[go: up one dir, main page]

CN101751316B - Usb接口组件测试装置 - Google Patents

Usb接口组件测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN101751316B
CN101751316B CN2008103059656A CN200810305965A CN101751316B CN 101751316 B CN101751316 B CN 101751316B CN 2008103059656 A CN2008103059656 A CN 2008103059656A CN 200810305965 A CN200810305965 A CN 200810305965A CN 101751316 B CN101751316 B CN 101751316B
Authority
CN
China
Prior art keywords
usb interface
resistance
test device
component test
connector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN2008103059656A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101751316A (zh
Inventor
崔振山
宫连仲
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2008103059656A priority Critical patent/CN101751316B/zh
Priority to US12/340,752 priority patent/US8067944B2/en
Publication of CN101751316A publication Critical patent/CN101751316A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101751316B publication Critical patent/CN101751316B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/30—Marginal testing, e.g. by varying supply voltage

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)

Abstract

一种USB接口组件测试装置，包括一USB接口、一连接器、一第一电阻及一第二电阻、一第一指示装置，所述连接器用于与一USB接口组件的一插头连接，所述连接器的第一电源端连接所述连接器的第一数据端，还通过所述第一电阻连接所述连接器的第二数据端及第一接地端，所述USB接口的电源端连接一电源，所述USB接口的第一数据端通过所述第二电阻连接所述第一指示装置的第一端，所述第一指示装置的第二端连接所述USB接口的第二数据端，所述USB接口的接地端接地。本发明USB接口组件测试装置可实现对USB接口组件进行测试，以保证USB接口组件能够正常工作。

Description

USB接口组件测试装置
技术领域
本发明涉及一种USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)接口组件测试装置。
背景技术
目前的主板一般都采用支持USB功能的控制芯片组，主板上也安装有USB接口，而且主板上还预留有USB插针(一般为8针或9针，可支持一对USB接口)，通过将一USB接口组件与预留的USB插针相连来提供额外的后置USB接口或前置USB接口，方便用户使用。
如图1所示，现有的USB接口组件100通常包括一8孔插头P1、一对与所述插头P1相连的USB接口P2及P3，所述插头P1竖向排列的每4个孔为一组且每组对应与一个USB接口的电源端、第一数据端、第二数据端及接地端对应进行连接，所述插头P1的插孔可对应安装于主板的USB插针上，所述USB接口P2及P3可作为后置USB接口或前置USB接口供用户使用。如果所述USB接口组件100的插头P1与USB接口P2及P3的内部连线错误或者插头P1和USB接口P2及P3的品质不良，都将影响USB接口组件100正常工作。
发明内容
鉴于上述内容，有必要提供一种USB接口组件测试装置，可对USB接口组件进行测试，以保证USB接口组件能够正常工作。
一种USB接口组件测试装置，包括一USB接口、一连接器、一第一电阻及一第二电阻、一第一指示装置，所述连接器用于与一USB接口组件的一插头连接，所述连接器的第一电源端连接所述连接器的第一数据端，还通过所述第一电阻连接所述连接器的第二数据端及第一接地端，所述USB接口的电源端连接一电源，所述USB接口的第一数据端通过所述第二电阻连接所述第一指示装置的第一端，所述第一指示装置的第二端连接所述USB接口的第二数据端，所述USB接口的接地端接地。
所述USB接口组件测试装置通过与USB接口组件相连对USB接口组件进行测试，当所述USB接口组件工作正常时，才有电流流过第一指示装置，从而实现指示USB接口组件是否能够正常工作。
附图说明
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
图1是现有的一种USB接口组件的示意图。
图2是本发明USB接口组件测试装置的较佳实施方式的示意图。
图3是本发明USB接口组件测试装置的较佳实施方式的电路图。
图4是本发明USB接口组件测试装置的较佳实施方式借助一USB转接线测试图1中的USB接口组件的示意图。
具体实施方式
请参照图2，本发明USB接口组件测试装置200的较佳实施方式包括一箱体202、设置于所述箱体202外部的一电源开关204、一USB接口Pa、一针式连接器J1、发光二极管D1及D2。所述USB接口Pa用于通过一USB转接线选择与图1中的USB接口组件100的两USB接口P2及P3中的一个对应连接，所述针式连接器J1为一8针连接器，用于与图1中的USB接口组件100的插头P1相连。所述发光二极管D1用于指示所测试的USB接口组件100是否正常工作，所述发光二极管D2用于指示USB接口组件测试装置200是否上电工作。
所述发光二极管D1及D2作为指示装置，在其他实施方式中，也可采用其他类型的指示装置，例如蜂鸣器等。
请参照图3，本发明USB接口组件测试装置的较佳实施方式还包括设置于所述箱体202内部的电阻R1-R4、两二极管Da及Db。所述USB接口Pa的电源端V1通过所述电源开关204连接一电源Vc(本实施方式为设置于所述箱体202内部的干电池，也可通过电源线连接外部电源)，所述USB接口Pa的电源端V1还通过所述电阻R3连接发光二极管D2的阳极，发光二极管D2的阴极接地。所述USB接口Pa的数据端Dat1+通过所述电阻R2连接所述发光二极管D1的阳极，所述发光二极管D1的阴极连接所述USB接口Pa的数据端Dat1-，所述USB接口Pa的接地端GND1接地。所述针式连接器J1的电源端V2连接所述二极管Da的阳极，所述二极管Da的阴极连接所述针式连接器J1的数据端Dat2+，还通过所述电阻R1连接所述针式连接器J1的数据端Dat2-及接地端GND2，所述针式连接器J1的电源端V3连接所述二极管Db的阳极，所述二极管Db的阴极连接所述针式连接器J1的数据端Dat3+，还通过所述电阻R4连接所述针式连接器J1的数据端Dat3-及接地端GND3。
由于所测试的USB接口组件100内部电路的电容带电，因此当将USB接口组件100的插头P1插入所述针式连接器J1中时，所述电阻R1和R4用于给所述电容放电，以消除电容带电引起测试过程中的错误判断。所述二极管Da及Db用于防止图1中的USB接口组件100的插头P1插接图2中的针式连接器J1时插反，即如果插反时，可阻止电流从USB接口组件测试装置200流过USB接口组件100。
在本实施方式中，所述电阻R1及R4的电阻值均为2000欧姆，所述电阻R2及R3的电阻值均为200欧姆。所述电源Vc的电压为5伏特的直流电压。在其他实施方式中，所述USB接口Pa的数量不限于一个及所述针式连接器J1的针数不限于8根，可根据不同型号USB接口组件100的插头的数量及结构对应进行调整。
再参照图4，具体测试过程的工作原理如下：
当使用USB接口组件测试装置200测试所述USB接口组件100工作是否正常时，首先将USB接口组件100的插头P1正确插入所述针式连接器J1中，即针式连接器J1的电源端V2及V3、数据端Dat2+、Dat3+、Dat2-及Dat3-、接地端GND2及GND3与USB接口P2或P3建立连接，然后将一良好的USB转接线400的一USB插头402与USB接口Pa相连，将另一USB插头404与USB接口P2或P3中的一个相连。以将USB插头404与USB接口P2相连为例，则针式连接器J1的电源端V2、数据端Dat2+及Dat2-、接地端GND2通过USB接口P2、USB转接线400与USB接口Pa建立连接，最后开启电源开关204，所述发光二极管D2发光，表示USB接口组件测试装置200已上电工作。
当所述USB接口组件100工作正常时，电源Vc提供的电流还经所述USB接口Pa的电源端V1、针式连接器J1的电源端V2、针式连接器J1的数据端Dat2+、USB接口Pa的数据端Dat1+、电阻R2、发光二极管D1、所述USB接口Pa的数据端Dat1-、针式连接器J1的数据端Dat2-、针式连接器J1的接地端GND2再到USB接口Pa的接地端GND1后入地，在此过程中，有电流流过发光二极管D1使得发光二极管D1发光，表示所述USB接口组件100工作正常。
当所述USB接口组件100工作异常或USB接口组件100的插头P1不正确插入所述针式连接器J1中时，无电流从所述USB接口Pa的数据端Dat1+流过发光二极管D1到所述USB接口Pa的数据端Dat1-，发光二极管D1不发光，表示所述USB接口组件100工作出现异常或USB接口组件100的插头P1插入所述针式连接器J1时插反。
当采用USB插头404与USB接口P3相连进行测试时，其测试原理与采用USB插头404与USB接口P2相连进行测试的原理相同。
在其他实施方式中，为降低所述USB接口组件测试装置200的制造成本，也可删除起防插反作用的二极管Da，也可以同时删除起分压作用的电阻R3及起指示作用的发光二极管D2。此外，如果USB接口组件100只有一个USB接口P2时，则与针式连接器J1相连的电阻R4和二极管Db也可以同时删除。
所述USB接口组件测试装置200通过使用USB转接线400将USB接口组件测试装置200的USB接口Pa与USB接口组件100的USB接口P2或P3相连，USB接口组件100的插头P1插入针式连接器J1中，以对USB接口组件100进行测试，当所述USB接口组件100工作正常时，才有电流流过发光二极管D1，从而指示USB接口组件100是否能够正常工作。

Claims (10)

1.一种USB接口组件测试装置，包括一USB接口、一连接器、一第一电阻及一第二电阻、一第一指示装置，其特征在于：所述连接器用于与一USB接口组件的一插头连接，所述连接器的第一电源端连接所述连接器的第一数据端，还通过所述第一电阻连接所述连接器的第二数据端及第一接地端，所述USB接口的电源端连接一电源，所述USB接口的第一数据端通过所述第二电阻连接所述第一指示装置的第一端，所述第一指示装置的第二端连接所述USB接口的第二数据端，所述USB接口的接地端接地。
2.如权利要求1所述的USB接口组件测试装置，其特征在于：所述USB接口组件测试装置还包括一第三电阻及一第二指示装置，所述第三电阻的一端与所述电源相连，还与所述USB接口的电源端相连，所述第三电阻的另一端与所述第二指示装置的第一端相连，所述第二指示装置的第二端接地，还与所述USB接口的接地端相连。
3.如权利要求2所述的USB接口组件测试装置，其特征在于：所述第三电阻的电阻值为200欧姆，所述第二指示装置为一发光二极管，所述第二指示装置的第一端和第二端分别为所述发光二极管的阳极和阴极。
4.如权利要求1所述的USB接口组件测试装置，其特征在于：所述USB接口组件测试装置还包括一二极管，所述二极管的阳极连接所述连接器的第一电源端，所述二极管的阴极连接所述连接器的第一数据端，还通过所述第一电阻连接所述连接器的第二数据端及第一接地端。
5.如权利要求1所述的USB接口组件测试装置，其特征在于：所述USB接口组件测试装置还包括一二极管，所述连接器还包括一第二电源端、一第三数据端、一第四数据端及一第二接地端，所述连接器的第二电源端连接所述二极管的阳极，所述二极管的阴极连接所述连接器的第三数据端，还通过另一电阻连接所述连接器的第四数据端及第二接地端。
6.如权利要求5所述的USB接口组件测试装置，其特征在于：所述另一电阻的电阻值为2000欧姆。
7.如权利要求1所述的USB接口组件测试装置，其特征在于：所述第一指示装置为一发光二极管，所述第一指示装置的第一端和第二端分别为所述发光二极管的阳极和阴极。
8.如权利要求1所述的USB接口组件测试装置，其特征在于：所述第一电阻的电阻值为2000欧姆，所述第二电阻的电阻值为200欧姆。
9.如权利要求1或2所述的USB接口组件测试装置，其特征在于：所述电源为5伏特的直流电源。
10.如权利要求1所述的USB接口组件测试装置，其特征在于：所述USB接口的电源端与所述电源之间还连接一电源开关。
CN2008103059656A 2008-12-04 2008-12-04 Usb接口组件测试装置 Expired - Fee Related CN101751316B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2008103059656A CN101751316B (zh) 2008-12-04 2008-12-04 Usb接口组件测试装置
US12/340,752 US8067944B2 (en) 2008-12-04 2008-12-22 USB component tester

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2008103059656A CN101751316B (zh) 2008-12-04 2008-12-04 Usb接口组件测试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101751316A CN101751316A (zh) 2010-06-23
CN101751316B true CN101751316B (zh) 2013-07-31

Family

ID=42230360

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2008103059656A Expired - Fee Related CN101751316B (zh) 2008-12-04 2008-12-04 Usb接口组件测试装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8067944B2 (zh)
CN (1) CN101751316B (zh)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8988098B2 (en) * 2010-04-15 2015-03-24 Atc Logistics & Electronics, Inc. Systems and methods for modular testing of chargers
US10634731B2 (en) 2010-04-15 2020-04-28 FedEx Supply Chain Logistics & Electronics, Inc. Systems and methods for testing power supplies
CN102346702B (zh) * 2010-08-03 2013-10-09 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Ieee1394接口测试装置
TWI412925B (zh) * 2010-08-06 2013-10-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Ieee1394介面測試裝置
CN102486504A (zh) * 2010-12-01 2012-06-06 江苏蓝源电子科技有限公司 线材工作指示灯
CN103123368A (zh) * 2011-11-18 2013-05-29 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 测试治具
CN103293351A (zh) * 2012-02-27 2013-09-11 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 Usb接口测试负载电路
CN103969476A (zh) * 2013-02-04 2014-08-06 鸿富锦精密电子(天津)有限公司 Usb接口测试负载电路
CN103399251B (zh) * 2013-07-30 2017-05-10 广州视睿电子科技有限公司 Usb通信线检测装置
CN106170709A (zh) 2014-01-28 2016-11-30 广东欧珀移动通信有限公司 电源适配器、终端和处理充电回路阻抗异常的方法
CN104808104A (zh) * 2014-01-28 2015-07-29 广东欧珀移动通信有限公司 接口插接异常检测电路和方法
CN104502773A (zh) * 2015-01-06 2015-04-08 东莞华贝电子科技有限公司 一种用于检测移动终端的短路保护功能的治具和方法
US20170138998A1 (en) * 2015-11-16 2017-05-18 Mediatek Inc. Testing Device for Connection Interface and Related Testing Methods
KR102345964B1 (ko) * 2016-04-08 2022-01-03 한국전자통신연구원 Usb 기반 조명기기 시험 장치 및 방법
CN206348788U (zh) * 2017-01-06 2017-07-21 台达电子工业股份有限公司 Usb控制装置
CN107577572B (zh) * 2017-09-27 2023-10-20 江苏杰士德精密工业有限公司 Usb接口质量检测治具

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101145123A (zh) * 2007-03-12 2008-03-19 中兴通讯股份有限公司 一种usb总线接口检测装置及其检测方法
CN201110868Y (zh) * 2007-11-30 2008-09-03 北京飞天诚信科技有限公司 带报警功能的usb总线电流检测装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3217244A (en) * 1961-12-27 1965-11-09 George G Glover Multiple conductor cable tester having rotatable annular switch means for testing insulation resistance, cross wiring and continuity
US3818329A (en) * 1972-08-01 1974-06-18 Western Electric Co Cable testing circuit employing a pair of diodes to detect specific conductor pair conditions
US4326162A (en) * 1980-05-02 1982-04-20 Hankey James H Cable tester with first and second interengaging test modules
TW479142B (en) * 2000-07-14 2002-03-11 Inventec Corp Method for testing USB port and the device thereof
JP2006048594A (ja) * 2004-08-09 2006-02-16 Canon Inc Ｕｓｂデバイス装置
USD518393S1 (en) * 2004-08-19 2006-04-04 Mitchell B. Nesenoff Cable tester CES model Ed-Lab 800CT

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101145123A (zh) * 2007-03-12 2008-03-19 中兴通讯股份有限公司 一种usb总线接口检测装置及其检测方法
CN201110868Y (zh) * 2007-11-30 2008-09-03 北京飞天诚信科技有限公司 带报警功能的usb总线电流检测装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP特开2006-48594A 2006.02.16

Also Published As

Publication number Publication date
US20100141266A1 (en) 2010-06-10
US8067944B2 (en) 2011-11-29
CN101751316A (zh) 2010-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101751316B (zh) Usb接口组件测试装置
CN101546285B (zh) Usb接口i/o板测试装置
CN103092737A (zh) 具有固态硬盘速率指示功能的电脑系统
CN104635102A (zh) 电子元件检测装置及其检测方法
CN102194432A (zh) 具cmos数据清除电路的显示器及支持所述显示器的主板
CN101769986A (zh) 测试装置及其测试方法
US20140272497A1 (en) Automatic switchover from cell voltage to interconnect voltage monitoring
CN102288841A (zh) 一种通用测试接口的插件识别系统和方法
CN101162254B (zh) Cpu插槽测试装置
CN103166171A (zh) Usb连接器过流保护电路
CN104182312A (zh) 风扇测试板
CN206074653U (zh) 具有正反向识别功能的数据线测试仪
CN108717389A (zh) 板卡、机箱、板卡通信系统及板卡在位检测方法
CN220154806U (zh) 控制装置
CN104932998A (zh) 主板
CN217846516U (zh) 汽车can总线测试装置
CN220650838U (zh) 一种电池组断线测试电路、测试板及测试系统
CN219224997U (zh) 子卡在位检测电路、电子设备和子卡在位检测系统
CN215867065U (zh) 一种测试各种连接线的装置
CN222420948U (zh) 一种热插拔电路
CN205210211U (zh) 航空电子通用测试平台
TWI409483B (zh) Ｕｓｂ介面元件測試裝置
CN217655530U (zh) 一种改善gpu测试的治具板
CN220064281U (zh) 一种通用Oncell假压FPC结构
CN216310796U (zh) 一种存储设备量产检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20130731

Termination date: 20131204