CN101273409A - 具有滤波推挽径向循轨的光学系统 - Google Patents
具有滤波推挽径向循轨的光学系统 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及一种光学系统,所说的光学系统能够通过在载体上读出作为可读效应的信息的主光束(C)、以及第一(A)辅助光束和第二(B)辅助光束从光学载体复制信息。所说光学系统适合于向所说载体引导所说的主光束(C)以及第一(A)辅助光束和第二(B)辅助光束,从而使主光束定位在第一轨道上,第一辅助光束和第二辅助光束相对地定位在第二和第三轨道上。所说光学系统能够通过一个函数f=f(A,B,C)调节来自主光束的推挽(PP)径向误差信号,函数f取决于在第一、第二、和第三轨道中相邻定位的可读效应,即主光束的局部光学环境。因此,根据主光束的局部光学环境完成了推挽信号的滤波或“清除”。
Description
技术领域
本发明涉及用于在相关的光学记录载体上复制光可读效应并且在光学记录载体上实现推挽径向循轨(tracking)的光学系统。本发明还涉及一种用于在相关的光学记录载体上复制光可读效应的方法。
背景技术
为了满足增加信息存储容量的要求,可利用的光学介质,即紧凑盘(CD)、数字通用盘(DVD)、和蓝光盘(BD),在存储容量方面都表现出不断的改进。在这些光学介质中,复制分辨率至今主要由复制光的波长λ和光学复制设备的数字孔径(NA)决定。然而,由于缩短复制光的波长或增加对应的透镜系统的数字孔径并不是一件容易的事情,所以增加记录密度的尝试主要已集中在改善记录介质和/或记录/复制方法上。
当前,通过组合240纳米(nm)的轨道间距和50纳米的通道比特长度而达到的密度限值表明,BD型盘的容量能从当前的该介质上每信息层含有23-25-27GB增加到50GB。
然而,通过甚至进一步减小通道比特长度来增加切向密度,或者通过减小轨道间距(Tp)来减小径向密度从而增加切向密度似乎是已经达到极限。特别是,在只读存储器(ROM)盘上,在这里的径向循轨是通过单个光点的差分相位差(DPD)方法实现的,轨道间距限制在250纳米左右,这时的循轨误差信号消失,这是因为这时的空间频率(在径向方向)超过了光学截止频率的缘故。
因此,具有改进的径向循轨的光学系统会是有益的,具体来说,更加有效的和/或可靠的光学系统会是有益的。
发明内容
因此,本发明优选地寻求单独或任何组合地减轻、缓解或消除一个或多个上述的缺点方法。特别是可以看到,本发明的目的是提供一种光学系统,它解决了上述的现有技术问题,并且更进一步增加了径向密度。
按照本发明的第一方面,通过提供一种光学系统可以达到这个目的以及其它的几个目的,所说的光学系统能够从相关的光学记录载体复制信息,所说载体在轨道中布置有可读效应,所说光学系统包括:
光提供装置,用于至少提供:
主光束,用于在载体上读出作为可读效应的信息,
第一和第二辅助光束;
光电检测装置,能够检测来自光学记录载体的反射光;
其中所说光学系统适合于向所说载体引导所说的主光束以及第一和第二辅助光束;
主光束基本上定位在第一轨道上,及
第一和第二辅助光束分别相对地基本上定位在第二和第三轨道上,或者紧邻第二和第三轨道,第一轨道在第二和第三轨道之间;
所说光学系统适合于通过一个函数f=f(A,B,C)调节推挽(PP)的径向误差信号,函数f取决于在第一、第二、和第三轨道中相邻定位的可读效应,并且
所说光学系统进一步适合于通过应用由调节函数f调节的推挽(PP)径向误差信号执行径向误差循轨。
本发明按照第一方面特别地(但不排除其它地)有益于利用能够在具有低轨道间距(即轨道宽度)的载体上复制信息的光学系统。这可以因为调节函数f的选择性而获得,调节函数f取决于主光束的局部光学环境。于是,为了实现径向循轨可以应用某些局部的光学结构,而不使用其它的局部的光学结构。
此外,本发明可以改进径向循轨误差信号在较低的轨道间距值时的幅度,这已由经验研究/模型研究所证实。此外,由于调节函数f的选择性,信噪比获得了改善。
在光学记录载体上的轨道例如是连续螺旋线的形式或者是多个同心圆的形式。
如果轨道是连续螺旋线的形式,则在光学记录载体上构成了基本上平行的轨道。应该理解,螺旋线轨道包括几个平行的轨道。
有益地,第二和第三轨道可能靠近第一轨道,但在本发明的范围内,相邻的可读效应不必定位在相邻的轨道内。因此,应用第三和第四辅助光束是本发明原理的自然扩展。然而,通过考虑三个相邻的轨迹可以简化数据分析。
有益地,相关的光学记录载体的轨道可以包括没有凹槽的一个部分。特别是对于通常没有用于径向循轨的凹槽的只读存储器(ROM)格式的情况。因此,本发明可以很容易地用于增加这种宽扩展载体的存储密度,如在DVD或BD上的商业电影。
在一个特定的实施例中,第一和第二辅助光束可以定位在相对于相关光学记录载体中心的基本上相同的角位置上。这就明显地简化了随后的数据分析。但是,为了在光电检测装置上在空间上分开反射的光分布,主光束以及第一和第二辅助光束可在切向方向上彼此相对地移动。用电子学方法可以补偿由于这种移动引起的延迟。此外,主光束相对于载体的中心位置的角度位置要与第一和第二辅助光束对准(具有相同的角位置)。于是,可将三个光点大体上安排在载体上具有各种不同取向的一条直线上。如果分光装置例如是一个光栅,就可能发生这种情况。
所说光学系统有利地适合于应用调节函数f(A,B,C)来滤波时间域中的第一多个推挽(PP)径向误差信号,以获得这个时间域中的第二多个推挽(PP)径向误差信号,即较低频率的推挽径向误差信号。因此,第一多个信号的滤波可以产生较小的第二多个信号,从而可以分离不合适的信号。此外,在应用到径向误差循轨之前,可以对第二多个推挽(PP)径向误差信号的子集先进行平均。后者改善信号噪声比。
有益地,调节函数f(A,B,C)可以只对在零径向偏差附近具有大体上反对称形状的推挽误差信号才具有非零值。对于所谓的S曲线,就是这种情况,并且因此,所说调节函数f可用于滤除不具备这种预先确定形状的那些推挽误差信号。
在一个特定实施例中,调节函数f(A,B,C)可以只在第一(A)和第二(B)辅助光束同时反射来自相同种类的可读效应的光而且所说主光束(C)不反射来自可读效应的光时才具有非零值,所说的可读效应是在相关载体的径向方向观察到的。反之亦然,调节函数f(A,B,C)可以只在第一(A)和第二(B)辅助光束不同时反射来自任何可读效应的光而且所说主光束反射来自可读效应的光时才具有非零值,所说的可读效应是在相关载体的径向方向观察到的。在径向方向观察,这两种情况都提供了对称的局部光学环境,并且这两种情况对于来自主光束的反射光的最终得到的推挽信号可以具有有益的影响,下面还要对此进一步详细描述。
本发明在第二方面涉及操作光学系统的方法,所说光学系统适合于在相关的光学记录载体上复制光可读效应,所说方法包括如下步骤:
1)提供光提供装置,光提供装置至少能够发射:
一个主光束,用于在载体上读出作为可读效应的信息,
第一和第二辅助光束;
2)提供光电检测装置,光电检测装置能够检测来自光学记录载体的反射光;
3)向载体引导主光束以及第一和第二辅助光束:
将主光束大体上定位在第一轨道上,
分别将第一和第二辅助光束大体上相对地定位在第二和第三轨道上,或者紧邻第二和第三轨道,第一轨道在第二和第三轨道之间;
4)通过函数f=f(A,B,C)调节推挽(PP)径向误差信号,所说函数f取决于在第一、第二和第三轨道上相邻定位的可读效应;
5)通过应用经过调节函数f调节的推挽(PP)径向误差信号执行径向误差循轨。
本发明按照第二方面具体地(但不排它地)有利于促成操作光学驱动器的改进的方法,光学驱动器既用于记录(如写入)信息又用于复制(如ROM)信息,因为本发明在推挽信号的数据分析中可以很容易地作为滤波或“清除”步骤实施。
本发明在第三方面涉及一种计算机程序产品,所说计算机程序产品适合于实现一种计算机系统,所说计算机系统包括至少一个计算机,计算机具有与之相连的数据存储装置,从而可以按照本发明的第二方面控制光学系统。
本发明的这一方面特别具有如下所述的优点(但不排除其它优点):本发明可以通过一个计算机程序产品来实现,所说计算机程序产品能使一个计算机系统执行本发明的第二方面的操作。因此可以预期,通过在控制光学系统的计算机系统上安装计算机程序产品,就可以改变某些已知的光学系统,使其可以按照本发明进行操作。在任何一种计算机可读介质上,例如基于磁或基于光的介质上,或者通过基于计算机的网络,例如因特网,都可以提供这样一种计算机程序产品。
本发明的第一、第二和第三方面的每一方面都可以与任何其它方面进行组合。根据下面描述的实施例本发明的这些和其它方面都将是显而易见的,下面参照以下的实施例来说明这些方面。
附图说明
现在参照附图只借助实例说明本发明,在这里
图1是按照本发明的第一方面的光学系统的示意图;
图2是按照本发明的第一方面的光电检测装置和调节装置的示意图;
图3A、3B、3C表示根据三个不同的轨道间距值的模拟结果;
图4是光学载体的扫描电子显微镜图像,表示主光束和辅助光束的定位位置;
图5是按照本发明的第二方面的方法流程图。
具体实施方式
图1示意地表示按照本发明的一个光学系统和与其相关的光学载体100。载体100通过保持装置30进行固定和旋转。
载体100包括适合于通过辐射光束52记录信息的材料。记录材料例如可以是磁-光型的、相位改变型的、染料型的、金属合金(如铜/硅)或任何其它合适的材料。可以按照光可检测区的形式在载体上100记录信息,所说区对于可改写介质也称之为标记,对于一次性写入介质也称之为凹坑(pit)。
所说设备包括一个光学头20,有时称之为光学读取头(OPU),通过执行装置21如步进电机可移动光学头20。光学头20包括光电检测装置101、辐射源4、分束器6、透镜7、和透镜移动装置9。光学头20还包括分光装置22,例如光栅或全息图,能够分解辐射光束52为至少三个分量A、B、C,在这里A和B可以代表在主光束C的每一侧的一阶衍射。为清楚起见,将辐射光束A、B、C表示为穿过分束装置22后的三个一组的单光束,但如果例如分束装置22是光栅,则一般来说存在更多的辅助光点。类似地,反射的辐射8也包括不止一个分量,例如三个光点A、B、C的反射、以及三个光点的衍射,但为清楚起见,在图1中只表示一个光束8。
光电检测装置101的功能是将从载体100反射的辐射8转换成电信号。因此,光电检测装置101包括几个光电检测器,例如光电二极管、电荷耦合器件(CCD)等等,它们能够产生发送到预处理器11的一个或多个电输出信号。这些光电检测器在空间上彼此间隔开,并且具有足够的时间分辨率,以便在预处理器11中实现焦点误差(FE)和径向循轨误差(RTE)的检测。因此,预处理器11可以发送焦点误差(FE)和径向循轨误差(RTE)信号到处理器50。光电检测系统101还可以发送读信号或RF信号,这个信号代表从载体100通过预处理器11读出到处理器50的信息。还可能通过对于处理器50中的RF信号进行低通滤波,将读出的信号转换成中央孔径(CA)信号。
用于发射辐射光束52的辐射源4例如可以是一个半导体激光器,所说半导体激光器具有可变的功率并且可能还具有可变的辐射波长。可替换地,辐射源4可以包括不止一个激光器。辐射源4的相关波长可以包括红外光、可见光、紫外光、和软x射线。
对于光学头20进行光学设置,以使辐射光束52经分束器6和透镜7被引向光学载体100。此外,在透镜7的前面可以有一个准直透镜(未示出)。通过透镜7收集从载体100反射的辐射8,辐射8在穿过分束器6以后落在光电检测装置101上,光电检测装置101如以上所述将入射辐射8转换成电输出信号。
处理器50接收并分析来自预处理器11的输出信号。处理器50还可以向执行装置21、辐射源4、透镜移动装置9、预处理器11、和保持装置30输出控制信号,如图1所示。类似地,处理器50可以接收61处表示的数据,并且处理器50可以输出来自如60处表示的读取过程的数据。
图2是光电检测装置101的示意图,光电检测装置101包括用于实施本发明的三个光电检测器部分110、120、130。在每个光电检测器部分110、120、130上,表示相应的光点A、B、C。在图2所示的实施例中,光电检测器部分120分为两个光电检测器a和b。这是通过推挽(PP)方法实现循轨的常规光学结构,在这里应用两个检测器a和b之间的相对的权重来产生一个径向误差信号,这个径向误差信号代表距期望的径向位置和实际位置的误差或偏差。为简化起见,在光电检测器部分110、120、130上只表示出一个光点,但在一般情况下还存在一阶衍射线(m=±1)。通过标记为a和b的两个检测器之间的相对权重,并且通过减法电路122,获得一个推挽信号PP。电路121的功能是一个加法电路,用于提供来自光电检测器部分120的中心孔径信号CAA。电路121和122可以定位在预处理器11中。类似地,从光电检测器110和130可以获得两个中心孔径信号CAB和CAA,辅助光束B和A的反射光分别入射在光电检测器110和130上。为了获得来自光电检测器部分110、120、130的有用的中心孔径(CA)信号,可能必须进行低通滤波以便得到稳定的输出信号。
在图2中还表示出调节装置140,用于施加滤波函数或鉴别函数f。函数f取决于在第一、第二、和第三轨道中相邻定位的可读效应,目的是为了按照某些预先确定的标准从光电检测器120滤除还不能确定是有用的推挽信号PP,用于随后获得循轨误差信号TES。下面给出某些预先确定的标准的例子,但是滤波的效果主要是为了在适合径向误差循轨的主光束C的周围选择一个或多个局部的光学环境。函数f取决于相对于主光束C的相邻可读效应如凹坑,并且还取决于由主光束本身读出的可读效应;因此,
f=f(CAA,CAB,CAC)=f(A,B,C) (1)
于是,在应用了滤波装置以后,只有推挽信号f:PP的一个子集留下来。在本发明的范围内,将这个子集定义为第一多个推挽信号。
在图2所示的实施例中,还要安装一个平均装置150,以便在经过滤波的推挽信号f:PP的子集上完成平均过程,从而产生平均信号<f:PP>。这样做是因为推挽信号PP是以从光学载体100采样的数据的时钟频率获得的,并且即使在滤波之后推挽信号即f:PP的数目减少了,可能仍旧需要一个更加稳定的信号来进行径向循轨误差的操作。
为了说明并证实本发明的原理,发明人利用主光束C的不同的局部光学环境和对于主光束C的推挽信号PP的最终影响进行了全面的模拟研究。
图3A、3B、和3C表示的是分别根据三个不同的轨道间距值:320纳米、240纳米、160纳米的模拟结果。在水平刻度上表示的是径向循轨偏差。于是,对于零循轨偏差,主光束C定位在期望的轨道上。在垂直刻度上,描绘的是主光束C的推挽信号PP。对于三个相邻轨道的例子,推挽信号PP将根据在主光束C的非零部分下面的凹坑做出反映。
因为有三个轨道,且每个轨道或有一个凹坑或有一个空白空间(emptyspace),所以存在23=8种不同的情况,这些情况都可能在径向方向发生。要注意的是,我们因此忽略了这些凹坑具有变化的长度。在下面的表1中,给出了图3A-C的曲线号数,它们具有对应的光学结构。还给出了调节函数的一个例子。
表1
在图3A-C中的曲线号 | 调节函数f的例子 | 可读效应(1:本底(background);0:凹坑) |
1 | 0 | [0,0,0] |
2 | 0 | [0,0,1] |
3 | 1 | [0,1,0] |
4 | 0 | [0,1,1] |
5 | 0 | [1,0,0] |
6 | -1 | [1,0,1] |
7 | 0 | [1,1,0] |
8 | 0 | [1,1,1] |
在图3A中,其中的轨道间距是320纳米,应该注意的是,除曲线4、7、8以外的所有曲线都从主光束C产生出推挽信号PP,这些推挽信号围绕零循轨偏差是反向对称的。于是,有效曲线1、2、3、5、6就代表了可能应用到径向循轨的那些曲线,因为这些曲线具有通常用于径向循轨的所谓“S曲线”的形状。在这个轨道间距,有可能进行平均,将所有的曲线相加到一起并且像通常所做的那样获得有用的推挽信号,即没有经过滤波。
如果像图3B所示的将轨道间距减小到240纳米,则只有曲线3和6具有围绕零循轨偏差的反对称的S曲线形状。于是,分别对应于“凹坑、凸台(land)、凹坑”和反向的“凸台、凹坑、凸台”的光学结构[0,1,0]和[1,0,1]对于径向循轨误差的目的是优选的。
如果像图3C所示的将轨道间距进一步减小到160纳米,则表示出相同的效果,即曲线3和6具有围绕零循轨偏差的反对称的S曲线形状,因此这些光学结构最适合于在这样低的轨道间距值也使用推挽方法进行径向误差循轨。要注意的是,对于这样低的轨道间距,对于所有曲线进行平均将产生零信号。
图4是ROM类型的光学载体的小部分的扫描电子显微镜图像。在图4中表示当旋转载体100时主光束C和辅助光束A、B的定位位置。在扫描电子显微镜(SEM)图像的中心还用黑体箭头表示主光束C的移动方向和路径。在转动载体100时,主光束C定位在第一轨道I,第一辅助光束A定位在相邻的第二轨道II,第二辅助光束B定位在相邻的第三轨道III。主光束C、第一辅助光束A和第二辅助光束B在切线方向(黑体箭头方向)彼此相对地移动。
在两个不同的时间t1和t2,如在径向方向可以观察到的,主光束C有一个局部的光学环境,这个光学环境分别对应于曲线6和3。为了帮助眼睛观察,在图4上附加两个半透明的方块来表示这些光学结构。因此,调节函数f的目的就是滤除从主光束C获得的除了在时间t1和t2以外的所有推挽信号PP。因此,函数f只在时间t1和t2是非零的。此外,调节函数还应该完成曲线3或曲线6的反向,因为两个推挽曲线具有相反的符号,如表I所示。因此,调节函数f(A,B,C)在第一模型中具有简单的阶跃性质,它的近似值是从-1,0或+1这个组中选择出来的,在这里0对应于简单的鉴别,+1对应于一个允许值,-1对应于需要反向的允许值。
应该强调,不仅可以利用比本申请提出的模拟方案更加先进的模拟方案来利用图3B和3C中表示的曲线3和6来进行径向误差循轨,而且还可以利用没有展示出围绕零径向循轨偏差的上述反对称形状的曲线。这样的模拟方案应该将实际的曲线形状考虑在内以获得正确的循轨误差。尽管如此,一旦理解了本发明的原理,这样的模拟方法还应该被认为是在本领域的普通技术人员力所能及的范围之内。具体来说,更加先进的方法也可以应用一些措施来限制在载体100的切向方向的符号间干扰(ISI)。
图5是按照本发明的第二方面的方法的流程图。一种用于操作光学系统的方法,所说光学系统适用于在相关光学记录载体(100)上复制光可读效应,所说方法因而包括如下步骤:
S1提供光提供装置4、22、7,所说光提供装置至少能够发射:
主光束C,用于在载体上读出作为可读效应的信息,
第一A辅助光束和第二B辅助光束;
S2提供光电检测装置101,所说光电检测装置能够检测来自光学记录载体的反射光8;
S3向载体引导主光束C以及第一A辅助光束和第二B辅助光束;
主光束基本上定位在第一轨道I上;
第一和第二辅助光束基本上相对地分别定位在第二轨道II和第三轨道III上,或者紧邻第二轨道II和第三轨道III,第一轨道I在第二轨道II和第三轨道III之间;
S4通过函数f=f(A,B,C)调节推挽径向误差循轨信号PP,函数f取决于在第一轨道I、第二轨道II、和第三轨道III上相邻定位的可读效应;
S5通过应用由调节函数f调节的推挽(PP)径向误差信号执行径向误差循轨。
尽管已经结合特定的实施例描述了本发明,但并不希望本发明只限于这里提出的特定形式。相反,本发明的范围只由所附的权利要求书限定。在权利要求书中,术语“包括”并不排除存在其它的元件或步骤。此外,虽然在不同的权利要求中可能包括一些单独的特征,但是这些单独的特征有可能有益地组合起来,并且在不同的权利要求中包括的内容并不意味着这些特征的组合是不切合实际的和/或无益的。此外,单个并不排除存在多个。于是,提到“一个”、“第一”、“第二”等并不排除存在多个。此外,权利要求中的附图标号将不被认为是限制本发明的范围。
Claims (12)
1、一种光学系统,所说的光学系统能够从相关的光学记录载体复制信息,所说载体(100)在轨道中布置有可读效应,所说光学系统包括:
光提供装置(4、22、7),用于至少提供:
主光束(C),用于在载体上读出作为可读效应的信息,
第一(A)辅助光束和第二(B)辅助光束;
光电检测装置(101),能够检测来自光学记录载体的反射光(8);
其中所说光学系统适合于向所说载体引导所说的主光束(C)以及第一(A)辅助光束和第二(B)辅助光束;
主光束基本上定位在第一轨道(I)上,以及
第一和第二辅助光束分别基本上相对地定位在第二(II)和第三轨道(III)上,或者紧邻第二(II)和第三轨道(III),第一轨道在第二和第三轨道之间;
所说光学系统适合于通过一个函数f=f(A,B,C)调节推挽(PP)的径向误差信号,函数f取决于在第一(I)、第二(II)和第三轨道(III)中相邻定位的可读效应,并且
所说光学系统进一步适合于通过应用由调节函数f调节的推挽(PP)径向误差信号执行径向误差循轨。
2、根据权利要求1所述的光学系统,其中第二(II)和第三轨道(III)与第一轨道(I)相邻。
3、根据权利要求1所述的光学系统,其中相关的光学记录载体(100)的轨道包括没有凹槽的一部分。
4、根据权利要求1所述的光学系统,其中第一(A)辅助光束和第二(B)辅助光束基本上定位在相对于相关的光学记录载体(100)的中心的相同角位置。
5、根据权利要求4所述的光学系统,其中主光束(C)基本上定位在与第一和第二辅助光束相同的相对于相关的光学记录载体(100)中心的角位置。
6、根据权利要求1所述的光学系统,其中所说光学系统适合于应用调节函数f(A,B,C)来在时间域信号中滤波第一多个推挽(PP)径向误差以获得在时间域中的第二多个推挽(PP)径向误差信号。
7、根据权利要求6所述的光学系统,其中至少对于第二多个推挽(PP)径向误差信号的一个子集进行平均,然后将其用于径向误差循轨。
8、根据权利要求1所述的光学系统,其中调节函数f(A,B,C)只对围绕零径向偏差具有基本上反对称形状的推挽误差信号才具有非零值。
9、根据权利要求1所述的光学系统,其中调节函数f(A,B,C)仅当第一(A)辅助光束和第二(B)辅助光束同时反射来自相同种类的可读效应的光而主光束(C)不反射来自可读效应的光才具有非零值,所说可读效应是在相关载体的径向方向观察的。
10、根据权利要求1所述的光学系统,其中调节函数f(A,B,C)仅当第一(A)辅助光束和第二(B)辅助光束不同时反射来自任何可读效应的光而主光束(C)反射来自可读效应的光才具有非零值,所说可读效应是在相关载体的径向方向观察的。
11、一种用于操作光学系统的方法,所说光学系统适合于在相关的光学记录载体(100)上复制光可读效应,所说方法包括如下步骤:
1)提供光提供装置,所述光提供装置至少能够发射:
一个主光束(C),用于在载体上读出作为可读效应的信息,
第一(A)辅助光束和第二(B)辅助光束;
2)提供光电检测装置(101),光电检测装置能够检测来自光学记录载体的反射光;
3)向载体引导主光束(C)以及第一(A)辅助光束和第二(B)辅助光束;
将主光束大体上定位在第一轨道(I)上,
分别将第一和第二辅助光束大体上相对地定位在第二(II)和第三轨道(III)上,或者紧邻第二(II)和第三轨道(III),第一轨道在第二和第三轨道之间;
4)通过函数f=f(A,B,C)调节推挽(PP)径向误差信号,所说函数f取决于在第一(I)、第二(II)、和第三轨道(III)上相邻定位的可读效应;
5)通过应用经过调节函数f调节的推挽(PP)径向误差信号执行径向误差循轨。
12、一种计算机程序产品,所说计算机程序产品可实现一个计算机系统,所说计算机系统包括至少一个计算机,所述计算机具有与所说计算机相连的数据存储装置,以便按照权利要求11所述控制一个光学系统。
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