[go: up one dir, main page]

CH157167A - Lichtelektrische Zelle und Verfahren zur Herstellung derselben. - Google Patents

Lichtelektrische Zelle und Verfahren zur Herstellung derselben.

Info

Publication number
CH157167A
CH157167A CH157167DA CH157167A CH 157167 A CH157167 A CH 157167A CH 157167D A CH157167D A CH 157167DA CH 157167 A CH157167 A CH 157167A
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
layer
cover layer
semiconductor
selenium
light
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Falkenthal Erwin
Original Assignee
Falkenthal Erwin
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Falkenthal Erwin filed Critical Falkenthal Erwin
Publication of CH157167A publication Critical patent/CH157167A/de

Links

Landscapes

  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description


      Lichtelektrische    Zelle und Verfahren zur Herstellung derselben.    Die Erfindung bezieht sich auf eine licht  elektrische Zelle, deren lichtempfindliche  Substanz aus Selen besteht. Die Erfindung  bezweckt, den technischen Wirkungsgrad die  ser Zellen zu erhöhen und gibt hierfür eine  Regel an, nach welcher es zugleich möglich  ist, die Fähigkeit einer solchen Zelle selbst  ohne     Hilfsstromquelle    einen merklichen  Strom zu erzeugen, derart zu steigern, dass  dieser Strom für technische Zwecke brauch  bar und dabei in proportionaler Abhängigkeit  von der Stärke der Belichtung der Zelle ist.  



  Die erfindungsgemässe Verbesserung ist  durch eine Massnahme erzielt, bei der ein       schichtenmässiger    Aufbau der Zelle zugrunde  gelegt wird. Auf einer Trägerplatte aus Me  tall oder einem andern elektrisch leitenden  Stoff ist eine Halbleiterschicht aus Selen auf  gebracht, die nach dem heutigen Stand der  Kenntnis eine kristallinische Struktur besit  zen muss, um lichtempfindlich zu sein. Auf  der     Selenschicht    ist wiederum eine Schicht  aus elektrisch leitendem Stoff aufgebracht,    die zum Beispiel aus Metall, auch aus einem       Alkalimetall,    einem Metallsalz, Graphit usw.  besteht. Diese Schicht muss so dünn sein,  dass das Licht auf die lichtempfindliche Sub  stanz wirken kann.

   Dieser Aufbau der Zelle,  wobei die     Decksehicht    und die Trägerplatte  die Elektroden darstellen, unterscheidet sich  grundlegend von der bisher allein gebräuch  lichen Bauart, bei welcher das Selen ein  schmales Band zwischen zwei in einer Ebene  erstreckten Drahtelektroden bildet.  



  Gemäss der Erfindung wird nun der Wir  kungsgrad der lichtelektrischen Zelle dadurch       erheblich    verbessert, dass die     Selenschicht     auch an ihrer an die Deckschicht anschliessen  den Oberfläche kristallinische Struktur auf  weist und mit der Deckschicht mechanisch  innig verbunden ist. Es hat sich nämlich  gezeigt, dass die kristallinische Oberflächen  struktur der lichtempfindlichen Substanz,  auf der die Lichtempfindlichkeit dieser Sub  stanz beruht, nicht zerstört oder erheblich       beeinträchtigt    werden darf, wenn man einen      guten Wirkungsgrad erreichen will.

   Als Ver  fahren zur Herstellung der Zelle gemäss der  Erfindung kommen daher nur solche in  Frage, bei     denen        entweder    überhaupt keine  Wärme angewendet     wird    (kalte Verfahren),  oder solche, bei denen eine Erwärmung nur  in dem Grade     zuhilfegenommen    wird, dass die  benannte Schädigung der lichtempfindlichen       Substanz    vermieden wird.

   Man kann diese  letzteren Verfahren     in    diesem Sinne ebenfalls  als kalte Verfahren bezeichnen gegenüber  der bisher üblichen Methode, nach welcher  ein lichtdurchlässiger Platinspiegel heiss auf  das Selen     aufgepresst        wird,    das dabei durch  Schmelzen seine Lichtempfindlichkeit ganz  oder     grösstenteils    verliert.

   (Soweit bei diesem  Verfahren die Kristallisation erst nach     dein     Einschmelzen des Selens zwischen zwei Pla  tinspiegeln versucht     wurde,    ergab sich kein  ständiger sicherer Erfolg, weil -es an der frei  kristallisierten Oberfläche fehlt.) Eine ganz       oberfläohliche        Anschmelzung    der Kristalle  durch entsprechend kurzdauernde Wärmeein  wirkung scheint     nicht    schädlich zu sein.

   Die  Deckschicht kann daher auch dadurch her  gestellt werden,     dass    Pulver- oder blattförmi  ges Metall aufgestreut und darnach durch  vorsichtige -Erhitzung aufgeschmolzen     wird.     Dabei     muss    eine möglichst innige, das heisst  möglichst viele Punkte der ganzen Fläche  umfassende Verbindung der aneinander gren  zenden Stoffe hergestellt werden.

   Wenn für  diese innige und breite Verbindung an der       Grenzfläche    gesorgt wird, ist der     schichten-          mä.ssige    Aufbau der Zelle, der bisher nur  durch     Aufeinanderliegen    von Schichten ver  ursacht wurde und infolge der hierbei un  vermeidlichen lufterfüllten Zwischenräume  auch bei Anwendung von     Pressdruck    nur  punktweise zu einer blossen Berührung der  Stoffe führt, sehr gut brauchbar, weil die  Zelle jetzt zugleich eine für die technische  Anwendung jeder Art geeignete Form erhält.  



  Die innige breite Verbindung der Schich  ten wird zum Beispiel dadurch erzielt, dass  man die Deckschicht aus Blattmetall her  stellt, -das durch     Aufpressen    oder Aufkleben  mit Lack innig mit der     Selensehicht    verbun-    den wird. Man kann dabei bis zur Dicke  des     Blattmetalles    von etwa 0,2 mm gehen,  oder man stellt die Deckschicht aus Graphit  oder Blei her - auch     Bleistiftmasse    ist ge  eignet - das auf der     Selenschicht    aufgerie  ben wird. Man kann auch eine Metallhaut  nach dem     Schoopschen        Spritzverfahren    auf  bringen.

   Die Deckschicht kann auch durch       elektrolytische    Bäder oder durch das so  genannte Kontakt- oder     Anreibeverfahren     hergestellt werden, bei welchem Lösungen  von Metallsalzen in     Aufschwemmung    von  mechanisch und chemisch     reinigenden    Mitteln       verwendet    werden. Es- kann auch     eine        Kom-          Hnation    des mechanischen, chemischen und  elektrolytischen Verfahrens zur Herstellung  der Deckschicht benutzt werden.

   Beispiels  weise hat sich als geeignet erwiesen, zunächst  durch ein mechanisches Verfahren Blei auf  der     Selenschicht    aufzubringen und hiernach  auf     elektrolytischem    Wege einen Kupfer  überzug auf dem Blei zu erzeugen.  



  Für die Wirksamkeit der innigen Verbin  dung zwischen     Selenschicht    und Deckschicht  ist es förderlich, wenn eine ähnliche innige  Verbindung auch zwischen der     Selenschicht     und der Trägerplatte besteht. Zugunsten  einer solchen innigen Verbindung ist für  eine chemisch saubere     Oberfläche    der Träger  platte zu sorgen, die beispielsweise durch  Glühen erzielt werden kann. Durch Auf  rauhen der Oberfläche dieser Platte, bei  spielsweise     mittelst    Sandstrahlgebläse, durch  Anbringen von Löchern in der Trägerplatte  kann ein gutes Anhaften des Selens in brei  ter Fläche     begünstigt    werden.

   Dies kann  man auch dadurch erzielen, dass man als Trä  germaterial ein Metall, beispielsweise Zinn  wählt, das sich bei niedriger Temperatur.  zirka 150  , mit dem Selen legiert.  



  Bei Zellen, die ohne     Hilfsstromquelle     einen technischen Strom liefern sollen, ist es  zweckmässig, darauf zu achten, dass die in  Rücksicht auf Lichtdurchlässigkeit notwen  dig dünne Deckschicht keinen zu hohen     'GVi-          derstand    hat. Es ist daher in diesem Fall  für die Deckschicht möglichst ein Material zu      wählen, das im Verhältnis zum .Selen einen  höheren Leitwert besitzt.  



  Die     Selenschicht    selbst kann in bekannter  Weise durch langdauernde Erhitzung des im  Handel üblichen     Selens    bei Temperaturen  zwischen 180 und 220   erzeugt werden, wo  bei es eine geeignete     gristallisationsstufe    an  nimmt. Die     notwendige    Höhe der Tempera  tur und die Dauer der Erhitzung richtet sich  nach der Herkunft und etwaigen Beimengung  des Selens und ist leicht durch Versuche zu  ermitteln. Die :Schichtdicke des Selens kann  vom Bruchteil     eines    Millimeters bis zu meh  reren Millimetern betragen.

   Das Selen kann  mit Metallen, deren Salzen, Graphit und an  derem vermischt werden, um einen höheren  Leitwert und     damit    eine Zelle geringeren  Widerstandes, die für manche Zwecke er  wünscht ist, zu erzeugen.  



  Um das Oxydieren der Deckschicht, die  zum Beispiel aus einem Kupferniederschlag  besteht, zu verhindern, wodurch die     Leistung     der Zelle bald sinken würde, kann die Zelle  in einem geschlossenen Gefäss untergebracht  werden, das ferner luftleer gemacht wird,  wenn die Deckschicht zum Beispiel aus       Quecksilber    oder Kalium besteht. Bei stark  mit Strom belasteten Zellen wird zwecks Ab  führung der Wärme das die Zelle umgebende  Gefäss mit einem indifferenten Gas, z. B.  Wasserstoff gefüllt. Bei Zellen ohne Gehäuse  wird zu gleichem Zweck der     Träger    der Se  lenschicht mit     Kühlrippen    oder, für schwä  chere Beanspruchung, die     Selenschicht    selbst  mit.

   Rändern versehen, die nicht von der  Deckschicht bedeckt sind.  



  Die in der beschriebenen Weise     äusgebil-          dete    Zelle kann bei der auf die Deckschicht  auffallenden Strahlung, die beispielsweise  von einer durch Wechselstrom gespeisten  Glühlampe geliefert wird, unter direkter     An-          schaltungeines        hocilohmigen        Kopftelephons     direkt zur     Frequenzkontrolle    des Netzstromes  verwendet     werden.    Für viele Fälle empfiehlt  es sich,

   den von der Zelle erzeugten Strom  dem Gitter einer     Verstärkerröhre    zuzufüh  ren und den durch diese oder durch mehrere    weitere Röhren verstärkten Strom zwecks  Betätigung grösserer Energie bedürfender In  strumente und Einrichtungen zu verwenden.  



  Zur Erhöhung des Wirkungsgrades der  Schaltung kann weiter die Zelle über einen  der letzteren und dem Stromverbraucher an  gepassten Transformator, zum Beispiel mit  der Röhre, verbunden werden. Dies empfiehlt  sich besonders, wenn zur Vermeidung gegen  seitiger Beeinflussung die Zelle in grösserer  Entfernung von der     Verstärkereinrichtung     oder einem andern Stromverbraucher benutzt  werden soll. Die Verbindung der Zelle mit  der Röhre kann auch durch die andern be  kannten     Ankopplungsarten,    zum Beispiel die       kapazitive,    durch die Widerstandskopplung  oder eine Vereinigung beider Kopplungsarten  erfolgen. Welche von diesen Kopplungsarten  anzuwenden ist, ist von Fall zu Fall nach  den jeweiligen Umständen zu beurteilen.  



  Man kann an die Röhre eine     Gittervorspan-          nung    anlegen, um durch deren Einstellung  sowohl die Röhre, als auch die Zelle auf  einen günstigen Arbeitspunkt einzuregulie  ren. Die hierfür erforderlichen Spannungen  richten sich im wesentlichen nach den ver  wendeten Röhren, die     Gittervorspannung     wird also     etwa    zwischen 1 und 20 Volt lie  gen. Um die Arbeit des     Einregulierens    der  eben erwähnten     Gittervorspannung    zu er  leichtern, kann endlich eine getrennte Span  nung an die Zelle und eine besondere Gitter  vorspannung an der Röhre verwendet wer  den.

   Hierbei wird der Negativpol der Span  nungsquelle an den Träger der     Selenschicht     und der Positivpol an die vom Licht getrof  fene Schicht unter Zwischenschaltung etwa  erforderlicher Widerstände gelegt. Die Zel  len sind zweckmässig, zwecks weiterer Stei  gerung des Wirkungsgrades, so ausgebildet,  dass ihr     Ohmscher    Widerstand in Richtung  senkrecht zu ihrer Fläche weniger als 1000  Ohm pro cm' beträgt. Dabei ist es wesent  lich, dass die lichtempfindliche Schicht, die  aus Selen besteht und auch mit Metallen  (zum Beispiel     Alkalimetallen)    in geringerer  Menge vermischt sein kein, in sehr dünner  Stärke aufgebracht wird, und zwar höchstens           etwa    0,1 mm dick.

   Die     untere    Grenze ist  durch die Durchschlagsfestigkeit des gewähl  ten Stoffes bedingt. Für Selen ist     zum    Bei  spiel eine kleinste     Schichtdicke    von 0,02     mm     anwendbar. Die     Leistung    einer solchen Zelle  ist ausserordentlich hoch, obgleich sie nur  eine Hilfsspannung von etwa 0 bis 4 Volt  benötigt.  



  Die Deckschicht wird aus lichtdurchlässi  gen oder porösen leitenden Stoffen her  gestellt, um, wie     erwähnt,    eine gute Licht  durchlässigkeit der     Decksehicht    herbeizu  führen.  



  Auf Grund der Erkenntnis, dass bei der  Aufbringung der lichtempfindlichen Schicht,  insbesondere bei der meist erforderlichen  Formierung, das heisst zum Beispiel beim  Selen bei der Umwandlung in die     krista.l-          linische    Form, sich     mit    Luft und Gas ge  füllte     Hohlräume    in der Schicht bilden, wird  zweckmässig das Selen bei der Erzeugung  der Schicht gepresst, -um ein völlig dichtes  Gefüge. der Schicht und einen     geringen    elek  trischen Widerstand zu erzielen.

   - Das Pres  sen erfolgt bei Verwendung pulverförmigen  Materials bereits im - kalten - Zustand, auf  jeden Fall aber bei der späteren Erwärmung  und-     Formierung.    Dieses Pressen braucht  nicht ununterbrochen zu erfolgen, sondern es  genügt,     bezw.    ist zweckmässig, das Pressen  absatzweise oder mit wechselndem Druck  vorzunehmen, -damit in den Zwischenzeiten  den Gasen Gelegenheit zum Entweichen ge  geben wird. Zwischen     Pressstempel    und  Schicht wird zweckmässig eine gasdurchläs  sige Zwischenlage, etwa von an sich festem  dünnem Asbest,     angeordnet.     



  An Stelle der bekannten     Aufbringungs-          art    des     Selens,    zum Beispiel durch Aufstrei  chen des     sögenannten        Stengelselens    auf die  auf 200 bis 250   erhitzte Trägerplatte, wird  zweckmässig so verfahren, dass das Selen in  fein verteiltem Zustand in dünner Schicht  durch Aufstäuben oder Sieben in möglichst  gleichmässiger Dicke und Dichte auf die       Grundplatte    aufgebracht wird.

   Dies ist be  sonders für die Herstellung grosser Flächen         wichtig.    Diese Schicht wird im kalten oder  schwach erwärmten Zustand gepresst und  hierauf die so vorbereitete Platte den für die  Formierung erforderlichen     Temperaturen    (bei  Selen etwa 200  ) ausgesetzt, wobei die Pres  sung mehrmals wiederholt wird. Die sich  während der Formierung und Pressung bil  denden Gase können durch Absaugen oder  Benutzung einer     gasdurchlässigen    Zwischen  lage entfernt werden.  



  Die     Anwendung    .einer sehr dünnen Schicht  hat für die Herstellung der Zelle den beson  deren Vorteil, dass die Formierung anstatt  vieler Stunden meist nur wenige Minuten er  fordert. Das     Aufstäubungsverfahren    hat vor  der bisher gebräuchlichen     Aufbri        bolmg    der  Schicht in flüssigem Zustand des betreffen  den Stoffes den Vorteil, dass die Luft bereits  im ersten Augenblick der Erhitzung durch  die Zwischenräume ,des pulverförmigen Ma  terials     entweichen    kann, wodurch sich eine  völlig homogene Schicht beim Pressen ergibt.

    Auch scheint die erhöhte Oxydation, welche  bei diesem Verfahren     eintritt,    günstig auf  die     Leistung    der Zelle einzuwirken.  



  Der elektrische Widerstand der Zelle  kann weiter dadurch     vermindert    werden, dass  man dem Selen gut leitende Stoffe in gerin  gen Mengen     (wie    zum Beispiel Graphit, Ka  lium,     Tellur,        Alkalimetalle    usw.) zusetzt.  Ferner     können    Salze oder Metalle oder Ver  bindungen von Metallen mit Sauerstoff oder  mit Selen usw. zugefügt werden. Für Selen  zellen eignen sich zum Beispiel Kalium- oder       Natriumselenide.    Offenbar ist die hierbei be  obachtete Steigerung der Lichtempfindlich  keit auf die Elektronen auslösende Wirkung  des Kaliums     bezw.    Natriums zurückzufüh  ren.

   An Stelle von oder     neben    den Metallen       usw:    können auch oxydierende     Stoffe,    wie  zum Beispiel chlorsaures Kali, in geringen  Mengen zugesetzt oder eine Behandlung der  Schicht mit Sauerstoff angewendet werden.  Auch Zusätze von     radioaktiven    Stoffen  wirken ähnlich. Auf der leichten Elektronen  abgabe scheint auch die Eigenart solcher  Zellen zu beruhen,     @dass    sie auch ohne Erre-           gerspannung    bei Belichtung Strom abgeben.  Mit dem beschriebenen Verfahren ist es mög  lich, den Widerstand der Zelle auf etwa 1000  Ohm     und    weniger zu verringern.  



  Wichtig für den Zweck der Erfindung  ist, dass .das     Aufpressen    der     lichtempfind-          lichen    Schicht auf einem Träger erfolgt, der  aus gut leitendem Material, zum Beispiel       Metall,    wie     Messing,    Eisen besteht, dem fer  ner zweckmässig durch Aufrauhen eine ver  grösserte Oberfläche gegeben ist, so dass da  durch eine innigere Verbindung mit der  lichtempfindlichen Schicht geschaffen wird.  Auch durch Anordnung zahlreicher Löcher  oder ähnliche Massnahmen kann solche Ver  grösserung der Oberfläche und innige Ver  bindung erzielt werden.

   Es kann auch     ver-          teilhaft    sein, die innige Verbindung durch  chemische Vereinigung des lichtempfind  lichen Materials mit der Trägerplatte herbei  zuführen, indem man letztere zum Beispiel  zunächst mit einem elektrolytisch erzeugten  dünnen Überzug von     Tellur    versieht.  



  Die innige Berührung der Deckschicht  mit der lichtempfindlichen Schicht ist glei  chermassen wichtig. Zu diesem Zweck wird  die Deckschicht     mittelst    Aufreiben,     Aufpres-          sen    oder Aufspritzen des Materials auf  gebracht. Das Material besteht vorzugsweise  aus Metall, vorteilhaft aus Gold, ferner Gra  phit,     Alkalimetall,        Woodmetall    oder einem       C,remisch    dieser Stoffe.

   Eine Aufbringung  unter mässiger Erwärmung, bei welcher der  gewählte lichtempfindliche Stoff seine Licht  empfindlichkeit noch nicht einbüsst (für Selen  zum Beispiel unter 200  ) scheint für die  innige Verbindung .bei einigen Stoffen, wie  zum Beispiel     Woodmetall,    besonders vorteil  haft zu sein.    Bei Aufbringung der Deckschicht unter  Druck oder bei der Formierung der licht  empfindlichen Schicht ist !das Anlegen einer  Hilfsspannung an die Deckschicht und die  Trägerplatte vorteilhaft. Die bei höheren  Stromstärken hierbei     entstehende    Erwär  mung kann zur Unterstützung der Formie  rung der lichtempfindlichen Schicht benutzt    werden, unter Umständen kann auf eine be  sondere Wärmequelle verzichtet werden.  



  Zum Zweck der Verringerung des Wider  standes der Zelle und Sicherung einer guten  Lichteinwirkung wird die Dicke der Deck  schicht gering gemacht, und zwar wird dieser  Schicht höchstens etwa 0,01 mm Dicke ge  geben,     wenn    sie wesentlich     geschlossen    ist,  wie zum Beispiel ein     chemisch    erzeugter Sil  berniederschlag. Verwendet man eine Deck  schicht, die zum Zwecke der Lichtdurchläs  sigkeit porös ist, wie sie zum Beispiel .durch  Aufstäuben fein pulverisierten     Woodinetalle5     mit nachfolgender Pressung bei zirka 100 "  entsteht, so kann die Dicke der Deckschicht  0,1 mm oder auch mehr betragen.  



  Bei der Wahl der Stoffe für die Deck  schicht einerseits und die lichtempfindliche  Schicht anderseits, scheint die Beachtung der  Spannungsreihe vorteilhaft zu sein. Es hat  sich zum Beispiel auf einem Träger aus Eisen  als lichtempfindliche Schicht Selen mit ge  ringen metallischen Beimengungen, zum Bei  spiel von     Alkalimetal.l    und darüber eine       dünne    Deckschicht aus Graphit bewährt.  



  Bei der     Prüfung    der fertigen Zelle kommt  es infolge der geringen Dicke :der Selen  schicht gelegentlich vor, dass sich metallische  leitende     Verbindungen    (Strombrücken) zwi  schen Deckschicht und Trägerplatte ergeben.  Um diese Zellen nicht verwerfen zu müssen,  wird an die Zelle kurzzeitig eine Spannung,  die höher ist als die normale Betriebsspan  nung, angelegt. Durch den dabei fliessenden  starken Strom wird die Brücke zerstört und  die Zelle betriebsfähig.  



  Nach dem vorstehend beschriebenen Ver  fahren lassen sich Zellen von beliebiger Aus  dehnung, also für sehr grosse Leistungen,  herstellen. Vorteilhaft ist es jedoch, für  grosse Leistungen mehrere kleinere Zellen,  deren Charakteristik (Verhalten bei verschie  denen Beleuchtungsgraden) durch vorauf  gegangene     Messung    festgehalten wurde, zu  einer grösseren Einheit zusammenzuschalten.  



  Der vom Licht getroffenen Schicht, ins  besondere der über dem eigentlichen licht-      empfindlichen Material befindlichen dünnen,  aus elektrisch leitendem Stoff bestehenden  Deckschicht werden vorteilhaft basische  Teerfarbstoffe zugesetzt. Beispielsweise kann       man    einen der käuflichen     Anilinfarbstoffe     benutzen und in die Oberfläche der Deck  schicht einreiben oder     einpressen,    auch zum  Beispiel aufspritzen.  



  Durch diesen     Farbstoffzusatz    erhält die  Zelle die Fähigkeit, schon auf sehr geringe  Lichtreize anzusprechen, ferner wird die re  lative Grösse der Wirkung für jeden Reiz  grad erhöht. Eine Zelle, die unter dem Ein  fluss der Belichtung ohne Zuhilfenahme einer  Stromquelle Strom liefert, wird durch den       Farbstoffzusatz    zu einer relativ grossen  Stromerzeugung veranlasst.  



  Der Farbstoff kann vor dem Zusetzen  zweckmässig mit einem Metall- oder Graphit  pulver oder     einem    ähnlichen leitenden Stoff  gemischt werden. In diesem Sinne sind zum  Beispiel die Schreibminen der handelsübli  chen Kopierbleistifte benutzbar, die mit dem       Anilinblau    gefärbt sind.  



  Für die Erzielung von     Höchstleistungen     hat sich eine nachträgliche Erwärmung der  fertigen Zelle als vorteilhaft erwiesen, sofern  dabei der Schmelzpunkt der lichtempfind  lichen Schicht nicht     überschritten    wird.  



  Die Wirkung des     Farbstoffzusatzes    selbst  kann dadurch verstärkt werden, dass auf der       farbstoffhaltigen    Deckschicht eine weitere  dicht anliegende, zum Beispiel     aufgepresste,     dünne Metallschicht aufgebracht wird. Bei  spielsweise hat Blattgold sich als geeignet       erwiesen.    Auch der Zusatz von radioaktiven  Stoffen zum Material der Deckschicht, ge  gebenenfalls bei gleichzeitigem Zusatz sol  cher Stoffe zum Selen, scheint die Empfind  lichkeit der Zellen günstig zu beeinflussen.  



  Eine weitere Verbesserung des Erfin  dungsgegenstandes besteht     darin,    dass die  elektrische Ungleichmässigkeit der den Trä  ger der Strahlungsempfindlichkeit bildenden  Grenzfläche oder     Grenzschicht-durch    ein die       innern-Widerstände    der Flächenteile     au.sglei#            chendes    Verfahren beseitigt wird.

   Die Zel  len bestehen     nämlich    aus einer dünnen Halb  leiterschicht, einer dieselbe tragenden gut  leitenden Trägerschicht und einer auf der  Halbleiterschicht     liegenden    Deckschicht, die  ebenfalls besser leitet als die Halbleiter  schicht, jedoch zwecks     Durchlassung    der  Strahlung in der Regel dünner ist als die  Trägerschicht, oder Öffnungen aufweist.  



  Der Sitz der durch die     Belichtung    aus  gelösten elektrischen Wirkung ist, wie er  wähnt, nach allem Anschein die molekular  dünne Grenzschicht, die zwischen dem Halb  leiter und der Deckschicht liegt. Wegen der  sehr     geringen    Dicke dieser     Grenzschicht    soll  dieselbe im folgenden als     "Grenzfläche"    be  zeichnet werden.

   Fasst man nun beliebig  viele und beliebig kleine Teile dieser     Grenz-          fläche    als molekulare     Spannungsquellen    auf,  so folgt aus dem geschilderten Aufbau     dei     Zelle, dass diese molekularen Spannungsquel  len sämtlich parallel zueinander zwischen  Deck- und Trägerschicht geschaltet sind, wo  bei die -Halbleiterschicht als     vorgeschalteter          Ohmscher    Widerstand wirkt. Die Nachteile,  welche sich bei     Parallelschaltung    ungleicher  Primärelemente mit verschiedenen innern  Widerständen und     etwa    auch verschiedenen  E. M.

   K. ergeben und durch     "innern    Schluss"  jede Stromlieferung in Frage stellen kön  nen, sind bekannt. Da die E. M.     K.-Werte     der     Molekularelemente    der Elektrozellen sehr  klein sind, so werden naturgemäss besonders  hohe Forderungen an die Gleichmässigkeit  der elektrischen Eigenschaften dieser Mole  kularelemente gestellt.  



  Die elektrische Ungleichförmigkeit kann  somit als eine Verschiedenheit der E.     M.    K.  der einzelnen     Molekularelemente    oder ihrer  innern Widerstände     aufgefasst    werden.  



  Diese Ungleichheit der     Molekularele-          inente,    die bei der Herstellung der Zelle ent  steht, kann durch eine die     innern    Wider  stände - dieser     Molekularelemente    ausglei  chende Arbeitsweise     beseitigt    werden.  



  Bei dieser Arbeitsweise, deren Wirksam  keit auf der-     Vorschaltung    von Widerstand      vor die Gesamtheit der     Molekularelemente     beruht, wird lediglich der innere Widerstand  der Zelle erhöht, während die Empfindlich  keit nicht beeinträchtigt wird. Das Verfah  ren eignet sich insbesondere für Zellen, bei  denen es auf besonders     geringen    Widerstand  betriebsmässig nicht ankommt.  



  Den Widerstandsausgleich kann man bei  spielsweise dadurch herstellen, dass man zu  dem Halbleiter Zusätze aus schlecht leiten  dem Stoff gibt. Benutzt man zum Beispiel  Selen als Halbleiter, so     wird    in kleinen Men  gen (bis     etwa        5%)    Schwefel oder Tonerde  oder die seltenen Erden, wie     Cer,        Thorium,     zugefügt. Ganz allgemein kann man alle  solchen     schlechtleitenden    und mit Selen  mischungsfähigen Stoffe wählen, die jeden  falls zufolge ihrer Art oder zufolge ihrer  geringen Menge den Charakter der Halb  leiterschicht in bezug auf die Spannungs  reihe nicht verändern.  



  Eine andere Arbeitsweise zur Wider  standsausgleichung besteht darin, dass man  die Formierung, also die Umwandlung der  nichtleitenden     Selenform    in die kristalline  gutleitende Form, durch Anwendung ver  ringerter Temperatur nicht vollständig sich  ausbilden lässt oder vorzeitig abbricht. Dabei  erhält das Selen nicht die bekannte blanke  metallisch glänzende, sondern eine     sammet-          artig    mattgraue Oberfläche. Dies wird ins  besondere dann leicht erzielt, wenn dem  Selen     Schwefel    beigegeben wurde.  



  Eine dritte Arbeitsweise besteht darin,  dass man den Widerstand der Deckschicht  erhöht, indem man dem für die Stromablei  tung erforderlichen Metall     schlechtleitende     Zusätze (zum Beispiel Kaolin oder Graphit)  gibt, oder Metallegierungen von geringer  Leitfähigkeit benutzt. Soweit die pulverför  mig gemischten Stoffe nicht binden, setzt  man denselben ein<B>01</B> oder einen     Klebstoff,     zum Beispiel     Tragant,    zu.  



  Schliesslich kann man auch .eine beson  dere Widerstandsschicht     dazwischenfügen,     am einfachsten unter der Deckschicht. Bei-    Ein dampfförmiger Zustand wird bei  spielsweise in der Weise angewendet, dass  man den Halbleiter (zum Beispiel Selen) im  Ofen verdampft und auf der in den Ofen  gebrachten     Trägerplatte    niederschlagen lässt.  Hierdurch erzielt man eine innige, mit der  Trägerplatte verbundene Halbleiterschicht       (Selenschicht)    von grosser Gleichmässigkeit.  Die Oberfläche der Trägerplatte kann zweck  mässig durch Aufrauhen,     Anätzen    und der  gleichen gut haftfähig gestaltet werden.

   Die  Gleichmässigkeit der Halbleiterschicht kann  dadurch gefördert werden, dass man die Trä  gerplatte vor dem Einbringen in den Ofen  erhitzt, jedoch nicht bis auf die Temperatur  des Halbleiterdampfes. Diese Trägerplatte  kann auch bereits mit einer Grundschicht  des Halbleiters bedeckt sein. Gleichzeitig  mit dem Halbleiter oder in Mischung mit  ihm können Zusätze, die für die Strahlungs  empfindlichkeit und andere Eigenschaften  der Zellen günstig sind, wie Schwefel (einige       Prozent),    Kalium, Natrium, oder Anilin  farbstoffe, verdampft und in Mischung mit  dem Halbleiter niedergeschlagen werden.

   An  derseits erlaubt das Verfahren auch, zuerst  den Halbleiter für sich aus Dampfform nie-           derzuschlagen    und darnach im gesonderten  Verfahren den oder die Zusätze als Nieder  schlag     aufzubringen.     



  Auf der durch Dampfniederschlag ent  standenen Halbleiterschicht     wird    die Deck  schicht aufgebracht, wozu man vorteilhaft  ein gleiches Verfahren benutzt. In diesem  Fall muss der Schmelzpunkt des Stoffes, aus  dem die     molekulardünne    Deckschicht be  stehen soll, niedriger als der Schmelzpunkt  des Halbleiters liegen, damit letzterer nicht       schmilzt.    Hierfür kommen die leicht     ver-          dampfbaren    Metalle in Betracht.  



  Eine andere Arbeitsweise besteht darin,  dass man den Halbleiterstoff in     Nebelform     bringt und auf die Trägerplatte aufspritzt,  ähnlich wie dies beim     Schoopschen    Metall  zerstäubungsverfahren stattfindet. Die un  mittelbare Berührung mit einer Flamme, die  im allgemeinen zu heiss ist, muss jedoch ver  mieden werden, weil der Halbleiter sonst ver  brennt,     anstatt    zu schmelzen. Der Halbleiter  stoff     wird    daher in einer Spritzpistole -durch  indirekte Heizung verflüssigt (für Selen sind  200 bis 300   erforderlich) und dann im  Luftstrom oder einem Gasstrom, zum Bei  spiel Sauerstoff, zerstäubt. Benutzt man  Sauerstoff, so wird auf diese Weise zugleich  das etwa gewünschte Halbleitergemisch her  gestellt.

   Auf ähnliche Weise kann man  durch Anwendung von Schwefelhaltigem Gas  eine     Schwefel-Selenmischung    herstellen usw.  Wünscht man derartige Mischungen nur auf  der Oberfläche (Grenzschicht), so benutzt       man    gegebenenfalls     indifferentes    Gas zur       Zerstäubung    und behandelt die fertige Halb  leiterschicht bei entsprechender     Temperatur     nachträglich mit Sauerstoffgas     usw.        Ftir     diese Zwecke ist es auch möglich, die     Zer-          stäubung    in einem Raum auszuführen, der       mit    dem     Sauerstoff    usw.

       bezw.    mit dem       indifferenten    Gas angefüllt ist.  



  Die     Zerstäubung    wird erleichtert, wenn  man dem flüssigen Halbleiter Schwefel bei  mischt. Die     Zerstäubungsluft        wird    zweck  mässig vorgewärmt. Die Gleichmässigkeit  des Niederschlages wird begünstigt, wenn  man die     Zerstäubungsvorrichtung    fest an-    ordnet und den Träger, auf den der Nebel  niedergeschlagen werden soll, regelmässig be  wegt. Dies eignet sich insbesondere für grö  ssere Flächen.  



  Durch das erfindungsgemässe Verfahren  kann nicht nur eine grosse     Gleichmässigkeit     der Halbleiterschicht     bezw.    Grenzschicht er  zeugt, sondern auch eine innige Verbindung  zwischen dieser und den beiden anschliessen  den Schichten erzielt werden, was im Gegen  satz zu der bisher üblichen blossen Berüh  rung der Schichten für den Wirkungsgrad  der Zelle vorteilhaft ist. Um diese innige  Verbindung möglichst zu begünstigen, wird  bei der     Zerstäubung    vorteilhaft ein höherer  Druck, etwa 4 bis 6     Atm.,    angewendet.  Hierdurch wird zugleich eine     gewisse    Fein  körnigkeit der Schicht und eine besonders  dichte Lagerung des Materials ähnlich wie  bei der Dampfniederschlagung erzielt.  



  Das     Zerstäubungsverfahren    lässt sich auch  für die     Aufbringung    der Deckschicht benut  zen, indem man zum Beispiel eine kolloidale       Graphitlösung    zerstäubt und aufspritzt.  



  Das erfindungsgemässe Verfahren erlaubt  in allen Ausführungsarten die Behandlung  einer beliebig grossen Fläche, ohne dass die  erforderlichen     Einrichtungen    schwierig wer  den.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH I: Lichtelektrische Zelle, bei welcher eine Halbleiterschicht aus Selen zwischen einer elektrisch leitenden Grundplatte und einer lichtdurchlässigen, elektrisch leitenden Deck schicht vorgesehen ist, dadurch gekennzeich net, dass die Selenschicht auch an ihrer an die Deckschicht anschliessenden Oberfläche kristallinische Struktur aufweist und mit der Deckschicht mechanisch innig verbunden ist. UNTERANSPRCCHE 1. Lichtelektrische Zelle nach Patentan spruch I, dadurch gekennzeichnet, dass die Grundplatte mit Kühlrippen ver sehen ist. 2.
    Lichtelektrische Zelle nach Patentan spruch I, dadurch gekennzeichnet, dass die eigentlichelichtempfindliclie Zelle in ein mit einem wärmeableitenden Gas ge fülltes, luftdicht abgeschlossenes Gefäss eingesetzt ist. . Lichtelektrische Zelle nach Patentan spruch I, dadurch gekennzeichnet, dass der Ohmsche Widerstand der Zelle in Richtung senkrecht zu ihrer Fläche we niger als 1000 Ohm pro cm' beträgt. 4. Lichtelektrische Zelle nach Patentan, spruch I, dadurch gekennzeichnet, dass die Selenschicht eine sehr geringe Dicke aufweist. 5.
    Lichtelektrische Zelle nach Patentan spruch I, dadurch gekennzeichnet,. dass die Deckschicht eine sehr geringe Dicke aufweist. 6. Lichtelektrische Zelle nach Patentan spruch I, dadurch gekennzeichnet, dass die Deckschicht aus elektrisch gutleiten dem Metall mit Zusätzen von !,lkali- metall besteht. 7. Lichtelektrische Zelle nach Patentan spruch I, dadurch gekennzeichnet, dass die lichtempfindliche Schicht geringe Mengen radioaktiver Stoffe enthält. B. Lichtelektrische Zelle nach Patentan spruch I, dadurch gekennzeichnet, dass die Deckschicht geringe Mengen radio aktiver Stoffe enthält. 9. Lichtelektrische Zelle nach Patentan spruch I, dadurch gekennzeichnet, dass die lichtempfindliche Schicht und die Deckschicht geringe Mengen radioaktiver Stoffe enthalten. 10.
    Lichtelektrische Zelle nach Patentan spruch I, dadurch gekennzeichnet, dass die Deckschicht einen basischen Teer faserstoff enthält. 11. Lichtelektrische Zelle nach Patentan spruch I, dadurch gekennzeichnet, dass über einer farbstoffhaltigen Deckschicht eine weitere, dicht anliegende Schicht aus dünnem Metall vorgesehen ist. PATENTANSPRUCH II: Verfahren zur Herstellung einer licht empfindlichen Zelle gemäss Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass die Selen schicht vor dem Aufbringen der Deckschicht sensibilisiert und die Deckschicht dann ohne Anwendung von wesentlicher Erwärmung innig mit der Selenschicht verbunden wird. UNTERANSPRüCHE: 12.
    Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass die Deck schicht durch Aufreiben elektrisch lei tenden Materials auf die Selenschicht aufgebracht wird. 1$. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass die Deck schicht durch Aufpressen elektrisch lei tenden Materials auf die Selenschicht aufgebracht wird. 14. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass die Deck schicht durch Aufkleben elektrisch lei tenden Materials auf die Selenschicht aufgebracht wird. 15.
    Verfahren nach Patentanspruch 1I, da durch gekennzeichnet, da.ss die Deck schicht durch Aufspritzen elektrisch lei tenden Materials auf die Selenschicht aufgebracht wird. 16. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass die Deck schicht auf galvanischem Wege auf gebracht wird. 17. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, da.ss der Selen schicht geringe Mengen von Metallen zu gegeben werden. 18.
    Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass der Selen- schiebt- geringe Mengen von andern Me- talloiden zugegeben werden. 19. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass der Selen schicht geringe Mengen von Salzen zu gegeben werden. 20. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass der Selen- schicht geringe Mengen von Kohlenstoff zugegeben werden. 21.
    Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass die Ober fläche der Grundplatte durch Ausglühen gereinigt wird. 22. Verfahren nach Patentanspruch II, da ,durch gekennzeichnet, dass die Oberfläche der Grundplatte durch Aufrauhen ver grössert wird. 23. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass die Oberfläche der Grundplatte durch Anbringen von Vertiefungen vergrössert wird. 24.
    Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass die lichtemp findliche Schicht unter Druck aufge bracht wird. 25. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass die lichtemp findliche Schicht bei der Aufbringung und Formierung einem in seiner Stärke wechselnden Druck ausgesetzt wird. 26. Verfahren nach Patentanspruch II, unter Verwendung von pulverförmigem zer- stäubbarem Material für die lichtempfind liche Schicht, dadurch gekennzeichnet, dass dieses Material bereits in kaltem Zu stand gepresst wird. 27.
    Verfahren nach Patentanspruch 1I, da durch gekennzeichnet, dass während der Formierung und Pressung der lichtemp findlichen .Schicht die sich bildenden Gase durch Absaugen entfernt werden. 28. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass während der Formierung und Pressung der lichtemp findlichen Schicht die sich bildenden Gase durch Benutzung einer gasdurch lässigen Zwischenlage entfernt werden. 29.
    Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, ,dass die Deck schicht in erwärmtem Zustand, aber mit einer unter dem Schmelzpunkt der licht empfindlichen Schicht liegenden Tem peratur, aufgebracht wird. 3(). Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass die lichtemp findliche Schicht vor dem Aufbringen der Deckschicht oxydiert wird. 31. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass während der Aufbringung der Deckschicht eine Hilfs- spannung an die Deckschicht und die Trägerplatte angelegt wird. 32.
    Verfahren nach Patentanspruch II, .da durch gekennzeichnet, dass während der Formierung der lichtempfindlichen Schicht eine Hilfsspannung an die Deck schicht und die Trägerplatte angelegt wird. 33. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass an die fertig gepresste Zelle zwecks Beseitigung eines etwaigen Schiehtenkurzschlusses eine über der Betriebsspannung liegende Hilfsspannung kurzzeitig angelegt wird. 34. Verfahren nach Patentanspruch II, unter Zusatz von Teerfarbstoffen zur Deck schicht, dadurch gekennzeichnet, dass diese Stoffe vor dem Zusetzen mit Me tall vermischt werden. 85.
    Verfahren nach Patentanspruch II, unter Zusatz von Teerfarbstoffen zur Deck schicht, dadurch gekennzeichnet, dass diese Stoffe vor dem Zusetzen mit Gra- phitpulver vermischt werden. 36. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass als Farbstoff zusatz zur Deckschicht das Material, aus welchem die Schreibminen der handels üblichen Kopierstifte bestehen, benutzt wird. 37. Verfahren nach Patentanspruch II, da.
    durch gekennzeichnet, dass die mit einer farbstoffhaltigen Deckschicht versehene Zelle zwecks weiterer Steigerung der Empfindlichkeit und der Leistung auf eine unter dem Schmelzpunkt der licht empfindlichen Zellenschicht bleibenden Temperatur erwärmt werden. 38. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass die elek- trische Ungleichmässigkeit der den Trä ger der Strahlungsempfindlichkeit bil denden Grenzfläche oder Grenzschicht durch ein die innern Widerstände der Flächenteile ausgleichendes Verfahren beseitigt wird. 89.
    Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, @dass der Wider standsausgleich durch Erhöhung des Ge samtwiderstandes des Schichtensystems der Zelle bewirkt wird. 40. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass der Wider standsausgleich durch schlechtleitende Zusätze zur Halbleiterschicht bewirkt wird. 41. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass der Wider standsausgleich durch schlechtleitende Zusätze zur Deckschicht bewirkt wird. 42.
    Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass der Wider standsausgleich durch unvollständige Formierung des Halbleiters bewirkt wird. 43. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass zwecks Wi derstandsausgleich eine besondere Wider standsschicht aus Graphit angeordnet ist. 44. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass eine zusam menhängende lichtdurchlässige Deck schicht durch Niederschlag aus :dampf- förmigem oder dampfähnlichem Zustand hergestellt wird. 45.
    Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass das Material der Deckschicht im Ofen verdampft und auf die mit dem Halbleiter bedeckte Trägerplatte niedergeschlagen wird. 46. Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass die Halb- leiterschieht durch Aufspritzen aufge bracht wird. 47.
    Verfahren nach Patentanspruch II, da durch gekennzeichnet, dass die Halbleiter schicht durch mechanisches Zerstäuben und Aufspritzen in der Art des Schoop- schen Metallspritzverfahrens aufgebracht wird, und zwar in der Weise, dass die Spritzvorrichtung indirekt bis zur Schmelztemperatur des Halbleiters be heizt wird. 43. Verfahren nach Patentanspruch II und Unteranspruch 46, dadurch gekennzeich net, dass ein höherer Zerstäubungsdruck angewendet wird. 49.
    Verfahren nach Patentanspruch II und Unteranspruch 46, dadurch gekennzeich net, dass der Spritzvorrichtung ein vor gewärmter Zerstäubungsgasstrom zu geführt wird. 50. Verfahren nach Patentanspruch II und Unteranspruch 46, dadurch gekennzeich net, dass die Spritzvorrichtung fest an geordnet ist und dem zu bestäubenden Halbleiterträger eine geregelte Bewegung erteilt wird. 51. Verfahren nach Patentanspruch II und Unteranspruch 46, dadurch gekennzeich net, dass dem Halbleiter in der Zerstäu- bungsdüse Sauerstoff beigemischt wird. 52.
    Verfahren nach Patentanspruch II und Unteranspruch 46, dadurch gekennzeich net, dass dem Halbleiter in der Zerstäu- bungsdüse ein sauerstoffhaltiges Gas bei gemischt wird. 53. Verfahren nach Patentanspruch II unc1 Unteranspruch 46, dadurch gekennzeich net, dass dem Halbleiter in der Zerstäu- bungsdüse ein schwefelhaltiges Gas bei gemischt wird. 54. Verfahren nach Patentanspruch II und Unteranspruch 46, dadurch gekennzeich net, dass das Aufspritzen des Halbleiter in einer sauerstoffhaltigen Atmosphäre geschieht. 55.
    Verfahren nach Patentanspruch 1I und Unteranspruch 46, dadurch gekennzeich net, dass das Aufspritzen des Halbleiter, in einer Atmosphäre von indifferentem Gas erfolgt. 56. Verfahren nach Patentanspruch II und Unteranspruch 46, dadurch gekennzeich- net, dass das Aufspritzen des Halbleiters unter Beimischung eines indifferenten Gases in der Zerstäubungsdüse erfolgt. 57.
    Verfahren nach Patentanspruch II und Unteranspruch 46, dadurch gekennzeich- net, dass .die mit dem Halbleiter zu be stäubende Trägerplatte bereits mit einer Halbleiter-Grundschicht bedeckt ist.
CH157167D 1930-08-07 1931-08-06 Lichtelektrische Zelle und Verfahren zur Herstellung derselben. CH157167A (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE157167X 1930-08-07

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH157167A true CH157167A (de) 1932-09-15

Family

ID=5678405

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH157167D CH157167A (de) 1930-08-07 1931-08-06 Lichtelektrische Zelle und Verfahren zur Herstellung derselben.

Country Status (3)

Country Link
AT (1) AT131780B (de)
CH (1) CH157167A (de)
DK (1) DK47522C (de)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE742762C (de) * 1939-03-15 1943-12-10 Philips Patentverwaltung Verfahren zur Herstellung eines Sperrschichtelektrodensystems mit einer Selenelektrode
DE754795C (de) * 1936-10-19 1952-10-13 Siemens Schuckertwerke A G Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern
DE760089C (de) * 1940-04-24 1954-08-16 Siemens Schuckertwerke A G Verfahren zur Verbesserung der Sperrwirkung von Selengleichrichtern
DE941631C (de) * 1935-03-12 1956-04-12 Aeg Selen-Sperrschicht-Photozelle
DE955076C (de) * 1952-06-28 1956-12-27 Standard Elektrik Ag Verfahren zur Herstellung von Trockengleichrichtern, insbesondere Selengleichtern,mit kuenstlichen Sperrschichten aus Isolierstoff
DE966967C (de) * 1939-03-02 1957-09-19 Aeg Elektrisch unsymmetrisch leitendes System, insbesondere Trockengleichrichter
DE968966C (de) * 1949-05-30 1958-04-10 Siemens Ag Trockengleichrichter, insbesondere Selengleichrichter, und Verfahren zu seiner Herstellung
DE971526C (de) * 1951-05-05 1959-02-12 Siemens Ag Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern
DE973098C (de) * 1950-04-06 1959-12-03 Siemens Ag Verfahren zur Herstellung hochsperrender Kristallgleichrichter nach dem Prinzip des Vielfachspitzenkontaktes
DE976249C (de) * 1952-08-18 1963-06-12 Licentia Gmbh Verfahren zum Aufkleben einer Abnahmeelektrode

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE930040C (de) * 1936-06-13 1955-07-07 Aeg Selentrockenplattengleichrichter mit einer zwischen dem Halbleiter und der Gegenelektrode auf dem Selen aufgebrachten Isolierschicht
DE961733C (de) * 1939-01-17 1957-04-11 Aeg Verfahren zum Herstellen elektrisch unsymmetrisch leitender Elemente mit einem Halbleiter wie Selen
BE481454A (de) * 1941-07-12
DE971742C (de) * 1943-07-08 1959-03-19 Aeg Verfahren zur Herstellung von unsymmetrisch leitenden Systemen zur Verwendung als spannungsabhaengige Kondensatoren
DE970900C (de) * 1944-05-24 1958-11-13 Standard Elek K Lorenz Ag Verfahren zur Herstellung unipolarer Leiter mit Selen oder Selenverbindungen als Halbleiter
DE1188833B (de) * 1952-04-12 1965-03-11 Immanuel Broser Dr Ing Verfahren zur Messung geringer Strahlenintensitaeten, insbesondere von Roentgen- und Gammastrahlen
NL178572B (nl) * 1952-06-19 Vaw Ver Aluminium Werke Ag Werkwijze voor het vloeimiddelvrij solderen van aluminium materialen.
DE955623C (de) * 1952-12-25 1957-01-03 Standard Elektrik Ag Verfahren zur Herstellung eines sperrschichtfreien Kontaktes zwischen Grundplatte undHalbleiter bei Trockengleichrichtern

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE941631C (de) * 1935-03-12 1956-04-12 Aeg Selen-Sperrschicht-Photozelle
DE754795C (de) * 1936-10-19 1952-10-13 Siemens Schuckertwerke A G Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern
DE966967C (de) * 1939-03-02 1957-09-19 Aeg Elektrisch unsymmetrisch leitendes System, insbesondere Trockengleichrichter
DE742762C (de) * 1939-03-15 1943-12-10 Philips Patentverwaltung Verfahren zur Herstellung eines Sperrschichtelektrodensystems mit einer Selenelektrode
DE760089C (de) * 1940-04-24 1954-08-16 Siemens Schuckertwerke A G Verfahren zur Verbesserung der Sperrwirkung von Selengleichrichtern
DE968966C (de) * 1949-05-30 1958-04-10 Siemens Ag Trockengleichrichter, insbesondere Selengleichrichter, und Verfahren zu seiner Herstellung
DE973098C (de) * 1950-04-06 1959-12-03 Siemens Ag Verfahren zur Herstellung hochsperrender Kristallgleichrichter nach dem Prinzip des Vielfachspitzenkontaktes
DE971526C (de) * 1951-05-05 1959-02-12 Siemens Ag Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern
DE955076C (de) * 1952-06-28 1956-12-27 Standard Elektrik Ag Verfahren zur Herstellung von Trockengleichrichtern, insbesondere Selengleichtern,mit kuenstlichen Sperrschichten aus Isolierstoff
DE976249C (de) * 1952-08-18 1963-06-12 Licentia Gmbh Verfahren zum Aufkleben einer Abnahmeelektrode

Also Published As

Publication number Publication date
DK47522C (da) 1933-07-10
AT131780B (de) 1933-02-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CH157167A (de) Lichtelektrische Zelle und Verfahren zur Herstellung derselben.
DE2926614C2 (de)
DE2908146C2 (de)
DE2905905A1 (de) Wabenfoermiges heizelement
DE3234384C2 (de) CO¶2¶-Laser
US2034334A (en) Photoelectric cell
AT117267B (de) Stromeinführungsdraht.
DE1035280B (de) Bildspeicherschirm fuer Braunsche Roehren und Verfahren zur Herstellung des Speicherschirmes
DE1539898B1 (de) Festkoerperbildwandler bzw bildverstaerker
DE2250184A1 (de) Optisches relais, das ein photoleitendes element enthaelt
DE2503144A1 (de) Verfahren zur herstellung einer kathode fuer eine elektronenroehre
DE2722920B2 (de) Verfahren zum Steuern der Anzeige einer elektrochromen Anzeigevorrichtung
AT151497B (de) Indirekt geheizte, dunkelemittierende Kathode.
DE913022C (de) Reproduktionsverfahren mittels lichtelektrischen Effektes in Verbindung mit Elektrolyse und Vorrichtung zur Durchfuehrung des Verfahrens
AT143970B (de) Verfahren zur Herstellung einer elektronenaussendenden Elektrode.
DE3610277C2 (de)
DE2246998A1 (de) Kathodenstrahl-farbkineskoproehre und verfahren zu deren herstellung
DE2359454C3 (de) Verfahren zum Überziehen eines Chrom-Nickel-Teiles einer Entladungsröhre mit einer chromoxidhaltigen Schicht und Anwendungen dieses Verfahrens
DE1614129C3 (de) Festkörper-Bildspeicher
DE2350911A1 (de) Licht emittierende zinkoxyd-diode und verfahren zu ihrer herstellung
DE1908101C3 (de) Elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial und Verfahren zu seiner Herstellung
DE1904609A1 (de) Elektrode fuer Batterien
DE609155C (de) Leuchtkoerper fuer elektrische Erhitzung
DE1464276C (de) Optoelektronische Baueinheit
DE668909C (de) Verfahren zur Herstellung einer elektronenaussendenden Elektrode