CN100342430C - 鉴别光盘类型的方法及其设备 - Google Patents

Abstract

一种鉴别光盘类型的方法及其设备。该方法用于记录和/或再现光盘的包括具有激光二极管、物镜、和光接收装置的光学拾取器的光盘系统，其当向上/向下移动物镜时检查轨道误差信号，和通过使用检查出的轨道误差信号的幅度来鉴别光盘类型。该方法及设备在物镜向上/向下移动的聚焦初始阶段鉴别光盘类型。

Description

鉴别光盘类型的方法及其设备

本申请要求于2003年6月12日向韩国知识产权局提交的第2003-37831号韩国专利申请的优先权，其公布内容完全包含在这里用于参考。

                        技术领域

本发明涉及光盘类型的鉴别，并且特别涉及一种鉴别光盘类型(即光盘是只读光盘还是可记录光盘)的方法及其设备。

                        背景技术

随着光盘类型数量的增加，需要光盘系统识别并与之兼容的光盘类型的数量也增加。光盘系统识别装入该光盘系统中的光盘类型的时间量确定该光盘系统的性能。

在传统的记录/读取只读光盘和/或可记录光盘的光盘系统中，通过测量特定信号来鉴别光盘类型，该特定信号产生于聚焦控制开始之后或者在聚焦控制之后的跟踪控制开始之后。

这样的传统方法需要长时间以鉴别光盘类型，因为该方法通过测量特定信号来鉴别光盘类型，该特定信号产生于在拾取单元中的物镜向上和/或向下的运动之后的聚焦控制开始之后，或者在聚焦控制之后的跟踪控制开始之后。

                        发明内容

根据本发明的一方面，提供了一种迅速地鉴别光盘类型的方法及其设备。

根据本发明的一方面，提供了一种当向上/向下移动物镜时可靠地鉴别光盘类型的方法及其设备。

根据本发明的一方面，提供了一种在记录/读取高密度光盘的光盘系统中，在物镜向上/向下移动的聚焦初始阶段鉴别光盘是只读光盘还是可记录光盘的方法及其设备。

根据本发明的一方面，提供了一种用于记录和/或再现光盘的包括具有激光二极管、物镜、和光接收装置的光学拾取器的光盘系统的鉴别光盘类型的方法，该方法包括：当向上/向下移动物镜并且沿光盘径向振荡物镜的同时，在光接收装置的相加信号变得大于参考值时检查轨道误差信号；和通过使用光接收装置的相加信号和轨道误差信号之比来鉴别光盘类型。

光盘类型的鉴别包括鉴别光盘是只读光盘还是可记录光盘。

当检查轨道误差信号时，还检查聚焦误差信号。

根据本发明的另一方面，提供了一种用于记录和/或再现光盘的包括具有激光二极管、物镜、和光接收装置的光学拾取器的光盘系统的鉴别光盘类型的方法，该方法包括：当沿光盘径向振荡物镜时沿轴向移动物镜；当光接收装置的相加信号变得大于参考值时检测轨道误差信号和聚焦误差信号；和通过使用光接收装置的相加信号、轨道误差信号和聚焦误差信号来鉴别光盘类型。

根据本发明的另一方面，提供了一种用于记录和/或再现光盘的光盘系统的鉴别光盘类型的设备，该设备包括：光学拾取器，包括激光二极管、物镜、和光接收装置；驱动单元，包括沿轴向移动物镜的聚焦致动器和沿光盘径向振荡物镜的跟踪致动器；检测单元，用于当光接收装置的相加信号变得大于参考值时检测轨道误差信号和聚焦误差信号；和控制器，用于通过使用光接收装置的相加信号、轨道误差信号和聚焦误差信号来鉴别光盘类型，其中，当聚焦致动器沿光盘轴向移动物镜时，跟踪致动器沿光盘径向振荡物镜。

在下面的描述中将部分地阐明本发明的另外的方面和/或优点，通过描述，其会变得更加清楚，或者通过实施本发明可以了解。

                        附图说明

通过结合附图对本发明的实施例进行描述，本发明的这些和/或其他特性和优点将会变得清楚和更易于理解，其中：

图1是用于解释根据本发明实施例的光学拾取器的轨迹的示图；

图2是表示根据本发明实施例的鉴别光盘类型的设备的方框图；

图3是当将只读光盘装入图2中的设备中时从该设备产生的信号的脉冲图；

图4是当将可记录光盘装入图2中的设备中时从该设备产生的信号的脉冲图；和

图5是表示根据本发明实施例的鉴别光盘类型的方法的流程图。

                 具体实施方式

现在对本发明实施例进行详细的描述，其示例表示在附图中，其中，相同的标号始终表示相同部件。下面通过参照附图对实施例进行描述以解释本发明。

图1是用于解释根据本发明实施例的光学拾取器的轨迹的示图。参照图1，标号100表示光盘，标号101表示光学拾取器，其可能被称为拾取单元。标号102表示通过使用驱动单元(未显示)在向上/向下的路径中，换句话说，沿轴向移动光学拾取器101形成的轨迹，并且标号103表示通过使用驱动单元沿光盘100的内/外圆周，换句话说，沿径向振荡光学拾取器101形成的轨迹。另外，标号104表示当通过使用驱动单元沿轴向移动光学拾取器101和沿径向振荡光学拾取器101时光学拾取器101的实际轨迹。

图2是表示根据本发明实施例的鉴别光盘类型的设备的方框图。参照图2，该设备包括光盘200、拾取单元(P/U)210、再现信号放大器(RF-AMP)220、噪声去除器230、控制器240、和驱动单元250。根据本发明实施例的鉴别光盘类型的设备可以应用于记录和/或读取只读和/或可记录光盘的光盘系统。

参照图2，拾取单元210由未单独显示的多种公知的光学部件组成，例如：光发射装置，包括读取高密度光盘的短波长激光二极管；和光接收装置，包括高数值孔径的物镜和检测从高密度光盘反射的的激光束以读取记录在光盘200上的信息的光电二极管。光电二极管可以包括以模块类型组成的激光二极管和光电二极管。

现在描述拾取单元210的操作。从拾取单元210发射的光束通过物镜后聚焦在光盘200的记录表面，并且聚焦的光束读取记录在光盘200上的信息。从光盘反射的光束被拾取单元210中的光电二极管转换成电信号。RF-AMP220输出伺服控制信号和射频(RF)信号，即再现信号，其通过使用电信号检测记录在光盘200上的信息。

当通过使用从RF-AMP 220输出的伺服控制信号，即轨道误差信号和聚焦误差信号，沿轴向移动拾取单元210的物镜时，即聚焦初始阶段时，光盘系统能够鉴别光盘200的类型。

换句话说，当光盘200被装入光盘系统时，拾取单元210中的激光二极管工作，并且物镜沿轴向移动。这里，驱动单元250中的聚焦致动器工作，以沿轴向移动物镜。物镜可以调整，以使从物镜发射的激光束在光盘200上形成聚焦。驱动单元250包括多个马达和致动器，用于沿光盘上的预定路径移动。更具体地讲，驱动单元250包括：聚焦致动器，用于沿轴向移动物镜；跟踪致动器，用于沿径向振荡物镜；和拾取器传送马达，即滑动马达，用于沿光盘200的径向移动拾取单元210。

现在描述只读光盘和可记录光盘之间的物理差别。在只读光盘的情况下，在光盘表面沿旋转方向形成信息凹坑。在可记录光盘的情况下，在光盘表面沿旋转方向形成槽脊(lands)和凹槽(grooves)，并且数据被记录在凹槽中。根据光盘的物理特性，从可记录光盘产生的轨道误差信号大于从只读光盘产生的轨道误差信号。

另外，当将光接收装置的光电检测器(未显示)分为四个通道比如分别表示左上通道、右上通道、右下通道、和左下通道的A、B、C、和D时，使用推挽放大器来检测两个通道的差分输出信号，其被称为推挽信号并被用作轨道误差信号TE。这里，两个通道的差分输出信号包括：通过从两个左侧光电检测器信号之和中减去两个右侧光电检测器信号之和而获得的信号，即(A+D)-(B+C)；和通过从两个右侧光电检测器信号之和中减去两个左侧光电检测器信号之和获得的信号，即(B+C)-(A+D)。可以在RF-AMP 220中形成推挽放大器。另外，RF-AMP 220检测四个通道的相加信号，即(A+B+C+D)，该相加信号被用作用于检测信息的再现信号，即RF信号。四个通道的相加信号被共同称为光接收装置的相加信号PI，并且用于鉴别光盘类型。

因此，在当沿轴向移动物镜时光接收装置的相加信号PI变为预定电平的点处，换句话说，在聚焦点附近，控制器240测量轨道误差信号TE和光接收装置的相加信号PI，以基于这两个信号之比来鉴别光盘类型。这里，光盘200连续旋转。

噪声去除器230可以构成为高通滤波器，以防止轨道误差信号TE中的低频噪声的影响，或者可以构成为带通滤波器，以防止高频噪声的影响。

为了产生轨道误差信号TE，光束应与轨道交叉。当旋转光盘时，可以通过偏心效应检测轨道误差信号TE；然而，光盘每旋转一次，不能检测轨道交叉信号两次。当沿径向振荡物镜时，控制器240沿轴向移动物镜以方便地检测轨道误差信号TE，导致在沿轴向移动物镜的时刻鉴别光盘类型。这里，沿轴向的物镜振荡频率变得比光盘的旋转频率大，以去除偏心效应。另外，驱动单元250驱动用于沿光盘200的径向移动拾取单元210的拾取器传送马达，即滑动马达，而不驱动沿径向振荡物镜的跟踪致动器。在本发明中，控制器240用作伺服控制器，其向驱动单元250提供伺服驱动信号，也鉴别光盘类型。然而，可以使用分离的伺服控制器和鉴别控制器。

另一方面，当测量光接收装置的相加信号PI和轨道误差信号TE之比时，可记录光盘具有比只读光盘大几倍的值。这里，包括轨道误差信号TE的信号的幅度可以根据光盘的类型变化，因为反射的激光束的量根据光盘而不同。然而，即使当反射的激光束的量变化时，光接收装置的相加信号PI和轨道误差信号TE之比仍然是相同的。因此，光接收装置的相加信号PI和轨道误差信号TE之比被用于减小由光盘类型引起的偏差。当光接收装置的相加信号PI和轨道误差信号TE之比较大时，光盘被鉴别为只读光盘。当信号PI和TE之比较小时，光盘被鉴别为可记录光盘。结果表示在表1中：

                表1

光盘类型	只读光盘	可记录光盘
			TE信号的幅度	小	大
PI信号的幅度	预定幅度	预定幅度
			PI/TE之比	大	小
PI/TE的值	8.3-11	1-2

因此，当将光盘200装入光盘系统中时，在通过控制驱动单元250来沿轴向移动物镜和沿径向移动物镜或拾取单元210之后，控制器240可以通过使用经过噪声去除器230的轨道误差信号TE来鉴别光盘类型。在另一种情况下，参照表1如前所述，控制器240可以通过使用光接收装置的相加信号PI和轨道误差信号TE之比来鉴别光盘类型。在另一种情况下，控制器240可以通过使用轨道误差信号TE和聚焦误差信号FE之比来鉴别光盘类型。因此，可以通过使用仅轨道误差信号TE、光接收装置的相加信号PI和轨道误差信号TE之比、或聚焦误差信号FE和轨道误差信号TE之比鉴别光盘类型。

图3是当将只读光盘装入图2中的设备中时从该设备产生的信号的脉冲图。这里，标号301表示从RF-AMP 220输出的光接收装置的相加信号PI，标号302表示从RF-AMP 220输出的聚焦误差信号FE，标号303表示从RF-AMP 220输出的轨道误差信号TE，标号304表示经过噪声去除器230的轨道误差信号TE。

图4是当将可记录光盘装入图2中的设备中时从该设备产生的信号的脉冲图。这里，标号401表示从RF-AMP 220输出的光接收装置的相加信号PI，标号402表示从RF-AMP 220输出的聚焦误差信号FE，标号403表示从RF-AMP 220输出的轨道误差信号TE，标号404表示经过噪声去除器230的轨道误差信号TE。

参照图3和4，光接收装置的相加信号PI 301和401以及聚焦误差信号302和402的幅度较大，与光盘类型无关。在轨道误差信号TE 303和403的情况下，在光盘被聚焦处，可记录光盘的轨道误差信号TE 403大于只读光盘的轨道误差信号TE 303。因此，可以通过使用仅轨道误差信号TE、光接收装置的相加信号PI和轨道误差信号TE之比、或聚焦误差信号FE和轨道误差信号TE之比来鉴别光盘类型。

图5是表示根据将参照图2描述的本发明实施例的鉴别光盘类型的方法的流程图。

在操作步骤510中，驱动单元250的聚焦致动器用于沿轴向移动物镜，并且跟踪致动器用于沿径向振荡物镜。在这种情况下，拾取器传送马达可以用于沿光盘径向振荡拾取单元210，而非驱动跟踪致动器。这里，光盘200连续旋转。

在操作步骤520中，当物镜沿轴向移动并沿光盘200的径向振荡时，确定从RF-AMP 220输出的在拾取单元210中的光接收装置的相加信号PI是否大于参考值，换句话说，光盘是否位于聚焦区。在操作步骤530中，当光接收装置的相加信号PI的幅度大于参考值时，测量聚焦区中的光接收装置的相加信号PI、聚焦误差信号FE、和经过噪声去除器230的轨道误差信号TE的幅度。在操作步骤540中，确定物镜是否向上移动到最高水平和向下移动到最低水平，以在操作步骤550中检查光接收装置的相加信号PI和轨道误差信号TE之比。当物镜没有移动到最高和最低水平时，重复在操作步骤510中物镜沿轴向的移动和物镜沿径向的振荡。这里，为了提高鉴别的可靠性，在操作540中可以将向上移动物镜至最高水平和向下至最低水平重复多次，并在操作步骤550中通过使用光接收装置的相加信号PI、聚焦误差信号FE、和经过噪声去除器230的轨道误差信号TE的幅度来确定光盘类型。为了迅速地确定光盘类型，在操作步骤550中，可以通过使用在向上移动物镜至最高水平之后测量的相加信号PI、聚焦误差信号FE、和通过噪声去除器230的轨道误差信号TE的幅度来确定光盘类型。在操作步骤550中，可以仅检查轨道误差信号TE，可以检查聚焦误差信号FE和轨道误差信号TE之比，或者可以检查轨道误差信号TE以及聚焦误差信号FE和轨道误差信号TE之比。

当在操作步骤550中检查的PI/TE之比大于参考值时，在操作步骤560中确定装入的光盘为只读光盘。当比值小于参考值时，确定装入的光盘为可记录光盘。

如上所述，本发明实施例能够在记录和/或再现只读光盘和/或可记录光盘的光盘系统中，在物镜沿轴向移动的聚焦初始阶段鉴别光盘类型。因此，减少了光盘类型的鉴别时间，结果提高了光盘系统的性能和可靠性。

另外，本发明实施例可应用于记录和/或再现只读高密度光盘和/或可记录的高密度光盘的光盘系统。

虽然表示和描述了本发明的一些实施例，但本领域的技术人员应该理解，在不脱离本发明的原理、精神以及权利要求及其等同物所限定的范围的情况下，可以对其进行修改。

Claims (24)

1、一种鉴别光盘类型的方法，用于记录和/或再现光盘的包括具有激光二极管、物镜、和光接收装置的光学拾取器的光盘系统，其包括：

当向上/向下移动物镜并且沿光盘径向振荡物镜的同时，在光接收装置的相加信号变得大于参考值时检查轨道误差信号；和

通过使用光接收装置的相加信号和轨道误差信号之比来鉴别光盘类型。

2、如权利要求1所述的方法，还包括从轨道误差信号中去除噪声，和提供没有噪声的轨道误差信号，以鉴别光盘类型。

3、如权利要求2所述的方法，其中，从轨道误差信号中去除噪声的步骤包括将轨道误差信号通过高通滤波器和/或带通滤波器，以去除低频噪声和/或高频噪声。

4、如权利要求1所述的方法，其中，鉴别光盘类型的步骤包括鉴别光盘是只读光盘还是可记录光盘。

5、如权利要求1所述的方法，其中，检查轨道误差信号包括通过沿光盘径向移动拾取器来振荡物镜。

6、如权利要求5所述的方法，其中，鉴别光盘类型的步骤包括鉴别光盘是只读光盘还是可记录光盘。

7、如权利要求1所述的方法，其中，当检查轨道误差信号时光盘连续旋转。

8、如权利要求1所述的方法，其中，当检查轨道误差信号时，还检查聚焦误差信号。

9、一种鉴别光盘类型的方法，用于记录和/或再现光盘的包括具有激光二极管、物镜、和光接收装置的光学拾取器的光盘系统，其包括：

当沿光盘径向振荡物镜时沿轴向移动物镜；

当光接收装置的相加信号变得大于参考值时检测轨道误差信号和聚焦误差信号；和

通过使用光接收装置的相加信号、轨道误差信号和聚焦误差信号来鉴别光盘类型。

10、如权利要求9所述的方法，其中，检测光接收装置的相加信号、轨道误差信号和聚焦误差信号的步骤包括：

检查光接收装置的相加信号的幅度是否大于所述参考值；

当光接收装置的相加信号的幅度大于所述参考值时检测轨道误差信号和聚焦误差信号；和

确定物镜是否完成一次向上和/或向下操作，并且当完成一次向上和/或向下操作时进行光盘类型的鉴别。

11、如权利要求9所述的方法，还包括从轨道误差信号中去除噪声和提供没有噪声的轨道误差信号，以鉴别光盘类型。

12、如权利要求11所述的方法，其中，从轨道误差信号中去除噪声的步骤包括将轨道误差信号经过高通滤波器和/或带通滤波器，以去除低频噪声和/或高频噪声。

13、如权利要求9所述的方法，其中，鉴别光盘类型的步骤包括通过使用光接收装置的相加信号和轨道误差信号之比来鉴别光盘是只读光盘还是可记录光盘。

14、如权利要求13所述的方法，其中，鉴别光盘类型的步骤还包括通过使用聚焦误差信号和轨道误差信号之比来鉴别光盘是只读光盘还是可记录光盘。

15、如权利要求9所述的方法，其中，移动物镜的步骤包括通过使用拾取器传送马达沿光盘径向振荡拾取器，而不沿光盘径向振荡物镜。

16、如权利要求9所述的方法，其中，当检查轨道误差信号和聚焦误差信号时光盘连续旋转。

17、一种鉴别光盘类型的设备，用于记录和/或再现光盘的光盘系统，其包括：

光学拾取器，包括激光二极管、物镜、和光接收装置；

驱动单元，包括沿轴向移动物镜的聚焦致动器和沿光盘径向振荡物镜的跟踪致动器；

检测单元，用于当光接收装置的相加信号变得大于参考值时检测轨道误差信号和聚焦误差信号；和

控制器，用于通过使用光接收装置的相加信号、轨道误差信号和聚焦误差信号来鉴别光盘类型，

其中，当聚焦致动器沿光盘轴向移动物镜时，跟踪致动器沿光盘径向振荡物镜。

18、如权利要求17所述的设备，还包括噪声去除器，用于从轨道误差信号中去除噪声，并向控制器提供已去除噪声的轨道误差信号。

19、如权利要求18所述的设备，其中，噪声去除器是高通滤波器，用于从轨道误差信号中去除低频噪声。

20、如权利要求18所述的设备，其中，噪声去除器是带通滤波器，用于从轨道误差信号中去除高频噪声。

21、如权利要求17所述的设备，其中，控制器通过使用光接收装置的相加信号和轨道误差信号之比来鉴别光盘是只读光盘还是可记录光盘。

22、如权利要求17所述的设备，其中，控制器通过使用聚焦误差信号和轨道误差信号之比来鉴别光盘是只读光盘还是可记录光盘。

23、如权利要求17所述的设备，其中，控制器通过使用光接收装置的相加信号和轨道误差信号之比以及聚焦误差信号和轨道误差信号之比来鉴别光盘是只读光盘还是可记录光盘。

24、如权利要求17所述的设备，其中，驱动单元连续地旋转光盘。

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