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CN101120244A - 用于光学扫描细长纺织材料的设备和方法 - Google Patents

用于光学扫描细长纺织材料的设备和方法 Download PDF

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CN101120244A
CN101120244A CNA2006800049613A CN200680004961A CN101120244A CN 101120244 A CN101120244 A CN 101120244A CN A2006800049613 A CNA2006800049613 A CN A2006800049613A CN 200680004961 A CN200680004961 A CN 200680004961A CN 101120244 A CN101120244 A CN 101120244A
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light
optical
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equipment
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CNA2006800049613A
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Uster Technologies AG
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Abstract

用于光学扫描纱线(9)的设备(1)，包括：第一光学扫描装置(21，3)，用于在第一光谱范围内光学扫描纱线(9)；及第二光学扫描装置(22，3)，用于在区别于所述第一光谱范围的第二光谱范围内光学扫描纱线(9)。所述第一光学扫描装置(21，3)和第二光学扫描装置(22，3)放置在背景(4)的前面，该背景(4)在第一光谱范围而非第二光谱范围内进行反射。因此，本发明结合了亮背景和暗背景(4)测量的优点。因而，能够可靠识别出纱线中的亮色杂质及暗色杂质，并且还可将不同的杂质相互区别开。

Description

用于光学扫描细长纺织材料的设备和方法
技术领域
根据独立权利要求中的陈述，本发明涉及一种用于光学扫描如纱线、粗纱或者生条等细长纺织材料的设备和方法。本发明尤其适用于辨识细长纺织材料中的杂质。
背景技术
在棉花或羊毛线等纱线中，杂质是非常不受欢迎的。杂质可能会改变纱线的机械特性，并在纺织过程中引起纱线的断裂。染色时，杂质会与纱线中的其余部分呈现出不同的颜色，而且这在完成的织物中很明显，由此使织物的质量降低。引起纱线受杂质沾污的一个例子为：用于包裹原棉的聚丙烯膜的残留物。用于光学识别这类沾污物的设备是公知的，并且其最好与清纱器结合应用，清纱器用于剔除纱线的缺陷，如纱线中偏厚或偏薄的区域及沾污物。
EP-0761585公开了一种已知类型的设备。待扫描纱线纵向穿过测量狭缝，并受一光源照射。第一光接收器探测透过纱线的光，第二光接收器探测被纱线反射的光线。对透射及反射信号进行适当处理，不仅可辨识缺陷，而且可将缺陷分类成如偏厚区域、偏薄区域或沾污物等。EP-0553446也解决了同样的问题，其包含两个光源和一光接受器，因此若有合适的时间触发，透射测量和反射测量也是可能的。
对EP-0761585中所公开设备的进一步开发的设备显示在WO-2004/044579中。根据该后面的公开文件，其采用了多色彩光源。若对接收到的不同颜色的光信号进行适当处理，可将出现在纱线中的不同杂质相互区别开。因此情况可能是：干扰杂质被去除了，而相反非干扰杂质仍留在纱线中。
使用不同波长对纺织材料进行同步光学扫描的设备也可从CH-674379或DE-19859274中了解到。
图1表示光学探测器的输出信号，探测器安装在依据现有技术制造的设备中，如DE-19859274中所公开的设备。该输出信号被描绘为亮色纱线长度的函数，该亮色纱线在纵向移动穿过所述设备，且包含四种不同颜色的缺陷或标记S、W、R、G，即一宽波段的强吸收缺陷(黑色，S)，一宽波段的强反射缺陷(白色，W)，一红色缺陷(R)及一绿色缺陷(G)。假设采用宽波段的白色光源来实现照明，并且背景以宽波段方式反射如白光或亮光。
对于这类测量方法，由于光线以直接和/或散射的方式到达背景，并且至少部分会被背景朝着探测器的方向反射和/或散射回去，因而背景是很重要的。如图1所示，对着白色背景，黑色缺陷可被很好地探测到。而白色、红色和绿色缺陷却只会与探测器信号的原始大小间产生微弱的偏差，因此并不是一直都能实现可靠探测。EP-0197763考虑到了背景对纱线光学扫描结果的影响。根据该文件，以漫射的方式对纱线及其背景进行照射，并对反射光进行探测。因此，按如下方式选择背景：使背景与纱线具有相似的反射率(如相似的颜色)，这样反射光的强度将只受杂质影响，而与纱线的厚度无关。
如果使用吸收(黑色或暗色)背景来替代反射背景，则会出现与图1相类似的情形。这种设备也可从现有技术中了解，图2给出了一种安装于这类设备中针对暗色纱线的探测器的典型输出信号。在这种情况下，只有白色缺陷W会引起较大的信号变化，而黑色S、红色R或绿色G缺陷却都很难被探测到。
对于图1和图2中绘制的信号的比较，使得人们希望：一方面能够在白色背景下完成测量，另一方面又能够在黑色背景下完成测量。这样，至少黑色缺陷和白色缺陷能够以可靠的方式得到探测，并彼此区别开来。根据现有技术，这可通过串行布置两个探测器来实现的，其中第一探测器装设有白色背景，第二探测器装设有黑色背景。然而，这种串行布置的缺点在于：其相对于简单布置来说，需要双倍空间，而且需要两倍的制造成本。这点将不可接受的。由于这些完全不同的白色与黑色背景事实上是不能相互合并在一起的，因此本领域的技术人员不会知道任何其他的解决方案。
发明内容
因此，本发明的目的是提出一种设备和方法，用于光学扫描细长纺织材料，从而能够更灵敏和可靠地识别和区分出纺织材料中的杂质。如果可能的话，不同杂质也能被彼此区别开来。这些及其他目的可通过限定于独立专利权利要求中的设备和方法来实现。优选实施例则在从属权利要求中详细说明。
本发明克服了要将白色背景和黑色背景结合起来这个看似无法解决的矛盾。根据本发明，其解决方法的基本概念是：采用不同颜色的光对纺织材料进行两次光学扫描，并令所用光的颜色与背景的颜色相互匹配，从而使得背景反射其中一种光的颜色，而吸收另一种光的颜色。因此，一次光学扫描对亮背景有用，而另一次光学扫描对暗背景有用。由此，本发明结合了用亮(或白色)背景及暗(或黑色)背景进行测量的优点。
本发明尤其适用于对亮色及暗色杂质实现可靠辨识。另外，本发明也可以提供关于纺织材料和杂质颜色的有用信息。因此，本发明适用于辨别纺织材料中所存在的不同杂质。由于在有些情况下，干扰杂质可能已被去除，但非干扰杂质却仍遗留在纺织材料中。因此，增加了这种机器的输出。
因此，本发明所述用于光学扫描细长纺织材料的设备包括：第一光扫描装置，用于在第一光谱范围内光学扫描纺织材料；及第二光扫描装置，用于在区别于所述第一光谱范围的第二光谱范围内光学扫描纺织材料。所述第一光学扫描装置和第二光学扫描装置放置在背景的前面，该背景在背景光谱范围内进行反射，该背景光谱范围与第一光谱范围的交集为非空集，而与第二光谱范围的交集实质上为空集。
在本发明所述用于光学扫描细长纺织材料的方法中，优选地，在第一光谱范围以及区别于该第一光谱范围的第二光谱范围内对纺织材料进行光学扫描。对于所述光学扫描，可使用在背景光谱范围内反射的背景，且该背景光谱范围与第一个光谱范围的交集是非空集，而与第二个光谱范围的交集实质上为空集。
如果在本文中提到了“背景”，那么用该表达是指纺织材料的环境和/或用于进行光学扫描的光学元件的环境，从该环境光到达所用的光接收器，不管它是通过反射还是散射的方式到达的。在一种典型设备中，如可从EP-0761585或WO-2004/044579中了解到的，背景指：例如，纺织材料所运动经过的测量夹缝，及扫描光所指引经过的光管，或者至少是其中部分。
本文中如“光”、“光学”等术语应作最广义的理解，不仅应理解为可见光，而且也可理解为在紫外线(UV)和红外线(IR)等光谱范围内的电磁辐射。
附图说明
通过参考附图，本发明的优选实施例会在后面作更为详细的解释。以图解的方式显示在如下附图中：
图1和图2是根据现有技术两种设备中的探测器对于不同颜色缺陷的输出信号；
图3和图5为所发射出的扫描光的光谱分布图，及本发明所述设备中背景的折射率，它们都是光波长的函数；
图4和图6为本发明所述设备中两个或三个探测器对于不同颜色缺陷的输出信号；
图7-12为本发明所述设备的不同实施例。
具体实施方式
在图3中，通过一个实施例，对本发明的基本概念进行了示意性说明。其中，一方面，将用于光学扫描纺织材料的扫描光的光谱分布图绘制成波长的函数。所使用的是在至少两个相互不同的光谱范围61、62内的扫描光，如绿光和红光。另一方面，本发明所述设备中取决于波长的背景的折射率也绘制在图3中。正如前文已提到的，由于除了探测到作用于纺织材料的光以外，也会探测到由背景反射或散射出的光，因此背景会影响到测量。因此根据本发明，令背景在背景光谱范围64内进行反射，且该背景光谱范围64与第一光谱范围61的交集是非空集，而与第二光谱范围62的交集基本上为空集。在此处所讨论的实例中，背景是绿色的，并且第一光谱范围61全部包含在所述背景光谱范围63内。对光谱范围61、62、64的创造性选择具有如下结果：即，使用绿光进行的光学扫描相对亮色背景来说是有效的，而使用红光进行的光学扫描相对暗色背景来说是有效的。由于这个原因，使用绿光进行的扫描尤其适用于辨识暗色(或非绿色)的杂质，而使用红光进行的扫描适用于识别亮色(或红色)的杂质。因此，本发明结合了使用白色(或亮色)及黑色(或暗色)背景进行测量的优点。
图4示意性地示出了使用光谱范围61、62、64进行光学扫描的输出信号。图4(a)所示为使用绿光相对绿色背景进行光学扫描时的输出信号SG，图4(b)所示为使用红光相对绿色背景进行扫描时的输出信号SR。在这两种情况下，输出信号SG、SR都被绘制成纺织材料长度l的函数，而且该纺织材料纵向穿过本发明所述设备，包括四种不同颜色的缺陷，具体为黑色缺陷S、白色缺陷W、红色缺陷R和绿色缺陷G。对于绿色扫描光，黑色缺陷S会产生一较大的信号变化，而对于红色扫描光线，则白色缺陷W会产生一较大的输出信号。对于这两个输出信号SG、SR，红色缺陷R均会产生一较大的信号变化；同时对于这两个输出信号SG、SR，绿色缺陷G均会产生一较小的信号变化。无论在哪种情况下，通过该附图都显然可以看出：由于对照明与背景进行了这种有目的地匹配，至少能够可靠识别出黑色缺陷S与白色缺陷W，并将其彼此区分开。
通过所述探测信号，也可以获取关于纺织材料的颜色信息和/或缺陷S、W、R、G的信息。尤其是在多于两个的光谱范围61、62被用于进行光学扫描的情况下。类似于图3和图4的表示，图5和图6示出了一相应的例子，其中使用三个光谱范围61-63进行扫描，其实质上分别对应于原色绿色(G)、红色(R)和蓝色(B)。在该例子中，假设背景在第三蓝色光谱范围63及第一个绿色光谱范围61内进行反射。如图6所示，对于每个缺陷位置颜色R、G、B，该实施例为各输出信号SB、SG、SR均提供了至少一个重大变化。这不同于图3和图4中的实施例，在图3和图4所示的实施例中，对于两个扫描光颜色61、62，绿色缺陷都只产生一微弱的信号变化，因此在一定程度上代表“盲色”。
如前面已描述的，本发明并不仅限于可见光，而且也可使用IR或UV波段内的电磁辐射。用于估计对应于各扫描光谱范围61-63的光接收器信号SB、SG、SR的合适算法均是已知的。
图7-图10示意性地示出了本发明所述设备1的各种实施例中的重要元件。
在图7所示的实施例中，包括两个不同的光源21、22及一信号光接收器3，第一光源21用于发射绿色光线51，第二光源22用于发射红色光线52，信号接收器3可同时接收绿色光线51及红色光线52。光源21、21可以是如发光二极管(LED)。与第一光源21的光线51相同，一个背景4(仅示意性地画出)是绿色的。被扫描细长纺织材料9至少近似垂直于该附图的平面，且沿着其纵轴穿过所述设备1。此处，用绿色光线51进行光学扫描与用红色光线52进行光学扫描一样，都是在反射光线(如，主要从被探测纺织材料处反射或散射出的光线)的下实现的。为将绿色光线51下的测量结果与红色光线52下的测量结果相互区分开，以连续方式进行测量是有好处的。为实现该目的，光源21、22可按周期性变换的方式开启和关闭。因此，时间周期必须选择得足够小，以确保绿色光线51下和红色光线52下被扫描纺织材料的位置(纵向)在很大程度上是相同的，例如，纺织材料9应该以最大为毫米的若干分之一的时间周期内运动。当然，从一个光谱范围61到另一个光谱范围62的切换也可用其他装置来实现。除了切换光源21、22本身的开启和关闭外，也可以在所述光源的下游放置多个相互同步的调制器(未示出)，如所谓的测量断路器。在另一个实施例中(未示出)，一彩色滤光片被放置在光接收器的上游，并且该彩色滤光片的传输范围以瞬时的方式由绿色变化到红色，反之亦然。
与图7所示实施例相比，图8所示实施例包括以宽波段方式发射光线的单一光源2，如白光发光二极管。存在两个光接受器31、32，用于探测不同颜色的光线。这可用一简单的方式来实现：例如，通过将第一绿色滤光片33放置在第一光接收器31前面，并将第二红色滤光片34放置在第二光接收器32前面。由光源2发射出的光线(包括绿色光分量51和红色光分量52)，照射到纺织材料，并至少部分被该纺织材料反射和/或散射到光接收器31、32中。背景4还是绿色的。相对图7所示的实施例，该实施例具有如下优点：光接收器31、32均可连续接收各自的光线51、52，并可连续将其输出信号发射出去；且不需要对扫描光线进行调制。然而，本实施例的缺点基于这样的事实：即，两个光接收器31、32被指引到了沿着纺织材料9外围的不同位置。根据具体应用，可以优先选择图7或图8所示的实施例，无论在哪种情况下，均应将本发明所述设备1进行最优化以实现预想中的应用。
当然也能在所述实施例中加入更多元件，此处只示意性描述。为了能够将偏厚区域、偏薄区域及沾污物相互区分开，因此提供用于扫描纺织材料厚度的厚度扫描装置是有好处的。图9显示了对图7所示实施例的进一步开发，其中附加的补充光源29即用于该目的。该补充光源29放置在纺织材料9的另一侧，这样其光线59部分为纺织材料9所吸收，部分则射到光接收器3中，这类似于EP-0553446中的描述。作为对图8所示实施例的进一步开发，图10所示的实施例中提供有一附加的补充光接收器39。该补充光接收器39放置在纺织材料9的另一侧，这样由光源2所发射出的光线部分为纺织材料9所吸收，部分则发射到该补充光接收器39中，这类似于EP-0761585中的描述。因此，只要光线可以分别被接收器3和39探测到，补充光源29或者补充光接收器39的光谱特性的重要性较低。因此，简单的单色发光二级管29或简单的宽波段硅光接收器39都可用于这个目的。
尽管图7和图8所示实施例中的测量均是在反射光下实现的，在图11和图12中，所提到的两个实施例却用了反射光测量和透射光测量的相结合。
图11所示实施例与图7所示实施例相类似。在此提到了两个不同颜色、最好同步调制的光源21、22，及单个光接收器3。然而，绿色光源21照射穿过纺织材料9，所以使用绿色光线51进行的扫描是在透射光线下实现的。相反，如图7所示，用红色光线52进行的扫描是在反射光线的下实现的。背景4是绿色的。
类似于图8所示的实施例，最后，图12示出的实施例中使用单个宽波段光源2及两个选择性探测光接收器31、32。探测绿色光线的第一光接收器31测量透射光，而探测红色光线的第二光接收器32测量反射光。由于光接收器31、32放置在纺织材料9的两侧，必须相应地安排绿色背景4。
当然，本发明并非仅限于前面讨论地示例性实施例。根据本发明的已知技术，本领域的技术人员可进一步推导出属于本发明主题的变化例。尤其，也可选择其他波长范围用于光学扫描和背景4。也可使用多于两个的光谱范围用于光学扫描。
参考标记目录
1设备
2光源
21第一光源
22第二光源
29补充光源
3光接收器
31第一光接收器
32第二光接受器
33第一彩色滤光片
34第二彩色滤光片
39补充光接收器
4背景
51第一光谱范围内的光线
52第二光谱范围内的光线
59用于扫描厚度的光线
61第一光谱范围
62第二光谱范围
63第三光谱范围
64背景光谱范围
9纺织材料
权利要求书(按照条约第19条的修改)
1、一种用于光学扫描细长纺织材料(9)的设备(1)，包括：
第一光学扫描装置(21，3)，用于在第一光谱范围(61)内光学扫描所述纺织材料(9)；
第二光学扫描装置(22，3)，用于在区别于所述第一光谱范围(61)的第二光谱范围(62)内光学地扫描所述纺织材料(9)；以及，
背景(4)，在该背景(4)的前面放置有所述第一和第二光学扫描装置(21，22，3)；
其特征在于：
所述背景(4)在背景光谱范围(64)内进行反射，且该背景光谱范围(64)与所述第一光谱范围(61)的交集为非空集，与所述第二光谱范围(62)的交集实质上为空集。
2、根据权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述第一和第二光学扫描装置(21，22，3)包括优选为发光二极管的光源(21，22)及光接受器(3)。
3、根据权利要求2所述的设备(1)，其特征在于，所述设备(1)包括：第一光源(21)，其在所述第一光谱范围(61)内发射；第二光源(22)，其在所述第二光谱范围(62)内发射；及光接收器(3)，其在所述第一光谱范围和所述第二光谱范围内是敏感的；并且，其中所述第一光源(21)、第二光源(22)及光接受器(3)的放置方式使得从所述第一光源(21)及第二光源(22)发射出的光线(51，52)至少能够部分被同一光接收器(3)探测到。
4、根据权利要求2所述的设备(1)，其特征在于，所述设备(1)包括：光源(61)，在所述第一(61)和第二光谱范围(62)内发射；第一光接收器(31)，在所述第一光谱范围(61)内是敏感的；第二光接收器(32)，在所述第二光谱范围(62)内是敏感的；其中，所述光源(2)、第一光接受器(31)及第二光接受器(32)的放置方式使得所述光源(2)发射出的光线(51，52)至少能够部分被所述第一光接收器(31)和第二光接收器(32)探测到。
5、根据前述任一权利要求所述的设备(1)，其特征在于，所述第一(2，21，3，31)和第二(2，22，3，32)光学扫描装置适用于同时在反射光线下、同时在透射光线下、分别在反射光线和透射光线下、或者分别在发射光线和透射光线的作用下对所述纺织材料(9)进行扫描。
6、根据前述任一项权利要求所述的设备(1)，其特征在于，所述第一光谱范围(61)包括绿色光线；所述第二光谱范围(62)包括红色光线；或者，反之亦然。
7、根据前述任一权利要求所述的设备(1)，其特征在于，所述设备(1)还包括：第三光学扫描装置，用于在区别于所述第一光谱范围(61)和第二光谱范围(62)的第三光谱范围(63)内光学地扫描纺织材料(9)；并且，所述第一(61)、第二(62)、第三(63)光谱范围优选地分别对应于原色红、绿和蓝。
8、根据前述任一权利要求所述的设备(1)，其特征在于，提供有用于探测所述纺织材料(9)厚度的光学厚度扫描装置(29，3；2，39)。
9、根据前述任一权利要求所述的设备(1)，其特征在于，所述光学扫描装置(2，21，22，3，31，32)的光轴放置在至少近似垂直于所述纺织材料(9)的纵轴的平面内。
10、一种用于光学扫描细长纺织材料(9)的方法，其中：
在第一光谱范围(61)和区别于所述第一光谱范围(61)的第二光谱范围(62)内对所述纺织材料(9)进行光学扫描；
其特征在于：
为进行光学扫描，选择背景(4)，其进行反射的背景光谱范围与所述第一光谱范围(61)的交集为非空集，与所述第二光谱范围(62)的交集实质上为空集。
11、根据权利要求10所述的方法，其特征在于，使用来自第一光谱范围(61)内的光线(51)及来自第二光谱范围(62)内的光线(52)对所述纺织材料(9)进行照射，并且当所述光线(51，52)与所述纺织材料(9)相互作用后，至少部分被同一个光接收器(3)探测到。
12、根据权利要求11所述的方法，其特征在于，来自所述第一光谱范围(61)内的光线(51)和来自所述第二光谱范围(62)内的光线(52)以连续的方式，更优地为以周期性变换的方式，射到所述光接收器(3)上。
13、根据权利要求10所述的方法，其特征在于，来自所述第一光谱范围(61)内的光线(51)及来自所述第二光谱范围(62)内的光线(52)同时对所述纺织材料进行照射；并且来自所述第一光谱范围(61)内的光线(51)与所述纺织材料(9)相互作用后，至少部分被第一光接收器(31)探测到；来自所述第二光谱范围(62)内的光线(52)与所述纺织材料(9)相互作用后，则至少部分被第二光接收器(32)探测到。
14、根据权利要求10-13中任一项所述的方法，其特征在于，在如下条件下实现所述第一光谱范围和所述第二光谱范围内的扫描：即，同时在反射光线下、同时在透射光线下、分别在反射光线和透射光线下、或者分别在透射光线和反射光线下。
15、根据权利要求10-14中任一项所述的方法，其特征在于，所述光谱范围(61，62)按如下方式进行选择：即使所述第一光谱范围(61)实际包含绿色光线，且所述第二光谱范围(62)实际包含红色光线，或者反之亦然。
16、根据权利要求10-15中任一项所述的方法，其特征在于，在区别于所述第一(61)和第二(62)光谱范围的第三光谱范围(63)内对所述纺织材料(9)进行附加光学扫描；并且优选地，所述第一(61)、第二(62)和第三(63)光谱范围分别对应于原色红色、绿色和蓝色。
17、根据权利要求10-16中任一项所述的方法，其特征在于，再对所述纺织材料(9)的厚度进行光学扫描。

Claims (17)

1.一种用于光学扫描细长纺织材料(9)的设备(1)，包括：
第一光学扫描装置(21，3)，用于在第一光谱范围(61)内光学扫描所述纺织材料(9)；及
第二光学扫描装置(22，3)，用于在区别于所述第一光谱范围(61)的第二光谱范围(62)内光学扫描所述纺织材料(9)；
其特征在于：
所述第一和第二光学扫描装置(21，22，3)放置在背景(4)前面；所述背景(4)在背景光谱范围(64)内进行反射，且该背景光谱范围(64)与所述第一光谱范围(61)的交集为非空集，与所述第二光谱范围(62)的交集实质上为空集。
2.根据权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述第一和第二光学扫描装置(21，22，3)包括优选为发光二极管的光源(21，22)及光接受器(3)。
3.根据权利要求2所述的设备(1)，其特征在于，所述设备(1)包括：第一光源(21)，其在所述第一光谱范围(61)内发射；第二光源(22)，其在所述第二光谱范围(62)内发射；及光接收器(3)，其在所述第一光谱范围和所述第二光谱范围内是敏感的；并且，其中所述第一光源(21)、第二光源(22)及光接受器(3)的放置方式使得从所述第一光源(21)及第二光源(22)发射出的光线(51，52)至少能够部分被同一光接收器(3)探测到。
4.根据权利要求2所述的设备(1)，其特征在于，所述设备(1)包括：光源(61)，在所述第一(61)和第二光谱范围(62)内发射；第一光接收器(31)，在所述第一光谱范围(61)内是敏感的；第二光接收器(32)，在所述第二光谱范围(62)内是敏感的；其中，所述光源(2)、第一光接受器(31)及第二光接受器(32)的放置方式使得所述光源(2)发射出的光线(51，52)至少能够部分被所述第一光接收器(31)和第二光接收器(32)探测到。
5.根据前述任一权利要求所述的设备(1)，其特征在于，所述第一(2，21，3，31)和第二(2，22，3，32)光学扫描装置适用于同时在反射光线下、同时在透射光线下、分别在反射光线和透射光线下、或者分别在发射光线和透射光线的作用下对所述纺织材料(9)进行扫描。
6.根据前述任一项权利要求所述的设备(1)，其特征在于，所述第一光谱范围(61)包括绿色光线；所述第二光谱范围(62)包括红色光线；或者，反之亦然。
7.根据前述任一权利要求所述的设备(1)，其特征在于，所述设备(1)还包括：第三光学扫描装置，用于在区别于所述第一光谱范围(61)和第二光谱范围(62)的第三光谱范围(63)内光学地扫描纺织材料(9)；并且，所述第一(61)、第二(62)、第三(63)光谱范围优选地分别对应于原色红、绿和蓝。
8.根据前述任一权利要求所述的设备(1)，其特征在于，提供有用于探测所述纺织材料(9)厚度的光学厚度扫描装置(29，3；2，39)。
9.根据前述任一权利要求所述的设备(1)，其特征在于，所述光学扫描装置(2，21，22，3，31，32)的光轴放置在至少近似垂直于所述纺织材料(9)的纵轴的平面内。
10.一种用于光学扫描细长纺织材料(9)的方法，其中：
在第一光谱范围(61)和区别于所述第一光谱范围(61)的第二光谱范围(62)内对所述纺织材料(9)进行光学扫描；
其特征在于：
为进行光学扫描，选择背景(4)，其进行反射的背景光谱范围与所述第一光谱范围(61)的交集为非空集，与所述第二光谱范围(62)的交集实质上为空集。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，使用来自第一光谱范围(61)内的光线(51)及来自第二光谱范围(62)内的光线(52)对所述纺织材料(9)进行照射，并且当所述光线(51，52)与所述纺织材料(9)相互作用后，至少部分被同一个光接收器(3)探测到。
12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，来自所述第一光谱范围(61)内的光线(51)和来自所述第二光谱范围(62)内的光线(52)以连续的方式，更优地为以周期性变换的方式，射到所述光接收器(3)上。
13.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，来自所述第一光谱范围(61)内的光线(51)及来自所述第二光谱范围(62)内的光线(52)同时对所述纺织材料进行照射；并且来自所述第一光谱范围(61)内的光线(51)与所述纺织材料(9)相互作用后，至少部分被第一光接收器(31)探测到；来自所述第二光谱范围(62)内的光线(52)与所述纺织材料(9)相互作用后，则至少部分被第二光接收器(32)探测到。
14.根据权利要求10-13中任一项所述的方法，其特征在于，在如下条件下实现所述第一光谱范围和所述第二光谱范围内的扫描：即，同时在反射光线下、同时在透射光线下、分别在反射光线和透射光线下、或者分别在透射光线和反射光线下。
15.根据权利要求10-14中任一项所述的方法，其特征在于，所述光谱范围(61，62)按如下方式进行选择：即使所述第一光谱范围(61)实际包含绿色光线，且所述第二光谱范围(62)实际包含红色光线，或者反之亦然。
16.根据权利要求10-15中任一项所述的方法，其特征在于，在区别于所述第一(61)和第二(62)光谱范围的第三光谱范围(63)内对所述纺织材料(9)进行附加光学扫描；并且优选地，所述第一(61)、第二(62)和第三(63)光谱范围分别对应于原色红色、绿色和蓝色。
17.根据权利要求10-16中任一项所述的方法，其特征在于，再对所述纺织材料(9)的厚度进行光学扫描。
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PB01 Publication
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SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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