CN101652644B - 红外辐射温度计的测定异常检测装置及其测定异常检测方法 - Google Patents

Abstract

对应用于热成像法的红外辐射温度计，能够检测该红外辐射温度计的计测异常，并推断计测异常原因，如对物透镜的污染及红外辐射温度计机构部故障等。本发明具有：模拟透镜(21)，在红外辐射温度计(10)的对物透镜(11)周围，以比对物透镜(11)更容易污染的位置及姿态被配置；激光位移计(22)，每隔规定时间或在规定时刻向摸拟透镜(21)投射光线，并接收由模拟透镜(21)反射的光，对该受光量进行测定；判断单元(50)，根据由激光位移计(22)测定的受光量计算投射光的衰减率，并根据算出的衰减率推断模拟透镜(21)的污染程度，根据模拟透镜(21)污染程度判断是否发出对物透镜污染的警告，并判断红外辐射温度计(10)的测定异常。

Description

红外辐射温度计的测定异常检测装置及其测定异常检测方法

技术领域

本发明涉及一种用于在利用红外辐射温度计进行的温度测定中，在事先防止测定不良的同时，还对测定异常进行检测的技术。

背景技术

一直以来，在以工学及医学为主的各个领域中，为了以非接触的方式对计测对象的表面温度进行测定，使用了热成像法。该热成像法为一种将物体或生物体的表面温度分布用图像来进行表示的方法，通过将用红外辐射温度计检测出的温度作为电特性的变化而进行捕捉，并将其再转换为光的强弱而输出图像，从而能够观察计测对象表面的连续的温度分布。

所述红外辐射温度计为，例如，(1)将从计测对象放射的红外线用透镜集中，并聚焦到检测元件上，(2)从该检测元件获得对应于红外线强弱的电信号，(3)将该电信号放大，并在实施了线性化补正及放射率补正后显示输出。

上述这种热成像法也被应用于，在铸造领域中对铸造模具的型腔的温度进行计测。

作为上述这种铸造工艺的一个示例，通过图1来进行说明。铸造工艺例如通过图1所示的步骤S1至步骤S4来进行实施。首先将铸造模具30合模(步骤S1)，接着向型腔33内注射熔融金属，使制品成型(步骤S2)，然后开模并将制品从所述铸造模具30中取出(步骤S3)，再向型腔33内喷涂脱模剂并用鼓风机使其干燥(步骤S4)，而后再次将铸造模具30合模(步骤S1)，从而进入铸造工艺的下一轮循环。

在上述铸造工艺中，是在铸造模具开模时用红外辐射温度计10进行型腔的温度计测的。但是，由于在铸造模具30开模时，烟、油雾、脱模剂等自型腔33内飞散出来，因此红外辐射温度计10的对物透镜11将会因附着油分及粉尘等而变脏。如果由此而导致在红外辐射温度计10的对物透镜11上堆积污垢，则会产生测定不良，因此需要适时地对该对物透镜11的表面进行清洁。

作为用于对红外辐射温度计的镜头进行防污的技术，在日本实用新型登录第3041996号公报中，公开了如下技术，即，在红外辐射温度计中，为了防止油分及粉尘等附着于对物透镜、并且迅速地进行污染的检查以及清洁作业，在对物透镜的前侧位置上以可自由拆装的方式设置保护用过滤器。

但是，在铸造中对铸造模具的型腔温度进行测定时，红外辐射温度计的对物透镜有时被设置在铸造模具的上方或处于高温的位置等操作者难以目视确认的位置上，在这种情况下，实际上难以判断是否由于对物透镜的污染而产生了测定异常。此外，为了防止由于红外辐射温度计的对物透镜的污染而导致的测定异常，虽然可以常时对所述对物透镜的表面进行清洁，但是生产性并不好。

在本发明中，提出了一种技术，对于应用于热成像法的所述红外辐射温度计，能够检测出所述红外辐射温度计的计测异常，并能够推断计测异常的原因，如对物透镜的污染、以及红外辐射温度计的机构部故障等。

发明内容

在作为本发明第一形态的红外辐射温度计的测定异常检测装置中，具有：模拟透镜，其以比对物透镜更容易污染的位置及姿态被配置在红外辐射温度计的所述对物透镜周围；受光量测定单元，其每隔规定时间或在规定的时刻向所述摸拟透镜投射光线，同时接收由所述模拟透镜反射的光，并对该受光量进行测定；判断单元，其根据由所述受光量测定单元测定的受光量计算出投射光的衰减率，并根据计算出的衰减率而推断所述模拟透镜的污染程度，再根据所述模拟透镜的污染程度来判断是否需要发出对物透镜污染的警告。

在作为本发明第二形态的红外辐射温度计的测定异常检测方法中，用于检测测定异常的装置具有：模拟透镜，其以比所述对物透镜更容易污染的位置及姿态被配置在红外辐射温度计的对物透镜周围；受光量测定单元；判断单元，其与所述受光量测定单元相连接；所述红外辐射温度计的测定异常检测方法包括：利用所述受光量测定单元，每隔规定时间或在规定的时刻向所述摸拟透镜投射光线，同时接收由所述模拟透镜反射的光，并测定该受光量的步骤；利用所述判断单元，根据测定出的受光量计算出投射光的衰减率， 并根据计算出的衰减率而推断所述模拟透镜的污染程度，再根据所述模拟透镜的污染程度来判断是否需要发出对物透镜污染的警告的步骤。

在作为本发明第三形态的红外辐射温度计的测定异常检测装置中，具有：热电温度计，在红外辐射温度计的计测对象中，对设定在可视为黑体的部位处的模拟黑体点的温度进行测定；判断单元，取得由所述热电温度计测得的所述模拟黑体点的测定温度以及由所述红外辐射温度计测得的所述模拟黑体点的测定温度，并根据这些测定温度之差来检测测定异常，并且在检测出测定异常时，根据所述热电温度计的测定温度与所述红外辐射温度计的测定温度之间的关系，来判断所述红外辐射温度计与所述热电温度计中的某一个是否发生了故障。

在作为本发明第四形态的红外辐射温度计的测定异常检测方法中，用于检测测定异常的装置具有：热电温度计，其在红外辐射温度计的计测对象中，对设定在可视为黑体的部位处的模拟黑体点的温度进行测定；判断单元，其与所述红外辐射温度计及所述热电温度计相连接；所述红外辐射温度计的测定异常检测方法包括：利用所述红外辐射温度计及所述热电温度计，对所述模拟黑体点的温度进行测定的步骤；利用所述判断单元，取得所述红外辐射温度计及所述热电温度计的测定温度，并根据这些测定温度之差来检测测定异常，并且在检测出测定异常时，根据所述热电温度计的测定温度与所述红外辐射温度计的测定温度之间的关系，来判断所述红外辐射温度计及所述热电温度计中的某一个是否发生了故障的步骤。

如上文所述，根据本发明的红外辐射温度计的测定异常检测装置以及红外辐射温度计的测定异常检测方法，能够通过预先任意设定的阈值从而在红外辐射温度计的计测异常发生之前发出对物透镜污染的警告。此外，还能够获知红外辐射温度计的计测异常是否是由于红外辐射温度计机构部的故障而引起，从而可有效地进行维护。

附图说明

图1为表示铸造工艺的图。

图2为表示本发明中的红外辐射温度计及其附带的各个装置的一种实施方式的图。

图3为表示本发明中的透镜污染检测机构以及热电温度计的一种实施方式的图。

图4为表示本发明中的透镜污染检测机构以及热电温度计的一种实施方式的图。

图5为表示激光位移计的受光量与模拟透镜的污染程度的关系的图。

图6为表示红外辐射温度计与热电温度计的测定温度的关系的图。

图7为表示由本发明中的判断单元进行对物透镜污染检测的一种实施方式的流程图。

图8为表示由本发明中的判断单元进行测定异常检测的一种实施方式的流程图。

具体实施方式

如图2所示，作为本发明中的红外辐射温度计的一种实施方式中的红外辐射温度计10为，用于对铸造模具30的型腔33的表面温度进行测定的装置。在该红外辐射温度计10上，附带有测定异常检测装置，该测定异常检测装置由下述部件构成：透镜污染检测机构20，用于对对物透镜的污染进行检测；热电温度计63，用于对作为红外辐射温度计10的计测对象的铸造模具30的温度进行计测；判断单元50，其与所述红外辐射温度计10、透镜污染检测机构20、热电温度计63电连接。

在该测定异常检测装置中，将对所述红外辐射温度计10的污染进行警告，并且在发生了测定异常时，将会确定是否是红外辐射温度计10或测定异常检测装置的某种故障。

并且，在本实施方式中，虽然将红外辐射温度计10以及测定异常检测装置设置在铸造模具30中，但是其并不仅限于这种用途，也可以用于，例如设置在冲压机上从而对冲压成型部件的温度进行测定等。

在下文中，对具有所述红外辐射温度计10以及所述测定异常检测装置的铸造模具30进行说明。

如图3及图4所示，在铸造模具30中，具有定模31、和可相对于该定模21进行进退移动的动模32等。在铸造模具30被合模的状态(定模31与动模32被闭合的状态)下，在定模31与动模32的接合面上，形成有用于成形铸造品的型腔33。

所述型腔33的表面优选反射率较小。因此，为了降低型腔33表面的反射率，例如有时会涂抹作为黑色物体的富勒烯(fullerene)。已知该富勒烯不会对铸造模具30以及铸造制品造成影响，此外，即使进行铸造其也难以从铸造模具30上剥离，并且即使剥离了也能够很简单地再次进行涂抹，因此，该富勒烯作为涂抹于型腔33上的黑色物体是适合的。

通过以上述方式将反射率较小的物体涂抹于型腔33上，能够提高用红外辐射温度计10进行铸造模具30的温度测定时的测定精度。这是由于，虽然新品的铸造模具30的型腔33是有光泽的银色，反射率较高，但是通过涂抹黑色物体能够使反射率降低，并且，虽然铸造模具30的型腔33会根据使用状况而产生色斑，但是通过涂抹黑色物体能够使该色斑减少，因此无论铸造模具30的新旧以及使用状态如何，均能够使型腔33的表面状态大致固定。

此外，通过在型腔33上涂抹黑色物体，还能够降低铸造模具30的烧伤。

在下文中，对所述红外辐射温度计10的结构进行说明。

所述红外辐射温度计10是为了以非接触且非破坏的方式对铸造模具30的型腔33的温度进行测定而设置的。

如图2至图4所示，所述红外辐射温度计10具有对物透镜11、检测元件12、运算部13和输出部14。红外辐射温度计10的对物透镜11，在处于开模状态(定模31与动模32分离的状态)的所述铸造模具30中，被配置在可拍摄从定模31与动模32的接合面露出的型腔33的位置上。

在所述红外辐射温度计10中，用所述对物透镜11将从计测对象辐射的红外线集中，并使其焦点聚焦在所述检测元件12处，再利用所述检测元件12根据所述红外线的强弱而变换为电信号，并利用所述运算部13进行所述电信号的放大，且在实施了线性化补正及放射率补正后，由所述输出部14显示输出。

但是，红外辐射温度计10的结构并不仅限于上述结构，还可以使用可通过一般途径获得的红外辐射温度计。

在下文中，对所述透镜污染检测机构20进行说明。

在所述测定异常检测装置中，具有模拟透镜21和激光位移计22，用以作为对红外辐射温度计10的对物透镜11的污染程度进行检测的透镜污染检测机构20。

如图2至图4所示，所述模拟透镜21以比所述对物透镜11更容易污染的位置及姿态而被配置在所述红外辐射温度计10的对物透镜11周围。具体而言，所述模拟透镜21，以接近于所述红外辐射温度计10的对物透镜11，并使从铸造模具30的型腔33释放的气体或飞散物等易于附着，且使其污染程度等同或超过所述对物透镜11的位置及姿态而被配置。

并且，作为所述模拟透镜21，采用具有透光性、难以损伤，并且不会由于从铸造模具30的型腔33中释放的气体或飞散物等而产生热变形或发生反应的制品(例如，玻璃透镜等)。

并且，在自所述模拟透镜21仅离开规定距离的位置处，设置有所述激光位移计22。作为所述激光位移计22可以使用可通过一般途径获得的激光位移计。并且，模拟透镜21与激光位移计22的距离较近时将使精度提高，故为优选。

所述激光位移计22作为受光量测定单元的一个示例而被透镜污染检测机构20所采用，所述受光量测定单元每隔规定时间或在规定的时刻向所述摸拟透镜21投射光线，并对由所述模拟透镜21反射的光进行检测，且对该受光量(强度)进行测定。

因此，代替所述激光位移计22，也可以采用能够向模拟透镜21投射光线并检测由所述模拟透镜21反射的光的量(强度)的制品，例如可以采用下述结构，即，具有光源以及亮度计，从所述光源向模拟透镜21投射光线，并用所述亮度计来测定由该模拟透镜21反射的光的强度。

由于所述模拟透镜21具有透光性，因此被投射到该模拟透镜21处的激光的一部分透射过去，一部分被吸收，其余的部分被反射。如图5所示，可以看出模拟透镜21的污染程度越高，则由激光位移计22检测出的受光量越小。因此，所述激光位移计22，不是为了计测从激光位移计22到模拟透镜21的位移，而是为了在从激光位移计22到模拟透镜21的距离大致保持一定的状态下，根据由激光位移计22检测出的受光量的变化(衰减量)来对该模拟透镜21的污染程度进行计测而进行设置的。在透镜污染检测机构20中，是根据该模拟透镜21的污染程度，而对红外辐射温度计10的对物透镜11的污染程度进行推断的。

在所述激光位移计22中，具有发光元件23、光检测元件24、运算部25和输出部26。从发光元件23发出的激光从投射透镜23A穿过并被集中，且 被照射到模拟透镜21上。并且，被模拟透镜21扩散反射的光线的一部分，从受光透镜24a中穿过并被光检测元件24检测。在运算部25中，计算出由该光检测元件24检测出的受光量(光的强度)，并将其显示输出在输出部26上，同时还将其传递至后文叙述的判断单元50处。

在上述透镜污染检测机构20中，不是以红外辐射温度计10的对物透镜11作为透镜污染的测定对象，而是以模拟透镜21作为透镜污染的测定对象。因此，即使将红外辐射温度计10交换为别的制品，透镜污染检测机构20也可以继续使用。红外辐射温度计10的透镜污染等的维护，可以委托外部的专业部门进行，使透镜污染检测机构20和红外辐射温度计10做成各自独立的结构，对于能够仅交换红外辐射温度计10而继续进行铸造这一点而言是非常适合的。

在下文中，对作为本发明中热电温度计的一种实施方式的热电温度计63进行说明。

如图2至图4所示，为了检测出所述红外辐射温度计10的测定异常，在测定异常检测装置中，设有用于测定铸造模具30的温度的热电温度计63。并且，由该热电温度计63与红外辐射温度计10双方，对作为红外辐射温度计10的计测对象的铸造模具30中设定在可视为黑体的部位处的模拟黑体点61的温度进行测定。

所述模拟黑体点61被设定于，在铸造模具30的型腔33或其附近，具有红外线被吸收的形状的部位(优选为圆锥形状)、或作为测定对象的型腔33的在形状特性上最接近于黑体的部位。由于如上文所述将模拟黑体点61设定在作为红外辐射温度计10的测定对象的铸造模具30的型腔33或其附近处，因此能够以较高的精度检测出红外辐射温度计10的测定异常。

在本实施方式中，在铸造模具30的型腔33或其附近处设有圆锥形孔62，该孔62的内部被作为模拟黑体点61。所述模拟黑体点61可以通过利用存在于型腔33内周形状上的圆锥形孔，或在型腔33附近另形成圆锥形孔，从而设置在铸造模具30上。

并且，当难以在铸造模具30上设定模拟黑体点61时，也可以设置用于保持热电温度计63的热电对64的夹具，并将模拟黑体点61设定在该夹具上。

在所述热电温度计63中，具有热电对64、检测部65、运算部66和输出部67，由所述检测部65检测出在所述热电偶64处产生的电动势，并由所述 运算部66根据检测出的电动势而计算出温度，再由所述输出部67进行显示，并传递至后文叙述的判断单元50处。

虽然所述热电温度计63是为了测定所述模拟黑体点61的温度而设置的构件，但是由于实际上对模拟黑体点61本身的温度进行测定是比较困难的，因此在所述模拟黑体点61的附近配置热电偶64，而在所述热电温度计63中是对与所述铸造模具30的模拟黑体点61的温度较接近的温度进行测定。

在下文中，将对作为本发明判断单元的一种实施方式的判断单元50的结构进行说明。

如图2所示，在所述判断单元50处，所述红外辐射温度计10、所述透镜污染检测机构20和所述判断单元50以可发送/接收信息的方式被连接在一起。所述判断单元50从这些部件取得信息，并对所述红外辐射温度计10的对物透镜11的污染进行检测，且在判断是否需要发出对物透镜11的污染警告的同时，判断红外辐射温度计10的测定异常。

所述判断单元50是所谓的电子计算机。在该电子计算机中，具有：控制部51、运算部52、存储部53、输入/输出部54、操作输入部55以及输出部56等，这些构件通过母线而被相互连接，并可在所述控制部51的管理下进行相互间的数据交换。

所述控制部51是负责判断单元50整体的动作控制的构件。所述运算部52为，用于读取并执行存储于所述存储部53中的各种应用软件，从而使判断单元50发挥其作为判断单元的功能的构件。所述存储部53为，用于存储上述各种应用软件及数据的构件。所述输入/输出部54为，用于例如通过任意的网络而与外部的装置进行数据的发送/接收的构件，且为，用于取得来自红外辐射温度计10、透镜污染检测机构20以及温度补正装置60的信息，并向这些构件发送控制信号的构件。所述操作输入部55为，例如键盘、鼠标等，用于向判断单元50输入信息的构件。所述输出部56为，将判断单元50的运算处理结果进行输出的显示器或扬声器。

在下文中，将参照图7对取得了激光位移计22的计测输出值的判断单元50的处理进行说明。

在判断单元50中，利用激光位移计22对投射到模拟透镜21的光的量(强度)进行设定。并且，在铸造开始时，利用激光位移计22，每隔规定时间或 在规定的时刻向所述摸拟透镜21投射光线，同时接收由所述模拟透镜21反射的光，并对该受光量进行测定。

当通过所述判断单元50，取得了所述激光位移计22的输出值时(S21)，由所述输出值(受光量)计算出投射的光的衰减率。接着，在判断单元50中，将该衰减率与预先设定的阈值进行比较(S22)，从而推断所述模拟透镜的污染程度。所述阈值是，在由于红外辐射温度计10的对物透镜11被污染从而无法获得正确的测定值因而应当发出对物透镜污染警告的状态下的衰减率，其预先通过实验求得并由判断单元50设定。

并且，在所述判断单元50中，根据所述模拟透镜的污染程度而判断是否需要发出对物透镜污染的警告。即，在所述衰减率大于所述阈值时(S22的“是”(Yes))，则判断为需要发出所述对物透镜污染的警告(S23)，由输出部56进行显示输出或声音输出(S24)。该警告被输出的时间，是应该对红外辐射温度计10的对物透镜11进行清洁的适当时间，可以由操作者进行红外辐射温度计10的对物透镜11的清洁或交换，或者，也可以采用具有擦拭器等的对物透镜11及模拟透镜21的清洁单元从而自动地实施上述这些清洁作业的结构。

如上文所述，模拟透镜21由于被配置在比红外辐射温度计10的对物透镜11更容易被污染的位置上，因而其污染比该对物透镜11更快，程度也更深。因此，在由判断单元50判断出应当对红外辐射温度计10的对物透镜11进行清洁之前，不会产生由于所述对物透镜11的污染而产生的红外辐射温度计10的测定不良，从而能够事先防止测定不良。

并且，还可以将上述透镜污染检测机构20应用于，对红外辐射温度计10的对物透镜11的污染之外的，例如太阳光等的干扰因素进行检测，从而事先防止测定不良。

在下文中，将参照图8对取得了所述热电温度计63的计测温度以及红外辐射温度计10的计测温度的判断单元50的处理进行说明。

在图1所示的铸造工艺中，在铸造模具的开模状态(步骤S3及步骤S4)下，每隔规定时间或在规定的时刻，由红外辐射温度计10与热电温度计63双方，大致同时地对模拟黑体点61的温度进行测定。

当通过所述判断单元50，取得了由所述热电温度计63计测到的模拟黑体点61的温度、以及由红外辐射温度计10计测到的模拟黑体点61的温度时 (S31)，在所述判断单元50中，对这些测定温度进行比较运算(S32)，并根据该测定温度的差来检测测定异常。在所述判断单元50中，如果红外辐射温度计10与热电温度计63的测定温度的差大于规定的阈值(S32的“是”(Yes))，则认为出现了测定异常。

并且，在检测出测定异常时，由所述判断单元50根据所述热电温度计63的测定温度与所述红外辐射温度计10的测定温度的关系，来判断所述红外辐射温度计10的功能部(对物透镜11以外的部分)与所述热电温度计63中的某处是否发生了故障。

此时，在所述判断单元50中，根据测定异常的倾向，即红外辐射温度计10的测定温度与热电温度计63的测定温度之间的大小关系，来判断是否属于下文所述的NG区域1和NG区域2中的某一个。

如图6所示，关于红外辐射温度计10的测定温度与热电温度计63的测定温度之间的关系，设定了OK区域以及NG区域，并预先存储在判断单元50的存储部53中。在所述NG区域中，将红外辐射温度计10的测定温度大于热电温度计63的测定温度的NG区域作为NG区域1；反之，将红外辐射温度计10的测定温度小于热电温度计63的测定温度的NG区域作为NG区域2。

在判断单元50中，当测定异常的倾向在NG区域1时(S33的“是”(Yes))，则判断为红外辐射温度计10的功能部出现了异常(S34)。而产生该测定异常的原因，例如有红外辐射温度计10的检测元件12或运算部13的故障等。

另一方面，当测定异常的倾向在NG区域2时(S33的“否”(No))，则判断热电温度计63出现了异常(S35)。而产生该测定异常的原因，例如有热电偶64的断裂等。

并且，该判断单元50的判断结果，作为测定异常的警告而由输出部56显示输出或声音输出(S36)。

此外，在本实施方式的测定异常检测装置中，对于一个判断单元50，从激光位移计22以及热电温度计63的双方输出测定结果。根据这种结构，由判断单元50总体地执行在所述判断单元50获得了来自激光位移计22的输出时的处理、和获得了来自红外辐射温度计10以及热电温度计63的输出时的处理，从而能够判断出红外辐射温度计10的测定异常是由于红外辐射温度计10的对物透镜11的污染所导致，还是由于红外辐射温度计10的功能部的故障所导致，或是由于热电温度计63的故障所导致。

即，在判断单元50中，当从激光位移计22获得的输出值(受光量)的衰减率在规定的阈值以内，且红外辐射温度计10与热电温度计63的测定温度差超过规定的阈值时，根据该测定异常的倾向属于NG区域1与NG区域2中的哪一个，来发出红外辐射温度计10的功能部或是热电温度计63的故障警告，另一方面，当红外辐射温度计10与热电温度计63的测定温度差在规定的阈值以内，且从激光位移计22获得的输出值(受光量)的衰减率超过规定的阈值时，发出红外辐射温度计10的对物透镜11的污染警告。

如上文所述，由于在判断单元50中能够检测出红外辐射温度计的测定异常并推断其原因，因此能够有效地进行红外辐射温度计10的功能部或对物透镜11、透镜污染检测机构20、或者热电温度计63的维护。

产业上的可利用性

本发明能够应用于利用红外辐射温度计进行的温度测定中，尤其适用于在事先防止测定不良的同时，还对测定异常进行检测的技术。

Claims (2)

1.一种红外辐射温度计的测定异常检测装置，其特征在于，具有：

模拟透镜，配置在以铸造模具为计测对象的红外辐射温度计的对物透镜周围，且为了使由所述铸造模具释放的污染物易于附着并使其污染程度等同或超过所述对物透镜，而以比所述对物透镜更面向下方的状态，配置在所述铸造模具的上方且所述对物透镜的侧方；

受光量测定单元，每隔规定时间或在规定的时刻向所述模拟透镜投射光线，并接收由所述模拟透镜反射的光，且对其受光量进行测定；

判断单元，根据由所述受光量测定单元测定的受光量计算出投射光的衰减率，并根据计算出的衰减率而推断所述模拟透镜的污染程度，再根据所述模拟透镜的污染程度来判断是否需要发出对物透镜被污染的警告；

热电温度计，其以所述铸造模具型腔的内周上存在的圆锥状孔为模拟黑体点，并对模拟黑体点的温度进行测定；

所述判断单元取得由所述热电温度计测得的所述模拟黑体点的测定温度以及由所述红外辐射温度计测得的所述模拟黑体点的测定温度，并根据这些测定温度之差来检测测定异常，并且在检测出测定异常时，根据对物透镜的污染、以及所述热电温度计的测定温度与所述红外辐射温度计的测定温度之间的关系，来判断所述红外辐射温度计的功能部或对物透镜、或者所述热电温度计中的某一个是否发生了故障。

2.一种红外辐射温度计的测定异常检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

设置如下构件：模拟透镜，配置在以铸造模具为计测对象的红外辐射温度计的对物透镜周围，且为了使由所述铸造模具释放的污染物易于附着并使其污染程度等同或超过所述对物透镜，而以比所述对物透镜更面向下方的状态，配置在所述铸造模具的上方且所述对物透镜的侧方；受光量测定单元；判断单元，其与所述受光量测定单元相连接；热电温度计，其以所述铸造模具型腔的内周上存在的圆锥状孔为模拟黑体点，并对模拟黑体点的温度进行测定；

利用所述受光量测定单元，每隔规定时间或在规定的时刻向所述模拟透镜投射光线，并接收由所述模拟透镜反射的光，且对其受光量进行测定； 

利用所述判断单元，根据测定出的受光量计算出投射光的衰减率，并根据计算出的衰减率而推断所述模拟透镜的污染程度，再根据所述模拟透镜的污染程度来判断是否需要发出对物透镜被污染的警告；

利用所述判断单元，取得由所述热电温度计测得的所述模拟黑体点的测定温度、以及由所述红外辐射温度计测得的所述模拟黑体点的测定温度，并根据这些测定温度之差来检测测定异常，并且在检测出测定异常时，根据对物透镜的污染、以及所述热电温度计的测定温度与所述红外辐射温度计的测定温度之间的关系，来判断所述红外辐射温度计的功能部或对物透镜、或者所述热电温度计中的某一个是否发生了故障。 

Images