具体实施方式
以下说明本发明实施例的制作与使用。然而,可轻易了解本发明所提供的实施例仅用于说明以特定方法制作及使用本发明,并非用以局限本发明的范围。
请参照图1,其绘示出有源式阵列有机发光二极管(AMOLED)显示器平面示意图。AMOLED显示器包括:显示面板10、数据线驱动电路12、以及扫描线驱动电路14。显示面板10具有多个像素单元,为了简化附图,此处仅绘示出单一像素单元10a。数据线驱动电路12具有多条数据线D1至Dn,而扫描线驱动电路14具有多条扫描线S1至Sn。每一像素单元10a与一条数据线以及一条扫描线连接(例如,数据线D3及扫描线S3)而排列成矩阵。
请参照图2,其绘示出图1中像素单元10a的电路示意图。典型的像素单元中具有驱动薄膜晶体管(driving TFT)用于驱动发光元件、开关薄膜晶体管(switching TFT)用于切换像素单元的状态、以及储存电容用于储存影像数据。在本实施例中。像素单元10a包括:发光元件22,例如有机发光二极管(OLED),以及用以驱动该发光元件22的驱动薄膜晶体管18,其一般为P型薄膜晶体管(PTFT)。像素单元10a并包含开关薄膜晶体管16,其一般为N型薄膜晶体管(NTFT),以及储存电容器20。开关薄膜晶体管16的栅极连接至对应的扫描线S3,漏极连接至对应的数据线D3,源极则与储存电容器20的一端以及驱动薄膜晶体管18的栅极连接。储存电容器20的另一端与驱动薄膜晶体管18的源极连接,且连接至电压源Vdd。驱动薄膜晶体管18的漏极与发光元件22连接。
如之前所述,由于视觉缺陷/发光不均匀的问题,必须考量像素单元10a的驱动薄膜晶体管18的一致性。然而,对于开关薄膜晶体管16与周边电路所使用的薄膜晶体管(未绘示)而言,则对于元件效能的要求较高。换言之,驱动薄膜晶体管18的需求与开关薄膜晶体管16及周边电路薄膜晶体管的电特性需求不同。
以下说明本发明实施例的影像显示系统及其制造方法。图3I绘示出根据本发明实施例的影像显示系统,特别是一种具有薄膜晶体管装置400的影像显示系统。本发明的实施例是于透明基板上的区域制造用于周边电路的NTFT及PTFT与用于像素单元的开关薄膜晶体管(如,NTFT),且在另一区域制造用于像素单元的驱动薄膜晶体管(如,PTFT)。在以下的叙述中,用于周边电路的薄膜晶体管与用于像素单元的开关晶体管称作「非驱动用薄膜晶体管」。
薄膜晶体管装置400包括具有第一区100及第二区200的基板300。缓冲层302,可任意地覆盖于基板300上,以作为基板300与后续所形成的有源层之间的粘着层或是污染阻障层,其可由氧化硅层、氮化硅层、或其组合所构成。
多晶硅有源层306设置于第一区100的缓冲层302上,而多晶硅有源层314及316则设置于第二区200的缓冲层302上。在本实施例中,多晶硅有源层306的管芯尺寸不同于多晶硅有源层314及316的管芯尺寸。举例而言,后者的管芯尺寸大于前者的管芯尺寸。多晶硅有源层306包括沟道区以及一对被沟道区所隔开的源极/漏极区306b。同样地,多晶硅有源层314包括沟道区以及一对源极/漏极区314a,而多晶硅有源层316包括沟道区以及一对源极/漏极区316b。
绝缘层308覆盖基板300的第一区100及第二区200。特别的是位于第一区100的绝缘层308覆盖多晶硅有源层306以作为栅极介电层,而位于第二区200的绝缘层308则夹设于基板300与多晶硅有源层314及316之间。
多晶硅栅极层312设置于多晶硅有源层306上方的绝缘层308上,其与多晶硅有源层314及316由同一多晶硅层所构成。换言之,多晶硅栅极层312与多晶硅有源层314及316是通过图案化多晶硅层所形成的。
绝缘层318覆盖多晶硅栅极层312与多晶硅有源层314及316,其中位于多晶硅有源层314及316上方的绝缘层318亦作为栅极介电层,且在对应于多晶硅有源层314及316的绝缘层318上方分别设置有金属栅极层322及324。
在本实施例中,位于第一区100的多晶硅有源层306、绝缘层308、及多晶硅栅极层312构成薄膜晶体管,其包括用于AMOLED的发光元件的驱动薄膜晶体管。再者,位于第二区200的多晶硅有源层314及316、绝缘层318、及金属栅极层322及324构成二薄膜晶体管,其包括用于AMOLED的非驱动用薄膜晶体管(即,开关薄膜晶体管以及周边电路薄膜晶体管)。需注意的是在第一区100及第二区200中薄膜晶体管的实际数量取决于电路设计,并未局限于图3I所绘示的三个薄膜晶体管。
接下来,图3A至图3I绘示出根据本发明实施例的具有薄膜晶体管400的影像显示系统的制造方法剖面示意图。请参照图3A,提供基板300,其具有第一区100及第二区200。在本实施例中,第一区100用于制作驱动TFT。第二区200的左侧的部分是用于制作非驱动用的NTFT,而右侧的部分是用于制作非驱动用的PTFT。基板300可由玻璃、石英、或其他透明材料所构成。
接着,可任意地于基板300上形成缓冲层302。之后,在缓冲层302上形成非晶硅层(未绘示)并对其进行结晶化工艺,以将非晶硅层转化成多晶硅层304。在本实施例中,多晶硅层304可通过非激光结晶技术进行该结晶化工艺。举例而言,非激光结晶技术包括:固相结晶化法(solid phasecrystallization,SPC)、金属诱发结晶化法(metal induced crystallization,MIC)、金属诱发侧向结晶化法(metal induced lateral crystallization,MILC)、电场增强金属诱发侧向结晶化法(field enhanced metal induced lateral crystallization,FE-MILC)、或电场增强快速热退火法(field enhanced rapid thermal annealing)等等。在此列举的各种结晶化法仅为例示,本发明并不受限于此。
请参照图3B,通过已知光刻及蚀刻工艺图案化多晶硅层304,以在基板300的第一区100上方形成多晶硅有源层306。
请参照图3C,在基板300的第一区100及第二区200上方形成绝缘层308并覆盖多晶硅有源层306。绝缘层308可由氧化硅、氮化硅、或其他已知栅极介电材料所构成。接着,在绝缘层308上形成非晶硅层(未绘示)并对其进行结晶化工艺,以将非晶硅层转化成多晶硅层310。特别的是,不同于多晶硅层304,多晶硅层310是利用绝缘层308作为隔离层来进行高功率激光结晶化工艺(标准激光结晶化法)而形成的。例如,准分子激光退火(excimer laser annealing,ELA)法。
请参照图3D,图案化多晶硅层310,以在第一区100的绝缘层308上形成对应于多晶硅有源层306的多晶硅栅极层312,且同时在第二区200的绝缘层308上形成多晶硅有源层314及316。由于第一区100的多晶硅有源层306与第二区200的多晶硅有源层314及316是利用不同的结晶化工艺而形成的,故多晶硅有源层306的管芯尺寸不同于多晶硅有源层314及316的管芯尺寸。举例而言,通过ELA所形成的多晶硅有源层314及316的管芯尺寸大于通过非激光结晶技术所形成的多晶硅有源层306的管芯尺寸。
请参照图3E,利用已知光刻技术在图3D所示的结构上形成光致抗蚀剂图案层317,用以在多晶硅有源层314中定义源极/漏极区。接着,利用光致抗蚀剂图案层317作为注入掩模(implant mask),对多晶硅有源层314实施重离子注入(heavy ion implantation)319,以在多晶硅有源层314内形成N型的源极/漏极区314a。
请参照图3F,在去除光致抗蚀剂图案层317之后,在绝缘层308上依序形成绝缘层318及金属层320并覆盖多晶硅栅极层312与多晶硅有源层314及316。同样地,绝缘层318可由氧化硅、氮化硅、或其他已知栅极介电材料所构成。再者,金属层320可由钼(Mo)、钼合金、或其他已知金属栅极材料所构成。
请参照图3G,通过已知光刻及蚀刻工艺来图案化金属层320,以分别在多晶硅有源层314及316上方的绝缘层318上形成金属栅极层322及324。接着,利用金属栅极层322及324作为注入掩模,对多晶硅有源层314及316实施轻离子注入(light ion implantation)325,以在多晶硅有源层314内形成N型的轻掺杂漏极(lightly doped drain,LDD)区314b,而分别在多晶硅有源层306及316内形成轻掺杂源极/漏极区306a及316a。另外,在进行轻离子注入325之后,多晶硅栅极层312成为N型掺杂多晶硅栅极层。此处,第二区200的多晶硅有源层314、位于上方的绝缘层318及金属栅极层322是构成非驱动用的NTFT。在本实施例中,非驱动用的NTFT可为开关TFT。
请参照图3H,利用已知光刻技术在非驱动用的NTFT上覆盖光致抗蚀剂图案层327。接着,以光致抗蚀剂图案层327作为注入掩模,对多晶硅有源层306及316实施重离子注入329,以分别在多晶硅有源层306及316内形成P型的源极/漏极区306b及316b。另外,在进行重离子注入329之后,多晶硅栅极层312成为P型掺杂多晶硅栅极层。此处,第一区100的多晶硅有源层306、位于上方的绝缘层308及多晶硅栅极层312构成驱动PTFT。再者,第二区200的多晶硅有源层316、位于上方的绝缘层318及金属栅极层324构成非驱动用的PTFT。在本实施例中,非驱动用的PTFT可为周边电路TFT。
请参照图3I,在去除光致抗蚀剂图案层317之后,在图3H的结构上依序形成绝缘层330及332,以作为保护层、平坦层、中间层、或其组合。绝缘层330及332可为氧化硅、氮化硅、或其组合。之后,通过已知光刻及蚀刻工艺,在绝缘层330及332形成露出源极/漏极区306b、314a及316b的接触孔并于其内填入导电材料而形成对应于源极/漏极区306b、314a及316b的电极334、336、及338,其材料包括:铝(Al)、钼(Mo)、钛(Ti)、或其组合。如此一来,便完成本发明实施例的TFT装置制作。
根据上述实施例,由于驱动TFT的有源层是采用非激光结晶化工艺制造而成,可避免显示器产生视觉缺陷/发光不均匀的问题。再者,由于元件效能要求较高的周边电路TFT及开关TFT的有源层仍采用激光结晶化工艺制造而成,可维持其元件效能。换言之,由于不同结晶化工艺制造而成的有源层具有不同的管芯尺寸,故驱动TFT的电特性可不同于周边电路TFT及开关TFT的电特性。另外,驱动TFT的栅极由多晶硅所构成,其功函数(workfunction)通常小于金属栅极,因此可降低驱动TFT的阈值电压及增加驱动电流,而进一步延长OLED寿命。
图4绘示出根据本发明另一实施例的具有影像显示系统方块示意图,其可实施于平面显示(FPD)装置500或电子装置700,例如笔记型电脑、手机、数字相机、个人数字助理(personal digital assistant,PDA)、桌上型电脑、电视机、车用显示器、或携带型DVD播放器。根据本发明的TFT装置400可设置于平面显示装置500,而平面显示装置500可为OLED显示器。在其他实施例中,TFT装置400可设置于电子装置700。如图4所示,电子装置700包括:平面显示装置500及输入单元600。输入单元600耦接至平面显示器装置500,用以提供输入信号(例如,影像信号)至平面显示装置500以产生影像。
虽然本发明已以优选实施例披露如上,然其并非用以限定本发明,任何所属技术领域中普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作更动与润饰,因此本发明的保护范围当视后附的权利要求所界定的为准。