CN104475354A - 分选机目检装置 - Google Patents

Abstract

本发明是关于分选机目检装置。根据本发明一实施例，分选机目检装置的旋转台经配置以旋转带动4工位在上/下料位置及检测位置间切换，其承载台经配置以将旋转台的转轴限位在其旋转空间内旋转并保持真空气密性。承载台进一步包含本体、4个滑块及4个弹簧。本体设有4个呈90度分布的滑动空间。相邻滑块彼此接触，各滑块经配置以在相应滑动空间内滑动并由该滑动空间的限位槽在垂直方向上限位。该各滑块具有与其对应滑动空间的后壁相对的后端面及与该后端面相对的前端面，该前端面呈90度圆弧形从而使得4个滑块共同定义该圆形旋转空间。弹簧则经配置以分别限位于相应滑动空间的后壁及相应滑块之间。本发明的分选机目检装置具有气密性好、成本低，寿命长等诸多优点。

Description

分选机目检装置

技术领域

本发明是关于目检装置，特别是分选机目检装置。

背景技术

分选机目检装置通常包含旋转台及限定该旋转台在其上旋转的承载台。工作时，马达带动旋转台在承载台中高速旋转，如每昼夜40万转。由于马达的转子以及联轴器等部件存在的公差，使得任何由马达带动的旋转部件在旋转时不能绝对同心，因而旋转台及承载台这种面接触相对旋转结构存在易于磨损弊端。而如果目检装置对气密性要求较高，即使产生微小的磨损也会造成真空度要求不合格。例如，用于半导体封装体的分选机目检装置，一旦旋转台及承载台间磨损量达到1％，整个装置的真空结构就会失效。这意味着目检装置对待目检件，如封装体施加的限位力小于其旋转时所需的向心力，待目检件将沿切线方向高速甩出，即发生甩料异常，并可能严重影响待目检件的品质，如封装体弯脚等异常。

由于旋转台及承载台极为昂贵，成本考虑不会轻易淘汰。因而如真空结构未完全失效，通常会继续使用。但此时对整个目检装置的其它部件的配合要求将更为严苛，如输入/输出信号的精准度、电磁阀灵敏度，及部件的气密性要求等都会成倍增加。即使如此，也会发生机台宕机或产量急剧下降，大幅度增加设备维护人员的工作量。

综上所述，现有的分选机目检装置亟需改进。

发明内容

本发明的目的之一在于提供分选机目检装置，其可有效延长目检装置的寿命，并降低成本。

根据本发明一实施例，一分选机目检装置包含旋转台及承载台。旋转台具有一转轴，该旋转台经配置以旋转带动若干工位在上/下料位置及检测位置间切换。承载台经配置以将旋转台的转轴限位在其旋转空间内旋转并保持真空气密性，并进一步包含本体、N个滑块及N个弹簧。其中本体设有N个呈360/N度分布的滑动空间，各滑动空间具有相对两侧壁及连接该两侧壁的后壁，该两侧壁上分别设有限位槽。该N个滑块中的相邻两者彼此接触，各滑块经配置以在相应滑动空间内滑动并由该滑动空间的限位槽在垂直方向上限位。该各滑块具有与其对应滑动空间的后壁相对的后端面及与该后端面相对的前端面，该前端面呈360/N度圆弧形从而使得该N个滑块共同定义该圆形旋转空间。N个弹簧则经配置以分别限位于相应滑动空间的后壁及相应滑块之间。

在根据本发明的另一实施例中，工位的数量及N均为4。分选机目检装置可进一步包含4通气管，经配置以在真空和高压间切换。该本体上对应各滑动空间的后侧壁贯穿有第一通孔，相应的各滑块上设有贯穿该后端面至该前端面第二通孔；各通气管穿过相应滑动空间的该第一通孔并部分收纳于相应滑块上的该第二通孔。该旋转台的转轴上设有与该滑块上的第二通孔对应的第三通孔。当自该工位中处于上/下料位置的一者上取走待目检件时，其对应的通气管为高压状态；当向该工位中处于上/下料位置的一者上放置待目检件或其处于检测位置时，其对应的通气管为真空状态。该分选机目检装置可进一步包含若干吸嘴，经配置以在该工位处于上/下料位置时放置/取走待目检件。在又一实施例中，该分选机目检装置所检测的是半导体封装体。该N个滑块中每一者的两侧具有台阶部。该分选机目检装置还可进一步包含盖板，设置于该旋转台上。该若干工位设置于该盖板上并与该4通气管气路连通。该本体可为调制钢或尼龙塑料，该滑块可为金属或尼龙塑料。

本发明的分选机目检装置，其旋转台与承载台之间可保持高真空气密性，且磨损较低，因而具有气密性好、成本低，寿命长等诸多优点。

附图说明

图1所示是根据本发明一实施例的分选机目检装置的局部立体结构示意图。

图2是图1中分选机目检装置的分解示意图。

图3所示是根据本发明一实施例的承载台的立体结构示意图，其主要包含本体和四滑块。

图4是图3中承载台的本体的局部示意图。

图5是图3中承载台的一滑块的立体结构示意图。

具体实施方式

为更好的理解本发明的精神，以下结合本发明的部分优选实施例对其作进一步说明。

在分选电子元件，如半导体封装体的分选机上，其目检装置通常包含呈子母结构的旋转台和承载台。承载台上设有供旋转台的转轴在其内高速旋转，并保持两者间真空气密性接触的旋转空间。由于承载台是以应力压迫的方式限位旋转台，旋转台和承载台需选用耐磨、硬度大的材料，如钨钢。然这种材料通常较为昂贵、脆性高、尺寸要求精准，一旦变形则无法通过机械加工、热处理等方式变回原尺寸。此外，现有的旋转台和承载台硬度相同，同时磨损，而极小的磨损量就会造成整个机构的真空气密性无法满足要求失，此时需将两者同时更换，导致生产成本大幅提高。即使气密性要求并不严格，两者间的磨损也易造成旋转台旋转不稳定，影响检测效率。

根据本发明实施例的分选机目检装置则可解决上述问题，其主要体现在承载台40的改进。

图1所示是根据本发明一实施例的分选机目检装置10的局部立体结构示意图。图2是图1中分选机目检装置10的分解示意图。

如图1、2所示，该分选机目检装置10主要包含盖板20、旋转台30、承载台40，及马达50。在其它实施例中，盖板20与旋转台30可一体成型。除承载台40外，盖板20、旋转台30、马达50等均可采用本领域常规的设计，故以下仅作简单说明。

盖板20遮盖于旋转台30上并设有四个呈90度分布的工位22，各工位22藉由旋转台30的旋转而在上/下料位置及检测位置间切换。旋转台30设有复杂的真空气密性气路结构使得各工位22可与旋转台30的相应第三通孔360相通，该第三通孔360又进一步通过承载台40与通气管12气路连通。当吸头14或其它取放工具自该工位22中处于上/下料位置的一者上取走待目检件时，其对应的通气管12为高压状态；当吸头14或其它取放工具向该工位22中处于上/下料位置的一者上放置待目检件或该工位22处于检测位置时，其对应的通气管12为真空状态。本实施例中，待目测件可以是包含半导体封装体在内的电子元件，如小尺寸封装体等，只要与盖板20上的工位22尺寸符合即可。在其它实施例中，可通过更换具有不同尺寸工位22的盖板20实现不同尺寸待目检件的检测。

该旋转台30具有一承托盖板20的承托部34及一与该承托部34连接的转轴36。该转轴36可收容于承载台40的旋转空间42内并进一步与马达50连接，而由马达50带动在旋转空间42内旋转。

图3所示是根据本发明一实施例的承载台40立体结构示意图，其主要包含本体44和四滑块46。图4是图3中承载台40的本体44的局部示意图。图5是图3中承载台40的一滑块46的立体结构示意图。

结合图3、4、5所示，承载台40经配置以将旋转台30的转轴36限位在其旋转空间42内旋转并保持真空气密性。本体44设有4个呈90度分布的滑动空间440，各滑动空间440具有相对两侧壁442及连接该两侧壁442的后壁444，该两侧壁442上分别设有限位槽446。4个滑块46中的相邻两者彼此接触，其中各滑块46经配置以在相应滑动空间440内真空气密性滑动并由该滑动空间440的限位槽446在垂直方向上限位，该各滑块46具有与其对应滑动空间440的后壁444相对的后端面460及与该后端面460相对的前端面462，该前端面462呈90度圆弧形从而使得4个滑块46共同定义该旋转空间42。滑块46的两侧设计有台阶部464，一方面可卡合于限位槽446内，另一方面其可不受滑动空间440的两侧壁442前端448设计影响，即使其与对应的滑块46无法像本实施例中那样构成一个圆，也不影响滑块46构成旋转空间42。

该本体44上对应各滑动空间440的后侧壁444贯穿有第一通孔447(图3中供通气管12穿过之处)，相应的各滑块46上设有贯穿后端面460至前端面462的第二通孔466。各通气管12穿过相应滑动空间440的该第一通孔447并部分收纳于相应滑块46上的该第二通孔466。设置于旋转台30的转轴36上的第三通孔360在旋转至与该滑块46上的第二通孔466对应时，两者间即可气路连通。从而使得整个气体通路(高压或真空状态)连通，即从各个通气管12最终连通到各个工位22。此时，依据对应工位22所处的工作位置，由通气管12实现该气路是真空还是高压。

承载台40进一步包含4个弹簧48，各弹簧48经配置以分别限位于相应滑动空间440的后壁444及相应滑块46之间。滑块46在弹簧48的作用下会相互卡住,形成直径与旋转台30的转轴36刚好贴合的圆形旋转空间42，且弹簧48被滑动空间440的第一通孔447和滑块46上第二通孔466之间的通气管12支撑。工作时，滑块46与旋转台30的转轴36保持贴合状态，滑块46之间互相卡住并可在弹簧48的作用下沿限位槽446前后移动，既保证真空气密性的要求，又避免彼此间的硬挤压。因此滑块46与转轴36间的摩擦较小。同时为减小对旋转台30的转轴36磨损，本体44可采用硬度远低于钨钢的调制钢或尼龙塑料，滑块46采用普通金属或尼龙塑料。即使滑块46有磨损，在弹簧48的作用下滑块46会同时移动聚拢，仍保持和当初设计大小相同的旋转空间42，最大限度延长了两者的使用寿命。即使磨损较为厉害，大多数时间也只需更换滑块46而已，结构相对复杂的昂贵旋转台30仍可保留。事实上，在滑块46与转轴36磨合一段时间后，二者间较最初会更加紧密接触，气密性更好。此外，承载台40使用硬度低的材质,对尺寸精度要求低，因而加工容易，同样可降低成本。

上述实施例的描述仅为清楚说明本发明的实质所在。如本领域技术人员所应理解的，工位22、滑块46及通气管12的数量并不局限于4个。实施上，对于N工位22，本体44设有N个呈360/N度分布的滑动空间440以供N个滑块46在内滑动，各滑块46的前端面呈360/N度圆弧形从而使得该N个滑块46共同定义该旋转空间42，并提供至少N个弹簧48分别限位于相应滑动空间440的后壁444及相应滑块46之间，同时对于每个工位22都有单独的通气管12控制气路状态。但是考虑到实际工作的方便性，优选地，N的值小于10，并N的值优选为偶数，如N为4、6或者8.而且，本发明的分选机目测装置应用广泛，适用于所有类似的紧密面接触,有磨损失效趋向的子母结构。

本发明的技术内容及技术特点已揭示如上，然而熟悉本领域的技术人员仍可能基于本发明的教示及揭示而作种种不背离本发明精神的替换及修饰。因此，本发明的保护范围应不限于实施例所揭示的内容，而应包括各种不背离本发明的替换及修饰，并为本专利申请权利要求书所涵盖。

Claims (11)

1.一种分选机目检装置，包含：

旋转台，具有一转轴；该旋转台经配置以旋转带动若干工位在上/下料位置及检测位置间切换；及

承载台，经配置以将所述旋转台的转轴限位在其旋转空间内旋转并保持真空气密性，其中所述承载台包含：

本体，设有N个呈360/N度分布的滑动空间，各滑动空间具有相对两侧壁及连接该两侧壁的后壁，该两侧壁上分别设有限位槽；

N个滑块，该N个滑块中的相邻两者彼此接触，其中各滑块经配置以在相应滑动空间内滑动并由该滑动空间的限位槽在垂直方向上限位，该各滑块具有与其对应滑动空间的后壁相对的后端面及与该后端面相对的前端面，该前端面呈360/N度圆弧形从而使得该N个滑块共同定义该旋转空间；及

N个弹簧，经配置以分别限位于相应滑动空间的后壁及相应滑块之间。

2.如权利要求1所述的分选机目检装置，其中该工位的数量及N均为4。

3.如权利要求1所述的分选机目检装置，其进一步包含若干吸嘴，经配置以在该工位处于上/下料位置时放置/取走待目检件。

4.如权利要求1所述的分选机目检装置，其所检测的是半导体封装体。

5.如权利要求2所述的分选机目检装置，其进一步包含4通气管，经配置以在真空和高压间切换；该本体上对应各滑动空间的后侧壁贯穿有第一通孔，相应的各滑块上设有贯穿该后端面至该前端面的第二通孔；各通气管穿过相应滑动空间的该第一通孔并部分收纳于相应滑块上的该第二通孔。

6.如权利要求5所述的分选机目检装置，其中该旋转台的转轴上设有与该滑块上的第二通孔对应的第三通孔。

7.如权利要求5所述的分选机目检装置，其中当自该工位中处于上/下料位置的一者上取走待目检件时，其对应的通气管为高压状态；当向该工位中处于上/下料位置的一者上放置待目检件或其处于检测位置时，其对应的通气管为真空状态。

8.如权利要求5所述的分选机目检装置，其进一步包含盖板，设置于该旋转台上；该若干工位设置于该盖板上并与该4通气管气路连通。

9.如权利要求1所述的分选机目检装置，其中该N个滑块中每一者的两侧具有台阶部。

10.如权利要求1所述的分选机目检装置，其中该本体为调制钢或尼龙塑料。

11.如权利要求1所述的分选机目检装置，其中该滑块为金属或尼龙塑料。