息的摆动信号进行PLL处理来获得时钟，并且通过将当前旋转速度信息与预定的CLV参考速度信息进行比较来生成主轴误差信号。

另外，在数据再现时，通过数据检测处理部5中的PLL生成的再现时钟是主轴电机2的当前旋转速度信息，所以主轴误差信号也可以通过将当前旋转速度信息与预定的CLV参考速度信息进行比较来生成。

然后，主轴伺服电路12输出根据主轴误差信号生成的主轴驱动信号，以通过主轴驱动器17使主轴电机2进行CLV旋转。

另外，主轴伺服电路12根据来自系统控制器10的主轴反冲(spindlekick)/制动控制信号生成主轴驱动信号，以执行诸如主轴电机2的启动、停止、加速、减速等之类的操作。

上述伺服系统和记录和再现系统的各种操作是由微型计算机形成的系统控制器10来控制的。

系统控制器10根据经由主机接口8从主机设备100供应的命令执行各种处理。

当写指令(写命令)被从主机设备100发出时，例如，系统控制器10首先将光学拾取器1移动到执行写动作的地址。系统控制器10然后使编码/解码部7对从主机设备100传输的数据(例如，视频数据、音频数据等)执行编码处理。然后，根据如上所述地编码后的数据，通过激光驱动器13的激光发射驱动来执行记录。

另外，当请求记录在光盘90上的某数据的传输的读命令从主机设备100供应时，例如，系统控制器10首先利用作为目标的特定地址执行寻找操作控制。即，系统控制器10向光学块伺服电路11发布命令，以使光学拾取器1利用寻找命令指定的地址作为目标来执行访问操作。

系统控制器10然后执行将特定数据部中的数据传输给主机设备100所必需的操作控制。即，系统控制器10从光盘90读取数据，使得再现处理在数据检测处理部5和编码/解码部7中被执行，并且传输所请求的数据。

附带地，尽管图2的示例已经被描述为连接至主机设备100的盘驱动设备，但是根据本发明实施例的盘驱动设备可以采取不被连接至另一设备的形式。在这种情况下，操作部和显示部被设置，并且用于数据输入和输出的接口部分的配置不同于图2。即，根据用户的操作来执行记录和再现是足够的，并形成用于输入和输出各种数据的终端部。当然，盘驱动设备的配置的各种其他示例是可以想到的。

<3.光学系统及用于其的控制系统的配置>

图3示出了与用于其的控制系统一起描述的图2中的光学拾取器1中的光学系统的主要部分。

图3中所示的光学拾取器1包括激光二极管21、液晶衰减器22、分光器23、功能性光学部分群组24、以及物镜25。

激光二极管21由输出自激光驱动器13的驱动电流驱动用于光发射。

在这种情况下，系统控制器10例如根据记录/再现的时间适当地向激光驱动器13指示适当的激光功率。激光驱动器13基于随后描述的前端光电二极管(front photodiode，FPD)26的输出，通过内部APC电路来调节输出至激光功率二极管21的驱动信号(驱动电流量)。从而，从激光二极管21发射的激光被控制为恒定在指定的激光功率。

在这种情况下，在光学拾取器1中，从激光二极管21发射的激光经由液晶衰减器22到达分光器23。

液晶衰减器22例如由液晶面板形成。液晶衰减器22例如在系统控制器10的控制下被驱动以在导通状态和关断状态两种状态之间切换。

在这种情况下液晶衰减器22的导通(闭合)状态是指这样的状态，其中液晶衰减器22在将入射光衰减一定量之后发射入射光。液晶衰减器的关断(打开)状态是指这样的状态，其中液晶衰减器22在原样透射入射光之后发射入射光。

液晶衰减器22例如被用来支持单层光盘和多层光盘的再现。例如，在多层光盘的情况下，需要考虑由于光通过记录层所致的激光衰减。所以，对应于支持多层光盘的记录和再现的激光功率通常在支持多层光盘的盘驱动设备中被设置。

另一方面，在单层光盘的情况下，不需要考虑如上所述的由于光通过记录层所致的激光衰减，所以低于多层光盘的情况的激光功率是合适的。

然而，在支持多层光盘的盘驱动设备中，激光驱动器13、激光二极管21等被设计为提供对应于多层光盘的激光功率。在这种情况下，当激光功率将被衰减为适于激光驱动器13对单层光盘进行驱动的激光功率时，例如，较多噪声的区域需要被使用，这可能使记录和再现稳定性降低。

因此，例如，执行切换以在记录和再现多层光盘时关断液晶衰减器22并且在记录和再现单层光盘时导通液晶衰减器22。附带地，例如，不管将要记录或再现的光盘是多层光盘还是单层光盘，激光功率总是被设置为对应于多层光盘的值。

所以，在对应于单层光盘进行记录和再现时，对应于多层光盘的激光功率的激光被从激光二极管21发射出来，并且该激光在液晶衰减器22中被衰减。即，激光可以在不受噪声影响的状态中从激光二极管21中被发射出来，并被液晶衰减器22衰减为适用于单层光盘的强度。

附带地，上述液晶衰减器22的其他使用以及根据其他使用的驱动模式也是可以想到的。

在这种情况下，从液晶衰减器22发射出来的激光进入分光器23。

在这种情况下，分光器23将入射激光分成两束光，其中，将所分成的激光束中的一个激光束发射到功能性光学部分群组24，并将所分成的激光束中的另一个激光束发射到前端光电二极管26。

首先，前端光电二极管26接收从分光器23入射的激光，并且将对应于所接收的光量的输出输出到激光驱动器13。

作为APC，激光驱动器13改变输出到激光二极管21的驱动信号(驱动电流量)，以使得由从前端光电二极管26输入的检测信号指示的接收光量是对应于由系统控制器10指定的激光功率的值。

附带地，在图3中所示的配置中，前端光电二极管26的输出也被输入到系统控制器10。即，系统控制器10可以监控前端光电二极管26的输出。

在这种情况下，功能性光学部分群组24例如总的代表畸变校正机构以及诸如用于改变光路的反射镜之类的所需光学部分。在这种情况下，通过功能性光学部分群组24的激光进入物镜25。

附带地，在图3中，功能性光学部分群组24被放置在分光器23和物镜25之间。然而实际上，形成功能性光学部分群组24的部分例如可以根据需要被放置在除分光器23和物镜25之间的光路之外的光路中。

从功能性光学部分群组24入射到物镜25上的激光被以聚集的状态施加于图3中未示出的光盘90的记录层。

附带地，光学拾取器1例如还包括用于检测来自物镜25的反射光并生成用作再现信号和各种伺服误差信号的基础的接收信号的主光电探测器，以及用于将来自物镜25的反射光引导到主光电探测器的反射镜、分光器等。然而，这些部件没有在图3中示出。

<4.根据本实施例的激光功率校正>

[4-1.相对透射率]

如下面将要描述的，根据本实施例的盘驱动设备对再现时的激光功率进行校正，以对应于多层光盘90中的记录层的记录状态。

将首先描述记录层的透射率(相对透射率)。

作为前提条件，在对应于本实施例的四层光盘90中，记录首先从衬底侧上的记录层L0开始被执行，并且每当记录完成时，记录被以记录层L1、L2、L3的次序顺序向表面侧进行。

一个记录层的光透射率在数据已记录状态和未记录状态下是不同的。在相对术语中，假设已记录状态下的光透射率为1(100％)，则未记录状态下的透射率为小于1且相应地小于100％的值。即，假设处于已记录状态中的一个记录层的相对透射率为1，则处于未记录状态中的相对透射率取小于1的值。

例如，未记录状态下的相对透射率大约为0.95(95％)，但是在每个记录层中并不是相同的值。当每层被形成时，未记录状态下的相对透射率一般根据诸如材料和厚度之类的条件而不同。

另外，例如假设再现时的激光功率(其是本实施例中的进行校正前用作参考的激光功率)被优化以对应于其中透射激光的所有记录层都处于已记录状态的情况。

图4A至4D和图5A至5F示出了取决于被设置为再现对象的记录层的相对透射率和记录层的记录状态的关系。

首先，图4A至4D示出了再现对象为记录层L0的情况。

假设在这种情况下，记录层L0、L1、L2和L3中的未记录状态下的小于1的相对透射率分别为r1、r2、r3和r4。附带地，处于已记录状态中的每个记录层L0、L1、L2和L3具有相对透射率1。

图4A代表作为再现记录层L0的情况的如下情况：其中，在光盘90中的四个层中，只有第一记录层L0处于数据已记录状态，其他记录层L1、L2和L3都处于数据未记录状态。在这种情况下，数据已记录状态是指数据已被记录在记录层的记录区域中的状态。在这种情况下，数据未记录状态是指数据没有被记录在记录层的记录区域中的状态。附带地，图4A至4D中的数据已记录状态和数据未记录状态之间的区别与同一附图中的纸面下侧的图例一致。该图例还被应用于图5A至5F、图8A至8E、图11A至11C、以及图12A至12E。

图4B代表作为再现同一记录层L0的情况的如下情况：其中，第一记录层L0和下一个记录层L1处于数据已记录状态，其他记录层L2和L3处于数据未记录状态。

图4C代表作为再现记录层L0的情况的如下情况：其中，从第一记录层L0到记录层L2的三层处于数据已记录状态，只有另一记录层L3处于数据未记录状态。

图4D代表作为再现记录层L0的情况的如下情况：其中，从记录层L0到记录层L4的所有记录层都处于数据已记录状态。

当记录层L0被如此再现时，激光LS穿过记录层L1、L2和L3，并且到达记录层L0。附带地，透射对再现对象记录层进行照射的激光的记录层(在这种情况下比如是记录层L1、L2和L3)将被称为透射记录层。

首先，当如图4D中所示作为透射记录层的所有记录层L1、L2和L3都处于数据已记录状态时，记录层L1、L2和L3中的每个记录层的相对透射率为1。所以，假设对应于用于再现记录层L0的激光LS的总的相对透射率在这种情况下是Tr，则Tr＝1(＝1*1*1)。

接着，当如图4C中所示只有记录层L3处于数据未记录状态时，记录层L1和L2具有相对透射率1，而记录层L3具有取决于相对透射率r3的小于1的预定值。所以，在这种情况下，总的相对透射率Tr＝r3(＝1*1*r3)。

接着，当如图4B中所示记录层L3和L2处于数据未记录状态时，记录层L1具有相对透射率1，而记录层L2和L3的相对透射率分别取比如r2和r3的小于1的值。所以在这种情况下，总的相对透射率Tr＝r2*r3。

另外，当如图4A中所示记录层L1、L2和L3均处于数据未记录状态时，记录层L1、L2和L3分别取小于1的值作为相对透射率r1、r2和r3。所以在这种情况下，总的相对透射率Tr＝r1*r2*r3。

例如，作为最简单的具体示例，假设处于未记录状态的各记录层L1、L2和L3的相对透射率r1、r2和r3均为0.95。

然后，对应于图4C的总的相对透射率Tr＝0.95，对应于图4B的总的相对透射率Tr＝0.90(＝0.95*0.95)，对应于图4A的总的相对透射率Tr＝0.86(＝0.95*0.95*0.95)。

图5A、5B和5C示出了当记录层L1被再现时取决于透射记录层的记录状态的总的相对透射率。当记录层L1可以在本实施例中被再现时，意味着至少记录层L0和L1处于数据已记录状态。

首先，当记录层L1被再现时存在两个透射记录层，即记录层L2和L3。

因此，首先，如图5A中所示，根据直到记录层L0和L1都处于数据已记录状态的事实，存在其中记录层L2和L3的记录状态都处于数据未记录状态的情况。在这种情况下，总的相对透射率Tr＝r2*r3。

另外，如图5B中所示，根据直到记录层L0、L1和L3都处于数据已记录状态的事实，存在其中记录层L2处于数据已记录状态而记录层L3处于未记录状态的情况。在这种情况下，总的相对透射率Tr＝r3。

如图5C中所示，根据所有的记录层L0至L3都处于数据已记录状态的事实，存在其中记录层L2和L3二者都处于数据已记录状态的情况。在这种情况下，总的相对透射率Tr＝1。

图5D和5E对应于再现记录层L2的情况。为了使记录层L2可以被再现，至少记录层L0至L2处于数据已记录状态。

在记录层L2的再现过程中唯一的透射记录层是记录层L3。所以，透射记录层具有两种记录状态，如图5D中的情况记录层L3处于数据未记录状态，如图5E中的情况记录层L3处于数据已记录状态。

在图5D的情况下总的相对透射率Tr＝r3。在图5E的情况下总的相对透射率Tr＝1。

图5F对应于再现记录层L3的情况。为了使记录层L3能够被再现，所有的记录层L0至L3都处于数据已记录状态。

在这种情况下不存在透射记录层，因为记录层L3是最外部表面侧上的记录层。所以，在这种情况下，总的相对透射率Tr＝1。

如上述图4A至4D以及图5A至5F所示，即使在同一记录层被再现时，总的相对透射率也会根据再现时透射记录层的记录状态是数据已记录状态还是数据未记录状态而不同。当总的相对透射率Tr的值改变时，穿过透射记录层后的激光的光量和能量也当然改变。即，上述的总的相对透射率Tr的不同意味着即使在同一记录层被再现时，激光的强度也会根据再现时透射记录层的记录状态而不同。

例如，如上所述，在大约2层的光盘中，即使在相对透射率如上所述地根据透射记录层的记录状态而改变时，也允许通过定义了用于记录层的规范范围的方法利用相同的激光功率来再现每一层。然而，三层以上的光盘相对于两层的情况在总的相对透射率方面可能具有更大的差异。所以考虑到在一些情况下不能期望利用上述方法来得到良好的再现。

[4-2.激光功率校正(第一示例)]

因此，本实施例如下所述地对再现时的激光功率进行校正以与图4A至4D和图5A至5F所示的总的相对透射率的改变相对应。

第一至第三示例将被引用作为根据本实施例的激光功率校正。将从第一示例开始描述。

首先，在第一示例中，盘驱动设备的系统控制器基于参考图4A至4D和图5A至5F描述的相对透射率保持校正系数表10a。

图6示意性地示出了校正系数表10a的内容示例。

图6中所示的校正系数表10a具有这样的结构：与再现对象记录层和每个记录层的已记录/未记录状态模式(层状态模式)的组合相关联地存储用于激光功率的校正系数值。附带地，如图6中纸面的左下侧中所描述的，图中的层状态模式的符号指示出[/]中的/左侧的处于已记录状态的层，并指示出[/]中的/右侧的处于未记录状态的层。

例如，在校正系数表10a中，再现对象记录层是记录层L0的情况对应于图4A至图4D。

根据图4A，当记录层L0被再现时，并且当仅是记录层L0处于已记录状态中时，总的相对透射率Tr＝r1*r2*r3。

在图6的校正系数表10a中，再现对象记录层是记录层L0且仅是记录层L0处于数据已记录状态的情况(对应于图4A的情况)下的校正系数是1/(r1*r2*r3)。

即，根据本实施例的校正系数被作为所获取的总的相对透射率Tr的倒数获取，以与相同的再现对象记录层和相同的层状态模式的组合相对应。

附带地，除了图6中上述的校正系数之外的其他校正系数分别是所获取的总的相对透射率Tr的倒数，以对应于图4B、4C和4D以及图5A至5F。

图7的流程图示出了作为第一示例的用于激光功率校正的处理过程的示例。附带地，图7中所示的处理例如可以被看作由根据本实施例的盘驱动设备的系统控制器10依据程序所执行的处理。

作为前提条件，在图7中所示的处理中，步骤S101响应于光盘90的再现的开始而被执行，然后步骤S102至S104被重复，直到再现停止为止。

另外，假设系统控制器在光盘90的再现开始时，向激光驱动器13指示对应于例如四层光盘90预先设置的作为参考(默认值)的激光功率。

在这种情况下，系统控制器10保持从现在装载用于再现的光盘90读取的系统文件以及缺陷管理信息的数据。系统文件例如对应于文件系统的管理信息，并且指示出记录在光盘90上的数据的地址。缺陷管理信息代表关于在光盘90的每个记录层中检测到的缺陷区域、交替区域等的地址的信息。

例如，响应于再现的开始，系统控制器10在步骤S101中通过参考上述缺陷管理信息和系统文件的内容，来获取关于每个记录层的记录状态的信息。

附带地，在步骤S101中获取的记录状态至少是指示出直到四个记录层L0至L3中的哪些记录层处于数据已记录状态的信息。

然后，系统控制器10在步骤S102中首先确定当前再现对象记录层和当前层状态模式。对于当前再现对象记录层，确定哪个记录层具有在那时被再现的地址就足够了。层状态模式可以从在步骤S101中获取的关于每个记录层的记录状态的信息获取。

然后，系统控制器10从校正系数表10a读取与所确定的当前再现对象记录层和所确定的当前层状态模式相应地存储的校正系数值。校正系数值被设置作为校正系数Ad。校正系数Ad被视为用于在激光功率控制中实际地对激光功率进行校正的有效值，并且是用于与再现时间相应地设置的激光功率参考值的校正值。

然后，在步骤S103，计算通过上述校正系数Ad被校正了的激光功率值。作为最简单的示例，另ref作为激光功率的参考值，校正后的激光功率值可以通过ref×Ad获得。然后，校正后的激光功率值被指示给激光驱动器13。激光驱动器13从而执行控制以达到所指示的激光功率，从而使得激光功率校正被适当执行。

接下来，随着再现继续，系统控制器10等待再现对象记录层改变。然后，当确定再现对象记录层改变了时，系统控制器10返回到步骤S102，以利用所获取的与改变后的层状态模式和再现对象记录层相应的校正系数Ad来执行激光功率校正。

通过这样的处理，本实施例可以根据那时的再现对象记录层和记录层配置(即，每个透射记录层的已记录/未记录状态)来执行适当的激光功率校正。

[4-3.激光功率校正(第二示例)]

实际上，存在这样的情况：其中，在甚至是由于数据已经被记录在记录层中所以被视为处于数据已记录状态的记录层的可记录区域(数据带92)中，处于已记录状态的区域和处于未记录状态的区域是相互混合的。

例如，在直到当前时间最新记录的记录层的可记录区域中仅不完全地执行了记录的状态可以被引用作为这种情况。例如假设，在记录层L0的整个可记录区域被记录之后，下一个记录层L1的记录被启动，但是记录在记录层L1的可记录区域中被中途停止。在这种情况下，处于已记录状态的区域和处于未记录状态的区域在记录层L1中是相互混合的。

另外，在记录层具有被登记为缺陷区的区域并且该区域内因此未记录数据的情况下，处于已记录状态的区域和处于未记录状态的区域也在一个记录层中相互混合。

然后，例如，即使在图4A至4D和图5A至5F中所示的被视为处于已记录状态的透射记录层中，激光LS穿过的区域实际上可能不仅处于已记录状态而且处于未记录状态。当区域处于未记录状态时，与记录层相对应的相对透射率变得小于1，从而总的相对透射率也改变。所以，最佳校正值也将改变。

本实施例的第二示例被配置为即使在处于已记录状态的区域部分和处于未记录状态的区域部分在处于数据已记录状态的透射记录层中这样相互混合的情况下，也能够通过适当地改变校正值来执行激光功率校正。

首先，第二示例需要假设这样的情况：其中除了图4A、4B、4C和4D的情况外，如图8A至8E中所示的每个记录层的记录状态的模式(层状态模式)被形成，以与处于数据已记录状态的透射记录层中的激光LS所穿过的区域部分处于未记录状态时的次数相对应。

首先，图8A代表其中当记录层L0被再现时所有的记录层L0至L3都处于数据已记录状态并且记录层L1具有未记录区域部分的情况。在这种情况下，层状态模式是记录层L0、L2和L3处于已记录状态而记录层L1处于未记录状态。

图8B代表其中当记录层L0被再现时四个记录层L0至L3类似地处于数据已记录状态并且记录层L2具有未记录区域部分的情况。在这种情况下，层状态模式是记录层L0、L1和L3处于已记录状态而记录层L2处于未记录状态。

图8C代表其中当记录层L0被再现时所有的记录层L0至L3都处于数据已记录状态并且两个层(即，记录层L1和L2)具有未记录区域部分的情况。在这种情况下，层状态模式是记录层L0和L3处于已记录状态而记录层L1和L2处于未记录状态。

图8D代表其中当记录层L0被再现时所有的记录层L0至L3都处于数据已记录状态并且记录层L1和L3两层具有未记录区域部分的情况。在这种情况下，层状态模式是记录层L0和L2处于已记录状态而记录层L1和L3处于未记录状态。

图8E中的层状态模式类似于图8B，但是代表其中再现对象记录层是记录层L1而不是记录层L0的情况。

对于总的相对透射率Tr，如图8A至8E中所示，在图8A的情况下Tr＝r1，在图8B的情况下Tr＝r2，在图8C的情况下总的相对透射率Tr＝r1*r2，在图8D的情况下总的相对透射率Tr＝r1*r3，并且在图8E的情况下总的相对透射率Tr＝r2。

图8A、8B、8C、8D以及8E中的每个附图中所示的总的相对透射率是在其中没有考虑存在数据已记录状态下的未记录区域部分的第一示例中未被假设的。然而，当这些记录状态模式出现时，第二示例执行激光功率校正以与记录状态模式相对应。

对此，第二示例中的校正系数表10a保持了图9中所示的内容。

被存储以与图9的校正系数表10a的上半部分中的第一层状态模式相对应的校正系数与图6中的相同。

在对应于第二示例的校正系数表10a中，与校正系数表10a的下半部分中所示的第二层状态模式相关联的校正系数被进一步存储。

第二层状态模式中的模式[L0，L1，L3/L2]对应于图8B和8E中的每一个附图，其中只有记录层L2处于图8A至8E中的未记录状态。由于图8B和8E中的总的相对透射率Tr＝r2，所以对应于此，1/r2(r2的倒数)在再现对象记录层为记录层L0或L1的两种情况下被作为校正系数存储，以对应于模式[L0，L1，L3]。

第二层状态模式的第二行中的模式[L0，L2，L3]、第三行中的模式[L0，L2]、以及第四行中的模式[L0，L3]分别对应于图8A、图8D和图8C。与这些模式相对应地，1/r1被作为用于第二行中的模式[L0，L2，L3]的校正系数存储在再现对象记录层L0的列中。另外，1/(r1*r3)被存储用于第三行中的模式[L0，L2]，并且1/(r1*r2)被存储用于第四行中的模式[L0，L3]。

附带地，根据未记录区域部分的出现方式，类似于图4A、4B和4C、图5A、5B和5D等的层状态模式会出现。在这种情况下，利用与(对应于所确定的层状态模式的)通常侧的已记录层配置和再现对象记录层相对应地存储的校正系数来执行激光功率校正。

图10的流程图示出了根据第二示例的由盘驱动设备(系统控制器10)执行的用于激光功率校正的处理过程的示例。

图10中的步骤S201至S203类似于图7中的步骤S101至S103。

然而在步骤S201中，已记录区域部分的地址和未记录区域部分的地址被获取，以相互区别地标识出已记录区域部分和未记录区域部分作为每个记录层的记录状态。

然后，在步骤S202中，基于在如上所述的步骤S201中获取的记录状态信息，在认出当前层状态模式时，反映出激光LS所穿过的区域是处于数据已记录状态的每个透射记录层中的已记录区域部分还是未记录区域部分。

例如，当记录层L0至L3最初被如图4D中所示地记录，并且未记录区域部分出现在图8A中所示的记录层L1中时，这被反映为认出作为层状态模式的模式[L0，L2，L3]。

然后，系统控制器10从图9的校正系数表10a读取与如上所述地认出的层状态模式和再现对象记录层相对应地存储的校正系数值，并且获取该校正系数值作为用于控制的正规校正系数Ad。接着，在步骤S203中，利用校正系数Ad执行激光功率校正。

在步骤S203中的激光功率校正之后，如同图7中的步骤S101，在步骤S204中判断再现对象记录层是否改变了。当判断出再现对象记录层改变了时，返回到步骤S202。

当在步骤S204中获得指示出再现对象记录层没有改变的否定判断结果时，在步骤S205进一步判断对应于当前再现位置的每个透射记录层的记录状态是否改变。

当在这种情况下作为每个透射记录层的记录状态而认出例如至少一个透射记录层已经从已记录区域部分改变为未记录区域部分或者相反地已经从未记录区域部分改变到已记录区域部分时，获得肯定的判断结果。

当在步骤S205中获得否定的判断结果时，返回到步骤S204。当在步骤S205中获得肯定的判断结果时，返回到步骤S202。

假设这样一个具体示例，其中未记录区域部分出现在记录层L1中，并且在记录层L0被再现时参考图8A描述的层状态模式被获得。响应于此，在步骤S205中获得了肯定的判断结果，从而返回到步骤S202。然后，在步骤S202中，系统控制器10读取校正系数表10a中的与第二层状态模式的模式[L0，L2，L3]和再现对象记录层L0的组合相对应地存储的校正系数值1/r1。然后，在步骤S203中，利用校正系数Ad＝1/r1校正后的激光功率值被指示给激光驱动器13。

例如，第一示例具有固定在经校正以与一记录层被再现时的该记录层的再现开始时间相对应的激光功率的算法。

另一方面，通过根据上述第二示例的控制，即使在一个记录层的再现中间，当透射记录层中的已记录区域部分和未记录区域部分之间出现变化时，校正也被执行以根据变化而改变到适当的激光功率。

[4-4.激光功率校正(第三示例)]

下面描述激光功率校正的第三示例。在第三示例中，用于在激光穿过一个透射记录层中的已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界附近时的激光功率校正的算法被添加到第二示例的配置中。

现在考虑这样的情况，其中以记录层L0作为再现对象来执行再现，并且已记录区域部分和未记录区域部分在记录层L1中相互混合，如图11A中所示。然后，如图11A中所示，当然可以认为激光LS通过记录层L1中的已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界bnd。这意味着当存在处于数据已记录状态的透射记录层时，存在以下可能：在再现期间利用激光LS照射的位置处，透射记录层中的已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界通过，或者边界的附近的区域通过。

根据第二示例，为了处理这种状态，在步骤S205中判断出从已记录区域部分到未记录区域部分的改变已经发生，或者从未记录区域部分到已记录区域部分的改变已经发生，并且返回到步骤S202。

系统控制器10基于系统文件等掌握记录层之间的物理等同盘位置的地址之间的对应。即，可认出当前再现对象记录层中的再现位置的地址的物理等同位置处的透射记录层的地址。

所以，可以通过根据在步骤S201中获得的记录信息判断已记录区域部分和未记录区域部分中的哪一个对应于透射记录层中的在当前再现位置的物理等同盘位置处的地址，来作出步骤S205中的已记录区域部分和未记录区域部分之间的改变的判断。

然而实际上，误差可能会出现在透射记录层的已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界附近中的已记录区域部分或未记录区域部分的判断结果中，如下面所描述的。

例如，实际制造的多层光盘90在记录层具有偏心率，并且每个记录层中的偏心率的程度和状态不同。所以，误差很可能会出现在系统控制器10基于系统文件等的地址判断结果和每个记录层中的相同磁盘位置处的实际地址之间。

这意味着在已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界附近，系统控制器10可能会错误地将实际的已记录区域部分认出为未记录区域部分，或者相反可能会错误地将实际的未记录区域部分认出为已记录区域部分。

例如，当在第二示例中发生错误认识时，在步骤S202中从校正系数表10a获得的校正系数Ad对应于不同于实际的层状态模式的层状态模式。即，不对应于实际的层状态模式的激光功率校正被执行。

例如，实际中认为，合理的好结果可以通过第二示例中的激光功率校正获得。然而，为了获得更好的再现性能，期望在已记录区域部分或未记录区域部分可能被如上所述地错误认出的情况下执行尽可能适当的激光功率校正。

因此，在第三示例中，校正系数被如下设置以与透射记录层的已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界附近相对应。

例如，假设如图11A中所示，系统控制器10认出激光LS正在通过记录层L1的边界bnd附近。附带地，假设记录层L2和L3处于图11A至11C中的未记录状态。然后，在实际中，存在以下两种可能：图11B中所示的激光LS通过记录层L1的已记录区域部分的状态，和图11C中所示的激光LS通过记录层L1的未记录区域部分的状态。

图11B中所示的层状态模式可以被认为是这样的层状态模式，其中透射记录层的记录层L1被记录，并且记录层L2和L3都处于未记录状态。在这种情况下，根据校正系数表10a，校正系数为1/(r2*r3)。

在图11C中所示的层状态模式中，透射记录层的记录层L1、L2和L3处于未记录状态。在这种情况下，校正系数为1/(r1*r2*r3)。即，也存在两个校正系数。

因此，在第三示例中设置校正系数时，每个可能的层状态模式的校正系数(校正系数项Sdn)的平均值被获取，并且该平均值avr被设置为用于实际的激光功率校正控制的校正系数Ad。

在这种情况下，用于获取作为校正系数Ad的平均值avr的等式例如可以表达如下：

avr＝(Sd1+Sd2+…+Sdn)/n

在上述图11A至图11C的示例中，平均值avr被如下获取：

avr＝((1/r2*r3)+1/(r1*r2*r3))/2

作为平均值avr的校正系数Ad是对应于图11B和图11C的两个校正系数的平均值。所以，即使例如在已记录区域部分/未记录区域部分的判断结果与实际区域部分相反时，激光功率校正也是利用比错误判断情况下的校正系数具有更接近的值的校正系数来执行的。所以，与没有使用基于平均值的校正系数的情况相比，更可能获得好的再现状态。结果，再现性能可被改善。

当三个以上的记录层处于数据已记录状态时，存在这样的情况：激光同时在两个以上的透射记录层中通过已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界附近。

图12A至12E示出了这种情况的示例。

图12A示出了这样的示例：其中，当记录层L0是再现对象记录层时，记录层L1至L3处于数据已记录状态，并且激光同时处于记录层L1和L3中的边界bnd附近。

在这种情况下，存在作为实际的透射层的层状态模式的图12B、12C、12D和12E的四种可能。

图12B代表其中记录层L1和L3二者均被当作已记录区域部分，从而作为透射记录层的记录层L1至L3全部处于已记录状态的情况。因此，从图9的校正系数表10a获取的校正系数(校正系数项Sd1)为Sd1＝1。

图12C代表其中记录层L1被当作已记录区域部分，而记录层L3被当作未记录区域部分，从而透射记录层的记录层L1和L2处于已记录状态并且记录层L3处于未记录状态的情况。此时，校正系数项Sd2＝1/r3。

图12D代表其中记录层L1被当作未记录区域部分，而记录层L3被当作已记录区域部分，从而透射记录层的记录层L2和L3处于记录状态并且记录层L1处于未记录状态的情况。此时，校正系数项Sd3＝1/r1。

图12E代表其中记录层L1和L3二者都被当作未记录区域部分，从而只有透射记录层的记录层L2处于已记录状态而记录层L1和L3都处于未记录状态的情况。此时，校正系数项Sd4＝1/(r1*r3)。

然后，在这种情况下，通过计算根据图12B、12C、12D和12E的四个层状态模式获取的四个校正系数项Sd1至Sd4的平均值avr来获取校正系数Ad。

即，从图11A至11C以及图12A至12E可以理解，被判断为已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界附近的透射记录层与再现对象记录层之间的关系决定了透射记录层的n种可能的层状态模式。

因此，在第三示例中，将为透射记录层的n种可能的层状态模式中的每一种获取的校正系数设置为校正系数项Sd1至Sdn，获取校正系数项Sd1至Sdn的平均值，并将该平均值设置为校正系数Ad。通过这样获取校正系数项Sd1至Sdn，根据已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界出现的每种可能的模式，适当地获取作为平均值的校正系数。

图13的流程图示出了根据第三示例的由盘驱动设备(系统控制器10)执行的用于激光功率校正的处理过程的示例。

在图13中，首先在步骤S301，如同在前面描述的图10中的步骤S201，已记录区域部分和未记录区域部分的地址例如被作为每个记录层的记录状态获取。

在步骤S302，判断对应于当前再现位置的透射记录层的地址是否在被认为是已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界附近的区域中。

在这种情况下的判断中，首先，将已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界的地址(其是从系统文件获取的地址)设置为参考。然后，通过根据偏心率考虑物理记录层之间的偏移量而获取的裕度(margin)被给予参考地址。当对应于当前再现位置的透射记录层的地址被包括在裕度范围内时，在步骤S302中获取肯定的判断结果。

当否定的判断结果在步骤S302中被获取时，对应于当前再现位置的透射记录层的地址远离边界的地址到这样一个程度：即使受到偏心率的影响，对应于当前再现位置的透射记录层的地址也肯定是已记录区域部分或未记录区域部分的地址。

在这种情况下，校正系数Ad在步骤S303中被获取。步骤S303的处理类似于图10中的步骤S202的处理。即，从校正系数表获取的校正系数被如其原样地设置为校正系数Ad。

另一方面，当肯定的判断结果在步骤S302中被获取时，校正系数Ad被通过执行步骤S304和S305的处理而获取。

在步骤S304，如参考图11A至11C以及图12A至12E所描述的，对应于透射记录层的n种可能的层状态模式(这些模式的出现可依赖于当前再现对象记录层)的校正系数项Sd1至Sdn被从图9中的校正系数表10a中获取。

在步骤S305，所获取的校正系数项Sd1至Sdn的平均值avr被获取，并且平均值avr被用于替换校正系数Ad。

然后，在步骤S306，校正后的激光功率值是利用在步骤S303中获取的校正系数Ad或者在步骤S305中被作为平均值avr获取的校正系数Ad来获取的。然后，校正后的激光功率值被指示给激光驱动器13。从而具有校正后的激光功率的激光被施加。

在步骤S307和S308中，如同图10中的步骤S204和S205中，等待对应于当前再现位置的地址处的再现对象记录层的改变或透射记录层的记录状态的改变，并且当判断出再现对象记录层改变了或者透射记录层的记录状态改变了时，返回到步骤S302。

然而，步骤308判断是否存在作为透射记录层的记录状态的改变的以下三种状态之间的改变：肯定是已记录区域部分的状态、肯定是未记录区域部分(包括未记录数据的记录层)的状态、以及在已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界附近的状态。例如，步骤S302的判断处理可以使用步骤S308中的对于三种状态间的改变的判断结果。

附带地，尽管步骤S305中的平均值avr已经被作为算术平均进行描述，但是也可以使用其他的平均运算。例如，可以根据预定规则获取加权平均。

根据至此为止描述的本实施例的用于激光功率校正的配置被适当地应用于支持多层(尤其是三层以上)光盘的再现。然而，根据本实施例的用于激光功率校正的配置即使在被应用于两层光盘时也可以提供足够的效果。例如，作为将根据本实施例的用于激光功率校正的配置应用于两层光盘的结果，消除了现有技术情况下的使针对形成光盘的层的膜的规范范围变窄的需要。所以，例如，还得到了增加选择膜的材料和特性的自由度的效果。

另外，至此为止描述的激光功率校正的配置还可以被应用在记录时。

本申请包括与2009年9月14日在日本专利局递交的日本优先权专利申请JP 2009-211287中所公开主题有关的主题，该日本优先权专利申请的全部内容通过引用被结合于此。

本领域技术人员应该理解，在不脱离所附权利要求及其等同物的范围的条件下，可以根据设计需要和其他因素想到各种修改、组合、子组合以及变更。

Claims (5)

1.一种再现设备，包括：

激光照射装置，用于发射激光以供进行再现，其中在光学记录介质中形成的n个层中的一层被设置为再现对象，n是2以上的自然数；

校正系数信息保持装置，用于保持包括用于激光功率的校正系数的校正系数信息，所述校正系数与再现对象记录层和在所述激光到达所述再现对象记录层之前透射所述激光的每个透射记录层的已记录/未记录状态模式的组合相关联；

校正系数获取装置，用于从所述校正系数信息保持装置获取与当前再现对象记录层和每个透射记录层的已记录/未记录状态模式的组合相对应的校正系数；

激光功率设置装置，用于基于由所述校正系数获取装置获取的校正系数确定用于所述再现的激光的激光功率参考值的校正系数，并设置用所确定的校正系数校正后的激光功率；以及

驱动信号输出装置，用于输出用以从所述激光照射装置发射所述激光的驱动信号以利用所设置的激光功率来发射所述激光。

2.根据权利要求1所述的再现设备，其中

所述校正系数信息的校正系数是基于总的相对透射率设置的，所述总的相对透射率是在再现对象记录层和每个透射记录层的已记录/未记录状态模式的组合时获取的光透射率，所述组合对应于所述校正系数，并且如果所述总的相对透射率在所有的所述透射记录层都处于已记录状态时为1，则所述总的相对透射率是在全体透射记录层中获取的。

3.根据权利要求1所述的再现设备，其中

所述校正系数获取装置通过反映在每个透射记录层中透射激光的区域是已记录区域部分还是未记录区域部分的判断结果来确定每个透射记录层的已记录/未记录状态模式，并且所述校正系数获取装置从所述校正系数信息保持装置获取与当前再现对象记录层和所确定的每个透射记录层的已记录/未记录状态模式的组合相对应的校正系数。

4.根据权利要求3所述的再现设备，还包括：

边界判断装置，用于判断透射激光的区域是否是被视为每个透射记录层中的已记录区域部分和未记录区域部分之间的边界附近的区域，其中

所述校正系数获取装置响应于所述边界判断装置判断出所述透射激光的区域是被视为所述边界附近的区域，从所述校正系数信息获取与每个透射记录层的每个可能的已记录/未记录状态模式相对应的校正系数作为校正系数项，并且

所述激光功率设置装置通过根据由所述校正系数获取装置获取的校正系数项求出的平均值，来确定用于所述激光功率的参考值的校正系数。

5.一种再现方法，包括：

驱动信号输出步骤，输出用于从用以发射激光的激光照射装置发射所述激光的驱动信号，并改变所述驱动信号以利用所设置的激光功率来发射所述激光，其中在光学记录介质中形成的n个层中的一层被设置为再现对象，n为2以上的自然数；

校正系数信息保持步骤，保持包括用于所述激光功率的校正系数的校正系数信息，所述校正系数与再现对象记录层和在所述激光到达所述再现对象记录层之前透射所述激光的每个透射记录层的已记录/未记录状态模式的组合相关联；

校正系数获取步骤，从在所述校正系数信息保持步骤中保持的所述校正系数信息获取与当前再现对象记录层和每个透射记录层的已记录/未记录状态模式的组合相对应的校正系数；以及

激光功率设置步骤，基于在所述校正系数获取步骤获取的校正系数确定用于所述再现的激光的激光功率参考值的校正系数，并且设置用所确定的校正系数校正后的激光功率。

Images