[go: up one dir, main page]

CN101182996A - 利用阴影莫尔法的三维形状测量装置 - Google Patents

利用阴影莫尔法的三维形状测量装置 Download PDF

Info

Publication number
CN101182996A
CN101182996A CNA2007100906497A CN200710090649A CN101182996A CN 101182996 A CN101182996 A CN 101182996A CN A2007100906497 A CNA2007100906497 A CN A2007100906497A CN 200710090649 A CN200710090649 A CN 200710090649A CN 101182996 A CN101182996 A CN 101182996A
Authority
CN
China
Prior art keywords
grating
illumination
lens
beam splitter
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA2007100906497A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101182996B (zh
Inventor
全文荣
尹相圭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koh Young Technology Inc
Original Assignee
Koh Young Technology Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koh Young Technology Inc filed Critical Koh Young Technology Inc
Publication of CN101182996A publication Critical patent/CN101182996A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101182996B publication Critical patent/CN101182996B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/2433Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring outlines by shadow casting
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/60Systems using moiré fringes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
    • G01N2021/456Moire deflectometry

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明提供利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,其能够与测量对象物的形状无关地使多个照明部选择性地接通/关闭以测量测量对象物的三维形状。该装置包括:光栅移送部,其具有光栅移送部件、光栅移送机构、和线性导向件;光束分离器部,设置在光栅移送部的上方,并包括第三滤光器、第三透镜和光束分离器;辅助照明部,向光束分离器部照射第一照明;成像部,对透过光束分离器部的反射图像进行摄像;多个照明部,分别包括第二照明源、第二透镜和第二滤光器;控制部,分别对光栅移送部、辅助照明部、成像部和照明部进行控制,在反射图像由成像部摄像时将接收反射图像以测量测量对象物的三维形状,并根据测量对象物的形状控制多个照明部的接通/关闭。

Description

利用阴影莫尔法的三维形状测量装置
技术领域
本发明涉及利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,更详细地说,涉及与测量对象物的形状无关地能够使多个照明部选择性地接通/关闭以对测量对象物的三维形状进行测量的利用阴影莫尔法的三维形状测量装置。
背景技术
参照图7对现有的利用投影型莫尔法的三维形状测量装置进行说明。
如图所示,现有的利用投影型莫尔法的三维形状测量装置由控制部10、工作台20、投影部30、旋转部40和成像部50构成,控制部10整体地对三维形状测量装置进行控制,并利用由成像部50拍摄的反射图像对测量对象物21的三维形状进行测量。为了测量测量对象物21的三维形状,将测量对象物21移送到测量位置。工作台20由固定装置22、和作为用来移送设置在所述固定装置22上的测量对象物21的驱动源的电动机23构成。在所述固定装置22的上方侧设有投影部30、旋转部40和成像部50,用来在测量对象物21被移送到测量位置上时对其进行摄像以测量三维形状。
投影部30由光源31、投影光栅32、光栅移送机构32a、投影透镜33和滤光器34构成。将由所述光源31产生的光通过投影光栅32、投影透镜33和滤光器34进行投影,以在测量对象物21的一侧照射光栅状的光。光栅状的光照射在测量对象物21上,为使成像部50对被反射的反射图像进行摄像,成像部50由成像透镜51和摄影机52构成。在由成像部50对照射在测量对象物21一侧的光栅状的光的反射图像进行摄像时,为使成像部50对测量对象物21的另一侧进行摄像,使投影部30向测量对象物21的另一侧如箭头方向旋转。为使投影部30旋转,在投影部30的下侧设置有旋转部40。
所述旋转部40由支撑部件41和旋转部件42构成,在支撑部件41的一侧、即上侧形成有第一贯穿槽41a,以使由被测量对象物21反射的反射图像能够通到成像部50所处的位置,在设置有投影部30的旋转部件42的另一侧形成有第二贯穿槽42a,以使由投影部30产生的光栅图案能够照射到测量对象物21。
发明内容
但是,现有的利用投影型莫尔法的三维形状测量装置存在下述问题:必须根据测量对象物的形状为四角形或圆形的情况将投影部移动到测量对象物的一侧和另一侧或者将其向多个方向移动来测量测量对象物的三维形状,即使在使用以成像部为中心在其一侧和另一侧分别设置有投影部的现有投影型莫尔法的三维形状测量装置的情况下,在测量对象物为圆形时也必须将投影部旋转移动到测量对象物的中心后对测量对象物的三维形状进行测量。
另外,现有的利用投影型莫尔法的三维形状测量装置由于光栅设置在投影部上,因此存在必须根据投影部的设置个数在各投影部上设置光栅、和移送光栅用的光栅移送机构的问题。
因此,本发明是为解决上述问题而提出的,其目的在于提供一种利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,其中,光栅设置在位于测量对象物的上侧的位置,照明部固定设置在测量对象物的多个方向上,由此与测量对象物的形状无关能够选择性地接通/关闭照明部以测量测量对象物的三维形状。
为了达到上述目的,本发明利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,包括:光栅移送部、光束分离器部、辅助照明部、成像部、多个照明部和控制部。光栅移送部包括设置有光栅的光栅移送部件、与所述光栅移送部件连接且移送光栅移送部件的光栅移送机构、和用来引导所述光栅移送机构的线性导向件。光束分离器部设置在光栅移送部的上方,并包括第三滤光器、第三透镜和光束分离器。辅助照明部设置在光束分离器部的一侧,向光束分离器部照射第一照明。成像部对透过光束分离器部的反射图像进行摄像。多个照明部以成像部为中心以预定角度倾斜设置,并分别包括第二照明源、第二透镜和第二滤光器。控制部分别对光栅移送部、辅助照明部、成像部和照明部进行控制,在反射图像由成像部摄像时接收反射图像以测量测量对象物的三维形状,并根据测量对象物的形状控制多个照明部的接通/关闭。
如上所述,本发明利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,通过将光栅设置在测量对象物的上侧,将照明部固定设置在测量对象物的多个方向上,由此,不需要旋转多个照明部、与测量对象物的形状无关地可测量测量对象物的三维形状。
附图说明
图1为本发明利用阴影莫尔法的三维形状测量装置的侧视图;
图2为图1所示的利用阴影莫尔法的三维形状测量装置的主视图;
图3为图1所示的光栅移送部的主视图;
图4为图3所示的光栅移送部的侧视图;
图5为图3所示的光栅的立体图;
图6为在图1所示的利用阴影莫尔法的三维形状测量装置中表示第二照明部的另一实施例的侧视图;
图7为现有的利用投影型莫尔法的三维形状测量装置的侧视图。
符号说明
101  工作台
102  测量对象物
110  光栅
120  光栅移送部
130  光束分离器部
140  辅助照明部
150  成像部
160  照明部
170  控制部
具体实施方式
下面,利用附图对本发明的实施例进行说明。
如图1和图2所示,本发明利用阴影莫尔法的三维形状测量装置包括:光栅移送部120、光束分离器部130、辅助照明部140、成像部150、多个照明部160和控制部170。光栅移送部120包括:设置有光栅110的光栅移送部件121、与光栅移送部件121连接且移送光栅移送部件121的光栅移送机构122、和用来引导光栅移送机构122的线性导向件123。光束分离器部130设置在光栅移送部120的上方,并包括第三滤光器131、第三透镜132和光束分离器133。辅助照明部140设置在光束分离器部130的一侧,并向光束分离器部130照射第一照明。成像部150对透过光束分离器部130的反射图像进行摄像。多个照明部160以成像部150为中心以预定角度倾斜设置,并分别包括第二照明源161、第二透镜162和第二滤光器163。控制部170分别对光栅移送部120、辅助照明部140、成像部150和照明部160进行控制,在反射图像由成像部150摄像时接收反射图像以测量测量对象物102的三维形状,并根据测量对象物102的形状控制多个照明部160的接通/关闭。
本发明利用阴影莫尔法的三维形状测量装置的结构和作用更详细地说明如下。
如图1和图2所示,本发明利用阴影莫尔法的三维形状测量装置包括工作台101、光栅110、光栅移送部120、光束分离器部130、辅助照明部140、成像部150、多个照明部160和控制部170,各个结构依次说明如下。
工作台101按照现有结构构成(即,具有电动机23(参照图7),通过由电动机23产生的旋转力将位于工作台101上侧的测量对象物102移送到测量位置,电动机23由控制部控制,在此去掉电动机而简单表示)。
另一方面,在工作台101上侧设置有光栅110,如图5所示,光栅110在玻璃基板111上印刷形成光栅图案112。
在光栅移送部120上设置有光栅110,为了根据控制部170的命令移送光栅,如图3和图4所示,光栅移送部120包括光栅移送部件121、光栅移送机构122和线性导向件123。
在光栅移送部件121的内侧形成有贯穿槽121a,在贯穿槽121a的上方或下方设置有光栅110。光栅移送部件121与光栅移送机构122连接,且根据控制部170的命令被光栅移送机构122移送。在光栅移送部件121被光栅移送机构122移送时,为了引导光栅移送部件121而设置有线性导向件123。线性导向件123分别位于光栅移送部件121的两侧,且设置在机架103上。
如图1所示,光束分离器部130设置在光栅110的上侧,并包括第三滤光器131、第三透镜132和光束分离器133,以向光栅110照射第一照明或者使通过光栅110而被反射的测量对象物102的反射图像透过。
第三滤光器131设置在光栅110的上侧,过滤通过辅助照明部140被照射的第一照明将其向光栅110照射或者过滤与由测量对象物102反射的光栅图案对应的反射图像并使其透过。设置在第三滤光器131上侧的第三透镜132将第一照明向第三滤光器131照射,或者使与通过第三滤光器131过滤的光栅图案对应的反射图像透过。光束分离器133使通过辅助照明部140而被照射的第一照明反射而照射,或者使透过第三透镜132的反射图像透过并向成像部150照射。
如图1所示,辅助照明部140设置在光束分离器部130的一侧,并包括第一照明源141、第一透镜142和第一滤光器143,以向光束分离器部130照射第一照明。
在测量对象物102的二维形状测量时,第一照明源141由控制部170控制而产生第一照明。第一透镜142设置在第一照明源141的一侧,并使由第一照明源141产生的第一照明透过。第一滤光器143设置在第一透镜142的一侧,过滤透过第一透镜142的第一照明并将其向光束分离器部130照射,以向位于测量对象物102上侧的光栅110照射第一照明。
成像部150为摄影机的一种,如图1所示,其设置在光束分离器部130的上侧,起到的作用是对与透过光束分离器部130的光栅图案对应的反射图像进行摄像,并将其向控制部170传送。另外,控制部170利用从成像部150传送的反射图像对测量对象物102的三维形状进行测量。
如图1和图2所示,多个照明部160以测量对象物102为中心分别设置在四个方向上,并按照位于光栅110的上侧的方式以成像部150为中心分别倾斜设置。另外,照明部160以等角度(θ)隔离设置,并包括第二照明源161、第二透镜162和第二滤光器163,以向光栅110照射第二照明。
第二照明源161产生第二照明,第二透镜162设置在第二照明源161的下侧,透过第二照明源161产生的第二照明。第二滤光器163设置在第二透镜162的下侧,过滤透过第二透镜162的第二照明滤光并将其向光栅110照射,以使位于光栅110的下侧的测量对象物102产生光栅图案。另外,与产生于测量对象物102的光栅状光对应的反射图像形成,该反射图像通过光束分离器部130被照射到成像部150,由成像部150对反射图像进行摄像。
多个照明部160的另一实施例如图6所示,在将多个照明部160分别以水平方式设置的情况下,在第二滤光器163的一侧增加设置反射镜164,以将各照明部160产生的第二照明向光栅110照射。反射镜164倾斜设置,并将通过第二滤光器163过滤并透过的第二照明向光栅110照射。
在第二照明经过光栅110向测量对象物102照射时,产生光栅图案,由此,与光栅图案对应的反射图像被反射。被反射的反射图像通过光束分离器130向成像部150照射,由成像部150对反射图像进行摄像,在反射图像由成像部150摄像时,控制部170接收该图像,对测量对象物102的三维形状进行测量。
在测量对象物102的三维形状测量时,控制部170选择性地对图2所示的多个照明部160的接通/关闭进行控制。例如,在测量对象物102为四角形的情况下,使水平方向上相对的两个照明部160接通,同时使其余的照明部关闭,以对测量对象物102的一侧和另一侧进行测量,在对诸如半圆体的测量对象物102进行测量时,使多个照明部160全部接通来对测量对象物102的三维形状进行测量。
如上所述,对本发明利用阴影莫尔法的三维形状测量装置整体进行控制的控制部170分别对光栅移送部120、辅助照明部140、成像部150和照明部160进行控制,在反射图像由成像部150摄像时,接收反射图像来对测量对象物102的三维形状进行测量,根据测量对象物102的形状对多个照明部160的接通/关闭进行控制。

Claims (10)

1.利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,其特征在于,包括:
光栅移送部,其包括设置有光栅的光栅移送部件、与所述光栅移送部件连接且移送光栅移送部件的光栅移送机构、和用来引导所述光栅移送机构的线性导向件;
光束分离器部,设置在所述光栅移送部的上方,并包括第三滤光器、第三透镜和光束分离器;
辅助照明部,设置在所述光束分离器部的一侧,向光束分离器部照射第一照明;
成像部,对透过光束分离器部的反射图像进行摄像;
多个照明部,以所述成像部为中心以预定角度倾斜设置,并分别包括第二照明源、第二透镜和第二滤光器;
控制部,分别对所述光栅移送部、辅助照明部、成像部和照明部进行控制,在反射图像由成像部摄像时接收反射图像以测量测量对象物的三维形状,并根据测量对象物的形状控制所述多个照明部的接通/关闭。
2.根据权利要求1所述的利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,其特征在于,所述光束分离器部包括第三滤光器、第三透镜和光束分离器,其中,
所述第三滤光器设置在所述光栅的上侧,过滤通过所述辅助照明部而被照射的第一照明并使其向光栅照射,或者过滤并透过由测量对象物反射的反射图像,
所述第三透镜设置在所述第三滤光器的上侧,将第一照明向所述第三滤光器照射,或者使通过所述第三滤光器过滤的反射图像透过,
所述光束分离器设置在所述第三透镜的上侧,对通过所述辅助照明部而被照射的第一照明进行反射而照射,或者使透过所述第三透镜的反射图像透过。
3.根据权利要求1所述的利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,其特征在于,所述辅助照明部包括:
第一照明源,产生第一照明;
第一透镜,设置在所述第一照明源的一侧,使第一照明源产生的第一照明透过;
第一滤光器,设置在所述第一透镜的一侧,过滤透过第一透镜的第一照明,并使其向所述光束分离器部照射。
4.利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,其特征在于,包括:
光栅移送部,其包括设置有光栅的光栅移送部件、与所述光栅移送部件连接且移送光栅移送部件的光栅移送机构、和用来引导所述光栅移送机构的线性导向件;
光束分离器部,设置在所述光栅移送部的上方,并包括第三滤光器、第三透镜和光束分离器;
辅助照明部,设置在所述光束分离器部的一侧,向光束分离器部照射第一照明;
成像部,对透过光束分离器部的反射图像进行摄像;
多个照明部,水平设置,并分别包括照射第二照明的第二照明源、第二透镜、第二滤光器以及用于使经过所述第二滤光器的光向光栅照射的倾斜的反射镜;
控制部,分别对所述光栅移送部、辅助照明部、成像部和照明部进行控制,在反射图像由成像部摄像时接收反射图像以测量测量对象物的三维形状,并根据测量对象物的形状控制所述多个照明部的接通/关闭。
5.利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,其特征在于,包括:
光栅,设置在用来将测量对象物移送到测量位置的工作台的上侧;
光栅移送部,设置有所述光栅,并移送所述光栅;
光束分离器部,设置在所述光栅的上侧,以向光栅照射第一照明、或者使通过光栅被反射的测量对象物的反射图像透过;
辅助照明部,设置在所述光束分离器部的一侧,向光束分离器部照射所述第一照明;
成像部,设置在所述光束分离器部的上侧,对透过光束分离器部的反射图像进行摄像;
多个照明部,按照位于所述光栅的上侧的方式以所述成像部为中心分别倾斜设置,且以等角度隔离设置,向光栅照射第二照明;
控制部,分别对所述光栅移送部、所述辅助照明部、所述成像部和所述照明部进行控制,在反射图像由所述成像部摄像时接收反射图像以测量测量对象物的三维形状,并根据测量对象物的形状控制所述多个照明部的接通/关闭。
6.根据权利要求5所述的利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,其特征在于,所述光栅移送部包括:
光栅移送部件,其内侧形成有贯穿槽,下侧设置有所述光栅;
光栅移送机构,设置在所述光栅移送部件上,对光栅移送部件进行移送;
线性导向件,分别设置在所述光栅移送部件的一侧和另一侧,在通过所述光栅移送机构移送光栅移送部件时引导所述光栅移送部件。
7.根据权利要求5所述的利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,其特征在于,所述辅助照明部包括:
第一照明源,产生第一照明;
第一透镜,设置在所述第一照明源的一侧,使第一照明源产生的第一照明透过;
第一滤光器,设置在所述第一透镜的一侧,过滤透过第一透镜的第一照明,并使其向所述光束分离器部照射。
8.根据权利要求5所述的利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,其特征在于,所述多个照明部以测量对象物为中心分别设置在四个方向上,各个照明部分别包括:
第二照明源,产生第二照明;
第二透镜,设置在所述第二照明源的下侧,使第二照明源产生的第二照明透过;
第二滤光器,设置在所述第二透镜的下侧,对透过第二透镜的第二照明进行过滤,并将其向所述光栅照射。
9.根据权利要求5或8所述的利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,其特征在于,所述多个照明部在以水平方式分别设置照明部的情况下,进一步包括倾斜设置在所述第二过滤器的一侧的反射镜,用来将各个照明部产生的第二照明向所述光栅照射。
10.根据权利要求5所述的利用阴影莫尔法的三维形状测量装置,其特征在于,所述光束分离器部包括:
第三滤光器,设置在所述光栅的上侧,对通过所述辅助照明部而被照射的第一照明进行过滤并使其向光栅照射、或者对由测量对象物反射的反射图像进行过滤并使其透过;
第三透镜,设置在所述第三滤光器的上侧,将第一照明向所述第三滤光器照射、或者使通过所述第三滤光器过滤的反射图像透过;
光束分离器,设置在所述第三透镜的上侧,对通过所述辅助照明部而被照射的第一照明进行反射而照射、或者使透过所述第三透镜的反射图像透过。
CN2007100906497A 2006-11-13 2007-03-30 利用阴影莫尔法的三维形状测量装置 Expired - Fee Related CN101182996B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060111566A KR20080043047A (ko) 2006-11-13 2006-11-13 새도우 모아레를 이용한 3차원형상 측정장치
KR1020060111566 2006-11-13
KR10-2006-0111566 2006-11-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101182996A true CN101182996A (zh) 2008-05-21
CN101182996B CN101182996B (zh) 2011-09-07

Family

ID=38478580

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2007100906497A Expired - Fee Related CN101182996B (zh) 2006-11-13 2007-03-30 利用阴影莫尔法的三维形状测量装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7400413B2 (zh)
JP (1) JP4676455B2 (zh)
KR (1) KR20080043047A (zh)
CN (1) CN101182996B (zh)
DE (1) DE102007015275A1 (zh)
TW (1) TWI328104B (zh)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102200431A (zh) * 2010-03-26 2011-09-28 德律科技股份有限公司 测量立体物件的系统
CN101726261B (zh) * 2008-10-13 2012-06-13 株式会社高永科技 使用多波长测量三维形状的设备和方法
CN101706264B (zh) * 2009-04-01 2012-11-21 姚征远 投影三维测量装置
CN103782129A (zh) * 2011-09-09 2014-05-07 (株)茵斯派托 利用投影光栅振幅的三维形状测量装置及方法
CN104634278A (zh) * 2015-03-03 2015-05-20 湖北汽车工业学院 条纹图对比度自动补偿Shadow Moiré测量系统
CN105157616A (zh) * 2015-07-31 2015-12-16 西安工业大学 一种阴影莫尔轮廓测量装置、其标定方法和测量方法
US9243900B2 (en) 2008-02-26 2016-01-26 Koh Young Technology Inc. Apparatus and method for measuring a three dimensional shape
CN106908443A (zh) * 2012-03-29 2017-06-30 株式会社高永科技 接头检查装置
CN107438762A (zh) * 2015-04-10 2017-12-05 株式会社高永科技 三维形状测量装置
CN108072335A (zh) * 2016-11-18 2018-05-25 欧姆龙株式会社 三维形状测量装置
CN110651166A (zh) * 2017-03-13 2020-01-03 赫普塔冈微光有限公司 用于收集三维数据的光电装置

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ITBO20060421A1 (it) * 2006-05-30 2007-11-30 Abramo Barbaresi Dispositivo per rilevare un filmato tridimensionale, costituito da fotogrammi 3d contenenti la forma e il colore del corpo rilevato.
US8203596B1 (en) * 2007-12-20 2012-06-19 Lockheed Martin Corporation Panoramic imaging system with dual imagers
KR101035895B1 (ko) * 2008-08-23 2011-05-23 주식회사 고영테크놀러지 3차원형상 측정장치
KR100969349B1 (ko) 2008-05-07 2010-07-09 주식회사 고영테크놀러지 에이오아이(aoi) 장치
US8643717B2 (en) * 2009-03-04 2014-02-04 Hand Held Products, Inc. System and method for measuring irregular objects with a single camera
KR101108672B1 (ko) * 2009-05-12 2012-01-25 (주)제이티 반도체소자 비전검사장치 및 그 방법
US8754936B2 (en) 2009-07-03 2014-06-17 Koh Young Technology Inc. Three dimensional shape measurement apparatus
EP2496910A4 (en) 2009-11-04 2016-11-16 Technologies Numetrix Inc DEVICE AND METHOD FOR OBTAINING THREE-DIMENSIONAL OBJECT SURFACE DATA
TWI407075B (zh) * 2010-03-16 2013-09-01 Test Research Inc 量測立體物件之系統
US8855403B2 (en) * 2010-04-16 2014-10-07 Koh Young Technology Inc. Method of discriminating between an object region and a ground region and method of measuring three dimensional shape by using the same
WO2012029975A1 (ja) * 2010-09-03 2012-03-08 株式会社ブリヂストン 帯状部材の形状検出方法とその装置及び2次元変位センサー
TW201215845A (en) * 2010-10-05 2012-04-16 Machvision Inc Illumination system for automatic optical inspection and assembly of it and camera system
WO2014083568A1 (en) 2012-12-02 2014-06-05 Segoma Ltd. Devices and methods for generating a 3d imaging dataset of an object
KR101476033B1 (ko) * 2013-04-29 2014-12-23 김동현 피사체의 표면 굴곡 측정 장치와 방법
TWI471522B (zh) * 2013-07-25 2015-02-01 Nat Univ Tsing Hua 使用陰影雲紋法線上即時檢測表面形貌與平面外變形之方法與系統
US9933371B2 (en) 2014-01-08 2018-04-03 Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha Visual inspection apparatus and visual inspection method
JP6320051B2 (ja) * 2014-01-17 2018-05-09 キヤノン株式会社 三次元形状計測装置、三次元形状計測方法
US20170094251A1 (en) * 2015-09-30 2017-03-30 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional imager that includes a dichroic camera
CN105424077A (zh) * 2015-11-27 2016-03-23 昆山万像光电有限公司 一种光学检测测量照明及其成像系统
WO2017150745A1 (ko) * 2016-02-29 2017-09-08 주식회사 비영 피사체의 표면 굴곡 측정 장치와 방법
JP6513846B2 (ja) * 2017-06-06 2019-05-15 株式会社日立製作所 距離測定装置、及び立体形状測定装置。
CN107970026B (zh) * 2017-11-17 2020-06-19 西安交通大学 基于单摄像头四步光栅相移法的足底三维扫描装置及方法
US11029146B2 (en) * 2018-10-18 2021-06-08 Cyberoptics Corporation Three-dimensional sensor with counterposed channels
EP3992576B1 (en) * 2019-06-28 2024-10-23 Koh Young Technology Inc. Device and method for determining three-dimensional shape of object
CN110940295B (zh) * 2019-11-29 2021-03-30 北京理工大学 基于激光散斑极限约束投影的高反射物体测量方法及系统

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5351126A (en) 1991-10-31 1994-09-27 Matsushita Electric Works, Ltd. Optical measurement system for determination of an object's profile or thickness
US5319445A (en) * 1992-09-08 1994-06-07 Fitts John M Hidden change distribution grating and use in 3D moire measurement sensors and CMM applications
US5561526A (en) * 1994-05-26 1996-10-01 Lockheed Missiles & Space Company, Inc. Three-dimensional measurement device and system
US5847832A (en) * 1996-03-15 1998-12-08 Hughes Aircraft Company Moire topographic measurement
US6731391B1 (en) * 1998-05-13 2004-05-04 The Research Foundation Of State University Of New York Shadow moire surface measurement using Talbot effect
CN1093935C (zh) * 1998-12-30 2002-11-06 西安交通大学 一种快速投影结构光的三维轮廓相位测量方法及装置
US6791695B2 (en) * 1999-06-16 2004-09-14 Bandag Licensing Corporation Shearographic imaging machine with archive memory for animation data and air handling system
JP3494964B2 (ja) * 2000-07-28 2004-02-09 株式会社山武 表面形状測定装置
IL144805A (en) * 2001-08-08 2006-08-01 Nova Measuring Instr Ltd Method and system for measuring the topograpy of a sample
WO2004011876A1 (en) * 2002-07-25 2004-02-05 Solutionix Corporation Apparatus and method for automatically arranging three dimensional scan data using optical marker
JP3934530B2 (ja) * 2002-10-30 2007-06-20 株式会社山武 3次元計測装置及び3次元計測方法
CN100338434C (zh) * 2003-02-06 2007-09-19 株式会社高永科技 三维图像测量装置
JP4334380B2 (ja) * 2004-03-25 2009-09-30 株式会社ミツトヨ 形状測定装置
JP2006084286A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Olympus Corp 3次元計測方法とその計測装置
US7230722B2 (en) * 2005-10-19 2007-06-12 University Of Maryland Shadow moire using non-zero talbot distance

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10359276B2 (en) 2008-02-26 2019-07-23 Koh Young Technology Inc. Apparatus and method for measuring a three dimensional shape
US9243900B2 (en) 2008-02-26 2016-01-26 Koh Young Technology Inc. Apparatus and method for measuring a three dimensional shape
US10996050B2 (en) 2008-02-26 2021-05-04 Koh Young Technology Inc. Apparatus and method for measuring a three dimensional shape
US9488472B2 (en) 2008-02-26 2016-11-08 Koh Young Technology Inc. Apparatus and method for measuring a three dimensional shape
US12163776B2 (en) 2008-02-26 2024-12-10 Koh Young Technology Inc. Apparatus and method for measuring a three-dimensional shape
US10563978B2 (en) 2008-02-26 2020-02-18 Koh Young Technology Inc. Apparatus and method for measuring a three dimensional shape
CN103134446B (zh) * 2008-02-26 2017-03-01 株式会社高永科技 三维形状测量装置及测量方法
CN101726261B (zh) * 2008-10-13 2012-06-13 株式会社高永科技 使用多波长测量三维形状的设备和方法
US8325350B2 (en) 2008-10-13 2012-12-04 Koh Young Technology Inc. Apparatus and method for measuring three-dimensional shape by using multi-wavelength
CN101706264B (zh) * 2009-04-01 2012-11-21 姚征远 投影三维测量装置
CN102200431A (zh) * 2010-03-26 2011-09-28 德律科技股份有限公司 测量立体物件的系统
CN103782129B (zh) * 2011-09-09 2016-09-14 (株)茵斯派托 利用投影光栅振幅的三维形状测量装置及方法
CN103782129A (zh) * 2011-09-09 2014-05-07 (株)茵斯派托 利用投影光栅振幅的三维形状测量装置及方法
CN106908443A (zh) * 2012-03-29 2017-06-30 株式会社高永科技 接头检查装置
CN106908443B (zh) * 2012-03-29 2020-12-08 株式会社高迎科技 接头检查装置
CN104634278A (zh) * 2015-03-03 2015-05-20 湖北汽车工业学院 条纹图对比度自动补偿Shadow Moiré测量系统
CN107438762A (zh) * 2015-04-10 2017-12-05 株式会社高永科技 三维形状测量装置
CN105157616A (zh) * 2015-07-31 2015-12-16 西安工业大学 一种阴影莫尔轮廓测量装置、其标定方法和测量方法
CN105157616B (zh) * 2015-07-31 2017-08-22 西安工业大学 一种阴影莫尔轮廓测量装置、其标定方法和测量方法
CN108072335A (zh) * 2016-11-18 2018-05-25 欧姆龙株式会社 三维形状测量装置
CN110651166A (zh) * 2017-03-13 2020-01-03 赫普塔冈微光有限公司 用于收集三维数据的光电装置
CN110651166B (zh) * 2017-03-13 2021-09-24 赫普塔冈微光有限公司 用于收集三维数据的光电装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4676455B2 (ja) 2011-04-27
JP2008122361A (ja) 2008-05-29
DE102007015275A1 (de) 2008-05-15
US20070211259A1 (en) 2007-09-13
TWI328104B (en) 2010-08-01
US7400413B2 (en) 2008-07-15
CN101182996B (zh) 2011-09-07
TW200821538A (en) 2008-05-16
KR20080043047A (ko) 2008-05-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101182996B (zh) 利用阴影莫尔法的三维形状测量装置
CN100520286C (zh) 三维形状测量装置及方法
CN101303223B (zh) 多方向投影式莫尔干涉仪以及使用该干涉仪的检查方法
JP2008203093A (ja) 照明装置、画像測定装置
KR101311251B1 (ko) 검사장치
CN113655064B (zh) 一种外观缺陷多模式视觉检测传感器
US20140226204A1 (en) Optical Assembly and Light Microscope
CN201063716Y (zh) 用于基准对准和检测的双镜头图像采集装置
WO2007079639A1 (en) Ttl alignment system for projection exposure apparatus and alignment method
KR20120033071A (ko) 비전 검사용 조명 장치
CN101504280A (zh) 一种部件轴向对心检测装置的成像系统
JP4627596B2 (ja) 光反射体検査装置とその使用方法、光反射体検査方法
TWM528423U (zh) 外觀檢查裝置及檢查系統
WO2013153645A1 (ja) 撮像装置及び画像処理装置
JP6421326B2 (ja) 部品実装装置
US9939624B2 (en) Five axis optical inspection system
KR101164208B1 (ko) 기판 검사장치
CN223085417U (zh) 一种用于增材制造的光学系统和增材制造设备
CN101620389B (zh) 成像装置、对其组件的安装进行检测的方法及装置
CN223147753U (zh) 3d打印设备的光学系统和3d打印设备
JPH118863A (ja) 3次元カメラ
CN215953378U (zh) 掌印扫描成像装置
KR20080097165A (ko) 새도우 모아레를 이용한 3차원형상 측정장치
KR101744149B1 (ko) 기판 검사장치
KR20250071096A (ko) 디지털 미러 디바이스 활용 영상획득 시스템 및 이를 이용한 영상획득 방법

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20110907

Termination date: 20120330