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CH248842A - Tiefenmikrometer mit mittels Abstandkerben auf verschiedene Messbereiche einstellbarem Messstab. - Google Patents

Tiefenmikrometer mit mittels Abstandkerben auf verschiedene Messbereiche einstellbarem Messstab.

Info

Publication number
CH248842A
CH248842A CH248842DA CH248842A CH 248842 A CH248842 A CH 248842A CH 248842D A CH248842D A CH 248842DA CH 248842 A CH248842 A CH 248842A
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
measuring
tube
micrometer
notches
measuring rod
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Aktien Praezisions-Apparatebau
Original Assignee
Praezisions Apparatebau Aktien
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Praezisions Apparatebau Aktien filed Critical Praezisions Apparatebau Aktien
Publication of CH248842A publication Critical patent/CH248842A/de

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/22Feeler-pin gauges, e.g. dial gauges
    • G01B3/28Depth gauges

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)

Description


  
 



  Tiefenmikrometer mit mittels Abstandkerben auf   vereebiedene      Mefibereiche    einstellbarem   Messstab.   



   Vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Tiefenmikrometer mit mittels Abstandkerben   auf      verschiedene      hIessbereiche    einstellbarem Messstab. Bei Tiefenmikrometern dieser Art ist der Messstab mit Einkerbungen versehen, die im Abstand des   Messbereiehes    der   BIikrometerschraube    angeordnet sind, so dass der Tiefenmikrometer einen   DIeBbereich    aufweist, der um ein Mehrfaches grösser ist als der   Messbereich    der zugehörigen Mikrometerschraube. Bei den bekannten Mikrometern dieser Art ist am hintern Ende des Mikrometers eine   Klemmversehraubung    mit Klauen angeordnet, die in die Kerben des Messstabes zu greifen bestimmt sind.

   Derartige Tiefenmikrometer haben den Nachteil, dass der Messstab um die Länge des ganzen Mikrometers langer sein muss als der zum Messen erforderliche Teil, wobei bei geringer   Messtefe    das hintere Ende des Messstabes frei vorsteht und gegen Verschmutzen oder Verstossen nicht geschützt ist.



   Vorliegende Erfindung vermeidet den zweiten Nachteil und bei entsprechender Ausbildung auch den ersten; sie besteht darin, dass der Messstab nur auf der   Meseite    frei vorsteht und die Führung für den Messstab auf der gegenüberliegenden Seite verschlossen ist. Zweckmässig weist der Mikrometer zur   Fiihrung    des Messstabes ein unter Federdruck stehendes, axial verschiebbares Rohr    auf, dessen eines Ende mit einer : Klemm-    hülse versehen ist, die Klauen hat, welche in die Abstandkerben des Messstabes zu greifen bestimmt sind, während das andere Ende des Rohres mit einem Druckknopf verschlossen    ist, um das Rohr zum Öffnen der : Klauen    entgegen dem Federdruck axial verschieben zu können und die Bohrung des Rohres an diesem Ende gegen das Eindringen von Staub zu schützen.



   In beiliegender Zeichnung ist eine beispielsweise Ausführungsform des Erfindungsgegenstandes veranschaulicht.



   In dem   Ansehlagfuss    1 ist eine Hülse 2 eingepresst, welche ein Innengewinde 3 aufweist, in das das Gewinde der   Dfikrometer-    schraube 4 passt. Die Mikrometerschraube ist in ihrer ganzen Länge durchbohrt und in dieser Bohrung ist das Rohr 5 axial verschiebbar. In dem Rohr 5 ist der Messstab 6 verschiebbar gelagert. Das Rohr 5 ist am vordern Ende mit der Klemmhülse 7 verschraubt, welche Klauen 8 aufweist, die in die   Kerben    9 des Messstabes zu greifen bestimmt sind. Auf dem Rohr 5 sitzt ein Ring 10, der als Anschlag für die Druckfeder 11 dient. Die Mikrometerschraube 4 ist mit einer Ausdrehung 12 versehen, in welcher die Druckfeder 11 sitzt.

   Die Druckfeder 11 drückt das Rohr 5 nach hinten, so dass durch den   Konus    13 der Klemmhülse 7 die Klauen 8 in eine der Rillen 9 des Messstabes eingepresst werden. Auf dem Konus 15 der Mikrometerschraube 4 sitzt die   Messtrommel    16, welche durch das in die   Mikrometerschraube       4 geschraubte : Kopfstück 17 auf den Konus    15 gedrückt wird. Zwischen der Hülse 2 und der Messtrommel 16 ist die Messbüchse 18,   welche    mit den   Einlegfedern    19 auf der Hülse 2 befestigt ist.

   Das Rohr 5 ist an seinem hintern Ende mit dem Zapfen 20 verschlossen, der als Druckknopf augebildet ist, um das Rohr 5 zum Öffnen der Klauen entgegen dem Druck der Feder 11   axial    verschieben zu können und um anderseits zu verhindern,   dass'    Staub an diesem Ende in das Rohr 5 eindringt. Der Messstab ist somit bis auf den dem jeweiligen   Mef bereich    entsprechenden, aus. dem Anschlagfuss frei vorsbehenden Teil versehalt. Der Mikrometer nimmt erstens weniger Raum ein als die bekannten Ausführungen und zweitens ist der Messstab vor Beschädigung und Verschmutzen besser geschützt.   

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH: Tiefenmikrometer - mit mittels Abstandkerben auf verschiedene Messbereiche einstellbarem Messstab, dadurch gekennzeichnet, dass der Messstab nur auf der Messseite frei vorsteht und die Führung für den Messstab auf der gegenüberliegenden Seite verschlossen ist.
    UNTERANSPRUCH : Tiefenmikrometer nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Mikrometer zur Führung des Messstabes ein unter Federdruck stehendes, axial verschiebbares Rohr aufweist, dessen eines Ende mit einer Klemm- hülse versehen ist, die Klauen hat, welche in die Abstandkerben des Messstabes zu greifen bestimmt sind, und dass das andere Ende des Rohres mit einem Druckknopf verschlossen ist, um das Rohr zum Öffnen der Klauen entgegen dem Federdruck axial versehieben zu können und die Bohrung des Rohres an diesem Ende gegen das Eindringen von Staub zu schützen.
CH248842D 1945-11-26 1945-11-26 Tiefenmikrometer mit mittels Abstandkerben auf verschiedene Messbereiche einstellbarem Messstab. CH248842A (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH248842T 1945-11-26

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH248842A true CH248842A (de) 1947-05-31

Family

ID=4467171

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH248842D CH248842A (de) 1945-11-26 1945-11-26 Tiefenmikrometer mit mittels Abstandkerben auf verschiedene Messbereiche einstellbarem Messstab.

Country Status (1)

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CH (1) CH248842A (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2814884A (en) * 1956-01-13 1957-12-03 Millard E Botner Micrometer depth gage
US3224104A (en) * 1964-02-17 1965-12-21 Ii Robert E Platt Dial indicator gauging attachment

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2814884A (en) * 1956-01-13 1957-12-03 Millard E Botner Micrometer depth gage
US3224104A (en) * 1964-02-17 1965-12-21 Ii Robert E Platt Dial indicator gauging attachment

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