English: crystal structure of beta-Si3N4. Data from Schneider J., Frey F., Johnson N., Laschke K. (1994). "Structure refinements of Si3N4 at temperatures up to 1360 °C by X-ray powder investigation". ZEITSCHRIFT FUER KRISTALLOGRAPHIE209: 328-333.
Datum
27 april 2009 (originele uploaddatum)
Bron
Eigen werk (Originele tekst: I created this work entirely by myself.)
Delen – het werk kopiëren, verspreiden en doorgeven
Remixen – afgeleide werken maken
Onder de volgende voorwaarden:
naamsvermelding – U moet op een gepaste manier aan naamsvermelding doen, een link naar de licentie geven, en aangeven of er wijzigingen in het werk zijn aangebracht. U mag dit op elke redelijke manier doen, maar niet zodanig dat de indruk wordt gewekt dat de licentiegever instemt met uw werk of uw gebruik van zijn werk.
Gelijk delen – Als u het materiaal remixt, transformeert of erop voortbouwt, moet u uw bijdragen verspreiden onder dezelfde licentie als die van het origineel, of een licentie die daarmee verenigbaar is.
Toestemming wordt verleend voor het kopiëren, verspreiden en/of wijzigen van dit document onder de voorwaarden van de GNU-licentie voor vrije documentatie, versie 1.2 of enige latere versie als gepubliceerd door de Free Software Foundation; zonder Invariant Sections, zonder Front-Cover Texts, en zonder Back-Cover Texts. Een kopie van de licentie is opgenomen in de sectie GNU-licentie voor vrije documentatie.http://www.gnu.org/copyleft/fdl.htmlGFDLGNU Free Documentation Licensetruetrue
De oorspronkelijke beschrijving van deze afbeelding stond hier. Alle volgende gebruikersnamen verwijzen naar en.wikipedia.
2009-04-27 07:56 Materialscientist 650×757× (31843 bytes) {{Information |Description = crystal structure of beta-Si3N4 |Source = I created this work entirely by myself. |Date = |Author = ~~~ |other_versions = }}
{{Information |Description={{en|crystal structure of beta-Si3N4<br/> == Licensing: == Journal = ZEITSCHRIFT FUER KRISTALLOGRAPHIE Year = 1994 Volume = 209 Page = 328-333 Title = Structure refinements of Si3N4 at temperatures up to 1360 °C by X-ray po