JPH09134380A - Device for estimating virtual wiring length - Google Patents
Device for estimating virtual wiring lengthInfo
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- JPH09134380A JPH09134380A JP7294199A JP29419995A JPH09134380A JP H09134380 A JPH09134380 A JP H09134380A JP 7294199 A JP7294199 A JP 7294199A JP 29419995 A JP29419995 A JP 29419995A JP H09134380 A JPH09134380 A JP H09134380A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は半導体集積回路設計
時の仮想配線長を見積る仮想配線長見積り装置に関し、
特に見積り精度を高めた仮想配線長見積り装置に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a virtual wiring length estimating device for estimating a virtual wiring length when designing a semiconductor integrated circuit,
In particular, the present invention relates to a virtual wiring length estimation device with improved estimation accuracy.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体集積回路設計時に回路上の配線長
を不適切に長く設定すると、その配線を信号が通過する
のに要する時間(遅延時間)が延び、回路動作が要求仕
様を満たせない状況が生じ得る。そのため、マクロセル
の配置設計およびマクロセル間の配線設計(以下配置配
線と呼称)が終了した段階において、配線長を基に遅延
時間をチェックし、不適切に長い配線長の配線に対し修
正を行う。しかし配置配線が終了した後での修正は、修
正の規模が大きくなり、修正にかかる時間も膨大なもの
となる。そこで通常は、配置配線を実行する前に、各々
のネットに対し仮想配線長見積りを実行して配線長の適
切化を図り、配置配線後の修正が最小限となるようにす
る。2. Description of the Related Art When a wiring length on a circuit is inappropriately set when designing a semiconductor integrated circuit, the time (delay time) required for a signal to pass through the wiring is extended, and the circuit operation cannot meet the required specifications. Can occur. Therefore, at the stage when the layout design of macro cells and the wiring design between macro cells (hereinafter referred to as placement and routing) are completed, the delay time is checked based on the wiring length, and the wiring having an inappropriately long wiring length is corrected. However, the correction after the placement and wiring is completed requires a large amount of correction and a huge amount of time. Therefore, usually, before executing the placement and routing, the virtual wiring length is estimated for each net to optimize the wiring length, and the correction after placement and routing is minimized.
【0003】図18に従来の仮想配線長見積り装置を用
いて仮想配線長見積りを行う場合の概念図を示す。図1
8はセル未配置の状態での仮想配線長見積りのモデルで
あり、見積り対象のネットT1にはマクロセルI1およ
びI2が、ネットT2には、マクロセルI3およびI4
がそれぞれ繋がっている。見積り対象のネットT1およ
びT2は共に同一の配置領域R内に配置されており、配
置領域Rの周辺長(4辺の長さ)はLとなっている。FIG. 18 shows a conceptual diagram when a virtual wiring length is estimated by using a conventional virtual wiring length estimation device. FIG.
Reference numeral 8 is a model for estimating the virtual wiring length in a state where no cells are arranged. Macro cells I1 and I2 are included in the estimation target net T1, and macro cells I3 and I4 are included in the net T2.
Are connected to each other. Both the nets T1 and T2 to be estimated are arranged in the same arrangement region R, and the peripheral length (length of four sides) of the arrangement region R is L.
【0004】従来の仮想配線長見積り装置では、ネット
の仮想配線長を、そのネットが含まれる配置領域のサイ
ズ(周辺長)とネットのファンアウト数に基づいて見積
もっている。具体的には、配置領域Rの周辺長L、見積
り対象ネットのファンアウト数(対象となるネットを通
じて駆動されるゲート回路の個数)F、半導体集積回路
設計時のデザインルールにより決定される係数C1およ
びC2を用いる。仮想配線長見積り値をXとした場合の
見積り式を式(1)に示す。In the conventional virtual wiring length estimation device, the virtual wiring length of a net is estimated based on the size (peripheral length) of the arrangement area including the net and the number of fanouts of the net. Specifically, the peripheral length L of the arrangement region R, the number of fan-outs of the estimation target net (the number of gate circuits driven through the target net) F, and the coefficient C1 determined by the design rule when designing the semiconductor integrated circuit And C2 are used. The estimation formula when the estimated value of the virtual wiring length is X is shown in Formula (1).
【0005】[0005]
【数1】 (Equation 1)
【0006】ここで、X、L、C2の単位は長さであ
り、C1およびFは無単位である。Here, the units of X, L, and C2 are lengths, and C1 and F are unitless.
【0007】図18に、式(1)によって得られた仮想
配線長見積り値Xを直線として模式的に示す。仮想配線
長見積り値XはネットT1に対しては近い値となってい
るが、ネットT2に対しては大幅に長い値となってい
る。FIG. 18 schematically shows the estimated virtual wiring length value X obtained by the equation (1) as a straight line. The estimated value X of the virtual wiring length is close to the net T1, but is significantly longer than the net T2.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来の仮想配線長見積り装置では、見積り対象のネット
が含まれる配置領域の周辺長と見積り対象ネットのファ
ンアウト数に基づいて仮想配線長の見積りを実行してい
るので、同一配置領域に属する同一ファンアウト数のネ
ット全てが、同じ仮想配線長に見積られることになる。
実際の半導体集積回路上では、同一配置領域に属する同
一ファンアウト数のネットであったとしても、各々のネ
ットに接続されるマクロセルの配置位置により配線長は
それぞれ異なっている。従って、一部のネットについて
は実配線長と仮想配線長見積り値との差が大きくなり、
仮想配線長見積り装置の見積り精度を低下させる原因と
なっている。As described above,
In the conventional virtual wiring length estimation device, the virtual wiring length is estimated based on the peripheral length of the placement area including the estimation target net and the fanout number of the estimation target net. All nets with fan-out numbers will be estimated for the same virtual wire length.
On an actual semiconductor integrated circuit, even if the nets have the same fan-out number that belong to the same arrangement area, the wiring lengths differ depending on the arrangement positions of the macro cells connected to the respective nets. Therefore, for some nets, the difference between the actual wiring length and the estimated virtual wiring length becomes large,
This is a cause of lowering the estimation accuracy of the virtual wiring length estimation device.
【0009】本発明は上記のような問題点を解消するた
めになされたもので、仮想配線長見積りにおいて、見積
り対象のネットの接続情報も考慮して仮想配線長見積り
を実行し、高精度な配線長見積りを実行可能な仮想配線
長見積り装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and in the virtual wiring length estimation, the virtual wiring length estimation is executed in consideration of the connection information of the net to be estimated, and it is highly accurate. An object of the present invention is to provide a virtual wiring length estimation device capable of executing wiring length estimation.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】本発明に係る請求項1記
載の仮想配線長見積り装置は、半導体集積回路の設計に
要する設計データに基づいて、マクロセル間に設けられ
るネットの配線長を仮想的に見積もる仮想配線長見積り
装置において、前記ネットのうち配線長の見積り対象と
なるネットを対象ネットとし、前記マクロセルのうち前
記対象ネットに接続されるマクロセルを対象マクロセル
とし、前記対象マクロセルには第1、第2の対象マクロ
セルを含み、前記第1、第2の対象マクロセルが隣接配
置困難であるか否かを所定の規則に従って判定する隣接
配置難易判定手段と、前記第1、第2の対象マクロセル
が隣接配置困難である場合と、前記第1、第2の対象マ
クロセルが隣接配置容易である場合とで算出方式を変更
して仮想配線長を算出する仮想配線長算出手段とを備え
ている。According to a first aspect of the present invention, there is provided a virtual wiring length estimating device for virtualizing the wiring length of a net provided between macro cells on the basis of design data required for designing a semiconductor integrated circuit. In the virtual wiring length estimation apparatus for estimating the net length, a net of the nets whose wiring length is to be estimated is a target net, a macro cell connected to the target net among the macro cells is a target macro cell, and the target macro cell has a first And a second target macrocell, which includes a second target macrocell, and determines whether or not the first and second target macrocells are difficult to be adjacently arranged according to a predetermined rule, and the first and second target macrocells. Is difficult to place adjacently, and when the first and second target macro cells are easily placed adjacently, the calculation method is changed to change the virtual wiring length. And a wire length calculation means for output.
【0011】本発明に係る請求項2記載の仮想配線長見
積り装置は、前記隣接配置難易判定手段が、前記設計デ
ータから、前記第1、第2の対象マクロセルに接続され
るネットの数に関するデータを読み出すネット数読出し
手段を有し、前記ネットの数に関するデータと予め設定
された基準値とを比較して、前記第1、第2の対象マク
ロセルの隣接配置の難易を判定する。According to a second aspect of the virtual wire length estimating apparatus of the present invention, the adjacent placement difficulty determination means uses the design data to obtain data relating to the number of nets connected to the first and second target macrocells. The number of nets for reading the net number is read, and the data regarding the number of nets is compared with a preset reference value to determine the difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macro cells.
【0012】本発明に係る請求項3記載の仮想配線長見
積り装置は、前記ネットの数に関するデータが、前記第
1、第2の対象マクロセルの各々に接続される第1、第
2のネット数であって、第1の対象マクロセルに隣接し
て第2の対象マクロセルを配置できる可能性を、前記第
1のネット数と前記基準値との比較によって求め、第2
の対象マクロセルに隣接して第1の対象マクロセルを配
置できる可能性を、前記第2のネット数と前記基準値と
の比較によって求め、両結果に基づいて前記第1、第2
の対象マクロセルの隣接配置の難易を判定する。According to a third aspect of the present invention, there is provided a virtual wiring length estimating apparatus, wherein the data on the number of nets is the number of first and second nets connected to each of the first and second target macrocells. The possibility that the second target macro cell can be arranged adjacent to the first target macro cell is obtained by comparing the first number of nets with the reference value.
The possibility of arranging the first target macro cell adjacent to the target macro cell is determined by comparing the second number of nets with the reference value, and based on both results, the first and second
The difficulty of the adjacent placement of the target macro cell is determined.
【0013】本発明に係る請求項4記載の仮想配線長見
積り装置は、前記ネットの数に関するデータが、前記第
1、第2の対象マクロセルに接続される前記ネットの総
数であって、該総数と前記基準値との比較によって前記
第1、第2の対象マクロセルの隣接配置の難易を判定す
る。According to a fourth aspect of the virtual wiring length estimating apparatus of the present invention, the data regarding the number of nets is the total number of the nets connected to the first and second target macrocells, and the total number is the total number of the nets. And the reference value are compared to determine the difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macro cells.
【0014】本発明に係る請求項5記載の仮想配線長見
積り装置は、前記隣接配置難易判定手段が、前記設計デ
ータから、前記第1、第2の対象マクロセルが有するピ
ンの数に関するデータを読み出すピン数読出し手段を有
し、前記ピンの数に関するデータと予め設定された基準
値とを比較して、前記第1、第2の対象マクロセルの隣
接配置の難易を判定する。In the virtual wiring length estimating device according to a fifth aspect of the present invention, the adjacent placement difficulty determination means reads data regarding the number of pins of the first and second target macrocells from the design data. A pin number reading means is provided, and the data regarding the number of pins is compared with a preset reference value to determine the difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macro cells.
【0015】本発明に係る請求項6記載の仮想配線長見
積り装置は、前記ピンの数に関するデータが、前記第
1、第2の対象マクロセルの各々が有する第1、第2の
ピン数であって、第1の対象マクロセルに隣接して第2
の対象マクロセルを配置できる可能性を、前記第1のピ
ン数と前記基準値との比較によって求め、第2の対象マ
クロセルに隣接して第1の対象マクロセルを配置できる
可能性を、前記第2のピン数と前記基準値との比較によ
って求め、両結果に基づいて前記第1、第2の対象マク
ロセルの隣接配置の難易を判定する。In the virtual wiring length estimating device according to a sixth aspect of the present invention, the data regarding the number of pins is the first and second pin numbers of each of the first and second target macrocells. And adjacent to the first target macro cell to the second
The possibility of arranging the target macro cell of No. 2 is obtained by comparing the first pin count with the reference value, and the possibility of arranging the first target macro cell adjacent to the second target macro cell is The number of pins is compared with the reference value, and the difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macrocells is determined based on both results.
【0016】本発明に係る請求項7記載の仮想配線長見
積り装置は、前記ピンの数に関するデータが、前記第
1、第2の対象マクロセルが有するピンの総数であっ
て、該総数と前記基準値との比較によって前記第1、第
2の対象マクロセルの隣接配置の難易を判定する。In a virtual wiring length estimating device according to a seventh aspect of the present invention, the data regarding the number of pins is the total number of pins included in the first and second target macrocells, and the total number and the reference. The difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macro cells is determined by comparison with the value.
【0017】本発明に係る請求項8記載の仮想配線長見
積り装置は、前記隣接配置難易判定手段が、前記設計デ
ータから、前記第1、第2の対象マクロセルどうしを接
続するネットの数に関するデータを読み出すネット数読
出し手段を有し、前記ネットの数に関するデータと予め
設定された基準値とを比較して、前記第1、第2の対象
マクロセルの隣接配置の難易を判定する。In the virtual wiring length estimating apparatus according to the present invention, the adjacent placement difficulty determination means uses the design data to obtain data on the number of nets connecting the first and second target macrocells. The number of nets for reading the net number is read, and the data regarding the number of nets is compared with a preset reference value to determine the difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macro cells.
【0018】本発明に係る請求項9記載の仮想配線長見
積り装置は、前記隣接配置難易判定手段が、前記設計デ
ータから、前記第1、第2の対象マクロセルの物理的サ
イズに関するデータを読み出す物理的サイズ読出し手段
を有し、前記物理的サイズに関するデータと予め設定さ
れた基準値とを比較して、前記第1、第2の対象マクロ
セルの隣接配置の難易を判定する。In the virtual wiring length estimating apparatus according to claim 9 of the present invention, the adjacent placement difficulty determining means is a physical device for reading data concerning the physical sizes of the first and second target macrocells from the design data. A physical size reading means, and compares the data relating to the physical size with a preset reference value to determine the difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macro cells.
【0019】本発明に係る請求項10記載の仮想配線長
見積り装置は、前記物理的サイズに関するデータが、前
記第1、第2の対象マクロセルの各々が有する第1、第
2の物理的サイズであって、第1の対象マクロセルに隣
接して第2の対象マクロセルを配置できる可能性を、前
記第1の物理的サイズと前記基準値との比較によって求
め、第2の対象マクロセルに隣接して第1の対象マクロ
セルを配置できる可能性を、前記第2の物理的サイズと
前記基準値との比較によって求め、両結果に基づいて前
記第1、第2の対象マクロセルの隣接配置の難易を判定
する。In the virtual wiring length estimating apparatus according to the present invention, the data regarding the physical size is the first and second physical sizes of each of the first and second target macrocells. Then, the possibility of arranging the second target macrocell adjacent to the first target macrocell is determined by comparing the first physical size with the reference value, and is determined adjacent to the second target macrocell. The possibility of arranging the first target macro cell is obtained by comparing the second physical size with the reference value, and the difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macro cells is determined based on both results. To do.
【0020】本発明に係る請求項11記載の仮想配線長
見積り装置は、前記物理的サイズに関するデータが、前
記第1、第2の対象マクロセルの物理的サイズの合計値
であって、該合計値と前記基準値との比較によって前記
第1、第2の対象マクロセルの隣接配置の難易を判定す
る。In the virtual wiring length estimating device according to claim 11 of the present invention, the data regarding the physical size is a total value of the physical sizes of the first and second target macrocells, and the total value. And the reference value are compared to determine the difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macro cells.
【0021】本発明に係る請求項12記載の仮想配線長
見積り装置は、算出された前記仮想配線長と、単位長さ
当たりの配線容量から、前記対象ネットの配線容量を見
積もる、仮想配線容量見積り手段をさらに備えている。A virtual wiring length estimation device according to a twelfth aspect of the present invention estimates a wiring capacitance of the target net from the calculated virtual wiring length and a wiring capacitance per unit length. Means are further provided.
【0022】本発明に係る請求項13記載の仮想配線長
見積り装置は、算出された前記仮想配線長と、仮想配線
の単位長さ当たりの遅延時間から、前記対象ネットの遅
延時間を見積もる、仮想配線遅延時間見積り手段をさら
に備えている。A virtual wiring length estimating device according to a thirteenth aspect of the present invention estimates a delay time of the target net from the calculated virtual wiring length and a delay time per unit length of the virtual wiring. A wiring delay time estimation means is further provided.
【0023】[0023]
<実施の形態1>図1に本発明に係る仮想配線長見積り
装置の実施の形態1として、仮想配線長見積り装置10
0の構成を示す。図1において、1は半導体集積回路上
におけるマクロセルおよびネットを配置配線すべき領
域、すなわち配置領域の位置、および配置領域のサイズ
情報を記憶する配置領域記憶装置、2はマクロセルおよ
びネットの各々の接続関係の情報を記憶する接続情報記
憶装置、3は仮想配線長を見積り対象となるネットを選
択する見積り対象ネット選択手段である。<Embodiment 1> FIG. 1 shows a virtual wiring length estimation device 10 as a first embodiment of a virtual wiring length estimation device according to the present invention.
The structure of 0 is shown. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an area in which a macro cell and a net are to be placed and wired on a semiconductor integrated circuit, that is, a placement area storage device for storing the position of the placement area and size information of the placement area, and 2 is a connection of each macro cell and net. A connection information storage device 3 for storing information on relations is an estimation target net selecting means for selecting a net for which a virtual wiring length is estimated.
【0024】配置領域記憶装置1には見積り対象のネッ
トが属する配置領域の周辺長に関する情報を読み出す配
置領域周辺長読出し手段5が接続され、接続情報記憶装
置2には見積り対象のネットのファンアウト数に関する
情報を読み出すファンアウト数読出し手段6、見積り対
象のネットに接続されるマクロセル(以後対象マクロセ
ルと呼称)のピン数に関する情報を読み出すとともに、
対象マクロセルの隣接配置の難易を判定する、対象マク
ロセルのピン数読出し・判定手段7、対象マクロセルの
うち、いずれかのマクロセルに接続されるネット数に関
する情報を読み出すとともに、対象マクロセルの隣接配
置の難易を判定する、対象マクロセルのネット数読出し
・判定手段8が接続されている。A placement area peripheral length reading means 5 for reading out information about the perimeter of the placement area to which the net to be estimated belongs is connected to the placement area storage device 1, and the connection information storage device 2 has a fanout of the net to be estimated. The fan-out number reading means 6 for reading the information on the number, and the information on the number of pins of the macro cell (hereinafter referred to as the target macro cell) connected to the estimation target net are read.
Pin number read / determination means 7 of the target macro cell for determining the difficulty of adjacent placement of the target macro cell, and information about the number of nets connected to any one of the target macro cells, and the difficulty of adjacent placement of the target macro cell The net number reading / judging means 8 of the target macro cell for judging is connected.
【0025】そして、配置領域周辺長読出し手段5、フ
ァンアウト数読出し手段6、対象マクロセルのピン数読
出し・判定手段7、対象マクロセルのネット数読出し・
判定手段8は、それぞれが読出した情報を記憶する読出
し情報記憶手段4に接続され、読出し情報記憶手段4
は、読出し情報記憶手段4が記憶する読出し情報を基に
仮想配線長を見積もる仮想配線長算出手段11に接続さ
れている。また、仮想配線長算出手段11は見積もった
結果を出力する出力装置12に接続されている。ここ
で、マクロセルのピンとは、マクロセル上に設けられた
ネットの接続可能点のことである。Then, the placement area peripheral length reading means 5, the fan-out number reading means 6, the pin number reading / determining means 7 of the target macro cell, the net number reading of the target macro cell,
The determination means 8 is connected to the read information storage means 4 for storing the read information, and the read information storage means 4 is connected.
Is connected to the virtual wiring length calculation means 11 for estimating the virtual wiring length based on the read information stored in the read information storage means 4. Further, the virtual wiring length calculation means 11 is connected to the output device 12 which outputs the estimated result. Here, a pin of a macro cell is a connectable point of a net provided on the macro cell.
【0026】次に、仮想配線長見積り装置100の動作
について説明する。仮想配線長見積り装置100は対象
マクロセルのピン数、またはネット数の情報を基に仮想
配線長の見積り方式を変更することを特徴としている。Next, the operation of the virtual wiring length estimation device 100 will be described. The virtual wiring length estimation device 100 is characterized in that the virtual wiring length estimation method is changed based on the information on the number of pins or the number of nets of the target macro cell.
【0027】図2に仮想配線長見積り装置100の動作
を説明するフローチャートを示す。図2において、ま
ず、装置ユーザーが見積り対象のネットを選択する(ス
テップST1)。次に、配置領域記憶装置1から配置領
域の周辺長に関する情報を読み出す(ステップST
2)。FIG. 2 shows a flowchart for explaining the operation of the virtual wiring length estimation device 100. In FIG. 2, first, the device user selects a net to be estimated (step ST1). Next, information about the peripheral length of the placement area is read from the placement area storage device 1 (step ST
2).
【0028】次に、接続情報記憶装置2からファンアウ
ト数に関する情報を読み出し(ステップST3)、さら
にピン数に関する情報またはネット数に関する情報を読
み出す(ステップST4)。Next, information regarding the fan-out number is read from the connection information storage device 2 (step ST3), and further information regarding the pin number or the net number is read (step ST4).
【0029】次に、ピン数に関する情報またはネット数
に関する情報に基づいて、対象マクロセルの隣接配置の
可能性を算出する(ステップST5)。Next, the possibility of adjacent placement of the target macro cell is calculated based on the information about the number of pins or the information about the number of nets (step ST5).
【0030】ここで、対象マクロセルの隣接配置の可能
性の算出方法について説明する。対象マクロセルをマク
ロセルA、Bと呼称し、マクロセルAの左右方向のいず
れかに、マクロセルBを配置可能とする可能性値P
Aは、マクロセルAとネット1本で接続されるマクロセ
ルの個数をMAとすれば以下の式(2)、(3)により
表される。Here, a method of calculating the possibility of adjacent placement of the target macro cell will be described. The target macrocells are referred to as macrocells A and B, and the probability value P that enables the macrocell B to be arranged in either the left or right direction of the macrocell A.
A is expressed by the following equations (2) and (3), where MA is the number of macro cells connected to the macro cell A by one net.
【0031】[0031]
【数2】 (Equation 2)
【0032】[0032]
【数3】 (Equation 3)
【0033】同様に、マクロセルBの左右方向のいずれ
かに、マクロセルAを配置可能とする可能性値PBは、
マクロセルBとネット1本で接続されるマクロセルの個
数をMBとすれば以下の式(4)、(5)により表され
る。Similarly, the probability value P B that enables the macro cell A to be arranged in either the left or right direction of the macro cell B is
If the number of macro cells connected to the macro cell B by one net is MB, it is expressed by the following equations (4) and (5).
【0034】[0034]
【数4】 (Equation 4)
【0035】[0035]
【数5】 (Equation 5)
【0036】なお、上記数式において“C”はコンビネ
ーションを表す。In the above equation, "C" represents a combination.
【0037】マクロセルA、Bの隣接配置の可能性は上
記PA、PBの大小によって決定され、PA、PBが共に1
であるような場合にはマクロセルA、Bは隣接配置され
る可能性が高いことになる。そして、PA、PBの値は、
マクロセルAとネット1本で接続されるマクロセルの個
数MAおよびマクロセルBとネット1本で接続されるマ
クロセルの個数MBによって決まる。The macrocells A, the possibility of adjacent arrangement of B is determined by the magnitude of the P A, P B, P A, P B are both 1
In such a case, the macro cells A and B are likely to be arranged adjacent to each other. The values of P A and P B are
It is determined by the number MA of macro cells connected to the macro cell A by one net and the number MB of macro cells connected by the macro cell B by one net.
【0038】ここで、MAおよびMBは、マクロセル
A、Bに接続されるネットの本数、およびマクロセル
A、Bが有するピン数に対して単調増加する関係にあ
り、マクロセルA、Bに接続されるネットの本数、また
はマクロセルA、Bが有するピン数に基づいて得られ
る。従って、マクロセルA、Bが隣接配置される可能性
はマクロセルA、Bに接続されるネットの本数、または
マクロセルA、Bが有するピン数に基づいて決定される
といえる。Here, MA and MB have a relationship of monotonically increasing with respect to the number of nets connected to the macro cells A and B and the number of pins of the macro cells A and B, and are connected to the macro cells A and B. It is obtained based on the number of nets or the number of pins of the macro cells A and B. Therefore, it can be said that the possibility that the macro cells A and B are adjacently arranged is determined based on the number of nets connected to the macro cells A and B or the number of pins of the macro cells A and B.
【0039】なお、以上の説明においては対象マクロセ
ルが隣接配置される可能性を対象マクロセルに接続され
るネットの本数、または対象マクロセルが有するピン数
に基づいて得るとしたが、ネット数を基にする場合とピ
ン数を基にする場合との差異を図3を用いて説明する。In the above description, the possibility that the target macro cells are adjacently arranged is obtained based on the number of nets connected to the target macro cell or the number of pins of the target macro cell, but based on the number of nets. The difference between the case of performing and the case of using the number of pins will be described with reference to FIG.
【0040】図3において、見積り対象のネットN1に
はマクロセルA、Bが接続されている。マクロセルAは
3個のピンPNを有し、マクロセルBは4個のピンを有
している。従って、見積り対象のネットN1以外のネッ
トN2が接続される可能性のあるピン数は5個である
が、見積り対象のネットN1以外に接続されるネットN
2の数は4本であり、ピン数とネット数に差異が生じて
いる。In FIG. 3, macro cells A and B are connected to the net N1 to be estimated. Macrocell A has three pins PN and macrocell B has four pins. Therefore, although the number of pins to which the net N2 other than the estimation target net N1 may be connected is 5, the net N2 other than the estimation target net N1 may be connected.
The number of 2 is 4, and there is a difference in the number of pins and the number of nets.
【0041】ネット数を基にマクロセルA、Bが隣接配
置される可能性を算出する方が実態に即しているが、処
理としてはピン数を基にマクロセルA、Bが隣接配置さ
れる可能性を算出する方が容易であり、マクロセルの種
類毎のピン数を予めライブラリとして準備することによ
り実行速度も速くなる。従って、ネット数を基にする
か、ピン数を基にするかについてはユーザーの判断に任
せることになる。It is more practical to calculate the possibility that the macro cells A and B will be arranged adjacent to each other based on the number of nets. However, as a process, the macro cells A and B can be arranged adjacent to each other based on the number of pins. It is easier to calculate the property, and the execution speed becomes faster by preparing the number of pins for each type of macro cell as a library in advance. Therefore, it is up to the user to decide whether it is based on the number of nets or the number of pins.
【0042】次にステップST6では、ステップST5
で算出した対象マクロセルの隣接配置の可能性の数値P
A、PBに基づいて、対象マクロセルが隣接配置困難であ
るか否かを判断する。判断基準の一例としては、式
(2)〜(5)で得られるPA、PBが共に1であるか、
1より小さいかを基準とする例が挙げられる。当然なが
ら、この基準値は半導体集積回路の構成に応じて任意に
設定することができる。Next, in step ST6, step ST5
Numerical value P of the possibility of adjacent placement of the target macro cell calculated in
Based on A and P B , it is determined whether the target macro cell is difficult to be adjacently arranged. As an example of the criterion, whether P A and P B obtained by the equations (2) to (5) are both 1
An example is based on whether it is smaller than 1. Of course, this reference value can be set arbitrarily according to the configuration of the semiconductor integrated circuit.
【0043】ステップST6において対象マクロセルが
隣接配置困難であると判断された場合は、ステップST
7において、隣接配置困難なマクロセル間のネットの仮
想配線長についての見積り方式を実行する。When it is determined in step ST6 that the target macro cells are difficult to be arranged adjacent to each other, step ST
In 7, the estimation method for the virtual wiring length of the net between the macro cells in which adjacent placement is difficult is executed.
【0044】一方、ステップST6において対象マクロ
セルが隣接配置困難でないと判断された場合は、ステッ
プST8において、隣接配置容易なマクロセル間のネッ
トの仮想配線長についての見積り方式を実行する。そし
て、ステップST9において見積り結果を出力する。On the other hand, if it is determined in step ST6 that the target macro cell is not difficult to be adjacently arranged, then in step ST8, an estimation method for the virtual wiring length of the net between macro cells that is easily arranged adjacently is executed. Then, in step ST9, the estimation result is output.
【0045】ここで、隣接配置困難なマクロセル間のネ
ットの仮想配線長についての見積り方式および隣接配置
容易なマクロセル間のネットの仮想配線長についての見
積り方式について説明する。Here, a method for estimating the virtual wiring length of a net between macro cells whose adjacent placement is difficult and a method for estimating the virtual wiring length of a net between macro cells whose adjacent placement is easy will be described.
【0046】図4に、仮想配線長見積り装置100を用
いて仮想配線長見積りを行う場合の対象となる半導体集
積回路の構成の一例を示す。図4において、仮想配線長
見積り対象のネットはT1aおよびT2aであり、ネッ
トT1aにはマクロセルI1aおよびI2aが接続さ
れ、ネットT2aにはマクロセルI3aおよびI4aが
接続されている。FIG. 4 shows an example of the configuration of a semiconductor integrated circuit which is a target when the virtual wiring length estimating device 100 is used to estimate the virtual wiring length. In FIG. 4, the nets for which the virtual wiring length is estimated are T1a and T2a, the macro cells I1a and I2a are connected to the net T1a, and the macro cells I3a and I4a are connected to the net T2a.
【0047】マクロセルI1aにはネットS1aを介し
てマクロセルI5aが接続され、マクロセルI2aには
ネットS2aを介してマクロセルI6aが接続されてい
る。また、マクロセルI3aにはネットS3a〜S7a
の各々を介してマクロセルI7a〜I11aが接続さ
れ、マクロセルI4aにはネットS8a〜S11aの各
々を介してマクロセルI12a〜I15aが接続されて
いる。なお、ネットS1a〜S11aは仮想配線長見積
り対象以外のネットである。The macrocell I1a is connected to the macrocell I5a via the net S1a, and the macrocell I2a is connected to the macrocell I6a via the net S2a. Further, the macro cells I3a include nets S3a to S7a.
, And the macrocells I7a to I11a are connected to each other, and the macrocell I4a is connected to the macrocells I12a to I15a via each of the nets S8a to S11a. The nets S1a to S11a are nets other than the virtual wiring length estimation target.
【0048】図4に示す半導体集積回路においては、対
象マクロセルであるマクロセルI1aおよびI2aに接
続されるネット数は2本であり、対象マクロセルである
マクロセルI3aおよびI4aに接続されるネット数は
9本である。従って、ネット数を基に対象マクロセルが
隣接配置される可能性を判定すると、ネットT1aは隣
接配置容易なマクロセル間のネットとなり、ネットT2
aは隣接配置が困難なマクロセル間のネットとなる。In the semiconductor integrated circuit shown in FIG. 4, the number of nets connected to the target macrocells I1a and I2a is two, and the number of nets connected to the target macrocells I3a and I4a is nine. Is. Therefore, if it is determined that the target macrocells are arranged adjacent to each other based on the number of nets, the net T1a becomes a net between macrocells that can be easily arranged, and the net T2
a is a net between macro cells that are difficult to arrange adjacent to each other.
【0049】ネットT1aおよびT2aが同一配置領域
に属しており、配置領域の周辺長がLであるとし、ネッ
トT1およびT2のファンアウト数が共にFであるとす
れば、隣接配置容易なマクロセル間のネット(すなわち
ネットT1a)の仮想配線長R1についての見積りは下
記の式(6)で、隣接配置困難なマクロセル間のネット
(すなわちネットT2a)の仮想配線長R2についての
見積りは下記の式(7)で計算することができる。Assuming that the nets T1a and T2a belong to the same placement area, the peripheral length of the placement area is L, and the fan-out numbers of the nets T1 and T2 are both F, between macro cells that are easily placed adjacent to each other. The virtual wiring length R1 of the net (that is, the net T1a) is estimated by the following formula (6), and the virtual wiring length R2 of the net (that is, the net T2a) between the macro cells in which adjacent placement is difficult is estimated by the following formula (6). It can be calculated in 7).
【0050】[0050]
【数6】 (Equation 6)
【0051】[0051]
【数7】 (Equation 7)
【0052】ここでC1〜C4は、半導体集積回路設計
時のデザインルールにより決定される係数であり、L、
RI、R2およびC2、C4の単位は長さであり、C
1、C3およびFは無単位である。なお、隣接配置容易
なマクロセル間のネットの配線長は、隣接配置困難なマ
クロセル間のネットの配線長と比較して短くなるので、
R1<R2となるようにC1〜C4の値が決定されてい
る。Here, C1 to C4 are coefficients determined by a design rule when designing a semiconductor integrated circuit, and L,
The units of RI, R2 and C2, C4 are length, C
1, C3 and F are unitless. Since the wiring length of the net between the macro cells that are easily arranged adjacent to each other is shorter than the wiring length of the net between the macro cells that are difficult to arrange adjacently,
The values of C1 to C4 are determined so that R1 <R2.
【0053】図5に、図4に示す半導体集積回路内の総
配線長が最小となるように配置配線された配置配線図の
一例を示す。なお、図5に示すネットT1b、T2b、
S1b〜S11b、マクロセルI1b〜I15bは、図
4に示したネットT1a、T2a、S1a〜S11a、
マクロセルI1a〜I15aと同一の構成であり、便宜
的に符号を変えただけのものである。FIG. 5 shows an example of a layout wiring diagram in which the layout and wiring are performed so that the total wiring length in the semiconductor integrated circuit shown in FIG. 4 is minimized. The nets T1b, T2b shown in FIG.
S1b to S11b and macro cells I1b to I15b are the nets T1a, T2a, S1a to S11a,
It has the same configuration as the macro cells I1a to I15a, and is different only in the reference numerals for convenience.
【0054】図5に示すように、半導体集積回路の一般
的構成は、複数のマクロセルが左右方向に連なって形成
された複数のマクロセル段を有し、マクロセル段は平行
に配置され、各マクロセル段の間には配線のための配線
段が設けられている。As shown in FIG. 5, the general structure of the semiconductor integrated circuit has a plurality of macrocell stages in which a plurality of macrocells are formed in a row in the left-right direction, and the macrocell stages are arranged in parallel. A wiring step for wiring is provided between them.
【0055】図5においては、対象マクロセルであるマ
クロセルI1bおよびI2bはマクロセル段MS1内に
おいて隣接配置され、見積り対象ネットであるネットT
1bの配線長は、最短の2μmとなっている。In FIG. 5, the macro cells I1b and I2b, which are the target macro cells, are arranged adjacent to each other in the macro cell stage MS1 and the net T which is the target net for estimation.
The wiring length of 1b is the shortest, 2 μm.
【0056】もう一方の対象マクロセルであるマクロセ
ルI3bおよびI4bは、それぞれマクロセル段MS2
およびMS3内に配置され、見積り対象ネットであるネ
ットT2bの配線長は7μmとなっている。The other target macro cells, macro cells I3b and I4b, are respectively in macro cell stage MS2.
Also, the wiring length of the net T2b which is arranged in the MS3 and is the estimation target net is 7 μm.
【0057】本発明に係る仮想配線長見積り装置の実施
の形態1によれば、隣接配置容易なマクロセル間のネッ
トの実配線長と、隣接配置困難なマクロセル間のネット
の実配線長との差異を考慮し、隣接配置容易なマクロセ
ル間のネットと隣接配置困難なマクロセル間のネット
で、仮想配線長の見積り方式を変更することで、それぞ
れに対応した仮想配線長を見積もることができ、高精度
な仮想配線長の見積りを行うことが可能となる。According to the first embodiment of the virtual wiring length estimating apparatus of the present invention, the difference between the actual wiring length of the net between the macro cells which can be easily arranged adjacently and the actual wiring length of the net between the macro cells which are difficult to be adjacently arranged. In consideration of the above, by changing the virtual wiring length estimation method for the nets between macro cells where adjacent placement is easy and for the nets between macro cells where adjacent placement is difficult, it is possible to estimate the virtual wiring length corresponding to each of them. It is possible to estimate various virtual wiring lengths.
【0058】また、対象マクロセルに接続されるネット
の本数、または対象マクロセルが有するピン数を個々の
対象マクロセルごとに読出して見積り方式を決定するの
で、ネットの種類を隣接配置容易なマクロセル間のネッ
ト、隣接配置困難なマクロセル間のネットの2種類だけ
でなく、隣接配置容易なマクロセルと隣接配置困難なマ
クロセルとの間のネットを含む3種類に区別できるの
で、きめの細かい見積りを行うことができる。Further, the number of nets connected to the target macro cell or the number of pins of the target macro cell is read out for each individual target macro cell to determine the estimation method. Since it is possible to distinguish not only two types of nets between macro cells that are difficult to place adjacently but also three types of nets that are between macro cells that are easy to place adjacently and macro cells that are difficult to place adjacently, a detailed estimate can be made. .
【0059】なお、上記実施の形態1では対象マクロセ
ルに接続されるネットの本数、または対象マクロセルが
有するピン数を個々の対象マクロセルごとに読出して見
積り方式を決定する例を示したが、1の見積り対象ネッ
トに接続される全ての対象マクロセルに接続されるネッ
トの総数、または、1の見積り対象ネットに接続される
全ての対象マクロセルが有するピンの総数に基づいて見
積り方式を決定しても良い。このような方式を採ること
で見積りにかかる時間を削減することができる。In the first embodiment, an example in which the estimation method is determined by reading the number of nets connected to the target macro cell or the number of pins of the target macro cell for each target macro cell has been described. The estimation method may be determined based on the total number of nets connected to all target macrocells connected to the estimation target net or the total number of pins of all target macrocells connected to one estimation target net. . By adopting such a method, the time required for estimation can be reduced.
【0060】また、図5においては一例として複数のマ
クロセルが左右方向に連なって形成された半導体集積回
路について示したが、マクロセルが左右方向に隣接する
だけでなく、上下方向にも隣接する構成の半導体集積回
路も存在する。このような半導体集積回路においては、
対象マクロセルが隣接配置される可能性は高くなるが、
上下方向に隣接するマクロセル間の配線距離は、マクロ
セルの形状などを反映して左右方向に隣接するマクロセ
ル間の配線距離に比べて長くなる。従って、隣接配置容
易なマクロセル間のネットであっても、左右方向に隣接
配置する場合と、上下方向に隣接配置する場合とで仮想
配線長の見積り方式を変更する。Further, although FIG. 5 shows, as an example, a semiconductor integrated circuit in which a plurality of macro cells are formed in a row in the left-right direction, the macro cells are not only adjacent in the left-right direction but also in the up-down direction. There are also semiconductor integrated circuits. In such a semiconductor integrated circuit,
It is more likely that the target macrocells will be placed next to each other,
The wiring distance between vertically adjacent macro cells is longer than the wiring distance between horizontally adjacent macro cells, reflecting the shape of the macro cells and the like. Therefore, even for a net between macro cells that can be easily arranged adjacent to each other, the method of estimating the virtual wiring length is changed depending on whether the nets are arranged adjacent to each other in the horizontal direction or adjacent to each other in the vertical direction.
【0061】<実施の形態1の変形例1>以上説明した
実施の形態1においては、隣接配置容易なマクロセル間
のネットであるか、隣接配置が困難なマクロセル間のネ
ットであるかによって、見積り式の係数を変更すること
で、それぞれに対応した仮想配線長を見積もる例を示し
たが、図6に示す係数テーブルを用いても同様の効果が
得られる。<Modification 1 of First Embodiment> In the first embodiment described above, the estimation is performed depending on whether the net is between macro cells in which adjacent placement is easy or a net between macro cells in which adjacent placement is difficult. Although an example of estimating the virtual wiring length corresponding to each by changing the coefficient of the formula has been shown, the same effect can be obtained by using the coefficient table shown in FIG.
【0062】例えば、配置可能領域の周辺長をLとした
場合、隣接配置容易なマクロセル間のネットの仮想配線
長R1および、隣接配置困難なマクロセル間のネットの
仮想配線長R2についての見積りは下記の式(8)で計
算することができる。For example, when the peripheral length of the allocable area is L, the virtual wiring length R1 of the net between the macro cells that are easily arranged adjacent to each other and the virtual wiring length R2 of the net between the macro cells that are difficult to be arranged adjacent to each other are estimated as follows. It can be calculated by the equation (8).
【0063】[0063]
【数8】 (Equation 8)
【0064】ここで、ファンアウト数が1である場合、
C1=0.01、C2=0.03を、式(8)に代入す
ることで仮想配線長R1を見積ることができ、C1=
0.05、C2=0.12を式(8)に代入することで
仮想配線長R2を見積ることができる。Here, when the fan-out number is 1,
The virtual wiring length R1 can be estimated by substituting C1 = 0.01 and C2 = 0.03 into the equation (8), and C1 =
The virtual wiring length R2 can be estimated by substituting 0.05 and C2 = 0.12 into the equation (8).
【0065】係数テーブルは、過去に同種の設計ルール
(最小配線幅、配線用のアルミ層の数などが同一)で設
計された半導体集積回路群の配線長データから、統計的
処理によって求められたものであり、設計ルールごとに
テーブルは異なっている。The coefficient table was obtained by statistical processing from the wiring length data of the semiconductor integrated circuit group designed in the past with the same design rule (the minimum wiring width, the number of aluminum layers for wiring, etc.). The table is different for each design rule.
【0066】このような係数テーブルを用いることの利
点は、見積り式が簡単化され、見積りにかかる時間を削
減できることにある。すなわち、実施の形態1において
示した見積り式(6)および(7)は、実際にはもっと
複雑な構成となっており、それらの見積り式に合った係
数C1〜C4の決定には複雑な過程を必要とする。一
方、過去のデータから求めた係数テーブルを利用すれ
ば、見積り式も簡単なもので済み、統計的処理だけで係
数を決定することができる。The advantage of using such a coefficient table is that the estimation formula is simplified and the time required for estimation can be reduced. That is, the estimation formulas (6) and (7) shown in the first embodiment actually have a more complicated structure, and a complicated process is required to determine the coefficients C1 to C4 that match these estimation formulas. Need. On the other hand, if a coefficient table obtained from past data is used, the estimation formula can be simple and the coefficient can be determined only by statistical processing.
【0067】<実施の形態1の変形例2>実施の形態1
においては、隣接配置容易なマクロセル間のネットであ
るか、隣接配置が困難なマクロセル間のネットであるか
によって、係数を変更しただけの見積り式を用いること
で、それぞれに対応した仮想配線長を見積もる例を示し
たが、全く異なる構成の見積り式を用いてそれぞれに対
応した仮想配線長を見積もっても良い。一例として下記
の式(9)、(10)を示す。<Modification 2 of Embodiment 1> Embodiment 1
, The virtual wiring length corresponding to each is determined by using the estimation formula with only the coefficient changed, depending on whether it is a net between macro cells where adjacent placement is easy or a net between macro cells where adjacent placement is difficult. Although an example of estimation is shown, the virtual wiring length corresponding to each may be estimated by using estimation formulas having completely different configurations. The following formulas (9) and (10) are shown as an example.
【0068】[0068]
【数9】 (Equation 9)
【0069】[0069]
【数10】 (Equation 10)
【0070】式(10)においては、配置領域の周辺長
Lが仮想配線長に及ぼす効果が、他のパラメータによる
効果よりも大きいことを表しているが、設計ルールによ
ってはファンアウト数Fが仮想配線長に及ぼす効果が大
きくなる場合もある。In equation (10), the effect that the peripheral length L of the placement area has on the virtual wiring length is larger than the effect of other parameters. However, depending on the design rule, the fanout number F is virtual. In some cases, the effect on the wiring length becomes large.
【0071】<実施の形態1の変形例3>実施の形態1
においては、仮想配線長の見積り式にはネットのファン
アウト数Fおよび配置領域の周辺長Lを反映させてい
た。これは、見積りに使用するパラメータが多くなるほ
ど見積り精度を高めることができるという観点に立脚す
るものであるが、パラメータが多くなるほど見積りにか
かる時間が長くなるという問題もある。そこで、見積り
時間を短縮するためにはどちらか一方のみをパラメータ
としても良い。<Modification 3 of Embodiment 1> Embodiment 1
In (1), the fanout number F of the net and the peripheral length L of the arrangement region are reflected in the equation for estimating the virtual wiring length. This is based on the viewpoint that the estimation accuracy can be improved as the number of parameters used for estimation increases, but there is also a problem that the estimation time increases as the number of parameters increases. Therefore, only one of them may be used as a parameter in order to reduce the estimation time.
【0072】一例としてネットのファンアウト数のみを
パラメータとした式(11)、(12)を下記に示す。As an example, equations (11) and (12) using only the fan-out number of the net as a parameter are shown below.
【0073】[0073]
【数11】 [Equation 11]
【0074】[0074]
【数12】 (Equation 12)
【0075】<実施の形態2>図7に本発明に係る仮想
配線長見積り装置の実施の形態2として、仮想配線長見
積り装置200の構成を示す。図7において、接続情報
記憶装置2には見積り対象のネットのファンアウト数に
関する情報を読み出すファンアウト数読出し手段6と、
対象マクロセルどうしを接続するネット数に関する情報
を読み出すとともに、対象マクロセルの隣接配置の難易
を判定する、対象マクロセルどうしを接続するネット数
の読出し・判定手段9が接続されている。そして、ファ
ンアウト数読出し手段6、対象マクロセルどうしを接続
するネット数の読出し・判定手段9はそれぞれが読出し
た情報を記憶する読出し情報記憶手段4に接続されてい
る。その他、図1を用いて説明した仮想配線長見積り装
置100と同一の構成については同一の符号を付し、重
複する説明は省略する。<Embodiment 2> FIG. 7 shows the configuration of a virtual wiring length estimation apparatus 200 as Embodiment 2 of the virtual wiring length estimation apparatus according to the present invention. In FIG. 7, the connection information storage device 2 includes a fan-out number reading means 6 for reading information on the fan-out number of the net to be estimated,
The read / determination means 9 for the number of nets connecting the target macrocells is connected, which reads out information about the number of nets connecting the target macrocells and determines the difficulty of the adjacent arrangement of the target macrocells. The fan-out number reading means 6 and the net number reading / determining means 9 for connecting the target macro cells are connected to the read information storage means 4 for storing the read information. In addition, the same components as those of the virtual wiring length estimation device 100 described with reference to FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and the duplicate description will be omitted.
【0076】次に、仮想配線長見積り装置200の動作
について説明する。仮想配線長見積り装置200は対象
マクロセルどうしを接続するネット数の情報を基に仮想
配線長の見積り方式を変更することを特徴としている。Next, the operation of the virtual wiring length estimation device 200 will be described. The virtual wiring length estimation device 200 is characterized in that the virtual wiring length estimation method is changed based on the information on the number of nets connecting the target macro cells.
【0077】図8に仮想配線長見積り装置200の動作
を説明するフローチャートを示す。図8において、ま
ず、装置ユーザーが見積り対象のネットを選択する(ス
テップST11)。次に、配置領域記憶装置1から配置
領域の周辺長に関する情報を読み出す(ステップST1
2)。FIG. 8 shows a flowchart for explaining the operation of the virtual wiring length estimation device 200. In FIG. 8, first, the device user selects a net to be estimated (step ST11). Next, information about the peripheral length of the placement area is read from the placement area storage device 1 (step ST1).
2).
【0078】次に、接続情報記憶装置2からファンアウ
ト数に関する情報を読み出し(ステップST13)、対
象マクロセルどうしを接続するネット数の情報を読み出
す(ステップST14)。Next, information about the fan-out number is read from the connection information storage device 2 (step ST13), and information about the number of nets connecting the target macro cells is read (step ST14).
【0079】次に、対象マクロセルどうしを接続するネ
ット数に関する情報に基づいて、対象マクロセルの隣接
配置が困難であるか否かを判断する(ステップS1
5)。判断基準の一例としては、見積り対象のネット以
外に対象マクロセルどうしを接続するネットが1本でも
存在するか否かを基準とする例が挙げられる。なお、こ
の基準値は半導体集積回路の構成に応じて任意に設定す
ることができることは言うまでもない。Next, it is judged whether or not it is difficult to arrange the target macro cells adjacent to each other based on the information about the number of nets connecting the target macro cells (step S1).
5). As an example of the determination criteria, there is an example based on whether or not there is at least one net that connects target macrocells other than the estimation target net. Needless to say, this reference value can be set arbitrarily according to the configuration of the semiconductor integrated circuit.
【0080】以下、このような判断基準を採る理由につ
いて説明する。一般的に、配置配線時は配置配線結果の
総面積を小さくすることと、全信号線の遅延時間を半導
体集積回路の動作周波数により決定される値以下に抑え
ることに留意して実行される。しかしながら、マクロセ
ルの種類や個数は配置配線時には既に決定しているの
で、上記条件には、半導体集積回路内の総配線長を短く
することで対処することになる。すなわち、総配線長を
短くすることにより配線が占める面積を小さくして配置
配線結果の総面積を小さくするとともに、配線を通過す
る信号の遅延時間を短くすることが可能となる。従っ
て、半導体集積回路内の総配線長を短くするように配置
配線を実行することが一般的であり、そのためには、1
本のネットのみ(すなわち対象ネットのみ)により接続
されたマクロセルを隣接配置するよりは、複数のネット
により接続されたマクロセルを優先して隣接配置するこ
とになる。The reason why such a criterion is adopted will be described below. In general, at the time of placement and routing, the total area of the placement and routing result is reduced, and the delay time of all the signal lines is kept at a value equal to or less than the value determined by the operating frequency of the semiconductor integrated circuit. However, since the type and number of macro cells are already determined at the time of placement and routing, the above condition can be dealt with by shortening the total wiring length in the semiconductor integrated circuit. That is, by shortening the total wiring length, it is possible to reduce the area occupied by the wirings, reduce the total area of the placement and wiring results, and shorten the delay time of the signal passing through the wirings. Therefore, it is common to execute the placement and routing so as to shorten the total wiring length in the semiconductor integrated circuit.
The macro cells connected by a plurality of nets are preferentially arranged adjacently rather than the macro cells connected by only the nets of the book (that is, only the target net) are arranged adjacently.
【0081】従って、ステップST15において、複数
のネットにより接続された対象マクロセルは隣接配置が
容易と判断され、対象ネットのみにより接続された対象
マクロセルは隣接配置が困難と判断されることになる。Therefore, in step ST15, it is determined that the target macrocells connected by a plurality of nets are easy to be adjacently arranged, and it is determined that the target macrocells connected only by the target net are difficult to be adjacently arranged.
【0082】ステップST15において対象マクロセル
が隣接配置困難であると判断された場合は、ステップS
T16において、隣接配置困難なマクロセル間のネット
の仮想配線長についての見積り方式を実行する。If it is determined in step ST15 that the target macro cells are difficult to be arranged adjacent to each other, step S
At T16, the estimation method for the virtual wiring length of the net between the macro cells in which adjacent placement is difficult is executed.
【0083】一方、ステップST15において対象マク
ロセルが隣接配置困難でないと判断された場合は、ステ
ップST17において、隣接配置容易なマクロセル間の
ネットの仮想配線長についての見積り方式を実行する。
そして、ステップST18において見積り結果を出力す
る。On the other hand, when it is determined in step ST15 that the target macro cell is not difficult to be adjacently arranged, in step ST17, the estimation method for the virtual wiring length of the net between macro cells that is easily arranged adjacently is executed.
Then, in step ST18, the estimation result is output.
【0084】なお、隣接配置困難なマクロセル間のネッ
トの仮想配線長についての見積り方式および隣接配置容
易なマクロセル間のネットの仮想配線長についての見積
り方式は、実施の形態1において説明した式(6)〜
(12)を用いる。The method of estimating the virtual wiring length of the net between the macro cells whose adjacent placement is difficult and the method of estimating the virtual wiring length of the net between the macro cells whose adjacent placement is easy are performed using the equation (6) described in the first embodiment. ) ~
(12) is used.
【0085】図9に、仮想配線長見積り装置200を用
いて仮想配線長見積りを行う場合の対象となる半導体集
積回路の構成の一例を示す。図9において、仮想配線長
見積り対象のネットはT3aおよびT4aであり、ネッ
トT3aにはマクロセルI20aおよびI21aが接続
され、ネットT4aにはマクロセルI22aおよびI2
3aが接続されている。FIG. 9 shows an example of the configuration of a semiconductor integrated circuit which is a target when the virtual wiring length estimating device 200 is used to estimate the virtual wiring length. In FIG. 9, nets whose virtual wiring length is to be estimated are T3a and T4a, macro cells I20a and I21a are connected to the net T3a, and macro cells I22a and I2 are connected to the net T4a.
3a is connected.
【0086】マクロセルI20aにはネットS12aお
よびS13aを介してマクロセルI24aおよびI25
aが各々接続され、マクロセルI21aにはネットS1
4aおよびS15aを介してマクロセルI26aおよび
I27aが各々接続されている。そして、マクロセルI
20aおよびI21aはネットS16aによって互いに
接続されている。The macro cells I24a and I25 are connected to the macro cell I20a via the nets S12a and S13a.
a are connected to each other, and the net S1 is connected to the macrocell I21a.
Macro cells I26a and I27a are connected via 4a and S15a, respectively. And macrocell I
20a and I21a are connected to each other by a net S16a.
【0087】また、マクロセルI22aにはネットS1
7aおよびS18aを介してマクロセルI28aおよび
I29aが接続され、マクロセルI23aにはネットS
19a〜S21aの各々を介してマクロセルI30a〜
I32aが接続されている。なお、ネットS12a〜S
21aは仮想配線長見積り対象以外のネットである。The macro cell I22a has a net S1.
Macro cells I28a and I29a are connected via 7a and S18a, and net S is connected to macro cell I23a.
19a to S21a through the macro cell I30a to
I32a is connected. The nets S12a to S12
Reference numeral 21a is a net other than the virtual wiring length estimation target.
【0088】図9に示す半導体集積回路においては、対
象マクロセルであるマクロセルI20aおよびI21a
は、見積り対象のネットであるネットT3aの他に、ネ
ットS16aによっても接続されている。一方、対象マ
クロセルであるマクロセルI22aおよびI23aは、
見積り対象のネットであるネットT4aのみによって接
続されている。従って、対象マクロセルどうしを接続す
るネット数を基に対象マクロセルが隣接配置される可能
性を判定すると、ネットT3aは隣接配置容易なマクロ
セル間のネットとなり、ネットT4aは隣接配置が困難
なマクロセル間のネットとなる。In the semiconductor integrated circuit shown in FIG. 9, macro cells I20a and I21a which are the target macro cells.
Are connected by the net S16a in addition to the net T3a which is the net to be estimated. On the other hand, the macro cells I22a and I23a, which are the target macro cells,
Only the net T4a, which is the estimated net, is connected. Therefore, when the possibility that the target macro cells are adjacently arranged is determined based on the number of nets that connect the target macro cells, the net T3a is a net between macro cells that are easily arranged adjacent to each other, and the net T4a is a net between macro cells that are difficult to be adjacent arranged. It becomes the net.
【0089】ここで、隣接配置容易なマクロセル間のネ
ットの仮想配線長についての見積りには、実施の形態1
において説明した式(5)を適用し、隣接配置困難なマ
クロセル間のネットの仮想配線長についての見積りに
は、実施の形態1において説明した式(6)を適用す
る。なお、対象マクロセルどうしを接続するネットが複
数ある場合は、仮想配線長が短くなる方向に見積り値を
修正することによって仮想配線長の見積り精度を改善す
ることが可能となる。Here, the estimation of the virtual wiring length of the net between the macro cells which can be easily arranged adjacent to each other is made in the first embodiment.
The equation (5) described in 1) is applied, and the equation (6) described in the first embodiment is applied to the estimation of the virtual wiring length of the net between the macro cells in which adjacent placement is difficult. When there are a plurality of nets connecting the target macro cells, the estimation accuracy of the virtual wiring length can be improved by modifying the estimation value in the direction in which the virtual wiring length becomes shorter.
【0090】図10に、図9に示す半導体集積回路内の
総配線長が最小となるように配置配線された配置配線図
の一例を示す。なお、図10に示すネットT3b、T4
b、S12b〜S21b、マクロセルI20b〜I32
bは、図9に示したネットT3a、T4a、S12a〜
S21a、マクロセルI20a〜I32aと同一の構成
であり、便宜的に符号を変えただけのものである。FIG. 10 shows an example of a layout and wiring diagram in which the layout and wiring are performed so that the total wiring length in the semiconductor integrated circuit shown in FIG. 9 is minimized. The nets T3b and T4 shown in FIG.
b, S12b to S21b, macro cells I20b to I32
b is the nets T3a, T4a, S12a-shown in FIG.
It has the same configuration as S21a and the macrocells I20a to I32a, and only the symbols are changed for convenience.
【0091】図10に示すように、半導体集積回路の一
般的構成は、複数のマクロセルが左右方向に連なって形
成された複数のマクロセル段を有し、マクロセル段は平
行に配置され、各マクロセル段の間には配線のための配
線段が設けられている。As shown in FIG. 10, the general structure of a semiconductor integrated circuit has a plurality of macrocell stages in which a plurality of macrocells are formed in a row in the left-right direction, and the macrocell stages are arranged in parallel. A wiring step for wiring is provided between them.
【0092】図10においては、対象マクロセルである
マクロセルI20bおよびI21bはマクロセル段MS
1内において隣接配置され、見積り対象ネットであるネ
ットT3bおよび仮想配線長見積り対象外のネットであ
るネットS16bの配線長は、ともに最短の2μmとな
っている。In FIG. 10, macro cells I20b and I21b, which are the target macro cells, are macro cell stages MS.
The shortest wiring lengths of the net T3b, which is a net to be estimated, and the net S16b, which is a net that is not a virtual wiring length estimation target, are the shortest, 2 μm.
【0093】もう一方の対象マクロセルであるマクロセ
ルI22bおよびI23bは、それぞれマクロセル段M
S2およびMS3内に配置され、見積り対象ネットであ
るネットT4bの配線長は7μmとなっている。The other target macro cells, macro cells I22b and I23b, are respectively in macro cell stage M.
The wiring length of the net T4b, which is arranged in S2 and MS3 and is a net to be estimated, is 7 μm.
【0094】本発明に係る仮想配線長見積り装置の実施
の形態2によれば、このような、隣接配置容易なマクロ
セル間のネットの実配線長と、隣接配置困難なマクロセ
ル間のネットの実配線長との差異を考慮し、隣接配置容
易なマクロセル間のネットと隣接配置困難なマクロセル
間のネットで、仮想配線長の見積り方式を変更すること
で、それぞれに対応した仮想配線長を見積もることがで
き、高精度な仮想配線長の見積りを行うことが可能とな
る。According to the second embodiment of the virtual wiring length estimating device of the present invention, the actual wiring length of the net between macro cells which are easily arranged adjacent to each other and the actual wiring of the net between macro cells which are difficult to be arranged adjacent to each other. Considering the difference from the length, it is possible to estimate the virtual wiring length corresponding to each by changing the virtual wiring length estimation method for the net between macro cells where adjacent placement is easy and for the net between macro cells where adjacent placement is difficult. Therefore, it is possible to estimate the virtual wiring length with high accuracy.
【0095】<実施の形態3>図11に本発明に係る仮
想配線長見積り装置の実施の形態3として、仮想配線長
見積り装置300の構成を示す。図11において、接続
情報記憶装置2には見積り対象のネットのファンアウト
数に関する情報を読み出すファンアウト数読出し手段6
と対象マクロセルの物理的サイズに関する情報を読み出
すとともに、対象マクロセルの隣接配置の難易を判定す
る、対象マクロセルの物理的サイズ読出し・判定手段1
0が接続されている。そして、ファンアウト数読出し手
段6、対象マクロセルの物理的サイズ読出し・判定手段
10はそれぞれが読出した情報を記憶する読出し情報記
憶手段4に接続されている。その他、図1を用いて説明
した仮想配線長見積り装置100と同一の構成について
は同一の符号を付し、重複する説明は省略する。<Third Embodiment> FIG. 11 shows the configuration of a virtual wiring length estimating device 300 as a third embodiment of the virtual wiring length estimating device according to the present invention. 11, the connection information storage device 2 has a fan-out number reading means 6 for reading information about the fan-out number of the net to be estimated.
And the information about the physical size of the target macro cell and determining the difficulty of the adjacent placement of the target macro cell, the physical size reading / determining means 1 of the target macro cell.
0 is connected. The fan-out number reading means 6 and the physical size reading / determining means 10 of the target macro cell are connected to the read information storage means 4 for storing the read information. In addition, the same components as those of the virtual wiring length estimation device 100 described with reference to FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and the duplicate description will be omitted.
【0096】次に、仮想配線長見積り装置300の動作
について説明する。仮想配線長見積り装置300は対象
マクロセルの物理的サイズに関する情報を基に仮想配線
長の見積り方式を変更することを特徴としている。Next, the operation of the virtual wiring length estimation device 300 will be described. The virtual wiring length estimation apparatus 300 is characterized by changing the virtual wiring length estimation method based on information about the physical size of the target macro cell.
【0097】図12に仮想配線長見積り装置300の動
作を説明するフローチャートを示す。図12において、
まず、装置ユーザーが見積り対象のネットを選択する
(ステップST21)。次に、配置領域記憶装置1から
配置領域の周辺長に関する情報を読み出す(ステップS
T22)。FIG. 12 shows a flowchart for explaining the operation of the virtual wiring length estimation device 300. In FIG.
First, the device user selects a net to be estimated (step ST21). Next, information about the perimeter of the placement area is read from the placement area storage device 1 (step S
T22).
【0098】次に、接続情報記憶装置2からファンアウ
ト数に関する情報を読出し(ステップST23)、対象
マクロセルの物理的サイズに関する情報を読出す(ステ
ップST24)。Next, information about the number of fan-outs is read from the connection information storage device 2 (step ST23), and information about the physical size of the target macro cell is read (step ST24).
【0099】次に、対象マクロセルの物理的サイズに関
する情報に基づいて、対象マクロセルの隣接配置が困難
であるか否かを判断する(ステップS25)。判断基準
の一例としては、対象マクロセルの物理的サイズが標準
セルよりも大きいか否かを基準とする例が挙げられる。
なお、この基準値は半導体集積回路の構成に応じて任意
に設定することができることは言うまでもない。Next, it is judged whether or not it is difficult to arrange the target macro cells adjacent to each other based on the information on the physical size of the target macro cells (step S25). As an example of the determination criteria, there is an example based on whether the physical size of the target macro cell is larger than the standard cell.
Needless to say, this reference value can be set arbitrarily according to the configuration of the semiconductor integrated circuit.
【0100】以下、このような判断基準を採る理由につ
いて説明する。対象マクロセルを横方向に隣接配置する
ためには、対象マクロセルの物理的サイズの合計に見合
った領域が配置可能領域内に確保可能でなければならな
い。配置可能領域のサイズが有限であるため、このよう
な領域が確保できる可能性は対象マクロセルの物理的サ
イズの合計に対して単調減少することになる。すなわ
ち、対象マクロセルの物理的サイズが大きくなるに伴
い、対象マクロセルどうしが隣接配置される可能性が減
少する。The reason why such a criterion is adopted will be described below. In order to arrange the target macro cells adjacent to each other in the horizontal direction, it is necessary to secure an area corresponding to the total physical size of the target macro cells in the allocatable area. Since the size of the allocable area is finite, the possibility of securing such an area decreases monotonically with respect to the total physical size of the target macro cell. That is, as the physical size of the target macro cell increases, the possibility that the target macro cells are adjacently arranged decreases.
【0101】従って、ステップST25において、物理
的サイズが標準セルよりも大きい対象マクロセルは隣接
配置が困難と判断され、物理的サイズが標準セル以下の
対象マクロセルは隣接配置が容易と判断されることにな
る。なお、基準値と対象マクロセルの物理的サイズの比
較は、1の見積り対象ネットに接続される対象マクロセ
ルの物理的サイズを個々の対象マクロセルごとに行っ
て、個々の対象マクロセルごとに隣接配置の可能性を判
断しても良いし、1の見積り対象ネットに接続される全
ての対象マクロセルの物理的サイズの合計値(総面積)
に基づいて隣接配置の可能性を判断しても良い。このよ
うな方式を採ることで見積りにかかる時間を削減するこ
とができる。Therefore, in step ST25, it is determined that the target macro cell having a physical size larger than that of the standard cell is difficult to be adjacently arranged, and that the target macro cell having a physical size equal to or smaller than the standard cell is easily arranged. Become. For comparison between the reference value and the physical size of the target macrocell, the physical size of the target macrocell connected to one estimation target net is determined for each target macrocell, and adjacent placement is possible for each target macrocell. The total size (total area) of the physical sizes of all target macrocells connected to one estimation target net
The possibility of adjacent arrangement may be determined based on the above. By adopting such a method, the time required for estimation can be reduced.
【0102】ステップST25において対象マクロセル
が隣接配置困難であると判断された場合は、ステップS
T26において、隣接配置困難なマクロセル間のネット
の仮想配線長についての見積り方式を実行する。When it is determined in step ST25 that the target macro cells are difficult to be arranged adjacent to each other, step S
At T26, the estimation method for the virtual wiring length of the net between the macro cells in which adjacent placement is difficult is executed.
【0103】一方、ステップST25において対象マク
ロセルが隣接配置困難でないと判断された場合は、ステ
ップST27において、隣接配置容易なマクロセル間の
ネットの仮想配線長についての見積り方式を実行する。
そして、ステップST28において見積り結果を出力す
る。On the other hand, if it is determined in step ST25 that the target macro cell is not difficult to be placed adjacently, in step ST27, the estimation method for the virtual wiring length of the net between macro cells that is easily placed adjacently is executed.
Then, in step ST28, the estimation result is output.
【0104】なお、隣接配置困難なマクロセル間のネッ
トの仮想配線長についての見積り方式および隣接配置容
易なマクロセル間のネットの仮想配線長についての見積
り方式は、実施の形態1において説明した式(6)〜
(12)を用いる。The method for estimating the virtual wiring length of the net between macro cells whose adjacent placement is difficult and the method for estimating the virtual wiring length of the net between macro cells whose adjacent placement is easy are performed using the equation (6) described in the first embodiment. ) ~
(12) is used.
【0105】図13に、仮想配線長見積り装置300を
用いて仮想配線長見積りを行う場合の対象となる半導体
集積回路の構成の一例を示す。図13において、仮想配
線長見積り対象のネットはT5aおよびT6aであり、
ネットT5aにはマクロセルI33aおよびI34aが
接続され、ネットT6aにはマクロセルI35aおよび
I36aが接続されている。FIG. 13 shows an example of the configuration of a semiconductor integrated circuit which is a target when the virtual wiring length estimating device 300 is used to estimate the virtual wiring length. In FIG. 13, the nets for which the virtual wiring length is estimated are T5a and T6a,
Macro cells I33a and I34a are connected to the net T5a, and macro cells I35a and I36a are connected to the net T6a.
【0106】マクロセルI33aにはネットS22aお
よびS23aを介してマクロセルI37aおよびI38
aが各々接続され、マクロセルI34aにはネットS2
4aを介してマクロセルI39aが接続されている。The macrocells I37a and I38 are connected to the macrocell I33a via the nets S22a and S23a.
a are connected to each other, and the net S2 is connected to the macrocell I34a.
The macro cell I39a is connected via 4a.
【0107】また、マクロセルI35aにはネットS2
5aおよびS26aを介して各々マクロセルI40aお
よびI41aが接続され、マクロセルI36aにはネッ
トS27aを介してマクロセルI42aが接続されてい
る。なお、ネットS22a〜S27aは仮想配線長見積
り対象以外のネットである。The macro cell I35a has a net S2.
The macrocells I40a and I41a are connected via 5a and S26a, respectively, and the macrocell I42a is connected to the macrocell I36a via a net S27a. The nets S22a to S27a are nets other than the virtual wiring length estimation target.
【0108】図13に示す半導体集積回路においては、
対象マクロセルであるマクロセルI33aおよびI34
aの物理的サイズは、標準セルの3倍である。一方、対
象マクロセルであるマクロセルI35aおよびI36a
の物理的サイズは、標準セルと同じである。従って、対
象マクロセルの物理的サイズを基に対象マクロセルが隣
接配置される可能性を判定すると、ネットT5aは隣接
配置が困難なマクロセル間のネットとなり、ネットT6
aは隣接配置容易なマクロセル間のネットとなる。In the semiconductor integrated circuit shown in FIG.
Macro cells I33a and I34 which are target macro cells
The physical size of a is 3 times that of a standard cell. On the other hand, the macro cells I35a and I36a that are the target macro cells
Has the same physical size as the standard cell. Therefore, when the possibility that the target macro cells are adjacently arranged is determined based on the physical size of the target macro cell, the net T5a becomes a net between macro cells that are difficult to be adjacently arranged, and the net T6a.
a is a net between macro cells that can be easily arranged adjacent to each other.
【0109】ここで、隣接配置容易なマクロセル間のネ
ットの仮想配線長についての見積りには、実施の形態1
において説明した式(5)を適用し、隣接配置困難なマ
クロセル間のネットの仮想配線長についての見積りに
は、実施の形態1において説明した式(6)を適用す
る。なお、見積り対象のネットに接続するマクロセルの
物理的サイズが大きくなるに従い、仮想配線長が長くな
る方向に見積り値を修正することによって仮想配線長の
見積り精度を改善することが可能となる。Here, to estimate the virtual wiring length of the net between macro cells which can be easily arranged adjacent to each other, the first embodiment is used.
The equation (5) described in 1) is applied, and the equation (6) described in the first embodiment is applied to the estimation of the virtual wiring length of the net between the macro cells in which adjacent placement is difficult. It is possible to improve the estimation accuracy of the virtual wiring length by correcting the estimation value in the direction in which the virtual wiring length becomes longer as the physical size of the macro cell connected to the estimation target net increases.
【0110】図14に、図13に示す半導体集積回路内
の総配線長が最小となるように配置配線された配置配線
図の一例を示す。なお、図14に示すネットT5b、T
6b、S22b〜S27b、マクロセルI37b〜I4
2bは、図13に示したネットT5a、T6a、S22
a〜S27a、マクロセルI37a〜I42aと同一の
構成であり、便宜的に符号を変えただけのものである。FIG. 14 shows an example of a layout and wiring diagram in which the layout and wiring are performed so that the total wiring length in the semiconductor integrated circuit shown in FIG. 13 is minimized. The nets T5b, T shown in FIG.
6b, S22b to S27b, and macro cells I37b to I4.
2b is the net T5a, T6a, S22 shown in FIG.
a to S27a and the macrocells I37a to I42a have the same configuration, and the symbols are simply changed for convenience.
【0111】図14に示すように、半導体集積回路の一
般的構成は、複数のマクロセルが左右方向に連なって形
成された複数のマクロセル段を有し、マクロセル段は平
行に配置され、各マクロセル段の間には配線のための配
線段が設けられている。As shown in FIG. 14, the general structure of the semiconductor integrated circuit has a plurality of macrocell stages in which a plurality of macrocells are formed in a row in the left-right direction, and the macrocell stages are arranged in parallel. A wiring step for wiring is provided between them.
【0112】図14においては、対象マクロセルである
マクロセルI33bおよびI34bはそれぞれマクロセ
ル段MS1およびMS2内に配置され、見積り対象ネッ
トであるネットT5bの配線長は7μmとなっている。In FIG. 14, macro cells I33b and I34b, which are target macro cells, are arranged in macro cell stages MS1 and MS2, respectively, and the net length of net T5b, which is the target net for estimation, is 7 μm.
【0113】もう一方の対象マクロセルであるマクロセ
ルI35bおよびI36bは、マクロセル段MS3内に
おいて隣接配置され、見積り対象ネットであるネットT
6bの配線長は最短の2μmとなっている。The other target macro cells, macro cells I35b and I36b, are arranged adjacent to each other in the macro cell stage MS3, and the net T which is the estimation target net.
The wiring length of 6b is the shortest, 2 μm.
【0114】本発明に係る仮想配線長見積り装置の実施
の形態3によれば、このような、隣接配置容易なマクロ
セル間のネットの実配線長と、隣接配置困難なマクロセ
ル間のネットの実配線長との差異を考慮し、隣接配置容
易なマクロセル間のネットと隣接配置困難なマクロセル
間のネットで、仮想配線長の見積り方式を変更すること
で、それぞれに対応した仮想配線長を見積もることがで
き、高精度な仮想配線長の見積りを行うことが可能とな
る。According to the third embodiment of the virtual wiring length estimating apparatus of the present invention, the actual wiring length of the net between the macro cells whose adjacent placement is easy and the actual wiring of the net between the macro cells whose adjacent placement is difficult. Considering the difference from the length, it is possible to estimate the virtual wiring length corresponding to each by changing the virtual wiring length estimation method for the net between macro cells where adjacent placement is easy and for the net between macro cells where adjacent placement is difficult. Therefore, it is possible to estimate the virtual wiring length with high accuracy.
【0115】<実施の形態4>図15に本発明に係る仮
想配線長見積り装置の実施の形態4として、仮想配線長
見積り装置400の構成を示す。図15において、接続
情報記憶装置2には見積り対象のネットのファンアウト
数に関する情報を読み出すファンアウト数読出し手段
6、対象マクロセルのピン数に関する情報を読み出す対
象マクロセルのピン数読出し・判定手段7、対象マクロ
セルのうち、いずれかのマクロセルに接続されるネット
数に関する情報を読み出す対象マクロセルのネット数読
出し・判定手段8、対象マクロセルどうしを接続するネ
ット数に関する情報を読み出す、対象マクロセルどうし
を接続するネット数の読出し・判定手段9、対象マクロ
セルの物理的サイズに関する情報を読み出す対象マクロ
セルの物理的サイズ読出し・判定手段10が接続されて
いる。そして、ファンアウト数読出し手段6、対象マク
ロセルのピン数読出し・判定手段7、対象マクロセルの
ネット数読出し・判定手段8、対象マクロセルどうしを
接続するネット数の読出し・判定手段9、対象マクロセ
ルの物理的サイズ読出し・判定手段10はそれぞれが読
出した情報を記憶する読出し情報記憶手段4に接続され
ている。その他、図1を用いて説明した仮想配線長見積
り装置100と同一の構成については同一の符号を付
し、重複する説明は省略する。<Embodiment 4> FIG. 15 shows a configuration of a virtual wiring length estimating apparatus 400 as Embodiment 4 of the virtual wiring length estimating apparatus according to the present invention. In FIG. 15, the connection information storage device 2 has a fan-out number reading unit 6 for reading information on the fan-out number of the net to be estimated, a pin number reading / determining unit 7 for reading the pin number of the target macro cell, Of the target macrocells, the number-of-nets reading / determining means 8 of the target macrocell that reads information about the number of nets connected to any of the macrocells, and the net that connects the target macrocells to read information about the number of nets that connect the target macrocells The number reading / determining means 9 and the physical size reading / determining means 10 of the target macro cell for reading the information about the physical size of the target macro cell are connected. Then, the fan-out number reading means 6, the pin number reading / judging means 7 of the target macro cell, the net number reading / judging means 8 of the target macro cell, the net number reading / judging means 9 of connecting the target macro cells to each other, and the physical property of the target macro cell The physical size read / determination means 10 is connected to the read information storage means 4 for storing the read information. In addition, the same components as those of the virtual wiring length estimation device 100 described with reference to FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and the duplicate description will be omitted.
【0116】このような構成を有する仮想配線長見積り
装置400は、実施の形態1〜3において説明した仮想
配線長見積り装置100〜300の動作をすべて兼ね備
えている。従って、対象マクロセルのピン数、またはネ
ット数の情報を基に仮想配線長の見積り方式を変更する
だけでなく、対象マクロセルどうしを接続するネット数
の情報を基に仮想配線長の見積り方式を変更すること
も、対象マクロセルの物理的サイズに関する情報を基に
仮想配線長の見積り方式をすることもでき、見積り対象
のネットごとに対象マクロセルのピン数、またはネット
数が異なり、かつ、対象マクロセルどうしが複数のネッ
トで接続され、見積り対象のネットごとに対象マクロセ
ルの物理的サイズが異なるような複合的な構成となって
半導体集積回路の仮想配線長を見積ることが可能とな
る。Virtual wiring length estimating apparatus 400 having such a configuration has all the operations of virtual wiring length estimating apparatuses 100 to 300 described in the first to third embodiments. Therefore, not only is the virtual wiring length estimation method changed based on the number of pins or nets of the target macrocell, but the virtual wiring length estimation method is changed based on the number of nets that connect the target macrocells. It is also possible to estimate the virtual wiring length based on the information about the physical size of the target macro cell, and the number of pins or nets of the target macro cell is different for each estimated net, and Are connected by a plurality of nets, and the virtual wiring length of the semiconductor integrated circuit can be estimated in a composite structure in which the physical size of the target macro cell is different for each estimated net.
【0117】<実施の形態5>図16に本発明に係る仮
想配線長見積り装置の実施の形態5として、仮想配線の
容量を見積もる仮想配線容量見積り機能を付加した構成
を示す。<Fifth Preferred Embodiment> FIG. 16 shows a configuration of a virtual wiring length estimating device according to a fifth preferred embodiment of the present invention in which a virtual wiring capacity estimating function for estimating the capacity of a virtual wiring is added.
【0118】図16において、見積り結果出力装置12
の出力には仮想配線の電荷容量を見積もる仮想配線容量
見積り手段13が接続されている。なお、仮想配線長見
積り装置400と同一の構成については同一の符号を付
し、重複する説明は省略する。In FIG. 16, the estimation result output device 12
A virtual wiring capacity estimation means 13 for estimating the charge capacity of the virtual wiring is connected to the output of the. The same components as those of the virtual wiring length estimation device 400 are designated by the same reference numerals, and duplicated description will be omitted.
【0119】仮想配線容量値見積り手段13は、仮想配
線長見積り装置400により算出された仮想配線長見積
り値に対して、単位長さあたりの配線容量を掛けること
で、仮想配線長の電荷容量を見積もる手段である。The virtual wiring capacitance value estimation means 13 multiplies the virtual wiring length estimation value calculated by the virtual wiring length estimation device 400 by the wiring capacitance per unit length to obtain the charge capacity of the virtual wiring length. It is a means of estimating.
【0120】このような構成を有することにより、仮想
配線長の電荷容量を精度良く見積もることができ、半導
体集積回路の動作特性を設計時に正確に把握することが
可能となる。With such a structure, the charge capacity of the virtual wiring length can be accurately estimated, and the operating characteristics of the semiconductor integrated circuit can be accurately grasped at the time of designing.
【0121】<実施の形態6>図17に本発明に係る仮
想配線長見積り装置の実施の形態6として、仮想配線の
遅延時間を見積もる仮想配線遅延時間見積り機能を付加
した構成を示す。<Sixth Embodiment> FIG. 17 shows, as a sixth embodiment of the virtual wiring length estimating apparatus according to the present invention, a configuration in which a virtual wiring delay time estimating function for estimating a delay time of a virtual wiring is added.
【0122】図17において、見積り結果出力装置12
の出力には仮想配線の遅延時間を見積もる仮想配線遅延
時間見積り手段14が接続されている。なお、仮想配線
長見積り装置400と同一の構成については同一の符号
を付し、重複する説明は省略する。In FIG. 17, the estimation result output device 12
A virtual wiring delay time estimation means 14 for estimating the delay time of the virtual wiring is connected to the output of. The same components as those of the virtual wiring length estimation device 400 are designated by the same reference numerals, and duplicated description will be omitted.
【0123】仮想配線遅延時間見積り手段14は、仮想
配線長見積り装置400により算出された仮想配線長見
積り値に対して、仮想配線の単位長さあたりの遅延時間
を掛けることで、仮想配線の遅延時間を見積もる手段で
ある。The virtual wiring delay time estimation means 14 multiplies the virtual wiring length estimated value calculated by the virtual wiring length estimation device 400 by the delay time per unit length of the virtual wiring to delay the virtual wiring. It is a means of estimating time.
【0124】このような構成を有することにより、仮想
配線における遅延時間を精度良く見積もることができ、
半導体集積回路の動作特性を設計時に正確に把握するこ
とが可能となる。With such a structure, the delay time in the virtual wiring can be accurately estimated,
It becomes possible to accurately grasp the operating characteristics of the semiconductor integrated circuit at the time of designing.
【0125】[0125]
【発明の効果】本発明に係る請求項1記載の仮想配線長
見積り装置によれば、第1、第2の対象マクロセルが隣
接配置困難であるか否かを判定し、第1、第2の対象マ
クロセルが隣接配置困難である場合と、第1、第2の対
象マクロセルが隣接配置容易である場合とで算出方式を
変更して仮想配線長を算出するので、隣接配置容易なマ
クロセル間のネットの仮想配線長と実配線長との差異、
および隣接配置困難なマクロセル間のネットの仮想配線
長と実配線長との差異が低減し、高精度な仮想配線長の
見積りが可能となる。According to the virtual wiring length estimating apparatus of the first aspect of the present invention, it is determined whether or not it is difficult to arrange the first and second target macro cells adjacent to each other. Since the virtual wiring length is calculated by changing the calculation method between the case where the target macro cells are difficult to place adjacent to each other and the case where the first and second target macro cells are easy to place adjacent to each other, the virtual wiring length is calculated. Difference between the virtual wiring length and the actual wiring length of
Also, the difference between the virtual wiring length and the actual wiring length of the net between macro cells, which are difficult to arrange adjacently, is reduced, and the virtual wiring length can be estimated with high accuracy.
【0126】本発明に係る請求項2記載の仮想配線長見
積り装置によれば、第1、第2の対象マクロセルに接続
されるネットの数に関するデータを読み出し、予め設定
された基準値とを比較して第1、第2の対象マクロセル
の隣接配置の難易を判定するので、半導体集積回路の実
態に即した仮想配線長見積りが可能となる。According to the virtual wiring length estimating apparatus of the second aspect of the present invention, the data concerning the number of nets connected to the first and second target macro cells is read out and compared with a preset reference value. Then, since the difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macro cells is determined, it is possible to estimate the virtual wiring length according to the actual condition of the semiconductor integrated circuit.
【0127】本発明に係る請求項3記載の仮想配線長見
積り装置によれば、第1の対象マクロセルに隣接して第
2の対象マクロセルを配置できる可能性、第2の対象マ
クロセルに隣接して第1の対象マクロセルを配置できる
可能性をそれぞれ求めるので、隣接配置が共に容易であ
る第1、第2の対象マクロセル間のネット、隣接配置が
共に困難な第1、第2の対象マクロセル間のネット、一
方は隣接配置が容易で、他方は隣接配置が困難な第1、
第2の対象マクロセル間のネットの3種類にネットを区
別することができ、隣接配置の難易をきめ細かく判定す
ることができるので、より高精度な仮想配線長の見積り
が可能となる。According to the virtual wiring length estimating apparatus of the third aspect of the present invention, there is a possibility that the second target macrocell can be arranged adjacent to the first target macrocell, and the second target macrocell can be arranged adjacent to the second target macrocell. Since the possibility of arranging the first target macro cell is obtained respectively, the net between the first and second target macro cells that is easy to be adjacently arranged, and the first and second target macro cells that are difficult to be adjacently arranged Net, one is easy to place adjacent, the other is difficult to place first,
The nets can be distinguished into three types of nets between the second target macro cells, and the difficulty of adjacent placement can be finely determined, so that the virtual wiring length can be estimated with higher accuracy.
【0128】本発明に係る請求項4記載の仮想配線長見
積り装置によれば、第1、第2の対象マクロセルに接続
されるネットの総数と基準値との比較によって第1、第
2の対象マクロセルの隣接配置の難易を判定するので、
実行速度の速い見積りが可能となり、仮想配線長見積り
にかかる時間を低減することができる。According to the virtual wiring length estimating apparatus of the fourth aspect of the present invention, the first and second targets are compared by comparing the total number of nets connected to the first and second target macrocells with a reference value. Since the difficulty of arranging adjacent macro cells is determined,
It is possible to estimate the execution speed quickly, and it is possible to reduce the time required to estimate the virtual wiring length.
【0129】本発明に係る請求項5記載の仮想配線長見
積り装置によれば、第1、第2の対象マクロセルが有す
るピンの数に関するデータを読み出し、予め設定された
基準値とを比較して第1、第2の対象マクロセルの隣接
配置の難易を判定するので、マクロセルの種類毎のピン
数を予めライブラリとして準備することにより、実行速
度の速い見積りが可能となり、仮想配線長見積りにかか
る時間を低減することができる。According to the virtual wiring length estimating apparatus of the fifth aspect of the present invention, the data regarding the number of pins of the first and second target macro cells is read out and compared with a preset reference value. Since the difficulty of adjacent placement of the first and second target macrocells is determined, by preparing the number of pins for each type of macrocell as a library in advance, it is possible to estimate the execution speed quickly, and the time required to estimate the virtual wiring length. Can be reduced.
【0130】本発明に係る請求項6記載の仮想配線長見
積り装置によれば、第1の対象マクロセルに隣接して第
2の対象マクロセルを配置できる可能性、第2の対象マ
クロセルに隣接して第1の対象マクロセルを配置できる
可能性をそれぞれ求めるので、隣接配置が共に容易であ
る第1、第2の対象マクロセル間のネット、隣接配置が
共に困難な第1、第2の対象マクロセル間のネット、一
方は隣接配置が容易で、他方は隣接配置が困難な第1、
第2の対象マクロセル間のネットの3種類にネットを区
別することができ、隣接配置の難易をきめ細かく判定す
ることができるので、より高精度な仮想配線長の見積り
が可能となる。According to the virtual wiring length estimation apparatus of the sixth aspect of the present invention, there is a possibility that the second target macrocell can be arranged adjacent to the first target macrocell, and the second target macrocell can be arranged adjacent to the second target macrocell. Since the possibility of arranging the first target macro cell is obtained respectively, the net between the first and second target macro cells, which is easy to be adjacently arranged, and the first and second target macro cells, which are difficult to be adjacently arranged, Net, one is easy to place adjacent, the other is difficult to place first,
The nets can be distinguished into three types of nets between the second target macro cells, and the difficulty of adjacent placement can be finely determined, so that the virtual wiring length can be estimated with higher accuracy.
【0131】本発明に係る請求項7記載の仮想配線長見
積り装置によれば、第1、第2の対象マクロセルが有す
るピンの総数と基準値との比較によって第1、第2の対
象マクロセルの隣接配置の難易を判定するので、実行速
度の速い見積りが可能となり、仮想配線長見積りにかか
る時間を低減することができる。According to the virtual wiring length estimation apparatus of the seventh aspect of the present invention, the total number of pins of the first and second target macrocells is compared with the reference value to determine the first and second target macrocells. Since the difficulty of adjacent placement is determined, it is possible to estimate the execution speed at a high speed, and it is possible to reduce the time required to estimate the virtual wiring length.
【0132】本発明に係る請求項8記載の仮想配線長見
積り装置によれば、第1、第2の対象マクロセルどうし
を接続するネットの数に関するデータを読み出し、予め
設定された基準値とを比較して第1、第2の対象マクロ
セルの隣接配置の難易を判定するので、対象ネット以外
のネットによっても接続され、他のマクロセルに優先し
て隣接配置される可能性が高い第1、第2の対象マクロ
セルを識別することができ、高精度な仮想配線長の見積
りが可能となる。According to the virtual wiring length estimating apparatus of the eighth aspect of the present invention, the data concerning the number of nets connecting the first and second target macrocells is read out and compared with a preset reference value. Since the difficulty of the adjacent placement of the first and second target macro cells is determined, it is highly likely that the first and second target macro cells will be connected by a net other than the target net and will be placed next to other macro cells with priority. The target macro cell can be identified, and the virtual wiring length can be estimated with high accuracy.
【0133】本発明に係る請求項9記載の仮想配線長見
積り装置によれば、第1、第2の対象マクロセルに接続
されるネットの物理的サイズに関するデータを読み出
し、予め設定された基準値とを比較して第1、第2の対
象マクロセルの隣接配置の難易を判定するので、第1、
第2の対象マクロセルの物理的サイズの種類が多く、サ
イズの差も大きい場合がある半導体集積回路の実態に即
した仮想配線長見積りが可能となる。According to the virtual wiring length estimating apparatus of the ninth aspect of the present invention, the data concerning the physical size of the nets connected to the first and second target macro cells is read out and the preset reference value is set. And the difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macro cells is determined by comparing
It is possible to estimate the virtual wiring length according to the actual condition of the semiconductor integrated circuit in which the second target macro cell has many types of physical sizes and the difference in size may be large.
【0134】本発明に係る請求項10記載の仮想配線長
見積り装置によれば、第1の対象マクロセルに隣接して
第2の対象マクロセルを配置できる可能性、第2の対象
マクロセルに隣接して第1の対象マクロセルを配置でき
る可能性をそれぞれ求めるので、隣接配置が共に容易で
ある第1、第2の対象マクロセル間のネット、隣接配置
が共に困難な第1、第2の対象マクロセル間のネット、
一方は隣接配置が容易で、他方は隣接配置が困難な第
1、第2の対象マクロセル間のネットの3種類にネット
を区別することができ、隣接配置の難易をきめ細かく判
定することができるので、より高精度な仮想配線長の見
積りが可能となる。According to the virtual wiring length estimating apparatus of the tenth aspect of the present invention, there is a possibility that the second target macrocell can be arranged adjacent to the first target macrocell, and the second target macrocell can be adjacent to the second target macrocell. Since the possibility of arranging the first target macro cell is obtained respectively, the net between the first and second target macro cells that is easy to be adjacently arranged, and the first and second target macro cells that are difficult to be adjacently arranged Net,
One can easily arrange adjacent nets, and the other can distinguish nets into three types of nets between the first and second target macro cells, which are difficult to be adjacently arranged. Therefore, the difficulty of adjacent arrangement can be determined in detail. It is possible to estimate the virtual wiring length with higher accuracy.
【0135】本発明に係る請求項11記載の仮想配線長
見積り装置によれば、第1、第2の対象マクロセルの物
理的サイズの合計値と基準値との比較によって第1、第
2の対象マクロセルの隣接配置の難易を判定するので、
実行速度の速い見積りが可能となり、仮想配線長見積り
にかかる時間を低減することができる。According to the virtual wiring length estimating device of the eleventh aspect of the present invention, the first and second targets are obtained by comparing the total value of the physical sizes of the first and second target macro cells with the reference value. Since the difficulty of arranging adjacent macro cells is determined,
It is possible to estimate the execution speed quickly, and it is possible to reduce the time required to estimate the virtual wiring length.
【0136】本発明に係る請求項12記載の仮想配線長
見積り装置によれば、高精度で得られた仮想配線長見積
り結果を用いることで、対象ネットの配線容量を高精度
に見積もることが可能となる。According to the virtual wiring length estimating device of the twelfth aspect of the present invention, the wiring capacitance of the target net can be estimated with high accuracy by using the virtual wiring length estimation result obtained with high accuracy. Becomes
【0137】本発明に係る請求項13記載の仮想配線長
見積り装置によれば、高精度で得られた仮想配線長見積
り結果を用いることで、対象ネットの遅延時間を高精度
に見積もることが可能となる。According to the virtual wiring length estimation device of the thirteenth aspect of the present invention, the delay time of the target net can be estimated with high accuracy by using the virtual wiring length estimation result obtained with high accuracy. Becomes
【図1】 本発明に係る仮想配線長見積り装置の実施の
形態1の構成を説明するブロック図である。FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a virtual wiring length estimation device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】 本発明に係る仮想配線長見積り装置の実施の
形態1の動作を説明するフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart illustrating the operation of the virtual wiring length estimation apparatus according to the first embodiment of the present invention.
【図3】 対象マクロセルネットとピンの関係を説明す
る図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a relationship between a target macro cell net and a pin.
【図4】 仮想配線長見積りを行う場合の対象となる半
導体集積回路の構成の一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing an example of a configuration of a semiconductor integrated circuit which is a target when a virtual wiring length is estimated.
【図5】 配置配線結果の一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing an example of a placement and routing result.
【図6】 仮想配線長見積りを行う際の係数テーブルを
示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a coefficient table when a virtual wiring length is estimated.
【図7】 本発明に係る仮想配線長見積り装置の実施の
形態2の構成を説明するブロック図である。FIG. 7 is a block diagram illustrating a configuration of a virtual wiring length estimation device according to a second embodiment of the present invention.
【図8】 本発明に係る仮想配線長見積り装置の実施の
形態2の動作を説明するフローチャートである。FIG. 8 is a flowchart for explaining the operation of the virtual wiring length estimation device according to the second embodiment of the present invention.
【図9】 仮想配線長見積りを行う場合の対象となる半
導体集積回路の構成の一例を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing an example of a configuration of a semiconductor integrated circuit which is a target when a virtual wiring length is estimated.
【図10】 配置配線結果の一例を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an example of a placement and routing result.
【図11】 本発明に係る仮想配線長見積り装置の実施
の形態3の構成を説明するブロック図である。FIG. 11 is a block diagram illustrating a configuration of a virtual wiring length estimation device according to a third embodiment of the present invention.
【図12】 本発明に係る仮想配線長見積り装置の実施
の形態3の動作を説明するフローチャートである。FIG. 12 is a flowchart for explaining the operation of the virtual wiring length estimation device according to the third embodiment of the present invention.
【図13】 仮想配線長見積りを行う場合の対象となる
半導体集積回路の構成の一例を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing an example of a configuration of a semiconductor integrated circuit which is a target when a virtual wiring length is estimated.
【図14】 配置配線結果の一例を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing an example of a placement and routing result.
【図15】 本発明に係る仮想配線長見積り装置の実施
の形態4の構成を説明するブロック図である。FIG. 15 is a block diagram illustrating a configuration of a virtual wiring length estimation device according to a fourth embodiment of the present invention.
【図16】 本発明に係る仮想配線長見積り装置の実施
の形態5の構成を説明するブロック図である。FIG. 16 is a block diagram illustrating a configuration of a virtual wiring length estimation device according to a fifth embodiment of the present invention.
【図17】 本発明に係る仮想配線長見積り装置の実施
の形態6の構成を説明するブロック図である。FIG. 17 is a block diagram illustrating a configuration of a sixth embodiment of a virtual wiring length estimation device according to the present invention.
【図18】 従来の仮想配線長見積り方法を説明する概
念図である。FIG. 18 is a conceptual diagram illustrating a conventional virtual wiring length estimation method.
T1a〜T6a 見積り対象ネット、I1a〜I42a
マクロセル、S1a〜S27a 見積り対象外ネッ
ト。T1a to T6a estimation target net, I1a to I42a
Macro cell, S1a to S27a Net not subject to estimation.
Claims (13)
タに基づいて、マクロセル間に設けられるネットの配線
長を仮想的に見積もる仮想配線長見積り装置において、 前記ネットのうち配線長の見積り対象となるネットを対
象ネットとし、前記マクロセルのうち前記対象ネットに
接続されるマクロセルを対象マクロセルとし、 前記対象マクロセルには第1、第2の対象マクロセルを
含み、 前記第1、第2の対象マクロセルが隣接配置困難である
か否かを所定の規則に従って判定する隣接配置難易判定
手段と、 前記第1、第2の対象マクロセルが隣接配置困難である
場合と、前記第1、第2の対象マクロセルが隣接配置容
易である場合とで算出方式を変更して仮想配線長を算出
する仮想配線長算出手段とを備える仮想配線長見積り装
置。1. A virtual wiring length estimation device for virtually estimating the wiring length of a net provided between macro cells on the basis of design data required for designing a semiconductor integrated circuit, wherein the virtual wiring length estimation device is a target for estimating the wiring length of the net. A net is a target net, a macro cell connected to the target net among the macro cells is a target macro cell, and the target macro cell includes first and second target macro cells, and the first and second target macro cells are adjacent to each other. Adjacent placement difficulty determination means for determining whether or not placement is difficult according to a predetermined rule, a case where the first and second target macrocells are difficult to place adjacently, and a case where the first and second target macrocells are adjacent to each other A virtual wiring length estimating device, comprising: a virtual wiring length calculating means for calculating a virtual wiring length by changing a calculation method depending on whether the arrangement is easy.
データから、前記第1、第2の対象マクロセルに接続さ
れるネットの数に関するデータを読み出すネット数読出
し手段を有し、前記ネットの数に関するデータと予め設
定された基準値とを比較して、前記第1、第2の対象マ
クロセルの隣接配置の難易を判定することを特徴とする
請求項1記載の仮想配線長見積り装置。2. The adjacent placement difficulty determination means has net number reading means for reading data related to the number of nets connected to the first and second target macrocells from the design data, and the number of nets is read. 2. The virtual wiring length estimation device according to claim 1, wherein the difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macro cells is determined by comparing the data regarding the above with a preset reference value.
第1、第2の対象マクロセルの各々に接続される第1、
第2のネット数であって、 第1の対象マクロセルに隣接して第2の対象マクロセル
を配置できる可能性を、前記第1のネット数と前記基準
値との比較によって求め、 第2の対象マクロセルに隣接して第1の対象マクロセル
を配置できる可能性を、前記第2のネット数と前記基準
値との比較によって求め、 両結果に基づいて前記第1、第2の対象マクロセルの隣
接配置の難易を判定する請求項2記載の仮想配線長見積
り装置。3. The data relating to the number of nets includes first and second data connected to each of the first and second target macrocells.
The possibility of arranging the second target macrocell adjacent to the first target macrocell, which is the second number of nets, is obtained by comparing the first number of nets with the reference value. The possibility of arranging the first target macro cell adjacent to the macro cell is obtained by comparing the second number of nets with the reference value, and based on both results, the first and second target macro cells are arranged adjacent to each other. The virtual wiring length estimation device according to claim 2, wherein the difficulty is determined.
第1、第2の対象マクロセルに接続される前記ネットの
総数であって、 該総数と前記基準値との比較によって前記第1、第2の
対象マクロセルの隣接配置の難易を判定する請求項2記
載の仮想配線長見積り装置。4. The data relating to the number of nets is the total number of the nets connected to the first and second target macrocells, and the first and second nets are obtained by comparing the total number with the reference value. The virtual wiring length estimation device according to claim 2, wherein the difficulty of adjacent placement of the target macro cell is determined.
データから、前記第1、第2の対象マクロセルが有する
ピンの数に関するデータを読み出すピン数読出し手段を
有し、前記ピンの数に関するデータと予め設定された基
準値とを比較して、前記第1、第2の対象マクロセルの
隣接配置の難易を判定することを特徴とする請求項1記
載の仮想配線長見積り装置。5. The adjacent placement difficulty determination means has pin number reading means for reading data regarding the number of pins of the first and second target macro cells from the design data, and the data regarding the number of pins. The virtual wiring length estimation device according to claim 1, wherein the difficulty of adjacent placement of the first and second target macrocells is determined by comparing with a preset reference value.
1、第2の対象マクロセルの各々が有する第1、第2の
ピン数であって、 第1の対象マクロセルに隣接して第2の対象マクロセル
を配置できる可能性を、前記第1のピン数と前記基準値
との比較によって求め、 第2の対象マクロセルに隣接して第1の対象マクロセル
を配置できる可能性を、前記第2のピン数と前記基準値
との比較によって求め、 両結果に基づいて前記第1、第2の対象マクロセルの隣
接配置の難易を判定する請求項5記載の仮想配線長見積
り装置。6. The data regarding the number of pins is the first and second pin numbers of each of the first and second target macrocells, and the second data is adjacent to the first target macrocell. The possibility of arranging the target macro cell is obtained by comparing the first number of pins with the reference value, and the possibility of arranging the first target macro cell adjacent to the second target macro cell is determined by the second 6. The virtual wiring length estimation device according to claim 5, wherein the virtual wiring length estimation device is determined by comparing the number of pins and the reference value, and the difficulty of adjacent placement of the first and second target macro cells is determined based on both results.
1、第2の対象マクロセルが有するピンの総数であっ
て、 該総数と前記基準値との比較によって前記第1、第2の
対象マクロセルの隣接配置の難易を判定する請求項5記
載の仮想配線長見積り装置。7. The data regarding the number of pins is the total number of pins of the first and second target macrocells, and the first and second target macrocells are compared by comparing the total number with the reference value. 6. The virtual wiring length estimation device according to claim 5, wherein the difficulty of adjacent placement of the virtual wiring length estimation device is determined.
データから、前記第1、第2の対象マクロセルどうしを
接続するネットの数に関するデータを読み出すネット数
読出し手段を有し、前記ネットの数に関するデータと予
め設定された基準値とを比較して、前記第1、第2の対
象マクロセルの隣接配置の難易を判定することを特徴と
する請求項1記載の仮想配線長見積り装置。8. The adjacent placement difficulty determination means has net number reading means for reading data relating to the number of nets connecting the first and second target macrocells from the design data, and the number of nets is read. 2. The virtual wiring length estimation device according to claim 1, wherein the difficulty of the adjacent arrangement of the first and second target macro cells is determined by comparing the data regarding the above with a preset reference value.
データから、前記第1、第2の対象マクロセルの物理的
サイズに関するデータを読み出す物理的サイズ読出し手
段を有し、前記物理的サイズに関するデータと予め設定
された基準値とを比較して、前記第1、第2の対象マク
ロセルの隣接配置の難易を判定することを特徴とする請
求項1記載の仮想配線長見積り装置。9. The adjacent placement difficulty determination means has a physical size reading means for reading data relating to the physical size of the first and second target macro cells from the design data, and the data relating to the physical size. The virtual wiring length estimation device according to claim 1, wherein the difficulty of adjacent placement of the first and second target macrocells is determined by comparing with a preset reference value.
前記第1、第2の対象マクロセルの各々が有する第1、
第2の物理的サイズであって、 第1の対象マクロセルに隣接して第2の対象マクロセル
を配置できる可能性を、前記第1の物理的サイズと前記
基準値との比較によって求め、 第2の対象マクロセルに隣接して第1の対象マクロセル
を配置できる可能性を、前記第2の物理的サイズと前記
基準値との比較によって求め、 両結果に基づいて前記第1、第2の対象マクロセルの隣
接配置の難易を判定する請求項9記載の仮想配線長見積
り装置。10. The physical size data is:
The first and second target macrocells each have
The possibility of arranging the second target macro cell having the second physical size adjacent to the first target macro cell is obtained by comparing the first physical size with the reference value, The possibility of arranging the first target macro cell adjacent to the target macro cell of (1) is obtained by comparing the second physical size with the reference value, and based on both results, the first and second target macro cells 10. The virtual wiring length estimation device according to claim 9, wherein the difficulty of the adjacent arrangement is determined.
前記第1、第2の対象マクロセルの物理的サイズの合計
値であって、 該合計値と前記基準値との比較によって前記第1、第2
の対象マクロセルの隣接配置の難易を判定する請求項9
記載の仮想配線長見積り装置。11. The physical size data is:
A total value of physical sizes of the first and second target macrocells, the first and second physical values being obtained by comparing the total value with the reference value.
10. The difficulty of the adjacent arrangement of the target macro cells is determined.
Virtual wiring length estimation device described.
さ当たりの配線容量から、前記対象ネットの配線容量を
見積もる、仮想配線容量見積り手段をさらに備える請求
項1記載の仮想配線長見積り装置。12. The virtual wiring length estimation device according to claim 1, further comprising a virtual wiring capacity estimation means for estimating a wiring capacity of the target net from the calculated virtual wiring length and a wiring capacity per unit length. .
線の単位長さ当たりの遅延時間から、前記対象ネットの
遅延時間を見積もる、仮想配線遅延時間見積り手段をさ
らに備える請求項1記載の仮想配線長見積り装置。13. The virtual wiring delay time estimating means for estimating the delay time of the target net from the calculated virtual wiring length and the delay time per unit length of the virtual wiring. Wiring length estimation device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7294199A JPH09134380A (en) | 1995-11-13 | 1995-11-13 | Device for estimating virtual wiring length |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7294199A JPH09134380A (en) | 1995-11-13 | 1995-11-13 | Device for estimating virtual wiring length |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09134380A true JPH09134380A (en) | 1997-05-20 |
Family
ID=17804606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7294199A Pending JPH09134380A (en) | 1995-11-13 | 1995-11-13 | Device for estimating virtual wiring length |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH09134380A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7496872B2 (en) | 2005-06-24 | 2009-02-24 | Nec Corporation | Library creating device and interconnect capacitance estimation system using the same |
-
1995
- 1995-11-13 JP JP7294199A patent/JPH09134380A/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7496872B2 (en) | 2005-06-24 | 2009-02-24 | Nec Corporation | Library creating device and interconnect capacitance estimation system using the same |
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