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TW201250730A - Spin-vavle magnetic sensor - Google Patents

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TW201250730A
TW201250730A TW100119286A TW100119286A TW201250730A TW 201250730 A TW201250730 A TW 201250730A TW 100119286 A TW100119286 A TW 100119286A TW 100119286 A TW100119286 A TW 100119286A TW 201250730 A TW201250730 A TW 201250730A
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TW
Taiwan
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magnetoresistive
magnetization direction
layer
spin
magnetic field
Prior art date
Application number
TW100119286A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI449067B (zh
Inventor
Kuang-Ching Chen
Ta-Yung Wong
Tai-Lang Tang
Chien-Min Lee
Original Assignee
Voltafield Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Voltafield Technology Corp filed Critical Voltafield Technology Corp
Priority to TW100119286A priority Critical patent/TWI449067B/zh
Priority to CN201110440571.3A priority patent/CN102809731B/zh
Priority to US13/427,879 priority patent/US20120306488A1/en
Publication of TW201250730A publication Critical patent/TW201250730A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI449067B publication Critical patent/TWI449067B/zh

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • G01R33/096Magnetoresistive devices anisotropic magnetoresistance sensors
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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Description

201250730 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有種磁阻感測器的結構,且特別是 種自旋閥磁阻感測器的結構。 關於一 【先前技術】 圖1A為一習知自旋閥磁阻感測器(spin_valve 圖。其中自旋咖阻感測器_ 主要包3第-對自關雖構造1(n、1G3,與第二對自旋 =H)2、HM,其彼此之間電性連接配置成惠斯 (Wheatstone bndge),並包含輸入電壓端點⑵、參考電壓 122、第-輸出電壓端點123 (輸出電壓V1)與第 端點 124 (輸出電壓V2)。其中第一對自旋閥磁阻構造⑼與 感測磁場H+、H-的變化以產生磁阻訊號;而第二對自旋闕磁阻 造102與104則用以提供參考電阻值。兩對自旋間磁阻構造⑼、 102、103、104皆具有相同之磁阻構造,其結構剖面如圖m所示, 包含偏壓層(exchange bias layer) 116、固定層(pinned _) 112、 間隔層(spacer) 118和自由層(freelayer) 114。兩組自旋閥磁阻 構造之固定層112之磁化方向1G6皆_,平行於感測外加磁場 軸向,並和在外加磁場為零時自由層114之磁化方向ι〇8夾一 度角。習知磁阻感測器量測外加磁場變化時,需在第二對自旋 磁阻構造102和1〇4上覆蓋一遮蔽層110,使第二對自^磁阻構 泣102和104之自由層114之磁化方向1〇8與電阻值R12在外加 磁場被屏蔽陳態下保持近乎@定。減的,在無遮蔽層11〇的 狀態下’外加磁場會使第一對自旋閥磁阻構造1〇1和1〇3中自由
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層114之磁化方向108產生變化,因而改變與固定層112磁 向106之夾角,產生電阻值RU之改變,進-步改變惠斯 的輸出電壓(Vh V2)。此一習知自旋閥磁 需“ J 參考電阻的第二對自旋閥磁阻構造脱和1G4上覆^在= 增加製程上之祕度。 ㈣ 圖2A為另-習知自旋閥磁阻感測器的示意圖。同 閥磁阻感卿2GG呈現惠斯登電橋架構,包含第—對自旋闕磁阻 構造201、203,與第二對自旋閥磁阻構造2〇2、2〇4,並包 電壓端點22卜參考電壓端點222、第一輸出電壓端點223 (ς出 電壓vi)與第二輸出電壓端點224 (輸出電壓V2)。與上述習知 自旋閥磁阻感測器的差異,在於兩對自旋閥磁阻構造2〇1、加、 2〇2、204皆用以感測磁場變化以產生磁阻訊號。兩對自旋閥磁阻 構造2(H、202、203、204冑具有相同之磁阻構造,其結 圖2B所示,自旋閥磁阻構造包含偏壓層214、固定間隔 層216和自由層212。請參關2Α,第一對自旋閥^阻構造日2〇1 與203具有相同之固定層磁化方向2〇6;而第二對自旋闕磁阻構造 202與204具有另-相同之固定層磁化方向2〇7。磁化方向2〇6與 磁化方向2G7呈180度相反方向,同時平行於感測外加磁場轴向: ,兩對自旋閥磁阻構造具有相同之自由層磁化方向2〇8,在外加磁 場為零時自由層磁化方向2〇8與固定層磁化方向2〇6、2〇7互相垂 直’但自由層磁化方向208與固定層磁化方向206、2〇7之間夾角 角度會隨外加磁場而改變。為了使固定層呈現反平行之兩種磁化 方向,需在兩對自旋閥磁阻構造2(Π、203、202、204上分別配置 一磁化方向調整線圈,在高溫下通電流產生磁場,藉以控制固定 層磁化方向206與207成反平行呈180度夾角。外加磁場會使自 由層磁化方向208改變,導致和固定層磁化方向2〇6之夾角亦產 4 201250730 生變化’引起第一對自旋閥磁阻構造观、2〇3中電阻值奶之改 變。同樣的外加磁場亦會改變自由層磁化方向2〇8和固定層磁化 方向207之夾角,使得第二對自旋閥磁阻構造2〇2、2〇4之電阻值 R22產生變化《>由於自由層磁化方向2()8與岐層磁化方向挪、 207在外加磁場下有不同的夾角變化,導致電阻值奶與奶的 不同,進一步改變惠斯登電橋的輸出電壓(VhV2)。此三習知自 旋閥磁阻朗H實施的_在於自旋__造的運作必須搭配 磁化方向難線圈,並在高溫下通電流進行固定層磁化方向的控 制,如此大大增加了製程上的困難度與複雜度。 二 【發明内容】 。有鑑於此’本發明的目的就是在提供一種自旋闕磁阻感測 器,其具有較簡單之製程。 本發明提出-種自旋閥磁阻構造,包含第一磁阻層二磁 阻層以及間隔層。其中,第—磁阻層具有_之第—磁化方向, 第二磁阻層配置於第—雜層之—侧,其具有可變之第二磁化方 向’第一磁阻層與第二磁阻層之間更配置間隔層 零時,第二磁化方向和第-磁化方_之夾角範叫 120 _15G度’且第二磁化方向因應外加磁場之強弱而產生和第一 磁化方向間之夾角變化,進而改變自旋閥磁阻構造之電阻值。 在本發明之一實施例中,上述自旋閥磁阻構造具有複數個 邊和複數個短邊,且長邊透過短邊串聯成蜿蜒狀。 在本發明之一實施例中,±述自棚磁阻構 磁阻或自_穿遂雖。 W為自賴巨 在本發明之-實施例中,上述自旋閥磁阻構造 層配置於第一磁阻層背離間隔層之一側。 3 201250730 該第二磁化 在本發明之一實施例中,上述自旋閥磁阻構造, 方向和該第一磁化方向間之炎角為45度。 本發明提出一種自旋閥磁阻感測器,包含第一 構造與第二對自旋_阻構造。其中,一對第 j自域磁阻 包含第-磁阻層、第二磁阻層和第一間隔/第自旋閥磁阻構造 其中,第-磁阻層具有固定之第一磁化方向,第二磁_ 二=阻:之:側,具有可變之第二磁化方向,第-間隔層配置 於该第一磁阻層和該第二磁阻層之間,在外加磁場為零時,第二 磁化方向和第一磁化方向間之夾角範圍為3〇〜6〇度^ 度,且第二磁化方向因應外加磁場之強弱而產生和第一磁化方向 間之夾角變化,進而改變第一自旋閥磁阻構造之第一電阻值。一 對第二自旋閥磁阻構造包含第三磁阻層、第四磁阻層以及第二間 隔層。其中,第三磁阻層具有固定之第三磁化方向,且第三磁/匕 方向和第一磁化方向方向相同,第四磁阻層配置於第三磁阻層之 一側,具有可變之第四磁化方向,第二間隔層配置於第三磁阻層 和第四磁阻層之間,在外加磁場為零時,第四磁化方向和第三: 化方向間之夾角範圍為30〜60度或120〜150度,且第四磁化方向 和第自方疋閥磁阻構造之第二磁化方向垂直,且第四磁化方向因 應s亥外加磁場之強弱而產生和第三磁化方向間之夾角變化,進而 改變第二自旋閥磁阻構造之第二電阻值。第一對自旋閥磁阻構造 與第二對自旋閥磁阻構造以對角交錯的方式配置,並環狀連接成 惠斯登電橋(Wheatstone bridge )。 在本發明之一實施例中,上述第一對自旋閥磁阻構造與第二 對自旋閥磁阻構造具有複數個長邊和複數個短邊,且這些長邊透 過這些短邊串聯成蜿蜒狀。 在本發明之一實施例中,上述自旋閥磁阻感測器,更包含偏 6 201250730 間隔層和第二 壓層分別配置於第一磁阻層與第三磁阻層背離第— 間隔層之一側。 在本發明之一實施例中,上述那些自旋閥磁阻構造 卜 閥巨磁阻或自旋閥穿遂磁阻。 為自方疋 在本發明之一實施例中,上述外加磁場為零時,第一 向和第一磁化方向間之夾角可為_45度。 一磁化方 在本發明之一實施例中,上述外加磁場為零時,第= 向和第四磁化方向間之夾角可為45度。 〜磁化方 為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯 下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下。 【實施方式】 圖3A為本發明之一實施例中自旋閥磁阻構造之剖面示音 圖。請參照ffi 3A ’自旋閥磁阻構造3〇〇包含第一磁p且層 二磁阻層304以及間隔層310。其中,第二磁阻層3〇4 ^置於 磁阻層302之一侧,第一磁阻層3〇2和第二磁阻層3〇4之間配置 間隔層310以連接兩磁阻層,在第一磁阻層3〇2背離間隔層训 之-側更配置偏壓層312,以固^第—磁阻層3G2之第一磁化方向 306。當然,在本發明之其他實施例中,也可以在第二磁阻層· 上配置間隔層310 ’於間隔層31G上依序配置第一磁阻層3〇2,和 偏壓層312。而自旋閥磁阻構造可能為自旋閥巨磁阻或自旋間穿遂 磁阻。 圖3B為本發明之一實施例中單一自旋閥磁阻構造之上視示 意圖。請參照圖3B,在本實施例中,f 一磁阻層3〇2具有固定之 第-磁化方向306,第二磁阻層3〇4具有可變之第二磁化方向 308,且自旋閥磁阻構造300料複數個長邊難和複數個短邊
I 201250730 304b,複數個長邊304a透過短邊304b串聯成婉蜒狀,且長邊3〇4a 和短邊304b可為相異材質,當然,在本發明之其他實施例,也可 是一長邊304a和一短邊304b,長邊304a透過短邊3〇牝串聯成一 蜿蜒狀圖案。此外,於自旋閥磁阻構造3〇〇之兩端,分別配置金 屬導線電性連接至第-電極314和第二電極316。自旋閥磁阻構造 300可感測垂直第一磁化方向306的外加磁場。在外加磁場為零 時’第二磁化方向308平行長邊304a方向且和第一磁化方向3〇6, 彼此内積不為零,而第一磁化方向306和第二磁化方向3〇8之夾 角範圍可為30〜60度或Π0〜150度,而兩者最佳夾角約為45度。 當外加磁場不為零時,第二磁化方向308會因應外加磁場之 強弱和第一磁化方向306間產生夾角之變化,進而改變自旋閥磁 阻構造300之電阻值R31。 圖4至圖7分別繪示為本發明之其他實施例中,自旋閥磁阻 構造因應外加磁場變化之示意圖。請參照圖4至圖6,當施加垂直 第一磁化方向306的外加磁場’依序從小到大為+h、++h、+ + +H時’第二磁化方向308因應外加磁場之強度和第一磁化方 向306依序夾第一角度Θ1、第二角度Θ2、第三角度03,而此時量 測到之自旋闊磁阻構造之電阻值分別為R32、R33、R34。 請參照圖7,若施加一反向外加磁場---Η,則第二磁化方 向308因應此外加磁場---Η之強度和第一磁化方向306夾第 四角度Θ4,此時量測到之電阻則為R35。 由圖4至圖7知,外加磁場的大小與方向影響了第一磁化方 向306和第二磁化方向308之間夾角,進而改變了自旋閥磁阻構 造之電阻值。故對應自旋閥磁阻構造之電阻值大小,可量測出外 加磁場之強弱。將圖3至圖7等之測量結果繪示成圖8,圖8為外 加磁場(Η=0 ♦ +++Η ♦ Η=0 ♦---Η Η=0)和自旋閥磁阻 8 201250730 構造之電阻值之對應關係圖。請參照圖8,實際上若外加磁場大於 + + +H或 H時’則自旋閥磁阻構造之電阻值將趨於飽和, 無法反映出外加磁場之別、變化,同時若將外加磁場由+ + +h 降低返回零場時,電阻值將無法回到最初的虹狀態此為磁性 材料之磁滯現象(hysteresis)。此時需施加-大於---Η磁場再 降回零場’電阻值才會回到最初的R31狀態。此為—重置(处sET) 功此的操作’重新奴第二魏方向3G8,使其回復成外加磁場為 零時之原始狀態。 圖9A為使用上述自旋閥磁阻構造組成惠斯登電橋之自旋閥 磁阻感測器9GG之示意圖。請參照圖9A,自旋閥磁阻感測器_ 包含第-對自旋閥磁阻構造9(n、903 ’與第二對自旋閥磁阻構造 902、904。在電性上兩對自旋閥磁阻構造呈對角交錯配置,並以 首尾相連的方式呈環狀連接(9(^^902^903^904^901^其中自 旋閥磁阻構造901與902連接至輸入電壓端點938;自旋閥磁阻構 902與903連接至第-輸出端點940 ;自旋閥磁阻構造9〇3與 9〇4連接至參考電壓端點942 ;自旋閥磁阻構造9〇4與9〇1 ^ 第二輸出端點944。 ' 在本實施例中,一對第一自旋閥磁阻構造9(n、9〇3之第一磁 阻層906具有固定之第一磁化方肖922,第二磁阻層_具有可變 之第二磁化方向930,且第一自旋閥磁阻構造9(n、9〇3具有複數 個長邊908a和複數個短邊908b,複數個長邊908a透過短'邊9〇8b 串聯成蜿蜒狀,長邊9〇8a和短邊908b可為相異材質,當然,在 本發明之其他實施例,也可是—長邊9G8a和-短邊9G8b,長邊 9〇8a透過短邊9〇8b串聯成一蜿蜒狀圖案。且第二磁阻層9〇8具有 可變之第二磁化方向930。當外加磁場為零時,第二磁化方向93〇 與那些長邊908a平行,且和第-磁化方向922彼此内積不為零, 9 201250730 第一磁化方向922和第二磁化方向93〇之夾角Θ91範圍大小可為 -30〜-60度或-120〜150度,而兩者最佳夾角約為_45度。圖9Β繪 示為第一自旋閥磁阻構造之剖面示意圖。請參照圖9Β,第一磁阻 層906和第二磁阻層908之間配置第一間隔層91〇以連接兩磁阻 層,且在第一磁阻層906背離間隔層910之一側配置有偏壓層 912,以固定第一磁阻層906之第一磁化方向922。 請再參照圖9Α,一對第二自旋閥磁阻構造9〇2、9〇4之第三 磁阻層916具有固定之第三磁化方向926,且第三磁化方向926 和第一磁化方向922方向相同;第四磁阻層918具有可變之第四 磁化方向934,且第二自旋閥磁阻構造9〇2、904具有複數個長邊 918a和複數個短邊918b,複數個長邊918a透過短邊918b串聯成 蜿蜒狀,長邊918a和短邊918b可為相異材質,當然,在本發明 之其他實施例,也可是一長邊918a和一短邊918b,長邊918a透 過短邊918b串聯成一婉蜒狀圖案。在外加磁場為零時,第四磁化 方向934和第二磁化方向930垂直,和第三磁化方向926間彼此 内積不為零,第三磁化方向926和第四磁化方向934之夾角的2 範圍大小可為3G〜60度或12G〜15G度,而兩者最佳夾角約為+45 度。圖9C繪示為第二自旋閥磁阻構造之剖面示意圖。請參照圖 9C ’第二磁阻層916和第四磁阻層918之間配置第二間隔層92〇 以連接兩磁阻層,且在第三磁阻層916背離第二間隔層920之一 側配置有偏壓層914,以固定第三磁阻層916之第三磁化方向 926。在本實施例中’第一磁阻層9〇6、第二磁阻層9〇8、第三磁 阻層916和第四磁阻層918並不限定為相同材質,❿自旋間磁阻 構造也可能為自旋閥巨磁阻或自旋閥穿遂磁阻。 在本發明之其他實施例中,若外加磁場(垂直第—磁化方向 922與第二磁化方向926)不為零’則自旋閥磁阻構造中之第二磁 201250730 化方向930與第四磁化方向934會因應外加磁場之強弱而分別和 第一磁化方向922、第三磁化方向926間產生不同之夾角角度變化 (Θ91 =Θ93邦92 = Θ94 ),進而改變第一對自旋閥磁阻構造9〇1、9〇3 之電阻值R9卜R93與第二對自旋閥磁阻構造9〇2、9〇4之電阻值 R92、R94 (其中 R91 = R93 # R92 = R94 )。 圖10至圖11為本發明之一實施例中自旋閥磁阻感測器受外 加磁場作用之示意圖。請參照圖10 ’自旋閥磁阻感測器9〇°〇感測 外加正向磁場+Η,其軸向和第一磁化方向922垂直,於輸入電壓 端點938施加一正電壓Vcc,並將參考電壓端點942接地,自第 一輸出端點940上讀出之電位為V1,自第二輸出端點944上讀出 之電位為V2。因應外加正向磁場+h之變化,第—對自旋閥磁阻 構造90卜903之第一磁化方向922和第二磁化方向930之兩夾角 Θ91、Θ93從本來夾角_45度,變為趨近零度,並產生相同之電阻值 R9卜R93。而第二對自旋閥磁阻構造9〇2、9〇4中之第三磁化方向 926和第四磁化方向934之兩夹角Θ92、Θ94從本來夾角+45度, 變為趨近+90度,並產生相同之電阻值R92、R94。 ^請參照圖11,當自旋閥磁阻感測器900感測另一外加反向磁 場-H ’在同樣的輸人電壓與參考電壓設定下,因應反向外加磁場 —Η之變化,第一對自旋閥磁阻構造9〇1、9〇3之第一磁化方向 和第一磁化方向930之夾角Θ91、Θ93從原本-45度變為-90度,並 產生相同之電阻值·、R93。而第二對自旋閥磁阻構造9〇2、9〇4 中之第三磁化方向926和第四磁化方向934夾角Θ92、Θ94從原本 +45度變為趨近零度。 輸出電麗VI、V2與自旋閥磁阻構造電阻值R9i、R92、R93、R94 的關係可用以下公式表示: V1 = R93/(R92+R93) X Vcc 201250730 V2= R94/(R91+R94) X Vcc 又 R91=R93,R92=R94 故 V2-V1 = (R92-R91 )/_+R91) X Vcc 圖12A和圖12B為自旋閥磁阻感測器之輸出電壓和外加磁場 之貫際量測圖,對應於圖9、圖1〇和圖π中所示之外加磁場影響 自方疋閥磁阻感測器900中磁阻層磁化方向之變化。圖12A為第一 輸出端點940讀出之電位V1與第二輸出端點944讀出之電位V2 隨外加磁場的變化關係。外加磁場的施加方式為: 0 Oe 4 +100 Oe 0 Oe Φ -1〇〇 〇e Φ 〇 〇e 其與V2隨箭頭標示的路經而改變。圖1SB為惠斯登電橋輪出 電壓(V2 - VI )隨夕卜加磁場變化的關係圖。由圖12A與12B可知, 自旋閥磁阻感測器900可感測之外加磁場線 為 谠(睛參考圖UB) ’若外加磁場超出線性範圍j (H>+3〇 , 則回到零場時電壓會落在線性範圍π。此時需要施加一重置 (RE^ET)功能之磁場(Η<_3〇⑻才能使電遷回到線性範圍I。 、’”示上所述在本發明中之自旋閥磁阻感測器,由兩 =阻構造所構成,在外加磁場的_下兩對自旋__造將呈 性與電性反應。兩對自關磁阻構造分別具有相同且 第-磁化方向、第三磁化方向,斜加磁場為零時 =方=第磁化方向分別與第一磁化方向、第三磁化方向: 又其中第一磁化方向與第四磁化方向互成正交。告外加 進’ ^二磁化方向與第四磁化方向受磁場作“改變, 化方向、第三磁化方向產生不同之夾角變化- 磁阻變化和外加磁場之關係,可量測出外力 201250730 ^個自«雜構&上分觀置磁化方向難賴 ::向之製程,或是避免習知自旋間磁阻感測器中,需於= ^線^之^自_雜構造上外加遮蔽層明定其魏方向之手士 降ΐ 了製程上之複雜度。同時因不需在自旋閥磁阻構造 加載磁化侧、_與賴層,也縮小了自賴雜感測 積。 肪* 雖然本發时啸佳實_猶如上, 發明,任何熟習此技藝者’在不脫離本發明之精神和 == 目此本發明之賴獅线後附之申; 【圖式簡單說明】 圖1A繪示為習知磁阻感測器的示意圖。 且感測器的自旋閥磁阻構造之剖面示意圖。 圖2 A為另-習知自旋閥磁阻感測器的示意圖。 圖2B為另-習知磁阻感測器的自旋閥磁阻構造之剖面示音 圖。 〜 =ϊίΓ月之一實施例中自糊磁阻構造之剖面示意圖。 圖3Β為本發明之一實施例中自旋間磁阻構造之 7如增示為本發明之其他實施例中,自旋^阻 構造因應外加磁場變化之示意圖。 絲自旋閥磁阻構造之電阻值之對應關係圖。 圖9Α為使用上述自旋閥磁阻構造之自旋間磁阻感測器之示 意圖。 圖9Β綠示為第一自旋閥磁阻構造之剖面示意圖。 13 201250730 圖9C繪示為第二自旋閥磁阻構造之剖面示音 圖1〇至圖η為本發明之-實施例中自^^阻 外加磁場變化之示意圖。 圖 12A、12B 關係圖。 為自旋閥雜感_之如電壓和外加磁場之 【主要元件符號說明】 100、 200、900 :磁阻感測器 101、 103、2(H、203、9CU、903 :第〜 102、 104、202、204、902、904 :第二 106、206、207 :固定層磁化方向 108、208 :自由層磁化方向 辦自旋閥磁阻構造 對自旋閥磁阻構造 110 :遮蔽層 121、 221 :輸入電壓端點 122、 222 :參考電壓端點 123、 223 :第一輸出電壓端點 124、 224 :第二輸出電壓端點 112、210 :固定層 114、212:自由層 116、214、312、912、914 :偏壓層 118、216、310、910、920 :間隔層 300:自旋閥磁阻構造 302、906 :第一磁阻層 304、908 :第二磁阻層 304a、908a :長邊 304b、908b :短邊 14 201250730 306、922 :第一磁化方向 308、930 :第二磁化方向 916 :第三磁阻層 918:第四磁阻層 918a :長邊 918b :短邊 926 :第三磁化方向 934 :第四磁化方向 314 :第一電極 316 :第二電極 938 :輸入電壓端點 940 :第一輸出端點 942 :參考電壓端點 944 :第二輸出端點 RU、R12、R2 卜 R22、R3 卜 R32、R33、R34、R35、R91、 R92、R93、R94 :自旋閥磁阻構造電阻 Θ1 :第一角度 Θ2 :第二角度 Θ3 :第三角度 Θ4 :第四角度 Θ9卜Θ92、Θ93、Θ94 :磁化方向夾角 V2、VI :輸出電壓 15

Claims (1)

  1. 201250730 七、申請專利範圍: 1·一種自旋閥磁阻構造,其包含: 一第一磁阻層,其具有固定之一第一磁化方向; 4 一第二磁阻層,配置於該第一磁阻層之一侧,其具有一可 變之第二磁化方向,在-外加磁場為零時,該第二磁ς方向和 該第一磁化方向間之夾角範圍為30〜6〇度或12〇〜15〇度,且該 第二磁化方肖因應該外加磁場之強弱而產生和該第一ς化方^ 間之夾角變化,進而改變該自旋閥磁阻構造之一電阻值;以及 一間隔層,配置於該第一磁阻層和該第二磁阻層之間。 2.如申請專利範圍第丨項所述之自旋_阻構造,其具有 長邊和短邊,且該長邊透過該短邊串聯成蜿蜒狀。’、’、 .如申叫專利範圍第2項所述之自旋磁阻構造,苴中該 外加磁場為零時,該第二磁化方向與該等長邊平行。” -偏St請專利範圍第1項所述之自旋閥磁阻構造,更包含 偏壓層配置於該第一磁阻層背離該間隔層之一側。 自旋 5.: 201250730 7.—種自旋閥磁阻感測器,其包含: 一對第一自旋閥磁阻構造,其包含·· 一第一磁阻層,其具有固定之一第一磁化方向; 一第二磁阻層,配置於該第一磁阻層之一側,其具有 一可變之第二磁化方向;以及 一第一間隔層,配置於該第一磁阻層和該第二磁阻層 之間,在一外加磁場為零時,該第二磁化方向和該第一磁化方 向間之夾角範圍為-30〜-60度或-120〜·150度,且該第二磁化方 向因應該外加磁場之強弱而產生和該第一磁化方向間之夹角變 化,進而改變該第一自旋閥磁阻構造之一第一電阻值; 對第一自旋閥磁阻構造,其包含: 帛二磁阻層’其具有固定之—第三磁化方向,且該 第二磁化方向和該第一磁化方向方向相同; -第四磁阻層’配置於該第三磁阻層之—側,盆且有 二可變,第四磁化方向’在該外加磁場為零時,該第四二方 向和^第二磁化方向間之夾角範圍為3㈣度或i2Q〜15〇度, 2第四磁化方向和該第一自旋閥磁阻構造之該第二磁化方向 一磁化四方向因應該外加磁場之強弱而產生和該第 二之夾角變化,進而改變該第二 一第二電阻值;以及 之間;以I第二間隔層’配置於該第三磁阻層和該第四磁阻層 相崎秘崎第二自制雖構造呈對 角父錯的方式配置,該些自旋閥磁阻構造電 橋(Wheatstone bridge )。 心' 片豆電 17 201250730 &如申凊專利麵第7項所述之自旋閥磁阻感測号, 該對第-自旋_阻構造無對第二自呈㈣ 和短邊,且該長邊透職短邊串聯成婉蜒狀。構心、有長邊 9.如申請專利範圍第8所述之自旋閥磁阻感·,並中該 場為科,該第二魏方向、該第㈣化額與該些= 10.如申請專利範圍第7項所述之自旋閥磁阻感測器,更包 含-偏壓層分別配置於該第-磁阻層與該第三磁阻層背離 一間隔層和該第二間隔層之一侧。 :U.如申請專利範圍第7項所述之自旋閥磁阻感測器,其中 該二自紅閥磁阻構造係為自旋閥巨磁阻或自旋閥穿遂磁阻。 =12.如申請專利範圍第7項所述之自旋閥磁阻感測器,其中 f外加磁場為零時,該第二磁化方向和該第—磁化方向間之爽 角係為-45度。 13.如申請專利範圍第7項所述之自旋閥磁阻感測器,其 中該外加磁場為零時,該第三磁化方向和該第四磁化方向間之 夾角係為45度。 。曰 八、圖式:
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