DE19961250A1 - Fotoelektrisches Weg- und Winkelmeßsystem - Google Patents
Fotoelektrisches Weg- und WinkelmeßsystemInfo
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Abstract
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Messanordnung der eingangs genannten Art anzugeben, mit der Signale mit deutlich besseren Signalparametern gewonnen werden können. DOLLAR A Erfindungsgemäß gelingt die Lösung der Aufgabe, dadurch gekennzeichnet, dass die Fotoempfänger (FD) in dem Array in vier Paaren oder einem Vielfachen davon, beidseitig der Lichtquelle (LED) so angeordnet sind, dass jede der vier elektrisch verbundenen Fotoempfängerpaare die gleiche Entfernung zur Lichtquelle (LED) haben. DOLLAR A Die Erfindung betrifft ein fotoelektrisches Weg- und Winkelmesssystem zum Messen der Verschiebung zweier Objekte zueinander, bestehend aus einer Lichtquelle, einem Referenzgitter, einem Maßstabsgitter, einer Anordnung von Fotoempfängern und einer Auswerteschaltung, wobei eine Anzahl von Fotoempfängern in einem matrixartigen Array angeordnet sind und die Fotoempfänger, die die gleiche Phasenlage detektieren, elektrisch verbunden sind.
Description
Die Erfindung betrifft ein fotoelektrisches Weg- und Winkelmeßsystem zum
Messen der Verschiebung zweier Objekte zueinander, bestehend aus einer
Lichtquelle, einem Referenzgitter, einem Maßstabsgitter, einer Anordnung
von Fotoempfängern und einer Auswerteschaltung, wobei eine Anzahl von
Fotoempfängern in einem matrixartigen Array angeordnet sind und die
Fotoempfänger, die die gleiche Phasenlage detektieren, elektrisch verbunden
sind.
Im Stand der Technik ist nach DE 195 27 287 ein derartiges Weg- und
Winkelmeßsystem zur Abtastung inkrementaler Maßverkörperungen
bekannt.
Bei der bekannten Anordnung haben bei ihrer Auflichtanwendung die
Diodenpaare, welche die 4 Sensorsignale sin, cos, -sin, -cos erzeugen, unter
schiedliche Entfernung von der im Fotodiodenarray integrierten LED. Aus
diesem Grund zeigen bei der bekannten Anordnung die einzelnen Signale in
Gleichanteil und in Amplitude stark unterschiedliche Werte. Die so beschaf
fenen Signale müssen einer hochgradigen Korrektur unterzogen werden, um
eine elektronische Auswertbarkeit zu gewährleisten. Bei solchen stark korri
gierten Signalen bereitet insbesondere die Anwendung großer Interpolati
onsfaktoren Schwierigkeiten, da die Signalparameter Gleichanteil sind und
die Amplitude außerdem noch von den Justierparametern abhängig ist.
Durch die Änderungen der Signalparametern mit den Justierparametern
gelten die auf die Signale angewendeten Korrekturfaktoren nur für einen
engbegrenzten Justierzustand.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Meßanordnung der eingangs
genannten Art anzugeben, mit der Signale mit deutlich besseren Signalpara
metern gewonnen werden können.
Erfindungsgemäß gelingt die Lösung der Aufgabe mit den kennzeichnenden
Merkmalen von Patentanspruch 1.
Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den Unteransprüchen angegeben.
Bei der erfindungsgemäßen Meßanordnung sind die Fotodioden so angeord
net, daß alle vier Kanäle die gleiche geometrische Zuordnung zur LED
haben. Dadurch wird gewährleistet, daß die Signalparameter der vier Kanäle
untereinander die gleiche Größe haben.
Die erfindungsgemäße Anordnung zeichnet sich durch eine Reihe von
Vorteilen aus. Hierzu zählen:
- - Mit der erfindungsgemäßen Fotodiodenanordnung können Sensorsignale erzeugt werden, die in Amplitude und Gleichanteil untereinander gleich groß sind.
- - Die bei den im Stand der Technik bekannten Anordnungen notwendigen sehr großen Korrekturfaktoren zum Angleichen der Signale sind nicht mehr erforderlich.
- - Die Signale sind damit weit weniger störanfällig gegen Dejustierungen.
- - Durch die gleiche geometrische Zuordnung der Fotodiodenpaare der einzelnen Kanäle zur LED ist beim Einsatz der erfindungsgemäßen Anord nung bei hohen Temperaturen das Auseinanderdriften der Signalparameter der einzelnen Kanäle stark reduziert.
- - Der freie Mittelstreifen der Anordnung, wo sich zunächst nur die LED befindet, kann zu Integration zusätzlicher Sensorik z. B. Temperatursensor oder von elektronischen Komponenten zur Signalverarbeitung genutzt werden.
- - Indem der Bonddraht zur LED in den freien Mittelstreifen gelegt werden kann, übt er keinen lichtabschattenden Einfluß auf die Fotodioden aus.
- - Beim Füllen des Spaltes zwischen der Fotodiodenanordnung und dem Glassubstrat mit einem Füllstoff unter der Maßgabe, daß der Spalt zwischen der LED und Glassubstrat von dem Füllstoff frei bleibt, führt es nicht zu optischen Störungen, wenn etwas Füllstoff vor der Aushärtung entlang des Bonddrahts kriecht.
Die Erfindung wird im Folgenden an einem Ausführungsbeispiel näher erläu
tert. In den zugehörigen Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 eine Schnittdarstellung der erfindungsgemäßen Meßvorrich
tung und
Fig. 2 ein Anordnungsbeispiel für ein Fotodiodenarray.
Fig. 1 erläutert ein Beispiel für den Aufbau der erfindungsgemäßen
Meßvorrichtung. Die Anordnung besteht aus einem Siliziumchip Ch mit
versenkt angeordneter LED als Lichtquelle und den beiderseits um die LED
angeordneten Fotodioden FD. Das Si-Chip mit der in dieses integrierten
LED wird mit Lötbumps in Flip-Chip-Technik mit der Unterseite der
Glasplatte GP als Chip-Träger mit den zu den Lötpads LP führender
Leitungsbahnen elektrisch leitend verbunden. Der Spalt zwischen dem
Si-Chip Ch und der Glasplatte GP ist zur Gewährleistung der Kraftstabilität
und zum Temperaturausgleich zwischen Si-Chip Ch und Glasplatte GP mit
dem Füllstoff, genannt Underfiller UF, ausgefüllt. Auf der Oberseite der
Glasplatte GP ist ein Referenzgitter G2 aufgebracht. Oberhalb der
Glasplatte befindet sich die Maßverkörperung MV mit der Rasterteilung
G1.
In Fig. 2 ist ein Sensorarray dargestellt, bei dem die Fotoempfänger
beispielsweise rechteckförmig ausgebildet sind. Jedes der einzelnen Dioden
paare, die für die Detektierung der Signale ein cos-, sin-, -cos-, -sin- verant
wortlich sind, haben gleiche Zuordnung zur LED. Bei Erfüllung oder
annähernder Erfüllung dieser Forderung ist auch jede andere Form der
Diodenfelder möglich. Referenzgitter und Gitter der Maßverkörperung sind
so zu gestalten, daß das aus beiden Gittern gebildete Steifenmuster bei
Verschiebung der Maßverkörperung die einzelnen Diodenpaare phasenrich
tig durchläuft.
Ch Siliziumchip
LED Lichtquelle
GP Glasplatte
MV Maßverkörperung
G1 Gitter auf der Maßverkörperung
G2 Referenzgitter
UV Underfiller
LP Lötpads
LED Lichtquelle
GP Glasplatte
MV Maßverkörperung
G1 Gitter auf der Maßverkörperung
G2 Referenzgitter
UV Underfiller
LP Lötpads
Claims (3)
1. Fotoelektrisches Weg- und Winkelmeßsystem zum Messen der Verschie
bung zweier Objekte zueinander, bestehend aus einer Lichtquelle (LED),
einem Referenzgitter (G2), einem Maßstabsgitter (G1), einer Anordnung
von Fotoempfängern (FD) und einer Auswerteschaltung, wobei die
Fotoempfängern (FD) in einem matrixartigen Array angeordnet sind und die
Fotoempfänger (FD), die die gleiche Phasenlage detektieren, elektrisch
verbunden sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Fotoempfänger (FD) in
dem Array in vier Paaren oder einem Vielfachen davon, beidseitig der Licht
quelle (LED) so angeordnet sind, daß jede der vier elektrisch verbundenen
Fotoempfängerpaare die gleiche Entfernung zur Lichtquelle (LED) haben.
2. Meßsystem nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtquelle eine LED verwendet wird,
die in das Fotoempfängerarray integriert ist und versenkt auf der Oberfläche
des Chips (Ch) angeordnet ist.
3. Meßsystem nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß in dem freien Mittelstreifen zusätzlich zur
LED sich weitere Sensoren, wie Temperatursensoren und/oder Komponen
ten der Signalverarbeitung befinden.
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
DE19961250A DE19961250A1 (de) | 1998-12-23 | 1999-12-18 | Fotoelektrisches Weg- und Winkelmeßsystem |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19961250A Withdrawn DE19961250A1 (de) | 1998-12-23 | 1999-12-18 | Fotoelektrisches Weg- und Winkelmeßsystem |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE19961250A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005057668A1 (de) * | 2003-12-10 | 2005-06-23 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Abtastkopf für optische positionsmesssysteme |
CN106813578A (zh) * | 2015-11-30 | 2017-06-09 | 上海微电子装备有限公司 | 一种二维光栅测量系统 |
CN113594104A (zh) * | 2021-08-10 | 2021-11-02 | 南方科技大学 | 一种单片集成芯片及其应用 |
-
1999
- 1999-12-18 DE DE19961250A patent/DE19961250A1/de not_active Withdrawn
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005057668A1 (de) * | 2003-12-10 | 2005-06-23 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Abtastkopf für optische positionsmesssysteme |
US7719075B2 (en) | 2003-12-10 | 2010-05-18 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Scanning head for optical position-measuring systems |
CN106813578A (zh) * | 2015-11-30 | 2017-06-09 | 上海微电子装备有限公司 | 一种二维光栅测量系统 |
CN106813578B (zh) * | 2015-11-30 | 2019-02-22 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 一种二维光栅测量系统 |
CN113594104A (zh) * | 2021-08-10 | 2021-11-02 | 南方科技大学 | 一种单片集成芯片及其应用 |
CN113594104B (zh) * | 2021-08-10 | 2024-05-28 | 南方科技大学 | 一种单片集成芯片及其应用 |
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