[go: up one dir, main page]

JPS58125291A - Mosスタテイツク型ram - Google Patents

Mosスタテイツク型ram

Info

Publication number
JPS58125291A
JPS58125291A JP57006009A JP600982A JPS58125291A JP S58125291 A JPS58125291 A JP S58125291A JP 57006009 A JP57006009 A JP 57006009A JP 600982 A JP600982 A JP 600982A JP S58125291 A JPS58125291 A JP S58125291A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
control signal
output
signal
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP57006009A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0263277B2 (ja
Inventor
Kiyobumi Uchibori
内堀 清文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP57006009A priority Critical patent/JPS58125291A/ja
Publication of JPS58125291A publication Critical patent/JPS58125291A/ja
Publication of JPH0263277B2 publication Critical patent/JPH0263277B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明蝶、VO日(金属絶縁物中竪体)スタティック
!!!IRAM(ランダム脅アクセス・メモリ)に関す
る。
Mo8,(タテイック型RAM(以下、B−RAMと称
す)において、そのデータ入出力亀子を共通接続して、
共通のデータバスに対してデータの授受を行なう場合、
本願発明者は8−RAMの内部電源供給@( voo,
GND )に比較的大きな雑音が発生することを見い出
した。
本願発明者において、上記雑音発生の原因を検討した結
果、次のような理由にその原因のあることか判明し次。
従来、8−RAMでは、第1図に示すように、データ人
カパツ7ア回路りよりが用いられてお夕続出し動作開始
時に流れる大きな貫通電流によって内部電源供給線に大
きな雑音か発生する。
すなわち、第2図の動作波形図に示すように、チップ選
択信号11がロウレベルに灰化したとき内部制御41傷
号08′もロウレベルに変化する。
し次がって、この信号O8”i受けるpチャンネルM0
87ITQ1かオンし、nチャンネルMOEIFICT
Q、がオフして、入出力端子I10からのデータに従っ
て、その出力レベルが決定される。
しかし、書込/読出し制御信号wmかノ・イレベルの読
み出し動作時には、上記入出力端チェ10にデータ出力
バッファ回路DOBからの読出しデータか伝えられるま
での間、上記入出力端チェ10はハイインピーダンスの
中間レベルになっている。
この友め、この中間レベルを受けるデータ人力パラフッ
回路りよりのpチャンネルMO8FIITQ+ とnチ
ャンネk M OB F W T Q B dl共K 
# 7して、大きな貫通電流か売れ、上記電源供給繰に
雑音【発生させる。この雑音は、メモリセルの選択動作
、!!出しセンスアンプの増幅動作に愚影会を与え、l
a#作の原因となる。ま危、上記貫通電流は、8−RA
Mの消費電力を増加させる。
この発明の目的は、雑音の発生を防止し次MO8スタテ
ィックfilRAMi提供することI/cToる。
この発明の他の目的は、低消費電力化【図っ九MO8ス
タティック型RムM11t提供するととにある。
この発明の更に他の目的は、以下ii2明及び図面から
明らかになるであろう。
以下、この発明を実施列とともに詳細に説明する。
第3ム図は、記憶容量が16にビット、出方か1ビツト
のB−RAM集積回路(以下工○と称する)の内部構成
を示している。
16にビットのメモリセルは、各々が128列(oつ)
x32h(力?ム)=4096ビツト(4にビット)の
記憶容量【持つ4つのマトリクス(メモリアレイM−ム
RYI〜M−ムRY4)から構成され、各マトリクスは
ロウデコーダR−DORの左右に2つづつに分けて配置
されている。
ロタ糸のアドレス選択層(ワード@WL l〜WL 1
28 、WR1〜WR128)Kd、アトL/ス傷号A
、″−As、ム目、ムlK基づいて得られる2’=25
6通9のデコード出力fI号かaクデコ−ダR−DOR
よシ送出される。
このように各マトリクスのメモリーM−011iLはワ
ード1lWLI〜WL128.WRI〜WR128のい
ずれか一本と後に説明する相補データ線対Dll、DI
l〜D132 、D 132のいずれか一対とに接続さ
れている。
アドレス信号ムs 、A−は、4つのメモリマトリクス
のうち1つだけを選択する危めに用いられる。選択され
た1つのメモリマトリクスにおいて1つのカラムを選択
するためにアドレス信号ム7〜ム■が用いられる。
メモリマトリクス選択信号G8は上記アドレス信号ム藝
 、ム・に基づいて4つの組み合せに解読する。
カラムデコーダ(5−DORI 〜0−DOR4はそれ
ぞれ上記アドレス信号A7〜Allに1づいて2”=3
2通シのカラム選択相デコード出力信号上提供する。
読み出し時においてコモンデータ線対ODL。
ODLはコモンデータ線分IIl用トランジスタ(Q+
 。
Q++・・・・・・: Q4  + Q4  )Kよっ
て各メ毫リアレイごとに4分割され、書き込み時におい
てコモンデータ1lODL、CD’Laは共通に結合さ
れる。
センスアンプ8ム1,8ム2,8A3,8A4は上記分
割されるコモンデータ線対ODL、0DLK対応してそ
れぞれ設けられている。
この様にコモンデータ線対ODL、0DLI分割し、そ
れぞれにセンスアンプ8Al、8ム2゜Sム3,8ム4
t−設けたねらいはコモンデー1@対ODL 、ODL
の薔生答量【分−1し、メモリセル情報読み出し動作の
高速化を図ることKある。
アドレスパソファムDBは14の外部アドレス信号ム・
〜ムlからそれぞれ14附の相補アドレス信号−ILo
〜1mk作成し、デコーダ回路(R−DOR,0−DO
R,G8)に送出する。
内部側N信号発生回路00M−GICは2つの外部制@
信号τi(チップセレクト(1号)、Wl(ライトイネ
ーブル信号)を受けて、Ca1(。
ワデコーダ制御信号)、8ムC(センスアンプ制御信号
)、W・(書き込み制御信号)、DOO(データ出力パ
ツファ制御信号)、D工0(データ人カパツファ制御信
号)等を送出する。
@3AK示TB−RAMIQC)回路動作を第3−B図
のタイミング図に従って説明する。
この工0における全ての動作つ★夛アドレス設定動作、
読み出し動作、書き込み動作は一方の外部制御信号O8
かロウレベルの期間のみ行なわれる。この際他方の外部
制御信号wiがハイレベルならば読み出し動作を行ない
、ロウレベルならば書き込み動作を行なう。
まずアドレス設定動作および読み出し動作について説明
する。
アドレス設定動作は、外部制御信号CBがロウレベルで
ある場合、この期間に印加されたアドレス信号に基づい
て常に行なわれる。逆に外部制御信号08Qハイレベル
にしておくことによって、不確定なアドレス信号に基づ
くアドレス設定動作および読み出し動作を防止できる。
外部制御信号08かロウレベルになると、ロウデコーダ
R−DORFiこの信号に同期したハイレベルO内部制
御信号osH−受けて動作【P始する。上記ロウデコー
ダ(叢ワードドライバ)R−pou#18allの相補
対アドレス信号a・〜亀S。
a+* * a+st#読して1つのワードat−選択
し、これをハイレベルに駆動する。
一方、4つのメモリアレイM−ムRYI〜M −ムRY
4のうちいずれが1つがメモリアレイ選択信号m1〜m
4によって選択され、選択された1つのメモリアレイH
FIIえtfM−ムRYI)中の1つの相補データ酵対
(例えばDll 、Dll )かカラムデコーダ(かj
えば0−DORI)によって選択される。
この様にして1つのメモリセルが選択(アドレス設定)
される。
アドレス設定動作によって選択されたメモリセルの情報
は分割され次コモンデータ層対のうちの11に送alれ
〆センスアンプ<IPIILIdBム1)で増幅される
コノ場合、4つのセンスアンプBム1.8ム21Sム3
,81番のうちいずれが1つがメモリアレイ選択信号m
l〜m4によって選択され、選択された1つのセンスア
ンプのみがハイレベルの内部制御信号8ム0【受けてい
る期間動作する。
この様に4つのセンスアンプSム1.Sム2゜8ム3,
8ム番のうち使用する必要のない3つのセンスアンプを
非動作状態とすることによ゛り低消費電力化を図ること
かできる。上記非動作状態の3つのセンスアンプの出力
はハイインピーダンス(フローティング)状態とされる
センスアンプの出力信号はデータ出力パッファDOBに
より増幅され、入出力端チェ10から出力データD。u
tとして工0外部に送出される。
上記データ出力パツファDOBはハイレベルの制御信号
DOOQ受けている期間動作する。
次に書き込み動作について説明する。
外部制御信号Wllかロウレベルになると、これに同期
したハイレベルの制御信号W@かコモンデーター分割用
トランジスタ(Q+  +QI :・・・・・・;Qa
  、Qa  )に印加され、コモンデータ線対ODL
 。
ODLか共通に結合される。
一方、データ人カパッ7アDよりFi、ロウレベルの制
御信号DIOI受けている期間、工0外部から入出力端
チェ10t−通した入力データ信号D1nを増幅し紬記
共通に結合されたコモンデータ線対ODL 、CDLに
送出する。
上記コモンデータ線対ODL、ODL上の入力データ信
号は、アドレス設定動作によって定められたメモリセル
M−01Lに書き込まれる。
第4図は、記t1容量か16にビット、出力が8ビツト
の8−RAM集積回路(以下ICと称する)の内部構成
を示している。
16にビットのメモリセルは、各々が128列(ロウ)
X16行(カラム片2048ビット(2にビットの記t
I答量を持つ8つのマトリクス(メモリアレイM−AR
YI 〜M−ARY8)から構成され、各マトリクスは
ロウデコーダR−DORの左右に4つつつに分けて配置
されている。
ロク面のアドレス選択#II(ワード*WL+1〜WL
128.WRI〜WR128)には、アドレス個号A、
〜ム−に基づいて得られる2’=128通pのデコード
出力信号かロウデコーダR−DORより送出される。
このように各マトリックスのメモリーM−OELはワー
ドIIWLI〜WL128 、WRI〜WR128のい
ずれか一本と後に説明する相補データ線対Dll 、D
ll−D132 、D 132のいずれか一対とに接続
されている。
なお、ワード線中間バッファMBI、MB2はそれぞれ
ワード@WLI〜WL128 、WRI〜WR128の
来電での遅延時1sjl’にできるだけ小さくするため
増幅作用1[し、M−ムRY2とM−ARY3およびM
−ムRY6とM−ムRY7との間に配置されている。
アドレス信号ム?=Al@は、上記8つのマトリクスか
らそれぞれ1つづつのカラム會選択する次めに用いられ
る。
カラムデコーダo−DcRFi上記アドレス信号ム、〜
薊。に基ついて2’ = 16通りのカラム選択中デコ
ード出力信号を提供する。
アドレスパラファムDBHIIの外部アドレス信号A・
〜ム−・がらそれぞね11対の相補アドレス信号ao−
IL+ot作成し、デコーダ回路(4−DOR,0−D
OR)に送出する。
内部制御KI(Iif号発生回路COM−GF!は3つ
の外部制御信号cs(チップセレクト信号)、WZ(ラ
イトイネーブル信号)、OK(アウトプット($−7’
に信号)?受けて、C3l(oウテコーダ制御信号)、
C!Ei12(センスアンプおよびデータ人カパッファ
制御信号)1w−c(書き込み制flJ@号)、DOO
(データ出カバソファ制御信号)$1−退出する。
上記$11成のS−FjAMにおけるデータ人力バッフ
7回路りよりとして、この実施例では、第5図に示すよ
うな回路が用いられる。
との実m例では、pチャンネルMO871’rQ+  
+ QlとnチャンネルMO8FKTQs 、Qaで構
成された2人力のC!MO8ナントゲート回路(ハイレ
ベル’に’l’とする正論理の場合〕が用匹られる。
上記ナントゲート回路G1の一方の人力であるMO8ν
”Qa  + Qaのゲートには、上記制御信号り工O
か印加され、他方の入力であるMO8F K T Q 
1  + Q lのゲートは、入出力端子I10に接続
されている。そして、上記制御信号り工0は、内部チッ
プセレクト信号08碓と内部ライトイネーブル信号wm
’2受けるナントゲート回路G。
の出力信号とされている。
なお、上記入出力端チェ10に、その出力端子が接続さ
れるデータ出力バッファ回路DOBは、次のような回路
構成とされている。このデータ出カパツファDOBでは
、制御信号DOOか論理’1’(+V0゜)のとき、出
力V。utが入カニ。
に従った論8!III[となると共に非常に低い出力イ
ンピーダンスか得られ、DOOが% 01のとき、vo
utはへカエユに関係しない不定のレベルとなる、すな
わち非常に高い出力インピーダンスか得られる。
このように、高低両出力インピーダンスt−有するバッ
ファは複数のバッファ出力のWlr@1−OR′kOr
牝とする。
最終段には、重い負荷會高遠に駆動できるよう、駆動能
力の大きいバイポーラ・トランジスタQ−が使用され、
Q@はPチャンネルMO8FITよシ駆動能力の大きい
yチャンネルMOB1!MTQlllと一緒にプッシュ
プル回路を構成している。
上記データ人力バッファ回路りよりの制御信号り工0は
、チップセレクト信号CBかハイレベル(内部チップセ
レクト信号08iがロウレベル)のときには、ハイレベ
ルドナっ”CM O8F ICT Q a七オンとし、
MO8FJ]1TQstオフとする。
し友かつて、入出力端子I / Oのレベルに無関係に
、その出力レベルをロウレベルにしている。
今、チップセレクト信号o8がロウレベル罠なって、読
出し動作か行なわれるときKは、ライトイネーブル信号
W1かハイレベル(内部信号Wll副制御信号工Cは上
記ハイレベル0筐まで変化しない。し次かつて、データ
出力バッファ回路DOBから続出しデータか出力される
までの間。
入出力趨チェ10かハイインピーダンスの下で中間レベ
ルとなってMO8FMTGLt  、Qst共にオンさ
せるものとしても、上記MO8FITQ。
かオフしているので大きな貫通電流か流れることはない
。したがって、電源供給線v0゜、GNDには雑音が発
生することもなく、前記−動作を防止することかできる
特に、g4図の実施ガに示したような8ビツトの入出力
端子I10+ないし工10.ヲ有する8−RAMでは、
電源供給線に社、上記8倍の貫通電流が流れるのを防止
できるから、その効果は大きい。
また、上記貫通電流の発生を防止できるから、低消費電
力化上も図ることかできる。
なお、書込動作時には、ライトイネーブル信号wrがロ
ウレベルになるため、内部信号Wrか/’tイレベルに
なって、上記制御信号DIOtPロウレベルにする友め
、入出力端子I10からの1込みデータを次段に伝える
ことになる。
この発明は、前記実施ガに限定され表い。
上記制御i11信号DIOは、上述のように書込み動作
時にのみ入出力端子からのデータを受は付けるようにデ
ータ人力バッフ7回路りよりt−制御するものであれば
何んであってもよい。
また、工0外部でデータ人力8777回路りよりの入力
端子とデータ出力バラフッ回路DOBの出力端子と管共
通化する−のとしてもよい。
8−RAMの具体的回路構成、システム構成は種々変形
できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来技術の一利【示す(ロ)略図、菖2図は
、そのタイミング図、第3A図は、この発明の一実施例
を示すブロック図、第3B図は、そのタイミング図、@
4図は、この発明の他の一実施例を示すブロック図、纂
5図は、そのデータ入力バッファ及びデータ出力バッフ
ァ回路の一実IIIAPlt示す回路図でめる。 第3B <FEAD CYCLFン <WPITEC>’CLEン

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ■、データ出出力2ツ77 の人力に内部制御信号を受け、他方の入力に外部からの
    書込データ【受ける0M08論理回路で構成され友デー
    タ人カパツファ回路の上記他方の入力に接続された入力
    端子とか共通接続されたMO日スタティック型RAMに
    おいて、上記内部制御信号は、チップ選択信号と書込/
    読出制御信号とにより、チップが選択され、かつ、書込
    み動作時にのみ上記外部からの書込データを受は付ける
    ようにデータ人カバツファ回路七制御するものであるこ
    と1に特徴とするMO8スタティック@RAM02、上
    記データ出力パフフッ回路及びデータ入力バッファ回路
    は、n組用意され、n組のメモリアスタテイックWRA
    MO
JP57006009A 1982-01-20 1982-01-20 Mosスタテイツク型ram Granted JPS58125291A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57006009A JPS58125291A (ja) 1982-01-20 1982-01-20 Mosスタテイツク型ram

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57006009A JPS58125291A (ja) 1982-01-20 1982-01-20 Mosスタテイツク型ram

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3294149A Division JP2631925B2 (ja) 1991-11-11 1991-11-11 Mos型ram

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58125291A true JPS58125291A (ja) 1983-07-26
JPH0263277B2 JPH0263277B2 (ja) 1990-12-27

Family

ID=11626715

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57006009A Granted JPS58125291A (ja) 1982-01-20 1982-01-20 Mosスタテイツク型ram

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58125291A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60103585A (ja) * 1983-11-11 1985-06-07 Nec Corp Cmosメモリ回路
JPH0386993A (ja) * 1989-06-19 1991-04-11 Nec Corp 半導体記憶装置
JPH0411389A (ja) * 1990-04-27 1992-01-16 Nec Corp 半導体メモリ装置
JPH04212789A (ja) * 1991-02-13 1992-08-04 Hitachi Ltd 半導体集積回路
JPH0528767A (ja) * 1991-07-23 1993-02-05 Samsung Electron Co Ltd 副入出力線を有するデータ伝送回路
US5371713A (en) * 1984-02-13 1994-12-06 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5345939A (en) * 1976-10-07 1978-04-25 Sharp Corp Ram circuit
JPS5437544A (en) * 1977-08-29 1979-03-20 Sharp Corp Mos static random access memory
JPS5835783A (ja) * 1981-08-24 1983-03-02 Fujitsu Ltd 半導体メモリ

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5345939A (en) * 1976-10-07 1978-04-25 Sharp Corp Ram circuit
JPS5437544A (en) * 1977-08-29 1979-03-20 Sharp Corp Mos static random access memory
JPS5835783A (ja) * 1981-08-24 1983-03-02 Fujitsu Ltd 半導体メモリ

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60103585A (ja) * 1983-11-11 1985-06-07 Nec Corp Cmosメモリ回路
US5371713A (en) * 1984-02-13 1994-12-06 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit
JPH0386993A (ja) * 1989-06-19 1991-04-11 Nec Corp 半導体記憶装置
JPH0411389A (ja) * 1990-04-27 1992-01-16 Nec Corp 半導体メモリ装置
JPH04212789A (ja) * 1991-02-13 1992-08-04 Hitachi Ltd 半導体集積回路
JPH0528767A (ja) * 1991-07-23 1993-02-05 Samsung Electron Co Ltd 副入出力線を有するデータ伝送回路

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0263277B2 (ja) 1990-12-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61113188A (ja) 改良されたアドレス・カウンタを有する半導体メモリ装置
US4817057A (en) Semiconductor memory device having improved precharge scheme
CN100565696C (zh) 半导体记忆装置
JP2000011639A (ja) 半導体記憶装置
TW202115725A (zh) 記憶體元件以及鎖存訊號的方法
JP2007273007A (ja) 半導体記憶装置
US6310803B1 (en) Semiconductor having mechanism capable of operating at high speed
JP3048936B2 (ja) 半導体メモリ装置
JPH04212775A (ja) 半導体メモリデバイス
JPS58125291A (ja) Mosスタテイツク型ram
JPS61113187A (ja) 半導体メモリ装置
US4992983A (en) Semiconductor memory device with an improved write control circuit
US5067109A (en) Data output buffer circuit for a SRAM
US20240087641A1 (en) Memory device with global and local latches
JPH09139075A (ja) Dramアレイ
US6160751A (en) Semiconductor memory device allowing efficient column selection
US6314033B1 (en) Semiconductor memory device with redundancy circuit
US6542421B2 (en) Semiconductor memory device with redundancy circuit
JPS6218992B2 (ja)
JPS60119693A (ja) Mosスタテイツク型ram
JPS59132489A (ja) 半導体記憶装置
JPH0814988B2 (ja) 半導体記憶装置
JP2892552B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH0472318B2 (ja)
JPS60197995A (ja) スタテイツク型ランダムアクセスメモリ