JPS58125291A - Mosスタテイツク型ram - Google Patents
Mosスタテイツク型ramInfo
- Publication number
- JPS58125291A JPS58125291A JP57006009A JP600982A JPS58125291A JP S58125291 A JPS58125291 A JP S58125291A JP 57006009 A JP57006009 A JP 57006009A JP 600982 A JP600982 A JP 600982A JP S58125291 A JPS58125291 A JP S58125291A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- control signal
- output
- signal
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003068 static effect Effects 0.000 title claims description 7
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 6
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 101100477838 Caenorhabditis elegans smu-2 gene Proteins 0.000 description 1
- 102000004190 Enzymes Human genes 0.000 description 1
- 108090000790 Enzymes Proteins 0.000 description 1
- 101000969581 Homo sapiens MOB kinase activator 1A Proteins 0.000 description 1
- 102100021437 MOB kinase activator 1A Human genes 0.000 description 1
- 102100024063 Type I iodothyronine deiodinase Human genes 0.000 description 1
- 101710119122 Type I iodothyronine deiodinase Proteins 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 231100000241 scar Toxicity 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明蝶、VO日(金属絶縁物中竪体)スタティック
!!!IRAM(ランダム脅アクセス・メモリ)に関す
る。
!!!IRAM(ランダム脅アクセス・メモリ)に関す
る。
Mo8,(タテイック型RAM(以下、B−RAMと称
す)において、そのデータ入出力亀子を共通接続して、
共通のデータバスに対してデータの授受を行なう場合、
本願発明者は8−RAMの内部電源供給@( voo,
GND )に比較的大きな雑音が発生することを見い出
した。
す)において、そのデータ入出力亀子を共通接続して、
共通のデータバスに対してデータの授受を行なう場合、
本願発明者は8−RAMの内部電源供給@( voo,
GND )に比較的大きな雑音が発生することを見い出
した。
本願発明者において、上記雑音発生の原因を検討した結
果、次のような理由にその原因のあることか判明し次。
果、次のような理由にその原因のあることか判明し次。
従来、8−RAMでは、第1図に示すように、データ人
カパツ7ア回路りよりが用いられてお夕続出し動作開始
時に流れる大きな貫通電流によって内部電源供給線に大
きな雑音か発生する。
カパツ7ア回路りよりが用いられてお夕続出し動作開始
時に流れる大きな貫通電流によって内部電源供給線に大
きな雑音か発生する。
すなわち、第2図の動作波形図に示すように、チップ選
択信号11がロウレベルに灰化したとき内部制御41傷
号08′もロウレベルに変化する。
択信号11がロウレベルに灰化したとき内部制御41傷
号08′もロウレベルに変化する。
し次がって、この信号O8”i受けるpチャンネルM0
87ITQ1かオンし、nチャンネルMOEIFICT
Q、がオフして、入出力端子I10からのデータに従っ
て、その出力レベルが決定される。
87ITQ1かオンし、nチャンネルMOEIFICT
Q、がオフして、入出力端子I10からのデータに従っ
て、その出力レベルが決定される。
しかし、書込/読出し制御信号wmかノ・イレベルの読
み出し動作時には、上記入出力端チェ10にデータ出力
バッファ回路DOBからの読出しデータか伝えられるま
での間、上記入出力端チェ10はハイインピーダンスの
中間レベルになっている。
み出し動作時には、上記入出力端チェ10にデータ出力
バッファ回路DOBからの読出しデータか伝えられるま
での間、上記入出力端チェ10はハイインピーダンスの
中間レベルになっている。
この友め、この中間レベルを受けるデータ人力パラフッ
回路りよりのpチャンネルMO8FIITQ+ とnチ
ャンネk M OB F W T Q B dl共K
# 7して、大きな貫通電流か売れ、上記電源供給繰に
雑音【発生させる。この雑音は、メモリセルの選択動作
、!!出しセンスアンプの増幅動作に愚影会を与え、l
a#作の原因となる。ま危、上記貫通電流は、8−RA
Mの消費電力を増加させる。
回路りよりのpチャンネルMO8FIITQ+ とnチ
ャンネk M OB F W T Q B dl共K
# 7して、大きな貫通電流か売れ、上記電源供給繰に
雑音【発生させる。この雑音は、メモリセルの選択動作
、!!出しセンスアンプの増幅動作に愚影会を与え、l
a#作の原因となる。ま危、上記貫通電流は、8−RA
Mの消費電力を増加させる。
この発明の目的は、雑音の発生を防止し次MO8スタテ
ィックfilRAMi提供することI/cToる。
ィックfilRAMi提供することI/cToる。
この発明の他の目的は、低消費電力化【図っ九MO8ス
タティック型RムM11t提供するととにある。
タティック型RムM11t提供するととにある。
この発明の更に他の目的は、以下ii2明及び図面から
明らかになるであろう。
明らかになるであろう。
以下、この発明を実施列とともに詳細に説明する。
第3ム図は、記憶容量が16にビット、出方か1ビツト
のB−RAM集積回路(以下工○と称する)の内部構成
を示している。
のB−RAM集積回路(以下工○と称する)の内部構成
を示している。
16にビットのメモリセルは、各々が128列(oつ)
x32h(力?ム)=4096ビツト(4にビット)の
記憶容量【持つ4つのマトリクス(メモリアレイM−ム
RYI〜M−ムRY4)から構成され、各マトリクスは
ロウデコーダR−DORの左右に2つづつに分けて配置
されている。
x32h(力?ム)=4096ビツト(4にビット)の
記憶容量【持つ4つのマトリクス(メモリアレイM−ム
RYI〜M−ムRY4)から構成され、各マトリクスは
ロウデコーダR−DORの左右に2つづつに分けて配置
されている。
ロタ糸のアドレス選択層(ワード@WL l〜WL 1
28 、WR1〜WR128)Kd、アトL/ス傷号A
、″−As、ム目、ムlK基づいて得られる2’=25
6通9のデコード出力fI号かaクデコ−ダR−DOR
よシ送出される。
28 、WR1〜WR128)Kd、アトL/ス傷号A
、″−As、ム目、ムlK基づいて得られる2’=25
6通9のデコード出力fI号かaクデコ−ダR−DOR
よシ送出される。
このように各マトリクスのメモリーM−011iLはワ
ード1lWLI〜WL128.WRI〜WR128のい
ずれか一本と後に説明する相補データ線対Dll、DI
l〜D132 、D 132のいずれか一対とに接続さ
れている。
ード1lWLI〜WL128.WRI〜WR128のい
ずれか一本と後に説明する相補データ線対Dll、DI
l〜D132 、D 132のいずれか一対とに接続さ
れている。
アドレス信号ムs 、A−は、4つのメモリマトリクス
のうち1つだけを選択する危めに用いられる。選択され
た1つのメモリマトリクスにおいて1つのカラムを選択
するためにアドレス信号ム7〜ム■が用いられる。
のうち1つだけを選択する危めに用いられる。選択され
た1つのメモリマトリクスにおいて1つのカラムを選択
するためにアドレス信号ム7〜ム■が用いられる。
メモリマトリクス選択信号G8は上記アドレス信号ム藝
、ム・に基づいて4つの組み合せに解読する。
、ム・に基づいて4つの組み合せに解読する。
カラムデコーダ(5−DORI 〜0−DOR4はそれ
ぞれ上記アドレス信号A7〜Allに1づいて2”=3
2通シのカラム選択相デコード出力信号上提供する。
ぞれ上記アドレス信号A7〜Allに1づいて2”=3
2通シのカラム選択相デコード出力信号上提供する。
読み出し時においてコモンデータ線対ODL。
ODLはコモンデータ線分IIl用トランジスタ(Q+
。
。
Q++・・・・・・: Q4 + Q4 )Kよっ
て各メ毫リアレイごとに4分割され、書き込み時におい
てコモンデータ1lODL、CD’Laは共通に結合さ
れる。
て各メ毫リアレイごとに4分割され、書き込み時におい
てコモンデータ1lODL、CD’Laは共通に結合さ
れる。
センスアンプ8ム1,8ム2,8A3,8A4は上記分
割されるコモンデータ線対ODL、0DLK対応してそ
れぞれ設けられている。
割されるコモンデータ線対ODL、0DLK対応してそ
れぞれ設けられている。
この様にコモンデータ線対ODL、0DLI分割し、そ
れぞれにセンスアンプ8Al、8ム2゜Sム3,8ム4
t−設けたねらいはコモンデー1@対ODL 、ODL
の薔生答量【分−1し、メモリセル情報読み出し動作の
高速化を図ることKある。
れぞれにセンスアンプ8Al、8ム2゜Sム3,8ム4
t−設けたねらいはコモンデー1@対ODL 、ODL
の薔生答量【分−1し、メモリセル情報読み出し動作の
高速化を図ることKある。
アドレスパソファムDBは14の外部アドレス信号ム・
〜ムlからそれぞれ14附の相補アドレス信号−ILo
〜1mk作成し、デコーダ回路(R−DOR,0−DO
R,G8)に送出する。
〜ムlからそれぞれ14附の相補アドレス信号−ILo
〜1mk作成し、デコーダ回路(R−DOR,0−DO
R,G8)に送出する。
内部側N信号発生回路00M−GICは2つの外部制@
信号τi(チップセレクト(1号)、Wl(ライトイネ
ーブル信号)を受けて、Ca1(。
信号τi(チップセレクト(1号)、Wl(ライトイネ
ーブル信号)を受けて、Ca1(。
ワデコーダ制御信号)、8ムC(センスアンプ制御信号
)、W・(書き込み制御信号)、DOO(データ出力パ
ツファ制御信号)、D工0(データ人カパツファ制御信
号)等を送出する。
)、W・(書き込み制御信号)、DOO(データ出力パ
ツファ制御信号)、D工0(データ人カパツファ制御信
号)等を送出する。
@3AK示TB−RAMIQC)回路動作を第3−B図
のタイミング図に従って説明する。
のタイミング図に従って説明する。
この工0における全ての動作つ★夛アドレス設定動作、
読み出し動作、書き込み動作は一方の外部制御信号O8
かロウレベルの期間のみ行なわれる。この際他方の外部
制御信号wiがハイレベルならば読み出し動作を行ない
、ロウレベルならば書き込み動作を行なう。
読み出し動作、書き込み動作は一方の外部制御信号O8
かロウレベルの期間のみ行なわれる。この際他方の外部
制御信号wiがハイレベルならば読み出し動作を行ない
、ロウレベルならば書き込み動作を行なう。
まずアドレス設定動作および読み出し動作について説明
する。
する。
アドレス設定動作は、外部制御信号CBがロウレベルで
ある場合、この期間に印加されたアドレス信号に基づい
て常に行なわれる。逆に外部制御信号08Qハイレベル
にしておくことによって、不確定なアドレス信号に基づ
くアドレス設定動作および読み出し動作を防止できる。
ある場合、この期間に印加されたアドレス信号に基づい
て常に行なわれる。逆に外部制御信号08Qハイレベル
にしておくことによって、不確定なアドレス信号に基づ
くアドレス設定動作および読み出し動作を防止できる。
外部制御信号08かロウレベルになると、ロウデコーダ
R−DORFiこの信号に同期したハイレベルO内部制
御信号osH−受けて動作【P始する。上記ロウデコー
ダ(叢ワードドライバ)R−pou#18allの相補
対アドレス信号a・〜亀S。
R−DORFiこの信号に同期したハイレベルO内部制
御信号osH−受けて動作【P始する。上記ロウデコー
ダ(叢ワードドライバ)R−pou#18allの相補
対アドレス信号a・〜亀S。
a+* * a+st#読して1つのワードat−選択
し、これをハイレベルに駆動する。
し、これをハイレベルに駆動する。
一方、4つのメモリアレイM−ムRYI〜M −ムRY
4のうちいずれが1つがメモリアレイ選択信号m1〜m
4によって選択され、選択された1つのメモリアレイH
FIIえtfM−ムRYI)中の1つの相補データ酵対
(例えばDll 、Dll )かカラムデコーダ(かj
えば0−DORI)によって選択される。
4のうちいずれが1つがメモリアレイ選択信号m1〜m
4によって選択され、選択された1つのメモリアレイH
FIIえtfM−ムRYI)中の1つの相補データ酵対
(例えばDll 、Dll )かカラムデコーダ(かj
えば0−DORI)によって選択される。
この様にして1つのメモリセルが選択(アドレス設定)
される。
される。
アドレス設定動作によって選択されたメモリセルの情報
は分割され次コモンデータ層対のうちの11に送alれ
〆センスアンプ<IPIILIdBム1)で増幅される
。
は分割され次コモンデータ層対のうちの11に送alれ
〆センスアンプ<IPIILIdBム1)で増幅される
。
コノ場合、4つのセンスアンプBム1.8ム21Sム3
,81番のうちいずれが1つがメモリアレイ選択信号m
l〜m4によって選択され、選択された1つのセンスア
ンプのみがハイレベルの内部制御信号8ム0【受けてい
る期間動作する。
,81番のうちいずれが1つがメモリアレイ選択信号m
l〜m4によって選択され、選択された1つのセンスア
ンプのみがハイレベルの内部制御信号8ム0【受けてい
る期間動作する。
この様に4つのセンスアンプSム1.Sム2゜8ム3,
8ム番のうち使用する必要のない3つのセンスアンプを
非動作状態とすることによ゛り低消費電力化を図ること
かできる。上記非動作状態の3つのセンスアンプの出力
はハイインピーダンス(フローティング)状態とされる
。
8ム番のうち使用する必要のない3つのセンスアンプを
非動作状態とすることによ゛り低消費電力化を図ること
かできる。上記非動作状態の3つのセンスアンプの出力
はハイインピーダンス(フローティング)状態とされる
。
センスアンプの出力信号はデータ出力パッファDOBに
より増幅され、入出力端チェ10から出力データD。u
tとして工0外部に送出される。
より増幅され、入出力端チェ10から出力データD。u
tとして工0外部に送出される。
上記データ出力パツファDOBはハイレベルの制御信号
DOOQ受けている期間動作する。
DOOQ受けている期間動作する。
次に書き込み動作について説明する。
外部制御信号Wllかロウレベルになると、これに同期
したハイレベルの制御信号W@かコモンデーター分割用
トランジスタ(Q+ +QI :・・・・・・;Qa
、Qa )に印加され、コモンデータ線対ODL
。
したハイレベルの制御信号W@かコモンデーター分割用
トランジスタ(Q+ +QI :・・・・・・;Qa
、Qa )に印加され、コモンデータ線対ODL
。
ODLか共通に結合される。
一方、データ人カパッ7アDよりFi、ロウレベルの制
御信号DIOI受けている期間、工0外部から入出力端
チェ10t−通した入力データ信号D1nを増幅し紬記
共通に結合されたコモンデータ線対ODL 、CDLに
送出する。
御信号DIOI受けている期間、工0外部から入出力端
チェ10t−通した入力データ信号D1nを増幅し紬記
共通に結合されたコモンデータ線対ODL 、CDLに
送出する。
上記コモンデータ線対ODL、ODL上の入力データ信
号は、アドレス設定動作によって定められたメモリセル
M−01Lに書き込まれる。
号は、アドレス設定動作によって定められたメモリセル
M−01Lに書き込まれる。
第4図は、記t1容量か16にビット、出力が8ビツト
の8−RAM集積回路(以下ICと称する)の内部構成
を示している。
の8−RAM集積回路(以下ICと称する)の内部構成
を示している。
16にビットのメモリセルは、各々が128列(ロウ)
X16行(カラム片2048ビット(2にビットの記t
I答量を持つ8つのマトリクス(メモリアレイM−AR
YI 〜M−ARY8)から構成され、各マトリクスは
ロウデコーダR−DORの左右に4つつつに分けて配置
されている。
X16行(カラム片2048ビット(2にビットの記t
I答量を持つ8つのマトリクス(メモリアレイM−AR
YI 〜M−ARY8)から構成され、各マトリクスは
ロウデコーダR−DORの左右に4つつつに分けて配置
されている。
ロク面のアドレス選択#II(ワード*WL+1〜WL
128.WRI〜WR128)には、アドレス個号A、
〜ム−に基づいて得られる2’=128通pのデコード
出力信号かロウデコーダR−DORより送出される。
128.WRI〜WR128)には、アドレス個号A、
〜ム−に基づいて得られる2’=128通pのデコード
出力信号かロウデコーダR−DORより送出される。
このように各マトリックスのメモリーM−OELはワー
ドIIWLI〜WL128 、WRI〜WR128のい
ずれか一本と後に説明する相補データ線対Dll 、D
ll−D132 、D 132のいずれか一対とに接続
されている。
ドIIWLI〜WL128 、WRI〜WR128のい
ずれか一本と後に説明する相補データ線対Dll 、D
ll−D132 、D 132のいずれか一対とに接続
されている。
なお、ワード線中間バッファMBI、MB2はそれぞれ
ワード@WLI〜WL128 、WRI〜WR128の
来電での遅延時1sjl’にできるだけ小さくするため
増幅作用1[し、M−ムRY2とM−ARY3およびM
−ムRY6とM−ムRY7との間に配置されている。
ワード@WLI〜WL128 、WRI〜WR128の
来電での遅延時1sjl’にできるだけ小さくするため
増幅作用1[し、M−ムRY2とM−ARY3およびM
−ムRY6とM−ムRY7との間に配置されている。
アドレス信号ム?=Al@は、上記8つのマトリクスか
らそれぞれ1つづつのカラム會選択する次めに用いられ
る。
らそれぞれ1つづつのカラム會選択する次めに用いられ
る。
カラムデコーダo−DcRFi上記アドレス信号ム、〜
薊。に基ついて2’ = 16通りのカラム選択中デコ
ード出力信号を提供する。
薊。に基ついて2’ = 16通りのカラム選択中デコ
ード出力信号を提供する。
アドレスパラファムDBHIIの外部アドレス信号A・
〜ム−・がらそれぞね11対の相補アドレス信号ao−
IL+ot作成し、デコーダ回路(4−DOR,0−D
OR)に送出する。
〜ム−・がらそれぞね11対の相補アドレス信号ao−
IL+ot作成し、デコーダ回路(4−DOR,0−D
OR)に送出する。
内部制御KI(Iif号発生回路COM−GF!は3つ
の外部制御信号cs(チップセレクト信号)、WZ(ラ
イトイネーブル信号)、OK(アウトプット($−7’
に信号)?受けて、C3l(oウテコーダ制御信号)、
C!Ei12(センスアンプおよびデータ人カパッファ
制御信号)1w−c(書き込み制flJ@号)、DOO
(データ出カバソファ制御信号)$1−退出する。
の外部制御信号cs(チップセレクト信号)、WZ(ラ
イトイネーブル信号)、OK(アウトプット($−7’
に信号)?受けて、C3l(oウテコーダ制御信号)、
C!Ei12(センスアンプおよびデータ人カパッファ
制御信号)1w−c(書き込み制flJ@号)、DOO
(データ出カバソファ制御信号)$1−退出する。
上記$11成のS−FjAMにおけるデータ人力バッフ
7回路りよりとして、この実施例では、第5図に示すよ
うな回路が用いられる。
7回路りよりとして、この実施例では、第5図に示すよ
うな回路が用いられる。
との実m例では、pチャンネルMO871’rQ+
+ QlとnチャンネルMO8FKTQs 、Qaで構
成された2人力のC!MO8ナントゲート回路(ハイレ
ベル’に’l’とする正論理の場合〕が用匹られる。
+ QlとnチャンネルMO8FKTQs 、Qaで構
成された2人力のC!MO8ナントゲート回路(ハイレ
ベル’に’l’とする正論理の場合〕が用匹られる。
上記ナントゲート回路G1の一方の人力であるMO8ν
”Qa + Qaのゲートには、上記制御信号り工O
か印加され、他方の入力であるMO8F K T Q
1 + Q lのゲートは、入出力端子I10に接続
されている。そして、上記制御信号り工0は、内部チッ
プセレクト信号08碓と内部ライトイネーブル信号wm
’2受けるナントゲート回路G。
”Qa + Qaのゲートには、上記制御信号り工O
か印加され、他方の入力であるMO8F K T Q
1 + Q lのゲートは、入出力端子I10に接続
されている。そして、上記制御信号り工0は、内部チッ
プセレクト信号08碓と内部ライトイネーブル信号wm
’2受けるナントゲート回路G。
の出力信号とされている。
なお、上記入出力端チェ10に、その出力端子が接続さ
れるデータ出力バッファ回路DOBは、次のような回路
構成とされている。このデータ出カパツファDOBでは
、制御信号DOOか論理’1’(+V0゜)のとき、出
力V。utが入カニ。
れるデータ出力バッファ回路DOBは、次のような回路
構成とされている。このデータ出カパツファDOBでは
、制御信号DOOか論理’1’(+V0゜)のとき、出
力V。utが入カニ。
に従った論8!III[となると共に非常に低い出力イ
ンピーダンスか得られ、DOOが% 01のとき、vo
utはへカエユに関係しない不定のレベルとなる、すな
わち非常に高い出力インピーダンスか得られる。
ンピーダンスか得られ、DOOが% 01のとき、vo
utはへカエユに関係しない不定のレベルとなる、すな
わち非常に高い出力インピーダンスか得られる。
このように、高低両出力インピーダンスt−有するバッ
ファは複数のバッファ出力のWlr@1−OR′kOr
牝とする。
ファは複数のバッファ出力のWlr@1−OR′kOr
牝とする。
最終段には、重い負荷會高遠に駆動できるよう、駆動能
力の大きいバイポーラ・トランジスタQ−が使用され、
Q@はPチャンネルMO8FITよシ駆動能力の大きい
yチャンネルMOB1!MTQlllと一緒にプッシュ
プル回路を構成している。
力の大きいバイポーラ・トランジスタQ−が使用され、
Q@はPチャンネルMO8FITよシ駆動能力の大きい
yチャンネルMOB1!MTQlllと一緒にプッシュ
プル回路を構成している。
上記データ人力バッファ回路りよりの制御信号り工0は
、チップセレクト信号CBかハイレベル(内部チップセ
レクト信号08iがロウレベル)のときには、ハイレベ
ルドナっ”CM O8F ICT Q a七オンとし、
MO8FJ]1TQstオフとする。
、チップセレクト信号CBかハイレベル(内部チップセ
レクト信号08iがロウレベル)のときには、ハイレベ
ルドナっ”CM O8F ICT Q a七オンとし、
MO8FJ]1TQstオフとする。
し友かつて、入出力端子I / Oのレベルに無関係に
、その出力レベルをロウレベルにしている。
、その出力レベルをロウレベルにしている。
今、チップセレクト信号o8がロウレベル罠なって、読
出し動作か行なわれるときKは、ライトイネーブル信号
W1かハイレベル(内部信号Wll副制御信号工Cは上
記ハイレベル0筐まで変化しない。し次かつて、データ
出力バッファ回路DOBから続出しデータか出力される
までの間。
出し動作か行なわれるときKは、ライトイネーブル信号
W1かハイレベル(内部信号Wll副制御信号工Cは上
記ハイレベル0筐まで変化しない。し次かつて、データ
出力バッファ回路DOBから続出しデータか出力される
までの間。
入出力趨チェ10かハイインピーダンスの下で中間レベ
ルとなってMO8FMTGLt 、Qst共にオンさ
せるものとしても、上記MO8FITQ。
ルとなってMO8FMTGLt 、Qst共にオンさ
せるものとしても、上記MO8FITQ。
かオフしているので大きな貫通電流か流れることはない
。したがって、電源供給線v0゜、GNDには雑音が発
生することもなく、前記−動作を防止することかできる
。
。したがって、電源供給線v0゜、GNDには雑音が発
生することもなく、前記−動作を防止することかできる
。
特に、g4図の実施ガに示したような8ビツトの入出力
端子I10+ないし工10.ヲ有する8−RAMでは、
電源供給線に社、上記8倍の貫通電流が流れるのを防止
できるから、その効果は大きい。
端子I10+ないし工10.ヲ有する8−RAMでは、
電源供給線に社、上記8倍の貫通電流が流れるのを防止
できるから、その効果は大きい。
また、上記貫通電流の発生を防止できるから、低消費電
力化上も図ることかできる。
力化上も図ることかできる。
なお、書込動作時には、ライトイネーブル信号wrがロ
ウレベルになるため、内部信号Wrか/’tイレベルに
なって、上記制御信号DIOtPロウレベルにする友め
、入出力端子I10からの1込みデータを次段に伝える
ことになる。
ウレベルになるため、内部信号Wrか/’tイレベルに
なって、上記制御信号DIOtPロウレベルにする友め
、入出力端子I10からの1込みデータを次段に伝える
ことになる。
この発明は、前記実施ガに限定され表い。
上記制御i11信号DIOは、上述のように書込み動作
時にのみ入出力端子からのデータを受は付けるようにデ
ータ人力バッフ7回路りよりt−制御するものであれば
何んであってもよい。
時にのみ入出力端子からのデータを受は付けるようにデ
ータ人力バッフ7回路りよりt−制御するものであれば
何んであってもよい。
また、工0外部でデータ人力8777回路りよりの入力
端子とデータ出力バラフッ回路DOBの出力端子と管共
通化する−のとしてもよい。
端子とデータ出力バラフッ回路DOBの出力端子と管共
通化する−のとしてもよい。
8−RAMの具体的回路構成、システム構成は種々変形
できるものである。
できるものである。
第1図は、従来技術の一利【示す(ロ)略図、菖2図は
、そのタイミング図、第3A図は、この発明の一実施例
を示すブロック図、第3B図は、そのタイミング図、@
4図は、この発明の他の一実施例を示すブロック図、纂
5図は、そのデータ入力バッファ及びデータ出力バッフ
ァ回路の一実IIIAPlt示す回路図でめる。 第3B <FEAD CYCLFン <WPITEC>’CLEン
、そのタイミング図、第3A図は、この発明の一実施例
を示すブロック図、第3B図は、そのタイミング図、@
4図は、この発明の他の一実施例を示すブロック図、纂
5図は、そのデータ入力バッファ及びデータ出力バッフ
ァ回路の一実IIIAPlt示す回路図でめる。 第3B <FEAD CYCLFン <WPITEC>’CLEン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ■、データ出出力2ツ77 の人力に内部制御信号を受け、他方の入力に外部からの
書込データ【受ける0M08論理回路で構成され友デー
タ人カパツファ回路の上記他方の入力に接続された入力
端子とか共通接続されたMO日スタティック型RAMに
おいて、上記内部制御信号は、チップ選択信号と書込/
読出制御信号とにより、チップが選択され、かつ、書込
み動作時にのみ上記外部からの書込データを受は付ける
ようにデータ人カバツファ回路七制御するものであるこ
と1に特徴とするMO8スタティック@RAM02、上
記データ出力パフフッ回路及びデータ入力バッファ回路
は、n組用意され、n組のメモリアスタテイックWRA
MO
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57006009A JPS58125291A (ja) | 1982-01-20 | 1982-01-20 | Mosスタテイツク型ram |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57006009A JPS58125291A (ja) | 1982-01-20 | 1982-01-20 | Mosスタテイツク型ram |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3294149A Division JP2631925B2 (ja) | 1991-11-11 | 1991-11-11 | Mos型ram |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58125291A true JPS58125291A (ja) | 1983-07-26 |
JPH0263277B2 JPH0263277B2 (ja) | 1990-12-27 |
Family
ID=11626715
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57006009A Granted JPS58125291A (ja) | 1982-01-20 | 1982-01-20 | Mosスタテイツク型ram |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58125291A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60103585A (ja) * | 1983-11-11 | 1985-06-07 | Nec Corp | Cmosメモリ回路 |
JPH0386993A (ja) * | 1989-06-19 | 1991-04-11 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
JPH0411389A (ja) * | 1990-04-27 | 1992-01-16 | Nec Corp | 半導体メモリ装置 |
JPH04212789A (ja) * | 1991-02-13 | 1992-08-04 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路 |
JPH0528767A (ja) * | 1991-07-23 | 1993-02-05 | Samsung Electron Co Ltd | 副入出力線を有するデータ伝送回路 |
US5371713A (en) * | 1984-02-13 | 1994-12-06 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5345939A (en) * | 1976-10-07 | 1978-04-25 | Sharp Corp | Ram circuit |
JPS5437544A (en) * | 1977-08-29 | 1979-03-20 | Sharp Corp | Mos static random access memory |
JPS5835783A (ja) * | 1981-08-24 | 1983-03-02 | Fujitsu Ltd | 半導体メモリ |
-
1982
- 1982-01-20 JP JP57006009A patent/JPS58125291A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5345939A (en) * | 1976-10-07 | 1978-04-25 | Sharp Corp | Ram circuit |
JPS5437544A (en) * | 1977-08-29 | 1979-03-20 | Sharp Corp | Mos static random access memory |
JPS5835783A (ja) * | 1981-08-24 | 1983-03-02 | Fujitsu Ltd | 半導体メモリ |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60103585A (ja) * | 1983-11-11 | 1985-06-07 | Nec Corp | Cmosメモリ回路 |
US5371713A (en) * | 1984-02-13 | 1994-12-06 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit |
JPH0386993A (ja) * | 1989-06-19 | 1991-04-11 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
JPH0411389A (ja) * | 1990-04-27 | 1992-01-16 | Nec Corp | 半導体メモリ装置 |
JPH04212789A (ja) * | 1991-02-13 | 1992-08-04 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路 |
JPH0528767A (ja) * | 1991-07-23 | 1993-02-05 | Samsung Electron Co Ltd | 副入出力線を有するデータ伝送回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0263277B2 (ja) | 1990-12-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS61113188A (ja) | 改良されたアドレス・カウンタを有する半導体メモリ装置 | |
US4817057A (en) | Semiconductor memory device having improved precharge scheme | |
CN100565696C (zh) | 半导体记忆装置 | |
JP2000011639A (ja) | 半導体記憶装置 | |
TW202115725A (zh) | 記憶體元件以及鎖存訊號的方法 | |
JP2007273007A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US6310803B1 (en) | Semiconductor having mechanism capable of operating at high speed | |
JP3048936B2 (ja) | 半導体メモリ装置 | |
JPH04212775A (ja) | 半導体メモリデバイス | |
JPS58125291A (ja) | Mosスタテイツク型ram | |
JPS61113187A (ja) | 半導体メモリ装置 | |
US4992983A (en) | Semiconductor memory device with an improved write control circuit | |
US5067109A (en) | Data output buffer circuit for a SRAM | |
US20240087641A1 (en) | Memory device with global and local latches | |
JPH09139075A (ja) | Dramアレイ | |
US6160751A (en) | Semiconductor memory device allowing efficient column selection | |
US6314033B1 (en) | Semiconductor memory device with redundancy circuit | |
US6542421B2 (en) | Semiconductor memory device with redundancy circuit | |
JPS6218992B2 (ja) | ||
JPS60119693A (ja) | Mosスタテイツク型ram | |
JPS59132489A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH0814988B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2892552B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH0472318B2 (ja) | ||
JPS60197995A (ja) | スタテイツク型ランダムアクセスメモリ |